专利名称：外螺纹小径尺寸检测用测量工具的制作方法
技术领域：
本发明创造是用于测量外螺纹小径尺寸的测量工具。
技术背景外螺纹工件的验收及检测过程中，外螺纹小径尺寸是必检参数之一，目前，外螺纹 小径尺寸常规的检测方法是利用万能工具显微镜等影像测量设备，经过人工摆放找正后测 量，测量效率低。
发明内容本发明创造的目的是提供一种能方便测量外螺纹小径尺寸的外螺纹小径尺寸检 测用测量工具；本发明创造的目的是通过下述的技术方案实现的外螺纹小径尺寸检测用 测量工具，其特征在于由测量头I、测量头II和数显螺纹千分尺构成，数显螺纹千分尺中的 测砧和测微螺杆的端部制有圆孔，测量头I 一端制成圆柱，测量头I另一端制成“匚”形， 上、下为两个平行面，平行面的端面为“一”字形，两个平行面的距离为一标准螺距值；测量 头II 一端制成圆柱，测量头II另一端制成平面状，其端面为“一”字形；将测量头I装在数 显螺纹千分尺的测砧上，将测量头II装在数显螺纹千分尺的测微螺杆上。本发明创造的优点方便快捷。

图1是外螺纹小径尺寸检测用测量工具结构示意图。图中的1、测量头I 2、测量头II 3、数显螺纹千分尺中的测微螺杆4、数显螺纹 千分尺中的锁紧装置5、数显螺纹千分尺中的微分筒6、数显螺纹千分尺中的测砧7、数显螺 纹千分尺中的按钮8、数显螺纹千分尺中的显示器9、数显螺纹千分尺中的测力装置10、数 显螺纹千分尺中的尺身
具体实施方式
外螺纹小径尺寸检测用测量工具，其特征在于由测量头I、测量头II和数显螺纹 千分尺构成，数显螺纹千分尺中的测砧和测微螺杆的端部制有圆孔，测量头I 一端制成圆 柱，测量头I另一端制成“匚”形，上、下为两个平行面，平行面的端面为“一”字形，两个平行 面的距离为一标准螺距值，测量头按标准螺距值制成系列，根据被测标准螺距选用测量头 I ；测量头II 一端制成圆柱，测量头II另一端制成平面状，其端面为“一”字形；将测量头I 装在数显螺纹千分尺的测砧上，将测量头II装在数显螺纹千分尺的测微螺杆上。
权利要求1.外螺纹小径尺寸检测用测量工具，其特征在于由测量头I、测量头II和数显螺纹千 分尺构成，数显螺纹千分尺中的测砧和测微螺杆的端部制有圆孔，测量头I 一端制成圆柱， 测量头I另一端制成“匚”形，上、下为两个平行面，平行面的端面为“一”字形，两个平行面 的距离为一标准螺距值；测量头II 一端制成圆柱，测量头II另一端制成平面状，其端面为 “一”字形；将测量头I装在数显螺纹千分尺的测砧上，将测量头II装在数显螺纹千分尺的 测微螺杆上。
专利摘要外螺纹小径尺寸检测用测量工具，其特征在于由测量头I、测量头II和数显螺纹千分尺构成，数显螺纹千分尺中的测砧和测微螺杆的端部制有圆孔，测量头I一端制成圆柱，测量头I另一端制成“匸”形，上、下为两个平行面，平行面的端面为“一”字形，两个平行面的距离为一标准螺距值；测量头II一端制成圆柱，测量头II另一端制成平面状，其端面为“一”字形；将测量头I装在数显螺纹千分尺的测砧上，将测量头II装在数显螺纹千分尺的测微螺杆上。优点方便快捷。
文档编号G01B5/08GK201787874SQ201020293850
公开日2011年4月6日 申请日期2010年8月17日 优先权日2010年8月17日
发明者王晓明 申请人:沈阳飞机工业(集团)有限公司