专利名称：一种阻抗测试件的制作方法
技术领域：
本发明涉及印刷电路板技术领域，尤其涉及一种阻抗测试件。
背景技术：
印刷电路板是指印制有电路图的绝缘板。印制电路板的设计是以电路原理图为根 据，实现电路设计者所需要的功能。印刷电路板的设计主要指版图设计，需要考虑外部连接 的布局、内部电子元件的优化布局、金属连线和通孔的优化布局、电磁保护、热耗散等各种因素。目前，丝网印刷已经成为制造电路板的主要方法。所谓丝网印刷是通过刮板的挤 压，使油墨通过图文部分的网孔转移到承载物。其采用自动丝网印刷机生产，具有工作效率 高、丝印质量可靠的优点。印刷电路板制作完成后，需要经过测试仪测试印刷电路板是否符合用户的要求。 若果对印刷电路板直接测试，会造成操作过程中对印刷电路板的损坏。因此，为了保证印刷 电路板不受损坏，同时又能够测试印刷电路板是否符合用户的要求，需要制作与印刷电路 板的电路布局相同的阻抗测试件，来代替印刷电路板，使用测试仪对该阻抗测试件进行测 试，即可解决上述问题。印刷电路板的阻抗有特性阻抗和差分阻抗两种，但是现有的阻抗测试件只具有一 种阻抗，测试仪测试阻抗测试件时，只能测试一种阻抗，因此，若要完成对印刷电路板的特 性阻抗和差分阻抗的测试，需要分别制作两块与需要测试的印刷电路板的特性阻抗和差分 阻抗相对应的阻抗测试件，即一块阻抗测试件具有特性阻抗，另一块阻抗测试件具有差分 阻抗。使用测试仪分别对两块阻抗测试件测试，即可完成与其相对应的印刷电路板的特性 阻抗和差分阻抗的测试，进而判断印刷电路板是否符合用户的要求。综上所述，由于现有的阻抗测试件只具有一种阻抗，因此，测试印刷电路板的阻抗 时，需要设计两块测试件才能完成测试印刷电路板的特性阻抗和差分阻抗，材料使用量增 大，增加制作成本。

发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种阻抗测试件，以实现在同一块测试件上完 成对印刷电路板的特性阻抗和差分阻抗的测试，节约材料，降低制作成本。为实现上述目的，本发明提供的一种阻抗测试件的技术方案如下一种阻抗测试件，所述测试件划分有特性阻抗线区和差分阻抗线区，所述特性阻 抗线区和所述差分阻抗线区分别设置有至少一组测试孔。优选地，所述测试件的边缘处设置有两个定位孔。优选地，所述特性阻抗线区和所述差分阻抗线区设置的测试孔的组数最多为10组。优选地，所述测试孔盘的形状为圆形和方形。
优选地，所述测试孔的直径为1. 0mm。优选地，所述定位孔的直径为3. 2mm。优选地，所述测试件的长度为235mm，宽度为16mm。优选地，所述两个定位孔之间的距离为228mm。优选地，所述特性阻抗线区和所述差分阻抗线区分别标记有层次、阻抗大小和公 差代号标识。优选地，所述特性阻抗线区设置有替换孔。应用上述技术方案，阻抗测试件划分有特性阻抗线区和差分阻抗线区，可以使用 阻抗测试仪在上述两个区内相应的完成对特性阻抗和差分阻抗的测试。与现有技术需要采 用两个测试件完成测试的方案相比，节约材料，降低制作成本。


为了更清楚地说明本发明实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的 介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人 员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本发明实施例提供的阻抗测试件的结构示意图；图2为本发明实施例提供的阻抗测试件的另一种结构示意图；图3为图2中C方框的放大图。
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部实施例。基于本 发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他 实施例，都属于本发明保护范围。为了测试印刷电路板是否符合用户的要求，同时又能够保证印刷电路板不受损 坏，需要制作与印刷电路板的电路布局相同的阻抗测试件来代替印刷电路板，使用测试仪 对该阻抗测试件进行测试。申请人:经研究发现，印刷电路板的阻抗有特性阻抗和差分阻抗两种，但是现有的 阻抗测试板测试件只具有一种阻抗，测试仪测试阻抗测试件时，只能测试一种阻抗，即只能 测试印刷电路板的特性阻抗或者差分阻抗，因此，要完成对印刷电路板的阻抗测试需要设 计两个阻抗测试件，每个阻抗测试件具有的阻抗与印刷电路板的一种阻抗相对应，导致材 料使用量大，增加制作成本。为了解决上述问题，本发明实施例提供了一种阻抗测试件，该阻抗测试件与需要 进行测试的印刷电路板的规格相同，其结构示意图如图1所示，其划分为特性阻抗线区1 和差分阻抗线区2，如图1中所示测试件的以图中所画虚线为界限，虚线上部分为特性阻抗 线区1，下部分为差分阻抗线区2。特性阻抗线区1具有特性阻抗，该特性阻抗与印刷电路 板的特性阻抗相对应，特性阻抗线区1上设置有至少一组测试孔3，即两个测试孔3，如图1 中虚线框A所示。同样，差分阻抗线区2具有与印刷电路板的相对应的差分阻抗，其上也设 置有至少一组测试孔3，即四个测试孔3，如图1中虚线框B所示。
4
使用TDR(Time Domain Reflectometer，时域反射计)2000阻抗测试仪测试本发明 实施例提供的阻抗测试件时，需要将测试探头插入测试孔3中。为了保证测试探针插入正 确，对测试孔3采用不同形状进行标记，如图1中虚线框A所示。测试孔3的形状为圆形和 方形，圆形测试孔3为连接孔，而方形测试孔3为接地孔，。当然，测试孔3还可以采用不同 的形状来区分连接孔和接地孔，也可以将上述的形状置换，即圆形测试孔3为接地孔，而方 形测试孔3为连接孔，对此本实施例不再加以阐述。TDR2000阻抗测试仪测试阻抗测试件时，将该阻抗测试件的正面朝上，放置在 TDR2000阻抗测试仪上，由于阻抗测试件中测试孔3的位置与测试仪测试仪上的测试探针 的位置相对应，所以当阻抗测试板放置在TDR2000测试仪上时，测试探头即可插入与之相 对应的测试孔3，即测试特性阻抗时，将测试探头插入如图1中虚线框A所示的测试孔3中， 并且要保证测试探头插入连接孔和接地孔正确。同样，测试差分阻抗时，将测试探头插入如 图1中虚线框B所示的测试孔3中，也要保证测试探头插入连接孔和接地孔正确。利用本 阻抗测试仪测试特性阻抗和测试差分阻抗两者可同时进行。为了将阻抗测试件固定在TDR2000阻抗测试仪上，阻抗测试件的边缘处设置有两 个定位孔4，如图1所示。在测试印刷电路板时，将定位孔4套上TDR2000阻抗测试仪的定 位销上，用定位销来定位测试件。上述为TDR阻抗测试仪自动测试阻抗测试件，当然还可以采用人工的方式，即操 作人员将测试探针逐一与测试孔3连接，以完成测试。图1所示的阻抗测试件的特性阻抗线区和差分阻抗线区设置的测试孔的组数最 多分别为10组，即可以分别测试出10组特性阻抗值和10组差分阻抗值。测试孔3的直径为1. 0mm，该直径是根据测试探针的直径设置的，因此，若测试探 针直径改变，则需要改变测试孔3的直径。如图1所示，位于同一行的两个相邻测试孔的间 距为2. 4mm。定位孔4的直径为3. 2mm，是由定位销的直径确定的。该阻抗测试件的长度为235mm，宽度为16mm。之所以长度设为235mm是因为按要 求特性阻抗线的最小测试长度不小于60mm，差分阻抗的最小测试长度不小于55mm，为尽量 节约材料而又可以保证测试效果，所以长度采用235mm。而宽度的设置是根据测试阻抗线的 组数来设置的，10组特性阻抗线和10组差分阻抗线最小宽度为16mm。根据测试件的长度、 特性阻抗线的最小测试长度和差分阻抗的最小测试长度，确定两个定位孔4之间的距离， 本发明实施例中两个定位孔4的距离为228mm。特性阻抗值和差分阻抗值各分为多个层次，为了区分测得的阻抗值为哪个层次， 特性阻抗线区1和差分阻抗线区2分别标记有层次、阻抗大小和公差代号标识5，如图2所 示。图2为本发明实施例提供的阻抗测试件的另一种结构示意图。图2中其他的构造与图 1相同。图3为图2中C方框的放大图，以更好的说明层次、阻抗大小和公差代号标识5的 用途。标识5共7位数字，其中前两位表示层次号，中间四位代表有一位小数的阻抗值，单 位是欧姆，最后一位字母是公差代号，例如图3中的010500A表示第一层阻抗线，其阻抗值 为50.0Ω，公差代号为Α。其公差可自行规定，例如，公差代号A =+/-10% ;Β =+/-15%; C = +/"5% ；T =特殊公差，表示非代号Α、B、C表示的常用公差，需要查询工程制作指示来 获取。当印刷电路板上所标记的第一层阻抗线的阻抗值在公差代号A的范围内，则表示该
5印刷电路板的第一层阻抗线的阻抗值符合用户的需求。采用标识6进行标识，避免操作人 员在测试多个阻抗值时混淆所测试的阻抗值，例如将所测试的第二层阻抗线的阻抗值误 认为是第三层阻抗线的阻抗值。特性阻抗线区1从左向右第一列的四个孔为替换孔6，作为接地孔使用。由于人 工测试每层特性阻抗时，每次都需要将测试探头重新连接一个连接孔和一个接地孔，为了 避免每测试一个特性阻抗时，都需要将测试探头重新连接接地孔，因此，使用替换孔6来替 换接地孔，即方形测试孔3，所以测试每个层次的特性阻抗时，只需要将测试探头与连接孔 重新连接即可，从而简化操作。而差分阻抗线区2再测试差分阻抗时，需要同时连接两个接 地孔，因此在差分阻抗线区未设置有替换孔6。应用上述技术方案，阻抗测试件划分有特性阻抗线区和差分阻抗线区，可以使用 阻抗测试仪在上述两个区内相应的完成对特性阻抗和差分阻抗的测试。与现有技术需要采 用两个测试件完成测试的方案相比，节约材料，降低制作成本。对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。 对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的 一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明 将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一 致的最宽的范围。
权利要求
一种阻抗测试件，其特征在于，所述测试件划分有特性阻抗线区和差分阻抗线区，所述特性阻抗线区和所述差分阻抗线区分别设置有至少一组测试孔。
2.根据权利要求1所述的阻抗测试件，其特征在于，所述测试件的边缘处设置有两个 定位孔。
3.根据权利要求1或2所述的阻抗测试件，其特征在于，所述特性阻抗线区和所述差分 阻抗线区设置的测试孔的组数最多为10组。
4.根据权利要求1或2所述的阻抗测试件，其特征在于，所述测试孔盘的形状为圆形和方形。
5.根据权利要求1或2所述的阻抗测试件，其特征在于，所述测试孔的直径为1.Omm0
6.根据权利要求5所述的阻抗测试件，其特征在于，所述定位孔的直径为3.2mm。
7.根据权利要求6所述的阻抗测试件，其特征在于，所述测试件的长度为235mm，宽度 为 16mm0
8.根据权利要求7所述的阻抗测试件，其特征在于，所述两个定位孔之间的距离为 228mm。
9.根据权利要求1或2所述的阻抗测试件，其特征在于，所述特性阻抗线区和所述差分 阻抗线区分别标记有层次、阻抗大小和公差代号标识。
10.根据权利要求9所述的阻抗测试件，其特征在于，所述特性阻抗线区设置有替换孔。
全文摘要
本发明公开了一种阻抗测试件，所述测试件划分有特性阻抗线区和差分阻抗线区，所述特性阻抗线区和所述差分阻抗线区分别设置有至少一组测试孔。应用上述技术方案，阻抗测试件划分有特性阻抗线区和差分阻抗线区，可以使用阻抗测试仪在上述两个区内相应的完成对特性阻抗和差分阻抗的测试。与现有技术需要采用两个测试件完成测试的方案相比，节约材料，降低制作成本。
文档编号G01R27/02GK101949978SQ20101026599
公开日2011年1月19日 申请日期2010年8月26日 优先权日2010年8月26日
发明者刘田, 王琢 申请人:深南电路有限公司