专利名称：星上定标光源led发光性能测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及空间光学领域，具体涉及一种空间相机星上定标光源LED的光性能测试。
背景技术：
在空间相机星上定标光源发光二极管LED升级筛选测试中，LED的发光性能是筛选LED的重要指标，只有经过严格筛选测试合格的LED才能被用作空间相机星上定标光源。 LED筛选试验包括高温贮存、温度冲击、电老练等试验，每次试验后都要对LED进行发光性能检测，主要检测LED的发射光谱，通过发射光谱可以计算LED的峰值波长，半波宽度等，如果系统经过定标可以计算LED的辐射强度或辐射功率等参数。目前已有单个LED的光性能检测设备，但由于每次筛选LED的数量比较大(500只)，目前没有相关的快速智能化的检测装置，另外在升级筛选试验中，电老练是其中的一个重要环节，在电老练时，所有LED要在其最大工作电流下连续工作240h，且需要监视LED的发光性能变化趋势，此前没有该设备。

发明内容
本发明为解决现有星上定标光源LED发光性能检测装置只能实现对单个LED的光性能进行检测的问题，提供一种星上定标光源LED发光性能测试装置。星上定标光源LED发光性能测试装置，该装置包括LED驱动电路、安装支架、旋转圆盘、旋转圆盘驱动系统、固定支架、光谱仪、光纤、积分球、计算机控制系统；所述LED驱动电路和旋转圆盘分别固定在安装支架上，旋转圆盘上设置LED测试安装孔，LED测试安装孔的对应位置设置积分球，积分球的出光孔与光纤的一端连接，光纤的另一端与光谱仪连接； 所述旋转圆盘底部设置旋转圆盘驱动系统，并将二者固定在一起，旋转圆盘驱动系统固定在固定支架上；所述计算机控制系统分别与旋转圆盘驱动系统和光谱仪连接。本发明的工作原理将被测试的LED安装在本发明所述装置中所述的直径为0. 5m 的旋转圆盘上，所述每只LED的距离按5度间隔均勻的安装在旋转圆盘的边缘的圆周上，在圆盘的下方安装测试积分球接收LED发出的光，在积分球壁安装光谱仪，用于实时测量LED 的发射光谱。同时控制旋转圆盘旋转在每个LED位置暂停，待完成此LED的测试后，转到下一 LED位置进行测试，如此循环完成所有LED的测试后，回到第1只LED的位置开始下一轮的测试。所述接收LED发光的积分球和光谱仪经过定标后可直接测量LED的峰值波长、半波宽度、辐射强度或辐射功率等发光性能参数。为了适合更多LED的测试，每只LED恒流供电， 供电电流包含 5mA、10mA、15mA、20mA、25mA、30mA、;35mA、40mA、45mA、50mA、60mA、85mA、100mA。 本发明所述装置可测试03mm、05mm炮弹型LED和贴片LED。本发明的有益效果本发明为一种能同时对多只LED和多种型号的LED进行快速智能化的检测装置；本发明所述装置能够快速完成星上定标光源LED筛选试验中的发光性能测试和LED电老练过程中的发光性能监视，且在电老练试验时，能监视所有LED在电老练过程中的其发光性能变化趋势。


图1为本发明所述的星上定标光源LED发光性能测试装置的结构示意图；图2为本发明所述的星上定标光源LED发光性能测试装置中旋转圆盘上安装三种测试安装孔的俯视图。图中1、LED驱动电路，2、安装支架，3、第一 LED测试安装孔，4、第二 LED测试安装孔，5、第三LED测试安装孔，6、旋转圆盘，7、圆盘旋转驱动系统，8、固定支架，9、光谱仪，10、 光纤，11、积分球，12、计算机控制系统。
具体实施例方式具体实施方式
一、结合图1和图2说明本实施方式，星上定标光源LED发光性能测试装置，该装置包括LED驱动电路1、安装支架2、旋转圆盘6、旋转圆盘驱动系统7、固定支架8、光谱仪9、光纤10、积分球11、计算机控制系统12 ；所述LED驱动电路1和旋转圆盘6 分别固定在安装支架2上，旋转圆盘6上设置LED测试安装孔，LED测试安装孔的对应位置设置积分球11，积分球11的出光孔与光纤10的一端连接，光纤10的另一端与光谱仪9连接；所述旋转圆盘6底部固定旋转圆盘驱动系统7，旋转圆盘驱动系统7固定在固定支架8 上；所述计算机控制系统12分别与旋转圆盘驱动系统7和光谱仪9连接。 本实施方式中还包括支架13，所述光谱仪9和积分球11固定在支架13上，所述光谱仪9与固定在固定支架8上的旋转圆盘驱动系统7的位置平行。本实施方式所述积分球11的入光孔与LED测试安装孔的距离小于1mm。所述积分球11的入光孔的孔直径大于LED的安装孔直径，使积分球11能全部接收LED发出的光。本实施方式所述的旋转圆盘6上设置三种LED测试安装孔，分别为；第一 LED测试安装孔3、第二 LED测试安装孔4和第三LED测试安装孔5 ；所述第一 LED测试安装孔3和第二 LED测试安装孔4、第二 LED测试安装孔4和第三LED测试安装孔5的中心距离相同且所述中心距离为20mm。所述第一 LED测试安装孔3和第二 LED测试安装孔4分别为炮弹型孔径直径为03mm和炮弹型径孔直径为05mm测试安装孔，第三LED测试安装孔5为贴片LED测试安装孔，在测试时须将积分球11，移动至对应的测试安装孔的下方。本实施方式所述的光谱仪9、光纤10和积分球11组成的测试单元在测试前经过辐射定标。
具体实施方式
二、本实施方式为具体实施方式
一所述的星上定标光源LED发光性能测试装置的应用实例结合图1，所述LED驱动电路1为LED恒流驱动板，其驱动电流分别为5mA、10mA、 15mA,20mA,25mA,30mA,35mA,40mA,45mA,50mA,60mA,85mAUOOmA ；根据 LED 需要设置所需要的电流，每只LED单独恒流供电。结合图2，所述第一 LED测试安装孔3、第二 LED测试安装孔4和第三LED测试安装孔5可分别安装03mm、05mm炮弹型LED和贴片LED的测试安装孔，用于测试不同形状的LED。旋转圆盘6为一个直径0. 5m的可旋转圆盘，将需要测试的LED安装在对应的测试安装孔内，每次测量只能在同一圈安装孔内安装相应的LED。所述每次测量的LED数量可达72只。在LED的安装孔的正下方是测试积分球11，用于接收LED 发出的光。积分球11的入光孔略大于LED的安装孔，能全部接收LED发出的光。积分球11的出光孔与光纤10连接，光纤10的另一端链接到光谱仪9。使用前将测试积分球11和光纤10和光谱仪9组成的测试单元经过辐射定标，在测试时可直接测得LED的峰值波长、半波宽度、辐射功率或辐射光强等。 所述LED安装到旋转圆盘6上以后，设置LED需要的供电电流，同时按需要的电流给每只LED单独恒流供电。计算机控制系统11通过旋转圆盘驱动系统7控制旋转圆盘按角度旋转，使每只LED至积分球11入光口位置，计算机控制系统11控制光谱仪9采集每只 LED的发光特性测试数据。整个装置的控制数据采集处理与存储都是在计算机的控制下自动完成的。所述安装LED的旋转圆盘及LED驱动电路有整套的备份件，当完成此盘的测试后可更换下一测试盘，因而可一次完成多组LED的测试。在LED电老练试验时，需要LED在最大电流下长时间工作，本装置通过智能化控制等时间间隔的采集每只LED的测试数据， 进而监视LED在电老练过程中的发光性能变化趋势。
权利要求
1.星上定标光源LED发光性能测试装置，该装置包括LED驱动电路(1)、安装支架O)、 旋转圆盘(6)、旋转圆盘驱动系统(7)、固定支架(8)、光谱仪(9)、光纤(10)、积分球(11)、 计算机控制系统(12)；其特征是，所述LED驱动电路(1)和旋转圆盘(6)分别固定在安装支架( 上，旋转圆盘(6)上设置LED测试安装孔，LED测试安装孔的对应位置设置积分球 (11)，积分球(11)的出光孔与光纤(10)的一端连接，光纤(10)的另一端与光谱仪(9)连接；所述旋转圆盘(6)底部固定旋转圆盘驱动系统(7)，旋转圆盘驱动系统(7)固定在固定支架⑶上；所述计算机控制系统(12)分别与旋转圆盘驱动系统(7)和光谱仪(9)连接。
2.根据权利要求1所述的星上定标光源LED发光性能测试装置，其特征在于，它还包括支架(13)，所述光谱仪(9)和积分球(11)固定在支架(1 上。
3.根据权利要求1所述的星上定标光源LED发光性能测试装置，其特征在于，所述积分球(11)的入光孔与LED测试安装孔的距离小于1mm。
4.根据权利要求1所述的星上定标光源LED发光性能测试装置，其特征在于，所述积分球(11)的入光孔的孔直径大于LED测试安装孔直径。
5.根据权利要求1所述的星上定标光源LED发光性能测试装置，其特征在于，所述旋转圆盘(6)上设置三个LED测试安装孔，分别为；第一 LED测试安装孔(3)、第二 LED测试安装孔(4)和第三LED测试安装孔(5)，所述第一 LED测试安装孔(3)和第二 LED测试安装孔(4)的中心距离相同，第二 LED测试安装孔(4)和第三LED测试安装孔(5)的中心距离相同。
6.根据权利要求5所述的星上定标光源LED发光性能测试装置，其特征在于，所述第一 LED测试安装孔(3)和第二 LED测试安装孔(4)的中心距离、第二 LED测试安装孔(4)和第三LED测试安装孔(5)的中心距离均为20mm。
7.根据权利要求6所述的星上定标光源LED发光性能测试装置，其特征在于，所述第一 LED测试安装孔C3)和第二 LED测试安装孔(4)分别为炮弹型孔径直径为03mm和炮弹型孔径直径为05mm的测试安装孔，第三LED测试安装孔(5)为贴片LED测试安装孔。
8.根据权利要求1所述的星上定标光源LED发光性能测试装置，其特征在于，所述光谱仪(9)、光纤(10)和积分球(11)组成的测试单元在测试前经过辐射定标。
全文摘要
星上定标光源LED发光性能测试装置，涉及空间光学领域，它解决现有星上定标光源LED发光性能检测装置只能实现对单个LED的光性能进行检测的问题，该装置包括LED驱动电路、安装支架、旋转圆盘、旋转圆盘驱动系统、固定支架、光谱仪、光纤、积分球、计算机控制系统；LED驱动电路和旋转圆盘固定在安装支架上，旋转圆盘上设置LED测试安装孔，LED测试安装孔的对应位置设置积分球，积分球的出光孔与光纤的一端连接，光纤的另一端与光谱仪连接；旋转圆盘底部固定旋转圆盘驱动系统，旋转圆盘驱动系统固定在固定支架上；所述计算机控制系统分别与旋转圆盘驱动系统和光谱仪连接。本发明应用于空间相机星上定标光源LED筛选测试中。
文档编号G01M11/02GK102162767SQ201010613588
公开日2011年8月24日 申请日期2010年12月30日 优先权日2010年12月30日
发明者万志, 任建伟, 任建岳, 全先荣, 刘则洵, 叶钊, 李宪圣 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所