专利名称：导电弹性体体电阻测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于电测量技术领域，涉及导电弹性体体电阻测试装置。
背景技术：
导电弹性体是一种防护电磁波干扰的高分子功能复合材料，在电子/微电子工业 中的电磁兼容领域具有重要应用。导电弹性体又称导电橡胶，它是在橡胶中均勻地掺入导 电性能优良的金属细粒，形成低体电阻极小的导电橡胶物，而体积电阻的大小则会直接影 响导电橡胶的电磁屏蔽效果。如此，对快速、准确的测试出导电橡胶的体电阻值就显得尤为 重要。目前，测试导电弹性体时，掺杂大量的人为因素使得测量不精确，测量结果只是反应 该导电弹性体表面电阻，不能准确的反应出导电弹性体体电阻。
发明内容本实用新型的目的在于提供一种排除测量过程中人为等因素的影响，使测量结果 更趋合理、准确，能够反映出导电弹性体体电阻高低情况的一种较为理想的测量导电弹性 体体电阻测试装置。为了实现上述目的，本实用新型的技术方案是导电弹性体体电阻测试装置，其特 征是包括测试装置上部分、测试装置下部分，测试装置上部分和测试装置下部分通过连接 柱连接。所述的测试装置上部分包括铜镀镍上壳体、上铜质导电体、上亚克力绝缘材料，铜 镀镍上壳体下端有U型腔，U型腔内固定与U型腔相同形状的上亚克力绝缘材料，上亚克 力绝缘材料前后各固定有一长方体上铜质导电体；前后上铜质导电体表面有长方形测量凹 槽；铜镀镍上壳体四周有连接连接柱的四个凹槽。所述的测试装置下部分包括铜镀镍下壳体、下铜质导电体、下亚克力绝缘材料，铜 镀镍下壳体上端有U型腔，U型腔内固定与U型腔相同形状的下亚克力绝缘材料，下亚克力 绝缘材料前后各固定有一长方体下铜质导电体；前后长方体上铜质导电体表面有长方形测 量凹槽；铜镀镍下壳体四周连接连接柱，铜镀镍上壳体四周的四个凹槽与铜镀镍下壳体四 周连接的连接柱固定。所述的测试装置上部分连接上测试电缆，测试装置下部分连接下测试电缆，上测 试电缆和下测试电缆在相反的方向上。所述的上铜质导电体和下铜质导电体上加工6 4mm测试孔，上、下铜制导电体表 面进行镀银处理以减少接触电阻，其电阻小于0. 01 Q。实用新型优点本实用新型导电弹性体体电阻测试装置，设计新颖，结构简单，使 用方便、测量结果精准且便于携带，能够准确反映出弹性导电体体电阻高低情况，是一种较 为理想的测量弹性导电体体电阻的测量装置。
图1是实用新型实施例结构示意图。图中1、安装手柄；2、测试装置上部分；3、测试装置下部分；4、上铜质导电体；5、 下铜质导电体；6、测量凹槽；7-1、上亚克力绝缘材料；7-2、下亚克力绝缘材料 8、上测试 电缆；9、下测试电缆；10、连接柱。
具体实施方式
如图1是导电弹性体体电阻测试装置结构示意图，包括安装手柄1、测试装置上部 分2、测试装置下部分3，测试装置上部分2和测试装置下部分3通过连接柱10连接。测试装置上部分2包括铜镀镍上壳体、上铜质导电体4、上亚克力绝缘材料7-1，铜 镀镍上壳体下端有u型腔，U型腔内固定与U型腔相同形状的上亚克力绝缘材料7-1，上亚 克力绝缘材料7-1前后各固定有一长方体上铜质导电体4 ；前后上铜质导电体4表面有适 用于导电体体电阻测量的长方形测量凹槽6 ；铜镀镍上壳体四周有连接连接柱10的四个凹 槽；测试装置下部分3包括铜镀镍下壳体、下铜质导电体5、下亚克力绝缘材料7，铜镀镍下 壳体上端有U型腔，U型腔内固定与U型腔相同形状的亚克力绝缘材料7，亚克力绝缘材料 7前后各固定有一长方体下铜质导电体5 ；前后长方体上铜质导电体5表面有适用于导电体 体电阻测量的长方形测量凹槽6 ；铜镀镍下壳体四周连接连接柱10，铜镀镍上壳体四周的 四个凹槽与铜镀镍下壳体四周连接的连接柱10固定，测试装置上部分2连接上测试电缆8， 测试装置下部分3连接下测试电缆9，上测试电缆8和下测试电缆9在相反的方向上。测试 装置上部分2和测试装置下部分3的长方形测量凹槽6合在一起形成导电弹性体体电阻测 量腔，通过上测试电缆8和下测试电缆9连接测量表进行电阻测量。上铜质导电体4和下 铜质导电体5上加工64mm测试孔，上、下两部分铜制导电体表面进行镀银处理以减少接触 电阻，其电阻小于0.01 Q。本实用新型导电弹性体体电阻测试装置在测量前，首先用酒精对测试装置的上、 下部分的铜质导电体及被测导电弹性体测试表面进行清洁处理，以达到理想的测试结果。 其次，测出该装置的内阻礼，再将导电弹性体放入相应的凹槽中，压上该装置的上部分，读 取测试值R ，依公式②计算出被测弹性导电体体电阻测试值r。r = RSJ-R0------------②使用时，将30X30mm2导热绝缘材料放于两电极之间，并将其紧固，然后施加所要 求的电压进行耐压和绝缘测试。导电弹性体体电阻测试装置是根据公式①计算
D PLK =-----------①
A公式中，R-------导电弹性体体电阻标准值p-------导电弹性体体电阻率L-------导电弹性体体测量长度为2cmA-------导电弹性体体电流流向截面积L两块铜质导电体之间距离，其中A是根据不同弹性导电体规格进行计算得到，根
4据公式①进行计算的电阻值为弹性导电体体电阻标准值，依据实测值与标准值比较，以衡 量该弹性导电体导电性能情况。
权利要求导电弹性体体电阻测试装置，其特征是包括测试装置上部分(2)、测试装置下部分(3)，测试装置上部分(2)和测试装置下部分(3)通过连接柱(10)连接。
2.根据权利要求1所述的导电弹性体体电阻测试装置，其特征是所述的测试装置上 部分(2)包括铜镀镍上壳体、上铜质导电体(4)、上亚克力绝缘材料(71)，铜镀镍上壳体下 端有U型腔，U型腔内固定与U型腔相同形状的上亚克力绝缘材料(71)，上亚克力绝缘材料(71)前后各固定有一长方体上铜质导电体(4)；前后上铜质导电体(4)表面有长方形测量 凹槽(6)；铜镀镍上壳体四周有连接连接柱(10)的四个凹槽。
3.根据权利要求1所述的导电弹性体体电阻测试装置，其特征是所述的测试装置下 部分(3)包括铜镀镍下壳体、下铜质导电体(5)、下亚克力绝缘材料(72)，铜镀镍下壳体上 端有U型腔，U型腔内固定与U型腔相同形状的下亚克力绝缘材料(72)，下亚克力绝缘材料(72)前后各固定有一长方体下铜质导电体(5)；前后长方体上铜质导电体(5)表面有长方 形测量凹槽(6)；铜镀镍下壳体四周连接连接柱(10)，铜镀镍上壳体四周的四个凹槽与铜 镀镍下壳体四周连接的连接柱(10)固定。
4.根据权利要求1所述的导电弹性体体电阻测试装置，其特征是所述的测试装置上 部分(2)连接上测试电缆(8)，测试装置下部分(3)连接下测试电缆(9)，上测试电缆(8) 和下测试电缆(9)在相反的方向上。
5.根据权利要求1所述的导电弹性体体电阻测试装置，其特征是所述的上铜质导电 体⑷和下铜质导电体(5)上加工c^4mm测试孔，上、下铜制导电体表面进行镀银处理以减 少接触电阻，其电阻小于0. 01 Q。
专利摘要本实用新型属于电测量技术领域，涉及导电弹性体体电阻测试装置，包括测试装置上部分、测试装置下部分，测试装置上部分和测试装置下部分通过连接柱连接；所述的测试装置上部分包括铜镀镍上壳体、上铜质导电体、上亚克力绝缘材料，铜镀镍上壳体下端有U型腔，U型腔内固定与U型腔相同形状的上亚克力绝缘材料，上亚克力绝缘材料前后各固定有一长方体上铜质导电体；前后上铜质导电体表面有长方形测量凹槽；铜镀镍上壳体四周有连接连接柱的四个凹槽。它提供了一种排除测量过程中人为等因素的影响，使测量结果更趋合理、准确。
文档编号G01R27/02GK201607489SQ20092031938
公开日2010年10月13日 申请日期2009年12月31日 优先权日2009年12月31日
发明者杜建华, 邱扬 申请人:西安开容电子技术有限责任公司