专利名称：夏比v型缺口测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用于长方体、圆柱体上的狭窄型缺口的测量设备，尤其涉及 一种夏比V型缺口测量装置。
背景技术：
夏比V型缺口的冲击试验是检测核电设备、构件等金属力学性能的重要手段之 一，它用于评定金属材料在冲击载荷下的韧、脆特性，冲击试样的宏观断口，其裂纹的扩展 总是沿着阻力最小的路径行进，断口的形貌、轮廓线也随材料性能的最薄弱处或者应力最 大的部位方形成，因此，要保证金属材料的质量，就要确保试样的切取及制备，并对试样的 形状、尺寸进行有效的测量分析，否则，试样缺口尺寸偏差的大小，将会引起分散性的偏差。对于方体、柱体而言，其尺寸可以用各种卡尺来直接测量，对于一些缺口，现有的 卡尺也可以直接测量。然而，由于各种卡尺的卡脚具有一定宽度，因此，当一些缺口的宽度 极为细小时候，卡尺的卡脚无法深入到缺口底部，从而无法测得真值。例如，对于上述夏比V型缺口的测量来说，夏比V型缺口冲击试块的结构如图1 所示，在冲击试块1’的上平面处存在一个很窄的V型缺口 2’，该V型缺口 2’底部半径为 0. 25mm ；其测量要求是获取从V型缺口 2’底部至冲击试块1’底面的测量值A。若采用现 有的数显游标卡尺，则需用其测深尺先测量冲击试块1’上平面至V型缺口 2’底部的值B， 再测量冲击试块1’上平面、底面的值C，最终得到测量值A = C-B。这种间接测量的方法需 要通过两次测量并经过运算后才能得到一个偏大的近似值，从而造成测量不确定度的因素 增加，使其测量误差的概率增大，并最终导致无法分析分散性偏差的大小，对其材料力学性 能的判断就不能加以正确分析，如将误判用于实际，这将引发极大的核安全事故。

实用新型内容为了解决上述现有技术存在的问题，本实用新型旨在提供一种夏比V型缺口测量 装置，以实现准确测量缺口真实值，为核电的设备、构件质量提供有效保证的目的。本实用新型所述的一种夏比V型缺口测量装置，它包括一带有拨叉、测杆、和表体 的测量表，它还包括一 U型弓架、一小角度测量头和一测量柱，所述弓架的两端面分别设有一轴孔，且所述测量表的测杆穿过该一轴孔并通过固 紧装置固定连接在该轴孔中；所述小角度测量头的一端呈扁直线型，其另一端与所述测杆螺纹连接；所述测量柱与所述小角度测量头相对设置，该测量柱的一端面与所述测杆垂直， 其另一端与所述弓架的另一个轴孔过盈配合。在上述的夏比V型缺口测量装置中，所述测量柱与所述小角度测量头相对的端面 的平面度范围为0. 3-0. 6 μ m。在上述的夏比V型缺口测量装置中，所述测量表为百分表。由于采用了上述的技术解决方案，本实用新型通过将千分尺的弓架和百分表有效组合，以“面-线”法的测量理念，准确有效的测得了夏比V型缺口的真值，获取了对夏比V 型缺口冲击试块的几何尺寸、形位偏差的测量数据，解决了卡尺不能测量其真值的难题，为 产品质量提供有效保障。

图1是夏比V型缺口冲击试块的结构示意图；图2是本实用新型夏比V型缺口测量装置的使用状态图；图3是本实用新型夏比V型缺口测量装置中小角度测量头的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图，对本实用新型的具体实施例进行详细说明。请参阅图1、图2，本实用新型，即一种夏比V型缺口测量装置，它包括U型弓架2、 小角度测量头4、测量柱3和测量表7，其中，测量表7包括拨叉9、测杆5、和表体8 ；弓架2 表面设有隔热板1。弓架2的两端面分别设有一轴孔，且测量表7的测杆5穿过该一轴孔并通过固紧 装置6固定连接在该轴孔中；小角度测量头4的一端呈扁直线型，其另一端与测杆5螺纹连接；测量柱3与小角度测量头4相对设置，该测量柱3的一端面与测杆5垂直，且该端 面的平面度范围为0. 3-0. 6 μ m，测量柱3的另一端与弓架2的另一个轴孔过盈配合。根据夏比V型缺口精度的测量需要，改制所需的计量器具要保证等级，要符合相 关计量器具的检定规程，选用的计量器具要保证计量器具的Mcp值；本实用新型中选用的 测量表7为O-IOmm的百分表，并配合经过改制的千分尺弓架2和经过调质、测量面径宽小 于0. 25mm的小角度测量头4，来实现夏比V型缺口的测量。本实用新型的工作原理是借助于拨叉9引发测量表7齿条-齿轮的传动，将测杆5 微小的直线位移转变为指针的角位移。使用本实用新型的具体测量方法是手握该测量装 置，用右手拇指轻按测量表7的拨叉9，使测量表7的测杆5向上作直线位移；此时，将夏比 V型缺口的冲击试块10放在测量柱3的端面上，然后，移去拇指，还原拨叉9，使装有小角度 测量头4的测杆5顺势嵌入冲击试块10的V型缺口的底部，这时测量表7指针位置的读数 即是测量值A。综上所述，本实用新型具有以下优点1、用四等或二级的标准量块作比较测量；可消除因百分表示值误差所带来的影 响，提高测量精度，保证测试数据的准确性；2、小角度测量头的角度小、叶片薄；采用“面-线”法直接测量，从而提高测量的位 置精度，保证量值传递的可溯性；3、测量简单、方便快捷、小巧随机、直接读数，提高测量的工作效率；4、小角度测量头和测量柱均选用合金刚，经过调质硬度增强，延长了本测量装置 的使用寿命，节能增效；5、本测量装置除了具有对夏比V型缺口进行检测的功能外，还可用于各种狭窄型 键、销的凹槽测量，并可根据产品测试的不同需求，扩大测量装置的工作测量范围。[0029] 以上结合附图实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域中普通技术人员可根 据上述说明对本实用新型做出种种变化例。因而，实施例中的某些细节不应构成对本实用 新型的限定，本实用新型将以所附权利要求书界定的范围作为本实用新型的保护范围。
权利要求一种夏比V型缺口测量装置，它包括一带有拨叉、测杆和表体的测量表，其特征在于，所述的测量装置还包括一U型弓架、一小角度测量头和一测量柱，所述弓架的两端面分别设有一轴孔，且所述测量表的测杆穿过该一轴孔并通过固紧装置固定连接在该轴孔中；所述小角度测量头的一端呈扁直线型，其另一端与所述测杆螺纹连接；所述测量柱与所述小角度测量头相对设置，该测量柱的一端面与所述测杆垂直，其另一端与所述弓架的另一个轴孔过盈配合。
2.根据权利要求1所述的夏比V型缺口测量装置，其特征在于，所述测量柱与所述小角 度测量头相对的端面的平面度范围为0. 3-0. 6 μ m。
3.根据权利要求1或2所述的夏比V型缺口测量装置，其特征在于，所述测量表为百分表。
专利摘要本实用新型涉及一种夏比V型缺口测量装置，它包括一带有拨叉、测杆和表体的测量表，它还包括一U型弓架、一小角度测量头和一测量柱，所述弓架的两端面分别设有一轴孔，且所述测量表的测杆穿过该一轴孔并通过固紧装置固定连接在该轴孔中；所述小角度测量头的一端呈扁直线型，其另一端与所述测杆螺纹连接；所述测量柱与所述小角度测量头相对设置，该测量柱的一端面与所述测杆垂直，其另一端与所述弓架的另一个轴孔过盈配合。本实用新型准确有效的测得了夏比V型缺口的真值，获取了对夏比V型缺口冲击试块的几何尺寸、形位偏差的测量数据，解决了卡尺不能测量其真值的难题，为产品质量提供有效保障。
文档编号G01B5/24GK201707002SQ20102022863
公开日2011年1月12日 申请日期2010年6月17日 优先权日2010年6月17日
发明者潘福庚 申请人:上海电气核电设备有限公司