专利名称：带复合自校正功能的角度检测器的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检测旋转角度的旋转编码器等的角度检测器，特别是涉及一种带自校正功能的角度检测器的改良，通过具备自校正功能，能够求出还包含由于在角度检测器所输出的角度信息中包含的使用环境下的安装轴偏心、角度检测器的老化的影响等而产生的角度误差的刻度的校正值。
背景技术：
旋转编码器等的角度检测器的一般原理是在圆形的刻度盘的周围刻有刻度、并通过由刻度读取用的传感器头数出该刻度根数来输出角度信息的装置，使用了各种装置。角度检测器人工地写入刻度，因此刻度线没有被等角度间隔地写入，在从该刻度线的位置中获得的角度信息中产生误差。图ι的放射状的直线Ll是理想的刻度线位置(等角度间隔线)，放射状的短的虚线L2是实际的刻度线位置，描绘了离理想位置的差的曲线成为

图1中右图的曲线。图1右图的点成为角度检测器的刻度线的校正值，在图中描绘为具有36根刻度线，但是实际的角度检测器有数千 数10万根的刻度线。作为校正这些线的方法，有几种相互比较两个角度检测器的刻度来进行自校正的方法。在该方法中即使两个角度检测器没有被校正也能够同时地进行校正，因此不需要上位的高精度的角度检测器。此外，自校正的意思是即使比较角度误差为未知数的两个角度检测器也同时知道作为双方的角度误差的校正值。在角度的国家标准器(角度测量器)中，使用基于等分割平均法的自校正方法来校正位于角度测量器的内部的角度检测器和设置于其上部的被校正角度检测器。使用图2将等分割平均法简化而简单地进行说明。该方法是测量配置在下部的第1角度检测器11的刻度盘上的第1传感器头12、12 · · ·之一、与配置在上部的第2角度检测器13的刻度盘上的第2传感器头14的刻度信号的差(SAl)；接着，同样地测量下部相邻的其它传感器头12与上部的第2传感器头14的差(SA》；同样地测量其它第1传感器头12与第2传感器头14的差，求出这些(SAl、SA2、SA3、SA4、SA5)的平均值SAV时，求出上部的第2角度检测器13的校正曲线。当将从下部的第1角度检测器11输出的角度误差设为 、从上部的第2角度检测器13输出的角度误差设为h时，差成为SAjzbi-ai+tDp/,，平均值SAV成为[式1]
权利要求
1.一种带自校正功能的角度检测器，在固定于旋转轴的刻度盘的周围具备刻度读取用的传感器头，由在相同刻度盘的周围等间隔地配置的第1传感器头、以及在该第1传感器头的1个位置替换第1传感器头而配置的第2传感器头构成，通过求出前述第2传感器头与各第1传感器头的测量差并获得平均值来进行自校正，该带自校正功能的角度检测器的特征在于，前述第1传感器头以及第2传感器头由等间隔地配置了 L个的第1组、以及等间隔地配置了 M个的第2组构成，该带自校正功能的角度检测器具备相移单元，当将设置在前述刻度盘上的全刻度的数量设为P时，使通过前述第2组求出的校正值的相位各错开j*P/L刻度；以及运算单元，求出通过前述第2组求出的校正值、和通过前述相移单元求出的L-I个移动后的校正值的平均值，将该平均值与通过前述第1组求出的校正值相加并作为校正值而输出ο其中，j=广L-l，j为自然数，且L和M设为两者的最小公倍数比两者之和大的自然数。
2.根据权利要求1所述的带自校正功能的角度检测器，其特征在于，将前述第1组和前述第2组的传感器头之一设为共有。
全文摘要
将传感器头的个数抑制到最少，并且获得到高次分量为止没有频率分量的遗漏的高精度的校正值。一种带自校正功能的角度检测器，在固定于旋转轴的刻度盘的周围具备刻度读取用的传感器头，由在相同刻度盘的周围等间隔地配置的第1传感器头、以及在该第1传感器头的1个位置替换第1传感器头而配置的第2传感器头构成，通过求出第2传感器头与各第1传感器头的测量差并获得平均值来进行自校正，用将第1传感器头以及第2传感器头等间隔地配置了L个的第1组、以及等间隔地配置了M个的第2组进行校正，当设置在刻度盘上的全部刻度的数量设为P时，使通过第2组求出的校正值的相位各错开j*P/L(j=1~L-1)刻度，求出通过第2组求出的校正值、和移动后的校正值的平均值，将该平均值与通过第1组求出的校正值相加并作为校正值而输出。
文档编号G01D5/244GK102597707SQ20108005038
公开日2012年7月18日 申请日期2010年10月27日 优先权日2009年11月9日
发明者渡部司 申请人:独立行政法人产业技术综合研究所