专利名称：光纤测量装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光纤测量装置，具体地说是一种运用于测量各种大坝、边坡、桥梁、管道等建筑物是否发生裂缝和破损的测量装置。
背景技术：
目前，测量建筑物结构的裂缝和破损，边坡滑动等工程隐患的常规方法是采用测缝计和应力计观测，或者通过人工巡视检查。由于工程造价和施工等原因测缝计和应力计只能少量分布埋设在建筑物内，当建筑物发生裂缝和破损时，以上仪器往往不能及时全面地反应出建筑物的变化情况，人工巡视检查更是难以发现建筑物和管道内部的变化情况。同时各种管道和隧洞的裂缝和破损更是难以得到有效监测。从而导致部分工程隐患不能及时发现，影响建筑物和管道的安全运行。

发明内容
本发明的目的是提供一种光纤测量装置，其具有工程造价底，施工布设方便，布设面积全面灵活的优势，可以全面及时地发现建筑物和各种管道的裂缝和破损等变形情况。及时发现工程隐患，为工程的运行维护提供依据。为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为:一种光纤测量装置，包括光纤通信测量仪器和光纤线，光纤线一端接于光纤通信测量仪器上，所述光纤线中心为高折射率的玻璃芯，玻璃芯外层为低折射率的硅玻璃包层，最外层为树脂涂层，树脂涂层根据具体的工程结构制作。光纤线的树脂涂层是根据不同工程结构制作的保护层，要求抗拉强度比较低，受力时就会同光纤线一起断裂。光纤线一端埋设在建筑物或管道内，或固定在建筑物或管道的表面，另一端由建筑物内引出连接到光纤通信测量仪器上。通过光纤通信测量仪器测量布设光纤长度的变化情况，测量出建筑物或管道是否发生裂缝和破损，同时可以判断发生裂缝和破损的具体位置。本发明的有益效果在于:一、克服了现有技术工程造价高，测量范围有限的缺点；二、由于光纤的纤芯很细，一般为几十微米，光纤测量装置便于施工埋设，测量范围广且布设灵活，不影响建筑物和管道的稳定性；三、光纤线可以布设在管道的管壁内从而实现对各种管道裂缝、破损的监测，测量便捷，稳定可靠。


下面结合附图和具体实施方式
对本发明作进一步详细的说明。图1为本发明第一种实施例的结构示意图；图2为图1中A-A剖视放大图；图3为光纤的截面放大图4为本发明第二种实施例的结构示意图。
具体实施例方式如图1和3所示:一种光纤测量装置，包括光纤通信测量仪器3和光纤线1，光纤线I 一端接于光纤通信测量仪器3上，所述光纤线I中心为高折射率的玻璃芯11，玻璃芯11外层为低折射率的硅玻璃包层12，最外层为树脂涂层13，树脂涂层13根据具体的工程结构制作。光纤线I的树脂涂层13是根据不同工程结构制作的保护层，要求抗拉强度比较低，受力时就会同光纤线一起断裂。如图2所示，光纤线I 一端铺设于管道2的管壁21中，或如图4所示，将光纤线I埋设在建筑物4内，另一端由建筑物4内引出连接到光纤通信测量仪器3上。通过光纤通信测量仪器3测量布设光纤长度的变化情况，测量出建筑物或管道是否发生裂缝和破损，同时可以判断发生裂缝和破损的具体位置。此设计可以根据需要使用不同类型的光纤和保护层，以及各种光纤通信测量仪器。以上公开的仅为本专利的具体实施例，但本专利并非局限于此，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，做出的变形应视为属于本发明保护范围。
权利要求
1.一种光纤测量装置，其特征在于:包括光纤通信测量仪器和光纤线，光纤线一端接于光纤通信测量仪器上，所述光纤线中心为高折射率的玻璃芯，玻璃芯外层为低折射率的硅玻璃包层，最外层为树脂涂层。
全文摘要
本发明公开了一种光纤测量装置，包括光纤通信测量仪器和光纤线，光纤线一端接于光纤通信测量仪器上，所述光纤线中心为高折射率的玻璃芯，玻璃芯外层为低折射率的硅玻璃包层，最外层为树脂涂层；本发明克服了现有技术工程造价高，测量范围有限的缺点，由于光纤的纤芯很细，一般为几十微米，光纤测量装置便于施工埋设，测量范围广且布设灵活，不影响建筑物和管道的稳定性，光纤线可以布设在管道的管壁内从而实现对各种管道裂缝、破损的监测，测量便捷，稳定可靠。
文档编号G01N21/88GK103163142SQ20111042186
公开日2013年6月19日 申请日期2011年12月16日 优先权日2011年12月16日
发明者程菡, 罗井伦 申请人:罗井伦