专利名称：铝箔搪瓷密着性能的划痕检测方法
技术领域：
本发明是属于搪瓷密着性能检测方法的技术领域。
密着是指搪瓷烧成后，瓷釉与金属牢固结合的性能。密着检测是对搪瓷瓷层在金属坯胎上密着强度的测定。一般采用间接方法对其进行测定。对铝箔搪瓷密着性能的测定，如《中国搪瓷》1985年第2期(第6卷)中“铝箔搪瓷的研制”一文中所描述的那样，是采用弯曲法。即将试样弯曲90～180°角，按瓷层脱落情况来判断密着性。
《中华人民共和国国家标准涂料检验方法第一册》中“漆膜附着力测定法”一节描述了用漆膜附着力测定仪测定漆膜对底材粘合附着力的方法。即将测定仪的针头压入被测漆膜内，使针头接触到底板并在漆膜上划出园滚线划痕，检查划痕间漆膜脱落情况，以此对漆膜附着力进行定级。
为了更准确可靠地测定铝箔搪瓷的密着性能，发明了铝箔搪瓷密着性能的划痕检测方法。
所发明的划痕检测方法是采用漆膜附着力试验仪作为检测仪器。测试时，将被测铝箔搪瓷片固定在试验仪的试验台上，采用螺杆旋紧的方式，用一压板将被测铝箔搪瓷片的四周压紧在试验台上，将测定仪的针头加压，使针头压入铝箔搪瓷表面0.05±0.01mm深。启动试验仪后，针头会在铝箔搪瓷表面划出园滚线划痕。凭肉眼或者放大镜检查划痕及划痕边沿搪瓷层的脱落情况;如果只在划痕处有搪瓷层脱落，则被检样品的密着性能为合格;如果划痕及划痕边沿处均有搪瓷层脱落，则被检样品的密着性能为不合格。
所发明的铝箔搪瓷密着性能的划痕检测方法较之弯曲检测法能更准确地检测出铝箔搪瓷的密着性能。用弯曲法检测，由于铝箔具有良好的延展性，在烧制铝箔搪瓷的过程中又在铝箔搪瓷内产生有内应力，即使密着性能不好的被检品，虽经弯曲检测仍然不会掉瓷，因而会被误认为合格品。这样的合格品，经过一定时间放置或者遇有酸、碱等气氛条件的浸蚀，会因为瓷层密着性能不合格而出现瓷层爆落。经划痕检测方法检测出的合格品，不会因为密着性能不合格而出现上述瓷层爆落的现象。
最好的铝箔搪瓷密着性能的划痕检测方法采用的仪器为QFD型电动漆膜附着力试验仪。对试验仪针头所加压力，视铝箔及瓷层厚度而确定在50克至300克之间。要采用一中间有空位的压板将被测样品压紧在试验台上，使试验仪针头能在空位内的样品上划出园滚线划痕。
权利要求
1.铝箔搪瓷密着性能检测方法，本发明的特征是用针头在铝箔搪瓷面上划出园滚线划痕，根据划痕及划痕边沿的脱瓷情况来确定被测样品的密着性能是否合格。
全文摘要
本发明是属于搪瓷密着性能检测方法的技术领域。本发明是用加有一定压力的针头在铝箔搪瓷面上划出圆滚线划痕，检查划痕及其边沿瓷层的脱落情况，以此确定被测铝箔搪瓷的密着性能。本发明较之弯曲检测法，能更准确地确定出铝箔搪瓷的密着性能合格品。
文档编号G01N19/04GK1036456SQ8810478
公开日1989年10月18日 申请日期1988年7月30日 优先权日1988年7月30日
发明者江义齐 申请人:重庆市硅酸盐研究所