专利名称：精密冷镜式露点仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种露点测定的精密仪器，通过露点的精确测定来测定气体水分含量。
背景技术：
冷镜式式露点仪是一种典型的光电露点仪。它由露点室、光电检测系统、制冷系统、测温系统和控制系统组成。现有的露点仪一般采用钼电阻温度传感器测定露点温度。然而，多种因素影响钼电阻温度传感器的准确性和稳定性。例如钼丝纯度的差异以及内应力可以导致钼电阻温度传感器的温度漂移达到每年百分之几度；测量电路中的引线节点由于材质的差别也会由于环境的温度差异产生大小不等的热电势，进而影响测温的准确性；而且随着使用年限的增加，由于引线的氧化、电路的污染，会造成温度测量存在一定程度的漂移，即所谓的“时漂”。为了消除钼电阻温度传感器的温漂和时漂的影响，现有的镜面式露点仪常常采用定期利用标准气校正的方法来校正仪器的温度测量误差。如何准确测定露点温度，避免温漂和时漂对测量结果的影响，是目前露点仪急需解决的问题。

实用新型内容为解决上述问题，本实用新型提供了一种精确的测定低湿气体露点的精密镜面露点仪。对现有冷镜式露点仪的测温系统做了很大的改进，有效地消除了温漂和时漂的影响。本实用新型提供的精密冷镜式露点仪，包括光电检测系统、测温系统、制冷系统、 单片机控制系统及输入输出系统。制冷系统对镜面制冷，光电检测系统对露点进行判断，测温系统测量镜面温度，单片机控制系统控制并协调制冷系统、光电检测系统和测温系统的正常工作。本实用新型的测温系统除了钼电阻和测温电路外，还包括两个用于校正温度测量漂移值的精密固定电阻札和精密固定电阻&，所述的精密固定电阻礼的阻值与一选定上限温度的钼电阻Rt的阻值相等，所述的精密固定电阻R2的阻值与一选定下限温度的钼电阻Rt 的阻值相等。本实用新型的控制系统在测量开始后，首先进行温度校正补偿测定。单片机控制系统控制多路开关，将精密固定电阻R1和R2替代钼电阻先后接入测温电路，测定它们的输出电压U1和队；然后断开精密固定电阻，接入钼电阻Rt开始露点测定过程。在到达露点后， 控制系统记录测温电路的输出电压，根据如下公式计算并输出消除温度漂移后的标准露点值，
r π V—iI , I1U2-I2U1 _9]+ 与现有仪器相比，本实用新型提供的精密冷镜式露点仪有效地消除了钼电阻因制造工艺、仪器设备因长时间线路使用老化所带来的温度测定漂移误差，同时可以省去利用标准气进行露点仪校正的工作。
图1为本实用新型精密冷镜式露点仪的测量流程示意图。图2为本实用新型消除温度测定值漂移的校正测定电路示意图
具体实施方式
以下结合附图和具体实例进一步说明本实用新型。本领域的技术人员可由本说明所揭示的内容了解本实用新型的优点和功能。本实用新型也可以通过其它不同的具体实例加以实施或应用。本实用新型提供的精密冷镜式露点仪可以用于GIS设备绝缘气体SF6的露点测定。本实用新型提供的精密冷镜式露点仪，包括露点室、光电检测系统、测温系统、制冷系统、单片机控制系统及输入输出系统。如图1所示，开始测量后，控制系统首先进行钼电阻温度测量值漂移的校正。具体步骤为如图2所示，单片机控制系统控制多路开关将精密固定电阻R1接入测温电路，R1 的电阻值为100. 000欧姆，钼电阻传感器测量的温度为0°C，控制器记录R1所对应的输出电
压 U115断开精密固定电阻R1,将精密固定电阻R2接入测温电路，精密固定电阻R2的电阻值为75. 0000欧姆，相当于钼电阻传感器测量的温度为-63. 3°C。控制器记录R2所对应的输出电压U2。随后断开精密固定电阻1 2，接入测温钼电阻Rt，开始样气露点的测定。制冷系统对镜面制冷，光电检测系统根据镜面上结露/消露是否平衡来判断是否达到露点；当未达到露点时，单片机控制系统继续控制并协调制冷系统、光电检测系统和测温系统，调整直至达到露点。单片机控制系统记录此时测温电路的输出电压值Ux，根据如下公式，计算并输出无漂移的露点温度值，
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x IJU-U权利要求1. 一种精密冷镜式露点仪，包括光电检测系统、测温系统、制冷系统、单片机控制系统及输入输出系统，其特征在于所述的测温系统除了钼电阻和测温电路外，还包括两个用于校正温度测量漂移值的精密固定电阻礼和精密固定电阻&，所述的精密固定电阻礼的阻值与一选定上限温度的钼电阻Rt的阻值相等，所述的精密固定电阻R2的阻值与一选定下限温度的钼电阻Rt的阻值相等。
专利摘要本实用新型提供一种精密镜面式露点仪，包括露点室、光电检测系统，制冷系统、测温系统、单片机控制系统和输入输出系统。其特征在于在测温系统中，还包括两个精密固定电阻R1和R2。测量开始后，单片机控制系统控制多路开关，将精密固定电阻R1和R2替代铂电阻先后接入测温电路，测定它们的输出电压U1和U2，对铂电阻进行温度校正。然后断开精密固定电阻，接入铂电阻Rt开始露点测定过程。在到达露点后，控制系统记录测温电路的输出电压，根据校正结果输出消除温度漂移后的标准露点值。
文档编号G01N25/66GK202159028SQ201120037210
公开日2012年3月7日 申请日期2011年2月12日 优先权日2011年2月12日
发明者李军远, 章啸 申请人:北京兴泰学成仪器有限公司