专利名称：一种发光二极管测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种发光二极管，尤其涉及一种发光二极管测试装置。
背景技术：
发光二极管(Light Emitting Diode，LED)属于半导体器件，其原理是 在半导体PN结的两端加上电压时，电子开始移动和空穴结合，此时多余的能 量将以光的形式释放出来，产生辐射光，从而把电能直接转换为光能。其被广 泛用于越来越多的领域，比如用在手机键盘、液晶显示屏和照明中，因此LED 好坏的测试变得越来越重要，现在一般都采用这样的方式进行测试，如图l所 示，LED1放置在制具2上，开始测试时，接通测试按钮3，通过人眼观察LED1 的亮暗来判断其LED是否合格，其LED测试用电压源驱动，作业员通过人目W见 察接通电源的LED是否点亮来判断其是否合格，由于测试人员的主观性，从而 引起测试不准确，回报结果失真。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种测试准 确，效率高的发光二极管测试装置。
其技术问题通过以下的技术方案予以解决 一种发光二极管测试装置，包 括检测电路板，其特征在于，该测试装置还包括传导发光二极管光信号的光导 纤维和用于接收发光二极管光信号的光敏三极管，所述光敏三极管安装于所述 检测电路板上。
作为上述技术方案的进一步改进，所述发光二极管测试装置还包括第一密 封室，所述发光二极管置于所述第一密封室内，所述第一密封室安装于所述制 具上，所述第一密封室开有垂直于所述制具的第一过孔，所述第一过孔的直径与所述光学纤维的直径相等。
作为上述技术方案的进一步改进，所述发光二极管测试装置还包括第二密 封室，所述光敏三极管置于所述第二密封室内，所述第二密封室安装于所述检 测电路板上，所述第二密封室开有垂直于所述检测电路板的第二过孔，所述第 二过孔的直径与所述光学纤维的直径相等。
作为上述技术方案的进一步改进，所述发光二极管测试装置还包括执行装
置，所述执行装置置于所述第一密封室的平行于所述制具的平面上。
作为上述技术方案的进一步改进，所述发光二极管测试装置还包括固定板 和工作台，所述执行装置固定于所述固定板上，所述检测电路板安装于所述工 作台上。
作为上述技术方案的进一步改进，所述发光二极管测试装置还包括一指示 装置，所述指示装置安装于所述工作台上。
作为上述技术方案的进一步改进，所述发光二极管测试装置还包括稳压模 块，所述稳压模块的一端与所述开关相连，另一端与所述制具和所述检测电路 板相连。
作为上述技术方案的进一步改进，所述发光二极管测试装置还包括开关， 所述开关安装于所述工作台上。
本实用新型的有益效果是其利用光导纤维将发光二极管发出的光传递给 光敏三极管，其通过检测电路检测光敏三极管的电信号，判断其LED的好坏， 其准确性和效率都大大地得到了提高。


图l是现有测试装置示意图。
图2是本实用新型第一实施例发光二极管测试装置的结构图。 图3是本实用新型第二实施例发光二极管测试装置的结构图。图4是本实用新型第三实施例发光二极管测试装置的结构图。 图5是本实用新型第四实施例发光二极管测试装置的结构图。 图6是本实用新型第五实施例发光二极管测试装置的结构图。 图7是本实用新型第六实施例发光二极管测试装置的结构图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图 及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体 实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
图2至图7示出了本实用新型各个实施例测试装置的结构图。如图2所示 的发光二极管测试装置电路板检测电路板12，该测试装置还包括传导发光二极 管光信号的光导纤维9和用于接收发光二极管光信号的光敏三极管11，光导纤 维9的一端置于发光二极管的上方，光导纤维9的另一端置于光敏三极管11 的上方，光敏三极管11安装于检测电路板12上。
如图3所示，该测试装置还包括密封室8、开关5和工作台4，发光二极管置 于密封室8内，密封室8安装于工作台4上，密封室8开有垂直于工作台4的第一过 孔，第一过孔的直径与光学纤维9的直径相等，密封室8的高度略高于发光二极 管，将发光二极管置于密封室8内，密封室8将外界的光线与发光二极管发出的 光线有效的隔离，保3正光导纤维传输的光(信号)为发光二极管发出的光(信号)， 以保i正测试的准确性。
如图4所示，该测试装置还包括密封室IO,光敏三极管11置于密封室10内， 密封室10安装于检测电路板上，密封室10开有垂直于检测电路板12的第二过孑L, 第二过孔的直径与光学纤维9的直径相等，密封室10的高度略高于光敏三极管 11，将光敏三极管置于密封室10内，密封室10将外界的光线与光敏三级管所接 收到的光(信号)有效的隔离，保证光敏三极管所接收到的光(信号)为发光二极 管发出的光(信号)，以保^t测试的准确性。
5如图5所示，该测试装置该测试装置还包括一指示装置，指示装置安装于 工作台上，在本实施例中，其指示装置为賴示灯13,该指示装置可以指示所测 LED模组的好坏，LED模组出现故障时，指示灯13点亮，直观的通知检测人员 判断LED模组好坏。
如图6所示，该测试装置还包括执行装置14，执行装置14置于密封室8的平 行于发光二极管的平面上，执行装置14用于压紧密封室8，保证其外界光线无法 进入密封室8内，使得光导纤维9只能传输发光二极管发出的光信号，进一步保 证其测试的稳定性。
如图7所示，该测试装置还包括固定板15,执行装置14垂直于工作台4 的平面固定于固定板15垂直于工作台4的平面上，所述固定板15上开有执行 机构，密封室8与执行机构沿垂直于工作台4的方向滑动。
该测试装置该测试装置还包括一指示装置，指示装置安装于工作台上，在 本实施例中，其指示装置为指示灯13,该指示装置可以检测整个测试LED模组 的好坏，测试LED模组出现故障时，指示灯13点亮，直观的通知检测人员检测 整个LED模组。
该测试装置还包括一个稳压模块，该稳压模块的一端与开关5相连，另一 端与制具和检测电路板相连，将电压源提供的电源信号稳压输出，为发光二级 管提供稳定的检测电流(电源)，保证其发光二极管发光亮度的一致，保证其测 试的准确性。
其具体工作过程如下
外接工作电源，将开关5闭合，整个测试装置开始工作，稳压模块将外接 的工作电压稳压后输出，为整个测试装置提供工作电源，发光二极管模组安装 于制具内，与电路板电连接，发光二极管与制具电连接，制具上的接线端子与 发光二极管上的接线端子相连，保证其恒流源电流能够传输给发光二极管，为 发光二极管的发光提供稳定的工作电流，密封室8安装在制具上，发光二极管 置于密封室8内，密封室8开有过孔，其直径的大小与光导纤维的直径相等，
6光导纤维罩于发光二极管上方，发光二极管发出的光经过光导纤维传输到安装
在检测电路板上的光敏三极管，光敏三极管接收其光信号，密封室8罩于发光 二极管的外面，保证其传输给光敏三极管的光为发光二极管发出的光，防止外 界的光(信号)传输到光导纤维中，引起测试的不准确；在光敏三极管的外面 也罩有密封室IO,其作用与密封室8相似，光敏二极管将接收到LED发出的光 转换成电信号传输给检测电路板，由其判断其LED的好坏。执行装置置于密封 室8上，用于压紧密封室8,保证外界光线无法进入密封室8，，执行装置14 垂直于工作台4的平面固定于固定板15垂直于工作台4的平面上，固定板15 上开有执行机构，密封室8与执行机构沿垂直于工作台4的方向滑动。当测试 结束后，执行装置上升移走密封室，即更换需要测试的发光二极管模组。该测 试装置可以同时测多个发光二极管模组，只需增加光导纤维和相应的机构即可。 以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型， 凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应 包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种发光二极管测试装置，包括检测电路板，其特征在于，该测试装置还包括传导发光二极管光信号的光导纤维和用于接收发光二极管光信号的光敏三极管，所述光敏三极管安装于所述检测电路板上。
2. 根据权利要求l所述的一种发光二极管测试装置，其特征在于，该测试 装置还包括第一密封室，所述发光二极管置于所述第一密封室内，所述第一密 封室安装于所述制具上，所述第一密封室开有垂直于所述制具的第一过孔，所 述第一过孔的直径与所述光学纤维的直径相等。
3. 根据权利要求l所述的一种发光二极管测试装置，其特征在于，该测试 装置还包括第二密封室，所述光敏三极管置于所述第二密封室内，所述第二密 封室安装于所述检测电路板上，所述第二密封室开有垂直于所述检测电路板的 第二过孔，所述第二过孔的直径与所述光学纤维的直径相等。
4. 根据权利要求2所述的一种发光二极管测试装置，其特征在于，该测试 装置还包括执行装置，所述执行装置置于所述第一密封室的平行于所述制具的 平面上。
5. 根据权利要求4所述的一种发光二极管测试装置，其特征在于，该测 试装置还包括固定板和工作台，所述执行装置固定于所述固定板上，所述检测 电路板安装于所述工作台上。
6. 根据权利要求1至5任一所述的一种发光二极管测试装置，其特征在 于，该测试装置还包括一指示装置，所述指示装置安装于所述工作台上。
7. 根据权利要求6所述的一种发光二极管测试装置，其特征在于，该测 试装置还包括稳压^^莫块，所述稳压模块的一端与所述开关相连，另一端与所述 制具和所述4企测电路板相连。
8. 根据权利要求5所述的一种发光二极管测试装置，其特征在于，该测 试装置还包括开关，所述开关安装于所述工作台上。
专利摘要一种发光二极管测试装置，包括检测电路板，其特征在于，该测试装置还包括传导发光二极管光信号的光导纤维和用于接收发光二极管光信号的光敏三极管，所述光敏三极管安装于所述检测电路板上。本实用新型的利用光导纤维将发光二极管发出的光传递给光敏三极管，其通过检测电路检测光敏三极管的电信号，判断其发光二极管的好坏，其准确性和效率都大大地得到了提高。
文档编号G01J1/00GK201293821SQ20082014706
公开日2009年8月19日 申请日期2008年8月27日 优先权日2008年8月27日
发明者李好平, 田东伟 申请人:比亚迪股份有限公司