专利名称：光纤测温系统的现场标定装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光纤测温系统的现场标定装置，特别涉及一种专门用于对处于强 电磁场环境的光纤测温系统探测光纤段进行现场温度值标定的装置。
背景技术：
随着社会的飞速发展，特别是城市化进程的加快，城市基础建设滞后城市发展，特别 是冬、夏季的用电高峰，电力系统超负荷运转，输配电系统的安全，特别密集电缆的运行 安全需要引起特别的关注，电缆安全运行的一个主要表征就是其运行温度。传统热电耦、 铂电阻等点式温度探测装置由金属材料构成，直接用于电力系统测温会带来本征的不安全 性，而且随着探测点数的急剧增加，这类手段越来越不具备经济性。
而现有的光纤测温系统本身不带电，而且又是良好绝缘的玻璃构成，本征上安全。但 由于被测电器设备的调整，附着于其上的探测光纤也跟随着调整，从而引起探测光纤的截 断、接续等，需要对整个测温系统重新标定。
因此，研究强电磁场环境下的光纤测温系统的现场标定的装置具有重要的使用意义和 经济价值。

实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是提供光纤测温系统的现场标定的装置，该装置重量 轻、可交直流两种供电方式，具有很好的抗电磁干扰能力，能够提供2个以上高精度的恒 定温度点，该方法操作简单。
为解决上述技术问题，本实用新型光纤测温系统的现场标定的装置采用如下技术方
案光纤测温系统的现场标定装置，用于对处于强电磁场环境的光纤测温系统的探测光纤 进行现场温度值标定的，该装置包括密闭容器，其内部装设有测温装置及待标定的探测光
纤；
半导体制冷器，其与所述密闭容器相连，
控制电路，用于控制半导体制冷器，使其加热或制冷密闭容器内的空气； 所述测温装置将探测到的密闭容器内的温度反馈给控制装置； 显示装置，其与控制电路相连，用于显示控制电路的温度。
作为本实用新型优选方案之一，该装置进一步包括与控制电路相连的打印装置，用于实时打印。
作为本实用新型优选方案之一，所述半导体制冷器通过螺钉与密闭容器固定。 作为本实用新型优选方案之一，所述探测光纤标定段的长度为8-10米。 本实用新型能够在变电站强电磁环境中，通过调整控制电路，控制半导体致冷器的工
作状态，可在密闭容器内产生多个高精度温度恒定值，该温度值同时通过显示装置显示，
也可通过打印装置打印。


图1是本实用新型光纤测温系统的现场标定装置结构示意图2是本实用新型光纤测温系统的现场标定装置连接关系示意图3是本实用新型控制电路温度设置面板示意图4是本实用新型显示装置示意图。
附图标记如下
1、密闭容器 2、探测光纤
3、半导体致冷器 4、测温装置
5、控制电路 6、显示装置
7、打印装置
具体实施方式
本实用新型光纤测温系统的现场标定装置包括如下结构，下文中参照附图将对此进行 详细描述。
如图1至图2所示，本实用新型包括密闭容器1，密闭容器1内放置待标定探测光纤 2，半导体致冷器3受控制电路5控制，测温装置4探测密闭容器1内的实际温度，并送 至控制电路5，通过显示装置6显示，也可通过打印装置7实时打印。
密闭容器1可以放置8至10米的待标定的探测光纤2，其内部温度由控制电路5的 设置决定。
密闭容器1内装有测温装置4，测温装置4将探测到的密闭容器1的温度反馈给控制 电路5。
密闭容器1的上面装有用螺钉固定的半导体致冷器3，半导体致冷器3在控制电路5 的控制下加热或制冷密闭容器1内的空气，密闭容器1内的空气将热量传递给探测光纤2使其温度与密闭容器1内的温度一致。
该光纤测温系统的现场标定装置能够提供2个以上高精度(《土0.5'C)的恒定温度值。
具体的操作本光纤测温系统的现场标定装置的步骤如下
首先将待标定探测光纤2放入本装置密闭容器1内，然后打开图3中的电源按钮， 电源指示灯亮，本标定装置开始工作，按一下图3上的设置按钮，本装置处于标定温度设 定状态，通过调节图3上的增、减按钮，调整设定温度值至欲标定的恒定温度值后，再 次按一下图3上的设置按钮，本标定装置处于正常工作状态，待图4所示的显示装置达到 设定温度值后15分钟，密闭容器内的温度达到恒定，此时标定装置显示的温度值就是待 标定探测光纤2的温度值，将光纤测温系统测到的该段探测光纤2的温度值调整为标定装 置显示的温度值即完成一次标定，根据需要可打印该温度值，根据实际情况工作需要，可 对测温系统的多个位置处的多段探测光纤按上述过程进行标定。
该方法是将光纤测温系统待标定的一段探测光纤，置于一个通过控制电路控制的具有 恒定温度值的装置内，从而使待标定的探测光纤段处于一个己知的标准温度环境中。然后 通过将光纤测温系统显示的该段探测光纤的温度值调整至该标准温度值即完成对系统的 标定。根据需要可对探测光纤多处进行标定；该方法也可现场校验使用了一段时间后光纤 测温系统的相关测温段的位置精度和测温精度。
该标定装置的恒温环境由一定形状、 一定体积的密闭容器构成，该密闭容器的温度由 半导体致冷器3、测温装置4、控制电路5、显示装置6 (如图4所示)和打印装置7构成， 通过控制电路5可以设定密闭容器1的温度，并通过显示装置6 (数码管)实时显示密闭 容器l内的温度，而且可以通过打印机实时打印该温度。
控制电路5根据欲设定密闭容器1内的恒定温度与测温装置4测定值之间差的符号 决定半导体是出于加热还是制冷工作状态，根据差值的大小决定驱动半导体致冷器3驱 动电流的大小，直至密闭容器内的温度与设定的温度一致；测温装置测的密闭容器内的 温度同时通过显示装置实时显示；打印装置可根据需要将测得的密闭容器的温度值打印 出来。
为了便于随时校验该装置的准确性，该装置还通过附加高精度玻璃温度计实现装置 精度的自校验功能。将经过权威部分鉴定过的高精度玻璃温度计置入本标定装置的密闭 容器1内，打开本标定装置的电源，经过30分钟的恒定时间，检査本标定装置显示的 温度是否与置入标定装置密闭容器l内的玻璃温度计读数一致，如不一致，通过本装置的程序设定，将本标定装置的显示读数与玻璃温度计的读数一致，完成标定。
该装置也可现场校验使用了一段时间后光纤测温系统的相关测温段的位置精度和测
温精度，将光纤测温系统的一段探测光纤置入本标定装置的密闭容器l内，打开本标定装
置的电源，经过30分钟的恒定时间，检査光纤测温系统测得的温度包的位置是否与置入
标定装置的密闭容器1内的探测光纤上的位置标志一致，该温包的温度值守否与本标定装
置显示的温度一致，如有差别，将光纤测温系统的读数分别调至光纤的实际位置及本标定
装置显示的温度，即可完成标定。
该装置是一种能够在变电站强电磁环境中，通过调整控制电路5，控制半导体致冷 器3的工作状态，就可在密闭容器l内产生多个(2个以上)高精度(《土0.5'C)温度 恒定值。该温度值同时通过显示装置6显示，也可通过打印装置7打印。
上述设计实例仅用于对本实用新型进行说明，并不构成对权利要求范围的限制，本领 域技术人员可以想到的其他实质等同手段，均在本实用新型权利要求范围内。
权利要求1. 光纤测温系统的现场标定装置，用于对处于强电磁场环境的光纤测温系统的探测光纤进行现场温度值标定的，其特征在于该装置包括密闭容器，其内部装设有测温装置及待标定的探测光纤；半导体制冷器，其与所述密闭容器相连，控制电路，用于控制半导体制冷器，使其加热或制冷密闭容器内的空气；所述测温装置将探测到的密闭容器内的温度反馈给控制装置；显示装置，其与控制电路相连，用于显示控制电路的温度。
2. 如权利要求1所述的光纤测温系统的现场标定装置，其特征在于该装置进一步包括 与控制电路相连的打印装置，用于实时打印。
3. 如权利要求1或2所述的光纤测温系统的现场标定装置，其特征在于:所述半导体制冷 器通过螺钉与密闭容器固定。
4. 如权利要求1或2所述的光纤测温系统的现场标定装置，其特征在于所述探测光纤标定段长度为8至10米。
专利摘要本实用新型涉及一种用于对处于强电磁场环境的变电站内光纤测温系统的探测光纤进行现场温度值标定的装置。该装置能够在变电站强电磁环境中，通过调整控制电路，控制半导体致冷器的工作状态，就可在密闭容器内产生多个高精度温度恒定值，该温度值同时通过显示装置显示，也可通过打印装置打印。
文档编号G01K15/00GK201314849SQ20082015474
公开日2009年9月23日 申请日期2008年10月31日 优先权日2008年10月31日
发明者俞志峰, 宏 关, 吴海生, 姚建歆, 悦 张, 康 王 申请人:上海市电力公司;上海腾隆电力科技有限公司;上海欧忆光电技术有限公司