专利名称：测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置。
背景技术：
集成电路卡中的芯片是内部带有CPU(微处理器)的芯片，它与一般存储卡中的芯片的最大不同之处在于必须要有COS(芯片操作系统)支持，才能保证应用系统的正常工作。不同的应用系统有不同的COS规范，如劳动和社会保障部制造了社会保障(个人)卡规范，中国人民银行制订了中国金融集成电路(IC)卡规范等等，对COS操作系统的指令集，文件系统、安全性都做了明确的规定。一方面同一应用系统的COS制造厂商也很多，例如同样是用于社会保障卡的COS有多个厂商生产，各厂商都要遵守相同的规范，但各厂商编写的代码是完全不同的；另一方面对于集成电路卡中的芯片的基本要求都有相应的国际标准和国家标准做了明确的规定，但在符合这些标准的前提下各个芯片厂商制造出的带有CPU的芯片，指令系统，其寄存器地址等都可能完全不同。带有CPU的芯片只有通过与各COS制造厂商和芯片制造厂商的合作，设计出能够在芯片厂商生产的带有CPU的芯片上正常运行并完全符合相应规范要求的COS，然后在芯片生产时，通过掩膜的方法，把COS掩膜进带有CPU的芯片的ROM中才能成为真正意义上的集成电路卡。芯片厂商最终生产出的带有COS的集成电路卡必须经国家相关检测单位的严格检测符合规范要求才能投入市场。如果检测出有不符合规范的地方则必须重新修改COS操作系统软件，重新生产，而这必然会造成时间和金钱上的大量浪费。
为了解决这个问题，目前芯片设计单位会提供一套硬件电路给COS制造厂商，以使COS能顺利移植。通常做法是把带有CPU的芯片做成FPGA(现场可编程逻辑阵列器件)这样一种仿真的形式一方面用FPGA来代替实现带有CPU的芯片的功能，只能算是一种在RTL(寄存器传输级)电路上的仿真，和真正意义上的集成电路卡中的芯片还有差别，因此不能保证COS和最终的带有CPU的芯片完全兼容；另一方面FPGA的价格也非常昂贵，这也在一定程度上限制了把不同的COS制造厂商的COS移植到带有CPU的芯片上来。

发明内容
本发明需要解决的技术问题是提供了一种测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置，旨在解决测试过程中仿真的兼容性以及测试装置价格非常昂贵的缺陷。
为了解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的本发明包括印制电路板，卡触点，验证的集成电路卡中的芯片，跳线器，存储器，测试模式端口。所述的卡触点，验证的集成电路卡中的芯片，跳线器，存储器和测试模式端口安装在所述的印制电路板上。所述的卡触点和测试模式端口与验证的集成电路卡中的芯片连接，所述的验证的集成电路卡中的芯片的控制线通过跳线器与所述的存储器连接，所述的验证的集成电路卡中的芯片的数据总线和地址总线通过印制电路板与存储器连接，所述的测试模式端口与验证的集成电路卡中的芯片连接。
与现有技术相比，本发明的有益效果是在测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容过程中，完全与需生产的集成电路卡一致，且价格低廉。


图1是本发明的方框图；图2是本发明中验证的集成电路卡中的芯片的电路原理方框图；图3是本发明中验证的集成电路卡中的芯片的结构方框图；图4是本发明的工作原理图。
其中印制电路板1，读卡机2，PC机3，卡触点11，验证的集成电路卡中的芯片12，跳线器13，存储器14，测试模式端口15，可擦写存储器121，CPU122，随机存储器123，ISO7816串口124，输入输出口125，控制线126，地址总线127，数据总线128，测试模式引线129，测试逻辑130。
具体实施例方式
下面结合附图与具体实施方式
对本发明作进一步详细描述由图1、图2、图3、图4可见本发明包括印制电路板1，卡触点11，验证的集成电路卡中的芯片12，跳线器13，存储器14，测试模式端口15。所述的卡触点11，验证的集成电路卡中的芯片12，跳线器13，存储器14和测试模式端口15安装在所述的印制电路板1上。所述的卡触点11和测试模式端口15与验证的集成电路卡中的芯片12连接，所述的验证的集成电路卡中的芯片12的控制线126通过跳线器13与所述的存储器14连接，所述的验证的集成电路卡中的芯片12的数据总线128和地址总线127通过印制电路板1与存储器14连接，所述的测试模式端口15与验证的集成电路卡中的芯片12连接。
所述的验证的集成电路卡中的芯片12包括可擦写存储器121，CPU122，随机存储器123。所述的可擦写存储器121、CPU122和随机存储器123与卡触点11连接，所述的可擦写存储器121、CPU122和随机存储器123的控制线126与跳线器13连接；所述的可擦写存储器121、CPU122和随机存储器123的数据总线128的地址总线127通过印制电路板1与存储器14连接；所述的存储器14是只读存储器，或者是可擦写存储器；
所述的印制电路板1的形状与一般集成电路卡形状一致；所述的卡触点11的形状和位置与一般集成电路卡中卡触点的形状和位置一致。
一方面在印制电路板1上印制了卡触点11，该印制电路板1的宽度和厚度以及印制在印制电路板1上的卡触点11的尺寸、位置都符合国家标准GB/T 16649《识别卡带触点的集成电路卡》的规定，这样该印制电路板1就可以象普通的集成电路卡一样直接插入读卡机2，和读卡机2有正确的电连接；在该印制电路板1上还安装了一片验证COS用的验证的集成电路卡中的芯片12，该芯片和普通的集成电路卡中的芯片的不同处在于(1)该芯片内部未制造用于存放COS操作系统软件的只读存储器；(2)该芯片将CPU122的地址总线127，数据总线128，控制线126都连接到了芯片的外接端口上。这样该芯片封装并安装到印制电路板1上以后，芯片的地址总线127，数据总线128，控制线126都被连接到了印制电路板1上。该验证的集成电路卡中的芯片12除了以上两点外，其性能参数都和被验证的COS操作系统最终所需安装的集成电路卡中的芯片相同。
在印制电路板1上还安装了跳线器13，可以是只读存储器或者是可擦写存储器的存储器14和测试模式端口15。
卡触点11和验证的集成电路卡中的芯片12的对应引线端口相连接，所述的对应引线端口是通过ISO7816串口124与输入输出口125的连接。验证的集成电路卡中的芯片12的控制线126通过跳线器13和存储器14相连，验证的集成电路卡中的芯片12的数据总线128及地址总线127通过印制电路板1和存储器14相连接。测试模式端口15通过印制电路板1上测试模式引线129和验证的集成电路卡中的芯片中的测试逻辑130连接。这样印制电路板1上就组成了一个完整的集成电路卡芯片系统。当测试模式信号从测试模式端口15送到验证的集成电路卡中的芯片12中的测试逻辑130时，需要验证的COS操作系统软件可以下载到存储器14中。该印制电路板1插入到读卡机2后就可以象一张普通的带微处理器的集成电路卡芯片一样进行操作运行。读卡机2和PC机3相连。这样PC机3就可以通过读卡机2对该印制电路板1组成的集成电路卡芯片系统进行各项测试，以验证系统上的COS操作系统软件是否正确，是否能在该集成电路卡芯片上正常地运行。如果发现在运行上有错误，则可以修改COS软件后重新下载到存储器14中再次测试。直到完全正常为止。由于验证的集成电路卡中的芯片12除了没有芯片内部的只读存储器和将地址总线127，数据总线128，控制线126引出外，其他特征参数都和被验收的COS操作系统所需要最终安装的集成电路卡芯片完全相同。因此在该印制电路板1上验证过的COS操作系统可以完全放心地制造到集成电路卡芯片中。
另一方面，集成电路卡芯片制造由于需要制版，试流片，初期投入很大。投入批量生产后产量也很大，必须要有百万片以上的产量。如果少量制造则每片芯片的成本会非常高。在本发明中的验证的集成电路卡中的芯片12需求量只在几十片至几百片。专门为它开发生产成本无法接受。但由于芯片厂商在推出新的芯片时必须先进行试流片。一般会采用将各种试制的产品放在一起试流片，称为MPW(多晶园计划)以减少试制成本。在采用MPW方式试制新的芯片时，将本发明中的验证的集成电路卡中的芯片12同时制造则成本就会大大下降，其价格比FPGA低廉得多。
权利要求
1.一种测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置，其特征在于包括印制电路板(1)，卡触点(11)，验证的集成电路卡中的芯片(12)，跳线器(13)，存储器(14)和测试模式端口(15)。所述的卡触点(11)，验证的集成电路卡中的芯片(12)，跳线器(13)，存储器(14)和测试模式端口(15)安装在所述的印制电路板(1)上。所述的卡触点(11)和测试模式端口(15)与验证的集成电路卡中的芯片(12)连接，所述的验证的集成电路卡中的芯片(12)的控制线(126)通过跳线器(13)与所述的存储器(14)连接，所述的验证的集成电路卡中的芯片(12)的数据总线(128)和地址总线(127)通过印制电路板(1)与存储器(14)连接。
2.根据权利要求1所述的一种测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置，其特征在于所述的验证的集成电路卡中的芯片(12)包括可擦写存储器(121)，CPU(122)，随机存储器(123)，所述的可擦写存储器(121)、CPU(122)和随机存储器(123)与卡触点(11)连接，所述的可擦写存储器(121)、CPU(122)和随机存储器(123)的控制线(126)与跳线器(13)连接。所述的可擦写存储器(121)、CPU(122)和随机存储器(123)的数据总线(128)和地址总线(127)通过印制电路板(1)与存储器(14)连接。
3.根据权利要求1所述的一种测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置，其特征在于所述的存储器(14)是只读存储器，或者是可擦写存储器。
4.根据权利要求1所述的一种测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置，其特征在于所述的印制电路板(1)的宽度和厚度与一般集成电路卡一致。
5.根据权利要求1所述的一种测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置，其特征在于所述的卡触点(11)的形状和位置与一般集成电路卡中卡触点的形状和位置一致。
全文摘要
本发明涉及一种测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置，包括印制电路板(1)，卡触点(11)，验证的集成电路卡中的芯片(12)，跳线器(13)，存储器(14)和测试模式端口(15)安装在所述的印制电路板(1)上；所述的卡触点(11)和测试模式端口(15)与验证的集成电路卡中的芯片(12)连接，所述的验证的集成电路卡中的芯片(12)的控制线(126)通过跳线器(13)与所述的存储器(14)连接，其数据总线(128)和地址总线(127)通过印制电路板(1)与存储器(14)连接；在测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容过程中，完全与需生产的集成电路卡一致，且价格低廉。
文档编号G01R31/28GK1540733SQ0311655
公开日2004年10月27日 申请日期2003年4月22日 优先权日2003年4月22日
发明者陈桂岭, 廖圣宜, 印义中, 印义言 申请人:上海华园微电子技术有限公司