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一种阻抗校验棒的制作方法

时间:2025-06-03    作者: 管理员

专利名称:一种阻抗校验棒的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种阻抗测试仪器的校验标准件,具体地说是一种用来校准阻抗测试仪器的新型阻抗校验棒。
背景技术
阻抗标准件专用于POLAR阻抗测试主机、泰克网络分析仪主机等设备的阻抗测试性能的校准,使用寿命在10年左右。阻抗测试仪器需要空气管标准件校准,目前采用的空气管标准件由美国标准与技术研究院NIST认证,价格昂贵,极少客户购买该标准件。POLAR公司生产的二级阻抗校验棒,价值70000元,少数客户购买该标准件。阻抗测试设备的主机每两年计量一次,除此之外,还需要不定期对主机,电缆,探头进行误差校验,以满足质量控制的需要。目前采用的空气管标准件结构特点是采用空气作为填充介质,损耗极小,可根据理论公式推算阻抗值, 但信号线定位困难,制造难度大,成本很高。
发明内容为了克服现有空气管标准件存在的问题,本实用新型的目的是提供一种阻抗校验棒,该校验棒专用于阻抗测试仪器的校验,插入损耗小,阻抗平坦性好,重复精度高。本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的一种阻抗校验棒,其特征在于该阻抗校验棒包括SMA接头和半钢电缆,SMA接头设置在半钢电缆两端;所述半钢电缆包括铜管、铜芯线和填充介质,铜芯线设置在铜管内, 在铜芯线周围设有填充介质,所述填充介质是聚氟材料。本实用新型中,所述聚氟材料是聚四氟乙烯。聚四氟乙烯作为填充介质,损耗极小,并可根据理论公式精确推算阻抗值。本实用新型中,SMA接头包括分别设置在半钢电缆两端的SMA公接头和SMA母接头,SMA公接头和SMA母接头的使用频率0-18GHZ,驻波比1-1. 1,插入损耗0_3db。本实用新型采用半钢电缆横截面铜芯线作为信号传输线,定位容易,制造难相对度较低。本产品专用于阻抗测试仪器的校验。特点是插入损耗小,阻抗平坦性好,重复精度高。 本产品适用阻抗测试仪及带有阻抗测试模块的网络分析仪等。例如POLAR公司的 CITS系列阻抗测试仪,TECTR0NIX公司的DSA8200网络分析仪等。

图1是本实用新型的结构示意图。图2是本实用新型中半钢电缆的横截面结构示意图。
具体实施方式
一种本实用新型所述的新型阻抗校验棒,见图1,该阻抗校验棒包括SMA接头1和半钢电缆2,SMA接头1包括分别设置在半钢电缆2两端的SMA公接头11和SMA母接头 12,SMA公接头11和SMA母接头12分别焊接在半钢电缆2两端;使用频率0-18GHZ,驻波比 1-1. 1,插入损耗0-3db。半钢电缆2包括铜管21、铜芯线22和填充介质23,铜芯线22设置在铜管21内,在铜芯线22周围填充有填充介质23,填充介质23是聚氟材料。聚氟材料可以是聚四氟乙烯。图2是本实用新型中半钢电缆的横截面结构示意图。本实用新型采用半钢电缆作为信号传输线,定位容易,制造难度相对较低。用于阻抗测试仪器的校验中,插入损耗小,阻抗平坦性好,重复精度高。产品误差1%,重复精度 0. 04%,且成本低,可广泛用于TDR测试设备的校正,应用前景广阔。
权利要求1.一种阻抗校验棒,其特征在于该阻抗校验棒包括SMA接头(1)和半钢电缆Q),SMA 接头(1)设置在半钢电缆(2)两端;所述半钢电缆(2)包括铜管(21)、铜芯线02)和填充介质(23),铜芯线02)设置在铜管内,在铜芯线02)周围设有填充介质(23),所述填充介质是聚氟材料。
2.根据权利要求1所述的阻抗校验棒,其特征在于所述聚氟材料是聚四氟乙烯。
3.根据权利要求1所述的阻抗校验棒,其特征在于所述SMA接头(1)包括分别设置在半钢电缆⑵两端的SMA公接头(11)和SMA母接头(12),SMA公接头(11)和SMA母接头(12)的使用频率0-18GHZ,驻波比1-1. 1,插入损耗0_3db。
专利摘要本实用新型公开了一种阻抗校验棒,该阻抗校验棒包括SMA接头和半钢电缆,一套SMA公母接头分别连接在半钢电缆两端;所述半钢电缆包括铜管、铜芯线和填充介质,铜芯线设置在铜管内,在铜芯线周围设有填充介质,所述填充介质是聚氟材料。本实用新型专用于阻抗测试仪器的校验,插入损耗小,阻抗平坦性好,重复精度高。
文档编号G01R35/00GK202102098SQ20112020090
公开日2012年1月4日 申请日期2011年6月15日 优先权日2011年6月15日
发明者叶菊珍, 杨战民 申请人:南京工业职业技术学院

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