专利名称：快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及电磁场的场均匀性的校准技术领域，特别涉及ー种快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统。
背景技术：
现有技术中，瞬变电磁场场均匀性的校准方法及系统通常需要频繁移动用于支撑和固定探头的支架的位置；并且支架的位置固定后，还需要反复调整探头在支架上的具体位置。因此，现有技术的校准方法及系统存在校准过程复杂、繁琐，校准速度慢，校准耗时长的问题。目前，非常需要ー种过程简便、速度快、耗时短的瞬变电磁场场均匀性的校准方法及系统。

发明内容
本发明的目的是提供ー种快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统。本发明的另ー目的是提供ー种快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法。本发明提供的快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统包括支撑杆、转轴、测试杆、定位装置、探头和示波器，所述转轴设于所述支撑杆的顶端，所述测试杆的一端安装于所述转轴上且能够绕所述转轴转动，所述探头固定于所述测试杆的自由端，且所述探头与所述示波器电连接，所述测试杆与所述转轴的连接处设有所述定位装置，所述定位装置用于将所述测试杆限定在所述测试杆所在的ー个平面内，且能够使所述测试杆在任意位置固定。优选地，所述系统还包括与所述支撑杆的底端固接的底座。优选地，所述支撑杆的高度可调。优选地，所述系统还包括设于所述测试杆上的长度调节装置，用于调节所述测试杆的长度。本发明提供的快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法采用所述的快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统，该方法包括如下步骤选定矩形校准平面的顶点为測量点；将所述转轴置于校准平面的中心，通过所述调节定位装置使得所述测试杆被限定在校准平面内，通过选择所述测试杆的长度使得所述探头能够到达校准平面的各顶点处；在校准平面内转动所述测试杆，使得所述探头分别位于校准平面的各顶点处，通过所述探头测量得到校准平面的各顶点处的场强值。优选地，通过所述长度调节装置调节所述测试杆的长度使得所述探头能够到达校准平面的各顶点。优选地，所述矩形校准平面包括正方形校准平面。本发明具有如下有益效果(I)与现有技术的校准方法和系统相比，所述方法及系统不需要频繁移动用于支撑和固定探头的支架的位置，并且支架的位置固定后，也不需要反复调整探头在支架上的具体位置；(2)所述方法及系统的校准过程简便，校准速度快，校准耗时短。


图I为本发明实施例I提供的快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统的示意图；图2为本发明各实施例提供的快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法的流程图；图3为本发明实施例2提供的快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统的示意图；图4为本发明实施例3提供的快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统的示意图。
具体实施例方式下面结合附图及实施例对本发明的发明内容作进一步的描述。实施例I :本实施例提供的快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统包括支撑杆I、转轴2、测试杆3、定位装置4、底座5、探头6和示波器7，如图I所示。转轴2设于支撑杆I的顶端。支撑杆I的底端与底座5固接。在本实施例中，支撑杆I的高度例如可调。测试杆3的一端安装于转轴2上且能够绕转轴2转动。探头6固定于测试杆3的自由端，且探头6与示波器7电连接。测试杆3与转轴2的连接处设有定位装置4。定位装置4用于将测试杆3限定在测试杆3所在的一个平面内，且能够使测试杆3在任意位置固定。在本实施例中，测试杆3的长度例如不可调，需要根据校准平面的尺寸选择测试杆3的长度。如图I和图2所示，本实施例提供的快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法采用上述系统，该方法包括如下步骤SI :选定矩形校准平面AB⑶的四个顶点即A、B、C和D点为测量点；S2 :将上述校准系统的转轴2置于矩形校准平面AB⑶的中心，通过调节定位装置4使得测试杆3被限定在校准平面ABCD内，通过选择测试杆3的长度使得探头6能够到达校准平面ABCD的各顶点处；S3 :在校准平面AB⑶内转动测试杆3，使得探头6分别位于校准平面AB⑶的各顶点处，通过探头6分别测量得到校准平面AB⑶各顶点处的场强值Ea、Eb、Ec和Ed。所述方法得到的校准平面ABCD的各顶点处的场强值Ea、Eb、E。和Ed用于分析和评价校准平面ABCD的瞬变电磁场的场均匀性。实施例2:本实施例提供的快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统包括支撑杆I、转轴2、测试杆3、定位装置4、底座5、探头6、示波器7和长度调节装置8，如图3所示。转轴2设于支撑杆I的顶端。支撑杆I的底端与底座5固接。在本实施例中，支撑杆I的高度例如可调。测试杆3的一端安装于转轴2上且能够绕转轴2转动。探头6固定于测试杆3的自由端，且探头6与示波器7电连接。测试杆3与转轴2的连接处设有定位装置4。定位装置4用于将测试杆3限定在测试杆3所在的ー个平面内，且能够使测试杆3在任意位置固定。长度调节装置8设于测试杆3上，用于调节测试杆3的长度。如图2和图3所示，本实施例提供的快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法采用上述系统，该方法包括如下步骤SI :选定例如正方形校准平面FGHI的四个顶点即F、G、H和I点为测量点；S2 :将上述校准系统的转轴2置于校准平面FGHI的中心，通过调节定位装置4使得测试杆3被限定在校准平面FGHI内，通过调节测试杆3的长度使得探头6能够到达校准平面FGHI的各顶点处；S3 :在校准平面FGHI内转动测试杆3，使得探头6分别位于校准平面FGHI的各顶点处，通过探头6分别测量得到校准平面FGHI各顶点处的场强值Ef、Eg, Eh和E1 ；所述方法得到的校准平面FGHI的各顶点处的场强值EF、Ee、EH和E1用于分析和评 价校准平面FGHI的瞬变电磁场的场均匀性。实施例3 本实施例采用与实施例2相同的快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统。如图4所示，选定例如正方形的第一校准平面JKLM，并针对该校准平面采用实施例2所述的校准方法得到J、K、L和M点处的场强值Ep EK、El和Em。选定正方形的第二校准平面N0PQ，且第二校准平面NOPQ的四个顶点例如分别为第一校准平面JKLM的各边的中点。针对第二校准平面N0PQ，采用实施例2所述的校准方法得到Ν、0、Ρ和Q点处的场强值En、E0, Ep和Eq。所述方法得到的场强值Ep EK、El, Em、En、E0, Ep和Eq用于分析和评价第一校准平面JKLM的瞬变电磁场的场均匀性。所述方法得到的场强值En、も、Ep和Eq用于分析和评价第二校准平面NOPQ的瞬变电磁场的场均匀性。与现有技术的校准方法和系统相比，所述方法及系统不需要频繁移动用于支撑和固定探头的支架的位置，并且支架的位置固定后，也不需要反复调整探头在支架上的具体位置。所述方法及系统的校准过程简便，校准速度快，校准耗时短。应当理解，以上借助优选实施例对本发明的技术方案进行的详细说明是示意性的而非限制性的。本领域的普通技术人员在阅读本发明说明书的基础上可以对各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
权利要求
1.快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统，其特征在干，该系统包括支撑杆(I)、转轴(2)、测试杆(3)、定位装置(4)、探头(6)和示波器(7)，所述转轴(2)设于所述支撑杆(I)的顶端，所述测试杆(3)的一端安装于所述转轴(2)上且能够绕所述转轴(2)转动，所述探头(6)固定于所述测试杆(3)的自由端，且所述探头(6)与所述示波器(7)电连接，所述测试杆(3)与所述转轴(2)的连接处设有所述定位装置(4)，所述定位装置(4)用于将所述测试杆(3)限定在所述测试杆(3)所在的ー个平面内，且能够使所述测试杆(3)在任意位置固定。
2.根据权利要求I所述的快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统，其特征在于，所述系统还包括与所述支撑杆(I)的底端固接的底座(5)。
3.根据权利要求I所述的快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统，其特征在于，所述支撑杆(I)的高度可调。
4.根据权利要求I所述的快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统，其特征在于，所述系统还包括设于所述测试杆(3)上的长度调节装置(8)，用于调节所述测试杆(3)的长度。
5.快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法，该方法采用权利要求I所述的快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统，其特征在于，该方法包括如下步骤选定矩形校准平面的顶点为測量点；将所述转轴(2)置于校准平面的中心，通过所述调节定位装置(4)使得所述测试杆(3)被限定在校准平面内，通过选择所述测试杆(3)的长度使得所述探头(6)能够到达校准平面的各顶点处；在校准平面内转动所述测试杆(3)，使得所述探头(6)分别位于校准平面的各顶点处，通过所述探头(6)測量得到校准平面的各顶点处的场强值。
6.根据权利要求5所述的快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法，其特征在于，通过所述长度调节装置(8)调节所述测试杆(3)的长度使得所述探头(6)能够到达校准平面的各顶点。
7.根据权利要求5所述的快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法，其特征在于，所述矩形校准平面包括正方形校准平面。
全文摘要
本发明公开了一种快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统，该方法包括如下步骤选定矩形校准平面的顶点为测量点；将转轴(2)置于校准平面的中心，通过调节定位装置(4)使得测试杆(3)被限定在校准平面内，通过选择测试杆(3)的长度使得探头(6)能够到达校准平面的各顶点处；在校准平面内转动测试杆(3)，使得探头(6)分别位于校准平面的各顶点处，通过探头(6)测量得到校准平面的各顶点处的场强值。所述方法及系统不需要频繁移动用于支撑和固定探头的支架的位置，并且支架的位置固定后，也不需要反复调整探头在支架上的具体位置和角度。所述方法及系统的校准过程简便，校准速度快，校准耗时短。
文档编号G01R29/08GK102830293SQ20121030948
公开日2012年12月19日 申请日期2012年8月27日 优先权日2012年8月27日
发明者姚利军, 沈涛, 黄建领 申请人:北京无线电计量测试研究所