专利名称：一种标准恒温槽技术性能测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及温度(测量)计量技术领域，主要适用于对标准恒温槽的技术性能进行测试。
背景技术：
标准恒温槽的工作范围从_90°C + 400°C。标准恒温槽的工作溶积通常是圆形体，是用与检定/校准各类温度传感器不可缺少的试验设备。不同的温度传感器对标准恒温槽的技术性能指标要求不同，使用时一定要清楚标准恒温槽的技术性能指标，是否满足检定/校准温度传感器的使用要求，否则将直接影响各类温度传感器的检定/校准结果的准确性。按照标准恒温槽技术性能的测试方法将两支标准钼电阻温度计插入被测标准恒温槽有效工作溶积内进行温度波动性的测试及上水平面和下水平面温度差的测试，用其测试结果来确定标准恒温槽的技术性能是否满足温度传感器检定规程上对的标准恒温槽的使用要求。现有技术中是通过标准恒温槽上设置的插盘，采用上述测试方法，将两支标准钼电阻温度计通过插盘上的插孔插入标准恒温槽的有效工作溶积内进行测试。现有的测试方式在实际应用中存在下述问题I.由于标准恒温槽插盘上的插孔是为“检定/校准温度传感器”设计的，并不是为标准钼电阻温度计设计的，再加上搅拌机作用下使标准恒温槽内的介质旋转，造成测试所使用的标准钼电阻温度计前后、左右摇摆，不能稳定固定在要求的插入点。2.各种型号的标准恒温槽内的工作直径不同，测试时要求的测试尺寸也不同，也造成标准钼电阻温度计不好定位，影响标准恒温槽技术性能测试结果的准确性，工作效率低。3.标准钼电阻温度计的插入深度也不能准确确定，只能凭经验估计插入深度。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种标准恒温槽技术性能测试装置，它具有通过为进行测试的两支标准钼电阻温度计分别设置两个基座，在各个基座上按标准钼电阻温度计的尺寸开设标准钼电阻温度计插孔，并通过夹子夹住插在标准钼电阻温度计插孔中的标准钼电阻温度计防止其下滑，解决了现有技术中通过插盘上插孔安放标准钼电阻温度计时，标准钼电阻温度计不能稳定固定在要求的插入点的特点。为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种标准恒温槽技术性能测试装置，包
括第一基座、第二基座、第一夹子、第二夹子；所述第一基座上开设有第一标准钼电阻温度计插孔，所述第一夹子设置于所述第一标准钼电阻温度计插孔上；所述第二基座上开设有第二标准钼电阻温度计插孔，所述第二夹子设置于所述第二标准钼电阻温度计插孔上。[0011]对上述基础结构进行改进的技术方案为，所述第一基座与所述第二基座之间通过间距可调的方式相互连接。对上述改进方案进行优选的技术方案为，还包括延伸架、紧固螺钉；所述第一基座与所述第二基座通过所述延伸架、紧固螺钉以间距可调的方式相互连接；第二基座包括底座、滑块和压板；所述底板外径大于压板外径，压板外径大于所述滑块外径，压板、滑块按顺序由上至下设置于所述底座上，所述第二标准钼电阻温度计插孔为经压板、滑块、底座由上至下垂直开设的通孔；所述延伸架的一端与第一基座连接，延伸架上开设有滑槽，第二基座上的滑块设置于所述滑槽中；第二基座的底座上开设有螺纹孔，所述紧固螺钉经滑槽与所述螺纹孔连接。对上述方案进行进一步改进的技术方案为，还包括深度标尺；所述深度标尺设置于所述第一基座上，或所述深度标尺设置于所述第二基座上。更加优选的技术方案为，所述深度标尺设置于所述第一标准钼电阻温度计插孔与所述第二标准钼电阻温度计插孔的连线上，位于第一标准钼电阻温度计插孔与第二标准钼电阻温度计插孔之间。本实用新型的有益效果在于I.本实用新型通过为进行测试的两支标准钼电阻温度计分别设置两个基座，在基座上按标准钼电阻温度计的尺寸开设标准钼电阻温度计插孔，并通过夹子夹住插在标准钼电阻温度计插孔中的标准钼电阻温度计防止其下滑，测试标准恒温槽时，用第一基座替代标准恒温槽插盘上的槽盖后，再将一个用于测试的标准钼电阻温度计从第一标准钼电阻温度计插孔中插入恒温槽有效容积中，并用夹子将该温度计夹住，防止其下坠；再将第二基座对准确标准恒温槽插盘边上的任意一孔，再将另一个用于测试的标准钼电阻温度计从第二标准钼电阻温度计插孔中插入标准恒温槽有效容积，并用夹子夹住，防止其下坠。由于标准钼电阻温度计受基座及夹子的限制，实现了测试用的两支标准钼电阻温度计不摇摆、不倾斜。解决了现有技术中通过插盘上插孔安放标准钼电阻温度计时，标准钼电阻温度计不能稳定固定在要求的插入点的问题。2.本实用新型通过将第一基座与第二基座之间以间距可调的方式进行连接，实现了一套本实用新型能够准确测试不同工作直径的标准恒温槽的目的，解决了现有技术中对于工作直径不同的标准恒温槽，标准钼电阻温度计不好定位，影响标准恒温槽技术性能测试结果的准确性，工作效率低的问题。3.通过增加深度标尺，使得测试人员能够直观精确地确定标准钼电阻温度计插入的深度，解决了现有技术中标准钼电阻温度计的插入深度不能准确确定，只能凭经验估计的问题。本实用新型通过带有标准钼电阻温度计插孔的两个基座，分别为进行测试的两个标准钼电阻温度计进行定位，并通过夹子对温度计进行固定，使标准钼电阻温度计稳定固定在要求的插入点；通过将第一基座与第二基座之间以间距可调的方式进行连接，实现了一套本实用新型能够准确测试不同工作直径的标准恒温槽的目的；通过增加深度标尺，使得测试人员能够直观精确地确定标准钼电阻温度计插入的深度，提高了标准恒温槽技术性能测试的可靠性和工作效率。完全满足JJF1030-2010《恒温槽技术性能测试技术规范》的测试要求。本实用新型结构简单、易于制作，使用效果好，适于推广应用。

图I为本实用新型实施例的俯视结构示意图；图2为本实用新型实施例的正视结构示意图；图3为标准恒温槽有效工作区域示意图。其中，I-第一基座，2-第一标准钼电阻温度计插孔，3-深度标尺，4-第二基座的底座，5-第二基座的压板，6-第一紧固螺钉，7-第二紧固螺钉，8第二标准钼电阻温度计插孔，9-延伸架，10-插在第一标准钼电阻温度计插孔中的标准钼电阻温度计，11-插在第二标准钼电阻温度计插孔中的标准钼电阻温度计。
具体实施方式
为进一步阐述本实用新型为达成预定实用新型目的所采取的技术手段及功效，
以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的标准恒温槽技术性能测试装置的具体实施方式
及工作原理进行详细说明。如图I、图2所示，本实用新型提供的标准恒温槽技术性能测试装置包括第一基座I、第二基座、第一夹子和第二夹子。其中，第一基座I上开设有第一标准钼电阻温度计插孔2，第一夹子设置在第一标准钼电阻温度计插孔2的上方；第二基座上开设有第二标准钼电阻温度计插孔8，第二夹子设置在第二标准钼电阻温度计插孔8的上方。为了使本实用新型能够适用于各种直径的标准恒温槽，将第一基座I与第二基座之间采用间距可调的方式进行连接。本实施例中通过采用延伸架9和紧固螺钉来实现第一基座I与第二基座之间间距可调。如图所示，第二基座包括底座4、滑块和压板5。其中，底板4的外径大于压板5的外径,压板5的外径大于滑块的外径,压板5、滑块、底座4由上至下顺序连接，第二标准钼电阻温度计插孔8为经压板5、滑块、底座4由上至下垂直开设的通孔。延伸架9的一端与第一基座I连接，本实施例中采用第一紧固螺钉6实现延伸架9在第一基座I上的固定连接在延伸架9及第一基座I上均开设螺纹孔，将第一紧固螺钉6穿过延伸架9上的螺纹孔、第一基座I上的螺纹孔锁紧即可。延伸架9上开设有滑槽，第二基座上的滑块设置于滑槽中；第二基座的底座4上开设有螺纹孔，第二紧固螺钉7经滑槽与底座4上的螺纹孔螺纹连接。使用时，根据被测试的标准恒温槽的直径使第二基座通过滑块在延伸架9的滑槽上滑动，到目标距离后锁紧紧固螺钉即可。为便于精确确认标准钼电阻温度计插入标准恒温槽有效容积中的深度，可以在本实用新型的基座上加装深度标尺3。深度标尺3可以设置在第一基座I上，或设置在第二基座上。当然也可以在两个基座上各设置一个。对于深度标尺3的设置位置，优选的，将其设置在第一标准钼电阻温度计插孔2与第二标准钼电阻温度计插孔8的连线上，位于第一标准钼电阻温度计插孔2与第二标准钼电阻温度计插孔8之间，使检测人员在两侧分别观察两个标准钼电阻温度计插入的深度，防止视线受到另一个标准钼电阻温度计的影响。采用本实施例提供的标准恒温槽技术性能测试装置对标准恒温槽进行技术性能测试时，按照下述方式进行I.将第一基座I替代标准恒温槽插盘上的槽盖后，再将用于测试的一个标准钼电阻温度计作为固定温度计，从第一标准钼电阻温度计插孔2插入至标准恒温槽内的O点处(见附图3)并用夹子固定，防止固定温度计I下坠。2.再将第二基座对准确标准恒温槽插盘边上的任意一孔后，用延伸架8将第一基座I与第二基座连接，并用第一紧固螺钉6、第二紧固螺钉7紧固。3.将用于测试的另一个标准钼电阻温度计作为活动温度计，从第二基座上的活动第二标准钼电阻温度计插孔8插入到标准恒温槽有效容积的A点处(见附图3)，插入深度以深度标尺3为依据，并用夹子将活动温度计夹住，防止活动温度计下坠。4.按以上安装完毕后待标准恒温槽温度达到设定温度后稳定后10分钟，按JJFl 184-2010《恒温槽技术性能测试技术规范》的要求进行测试。最后所应说明的是，以上具体实施方式
仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照实例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
权利要求1.一种标准恒温槽技术性能测试装置，其特征在于，包括第一基座、第二基座、第一夹子、第二夹子；所述第一基座上开设有第一标准钼电阻温度计插孔，所述第一夹子设置于所述第一标准钼电阻温度计插孔上；所述第二基座上开设有第二标准钼电阻温度计插孔，所述第二夹子设置于所述第二标准钼电阻温度计插孔上。
2.如权利要求I所述的标准恒温槽技术性能测试装置，其特征在于，所述第一基座与所述第二基座之间通过间距可调的方式相互连接。
3.如权利要求2所述的标准恒温槽技术性能测试装置，其特征在于，还包括延伸架、紧固螺钉；所述第一基座与所述第二基座通过所述延伸架、紧固螺钉以间距可调的方式相互连接；第二基座包括底座、滑块和压板；所述底板外径大于压板外径，压板外径大于所述滑块外径，压板、滑块按顺序由上至下设置于所述底座上，所述第二标准钼电阻温度计插孔为经压板、滑块、底座由上至下垂直开设的通孔；所述延伸架的一端与第一基座连接，延伸架上开设有滑槽，第二基座上的滑块设置于所述滑槽中；第二基座的底座上开设有螺纹孔，所述紧固螺钉经滑槽与所述螺纹孔连接。
4.如权利要求I至3中任意一项所述的标准恒温槽技术性能测试装置，其特征在于，还包括深度标尺；所述深度标尺设置于所述第一基座上，或所述深度标尺设置于所述第二基座上。
5.如权利要求4所述的标准恒温槽技术性能测试装置，其特征在于，所述深度标尺设置于所述第一标准钼电阻温度计插孔与所述第二标准钼电阻温度计插孔的连线上，位于第一标准钼电阻温度计插孔与第二标准钼电阻温度计插孔之间。
专利摘要本实用新型涉及温度(测量)计量技术领域，公开了一种标准恒温槽技术性能测试装置，包括第一基座、第二基座、第一夹子、第二夹子；第一基座上开设有第一标准铂电阻温度计插孔，第一夹子设置于第一标准铂电阻温度计插孔上；第二基座上开设有第二标准铂电阻温度计插孔，第二夹子设置于第二标准铂电阻温度计插孔上。本实用新型能够使标准铂电阻温度计稳定固定在要求的插入点；能够准确测试不同工作直径的标准恒温槽；使得测试人员直观精确地确定标准铂电阻温度计插入的深度，提高了标准恒温槽技术性能测试的可靠性和工作效率。完全满足JJF1030-2010《恒温槽技术性能测试技术规范》的测试要求。
文档编号G01K1/14GK202748148SQ201220107789
公开日2013年2月20日 申请日期2012年3月21日 优先权日2012年3月21日
发明者卢利民, 郭小军, 李丽, 肖莉, 但薇, 张汉菊, 刘文生, 田军 申请人:武汉钢铁(集团)公司