专利名称：圆图型显示记录仪量程扩展方法

发明内容
本发明涉及一种圆图型记录仪量程扩展方法，属于自动化仪表技术领域。
背景技术：
现有的圆图型显示记录仪一般为一个刻度区域，其相应的测量回路亦为一个测量区域。对温度控制精度要求高的场合，就无法满足其要求，如食品制罐业的罐头灭菌，保鲜等的工艺过程中要求温度控制在1℃的误差范围内，而在这行业的进出口在国际上通常沿用美国的FDA标准，需要在进出口同时必须附上整个保鲜过程中的有效记录。而现有的圆图型记录仪的精度和分辩率无法达到此要求。

发明内容
为了满足某些行业高精度、高分辨率的显示、记录要求，本发明提供一种圆图型记录仪量程扩展方法。
本发明圆图型记录仪量程扩展方法，其步骤为1、把示视刻度包括其相对应的记录纸分成低精度区和高精度区，高精度区刻度弧长大于低精度区的刻度弧长；2、和上述示视刻度相对应在测量单元中的滑线电阻盘上焊接一个点作为拐点，使滑线电阻亦分成和示视刻度相对应的低精度区和高精度区两个区域，滑线电阻始端到拐点为低精度区，拐点到滑线电阻的终端为高精度区。
本发明的优点是用简单易实行的方法，对现有的圆图记录仪稍作改动，就可用于某些工艺中温度控制精度要求高的场合，实现有效的记录与控制。


图1为现有的圆图记录仪表盘示值图；图2为带量程扩展的圆图记录仪表盘示值图；
图3为现有的圆图记录仪滑线电阻盘示意图；图4为带量程扩展的圆图记录仪滑线电阻盘示意图。
具体实施例方式
把示视刻度包括其相对应的记录纸分成低精度区和高精度区，高精度区刻度弧长大于低精度区的刻度弧长，高精度区则具有高精度、高的分辨率的带量程扩展的区域。和上述示视刻度相对应在测量单元中的滑线电阻盘上焊接一个点作为拐点，使滑线电阻亦分成和示视刻度相对应的分成低精度区和高精度区两个区域，滑线电阻始端到拐点为低精度区，拐点到滑线电阻的终端为高精度区。这一点即是更改了原有的滑线电阻，引出一个滑滑线电阻的抽头问题，因为仪表的测量精度、线性度等与滑线电阻有很大关联，所以，该滑线电阻上的抽头相应的要求比较高，要求分成的两个区域的范围精度要高，而且焊接点要小，焊接点一大会在该点上形成一个测量盲区，误差就大了。本发明实施例结合附图作一说明，图1为现有的圆图记录仪表盘示值图，它被分成140格，分别指示温度0～140℃，现把上述表盘其相对应的记录纸分成低精度区和高精度区，把表盘分成100格，0～30℃占10格，30℃～60℃占10格，以后每一度占一格，由于两个圆周的尺寸是一样的，那么显然图2中的60℃～140℃所占80格的刻度弧长是扩展大了，这样，在0℃～60℃为低精度区，60℃～140℃为高精度区，提高了分辨率和示值的精度。为使示值达到上述目的，仪表内部结构需作相应的改进，图3是现有圆图记录仪基型测量单元中的滑线电阻盘，它与另一个部件“测量桥路板”形成一个完整的仪表测量单元，滑线电阻的外圆周上是在一根Φ2的绝缘线上是Φ0.16漆包线6J24(卡玛丝)在上而紧密绕制成线性的，要使仪表带量程扩展，需在和示值60℃处相应的滑线电阻盘上设一拐点，如图4所示。在该处焊接一个点C，使滑线电阻分成两个区域，起始端A到焊点C为0℃～60℃低精度区测量范围，焊点C到终点端B为60℃～140℃高精度区测量范围。
权利要求
1.一种圆图型记录仪量程扩展方法，其特征在于，其步骤为(1)把示视刻度包括其相对应的记录纸分成低精度区和高精度区，高精度区刻度弧长大于低精度区的刻度弧长；(2)和上述示视刻度相对应在测量单元中的滑线电阻盘上焊接一个点作为拐点，使滑线电阻亦分成和示视刻度相对应的低精度区和高精度区两个区域，滑线电阻始端到拐点为低精度区，拐点到滑线电阻的终端为高精度区。
全文摘要
本发明涉及一种圆图型记录仪量程扩展方法，其步骤为1.把示视刻度包括其相对应的记录纸分成低精度区和高精度区，高精度区刻度弧长大于低精度区的刻度弧长；2.和上述示视刻度相对应在测量单元中的滑线电阻盘上焊接一个点作为拐点，使滑线电阻亦分成和示视刻度相对应的低精度区和高精度区两个区域，滑线电阻始端到拐点为低精度区，拐点到滑线电阻的终端为高精度区。本发明的优点是用简单易实行的方法，对现有的圆图记录仪稍作改动，就可用于某些工艺中温度控制精度要求高的场合，实现有效的记录与控制。
文档编号G01D11/00GK1635340SQ20031012285
公开日2005年7月6日 申请日期2003年12月26日 优先权日2003年12月26日
发明者蔡彩佩, 姚载江 申请人:上海自动化仪表股份有限公司