专利名称：时域反射仪校正系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种测量仪器校正系统及方法，尤其是一种时域反射仪校正系统及方法。
背景技术：
时域反射仪是一种用于测试电子线路特性的设备。例如，时域反射仪在电子线路上发送一个脉冲信号，这个脉冲信号经过一个开路的线路时，脉冲信号遇到开路会发射回发送端，时域反射仪通过分析接收到的脉冲信号计算出该电子线路的特性阻抗。然而，在利用时域反射仪进行电子线路特性的测试时，由于时域反射仪本身的误差，如通道间的时间差、电缆长度及脉冲信号间的时间差等因素，可能造成测试的准确度下降。因此，对时域反射仪的校正极为重要。

发明内容
鉴于以上内容，有必要提出一种时域反射仪校正系统，其可根据用户选择的通道， 自动地对该通道间的误差进行校正。此外，还有必要提出一种时域反射仪校正方法，其可根据用户选择的通道，自动地对该通道间的误差进行校正。一种时域反射仪校正系统，用于对一个时域反射仪进行校正。一个校正器通过电缆连接到该时域反射仪的通道上。该系统包括判断模块，用于判断通过电缆连接到校正器上的通道的数目是否为2 ；通道开启模块，用于开启所连接的两条通道，使其处于工作状态；参数设置模块，用于将所连接的两条通道的参数St印Deskew及Channel Deskew的值归零；测量模块，用于获取上述连接的两条通道在同一预设的时间点所测量到的最大特性阻抗，以及在将连接上述两条通道与校正器的电缆切断后，获取该两条通道测量到同一预设特性阻抗的时间；比较模块，用于通过比较判断上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值是否在一个允许的特性阻抗范围内，以及通过比较判断上述获取的两个时间之间的差值是否在一个允许的时间范围内；参数调整模块，用于当上述两个最大特性阻抗之间的差值不在所述允许的特性阻抗范围内时，根据该最大特性阻抗之间的差值调整其中一个通道的 Step Deskew的值，以及当上述两个时间之间的差值不在所述允许的时间范围内时，根据该时间之间的差值调整其中一个通道的Channel Deskew的值。—种时域反射仪校正方法，用于对一个时域反射仪进行校正。该方法包括(a)将一个校正器通过电缆连接到上述时域反射仪的通道上；(b)判断通过电缆连接到校正器上的通道的数目是否为2 ;(c)在通过电缆连接到校正器上的通道的数目是否为2的情况下， 开启所连接的两条通道，使其处于工作状态；d)将所连接的两条通道的参数StepDeskew及 Channel Deskew的值归零；(e)获取上述连接的两条通道在同一预设时间点所测量到的最大特性阻抗；(f)通过比较判断上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值是否在一个允许的特性阻抗范围内；(g)当上述两个最大特性阻抗之间的差值不在所述允许的特性阻抗范围内时，根据该最大特性阻抗之间的差值调整其中一个通道的St印Deskew的值；(h)重复步骤(e)至(g)，直至两个最大特性阻抗之间的差值在所述允许的特性阻抗范围内；(i)将连接上述两条通道与校正器的电缆切断；(j)获取该两条通道测量到同一预设特性阻抗的时间；(k)通过比较判断上述获取的两个时间之间的差值是否在一个允许的时间范围内； (1)当上述两个时间之间的差值不在所述允许的时间范围内时，根据该时间之间的差值调整其中一个通道的Channel Deskew的值；及(m)重复步骤(j)至(1)，直至两个时间之间的差值在所述允许的时间范围内。本发明所提供的时域反射仪校正系统及方法只需要用户选择时域反射仪上待校正的任意两个通道，就能自动地对所选择的通道间的误差进行校正，减少人工校正所造成误差，提高了精准性。


图1是本发明时域反射仪校正系统较佳实施例的系统架构图。图2是本发明时域反射仪校正系统较佳实施例的功能模块图。图3是本发明时域反射仪校正方法较佳实施例的方法流程图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种时域反射仪校正系统，其特征在于，一个待测的时域反射仪的通道通过电缆与一个校正器连接，该系统包括判断模块，用于判断通过电缆连接到校正器上的通道的数目是否为2 ；通道开启模块，用于开启所连接的两条通道，使其处于工作状态；参数设置模块，用于将所连接的两条通道的参数St印Deskew及Channel Deskew的值归零；测量模块，用于获取上述连接的两条通道在同一预设的时间点所测量到的最大特性阻抗，以及在将连接上述两条通道与校正器的电缆切断后，获取该两条通道测量到同一预设特性阻抗的时间；比较模块，用于通过比较判断上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值是否在一个允许的特性阻抗范围内，以及通过比较判断上述获取的两个时间之间的差值是否在一个允许的时间范围内；参数调整模块，用于当上述两个最大特性阻抗之间的差值不在所述允许的特性阻抗范围内时，根据该最大特性阻抗之间的差值调整其中一个通道的St印Deskew的值，使该两条通道之间的脉冲时间差缩小，以及当上述两个时间之间的差值不在所述允许的时间范围内时，根据该时间之间的差值调整其中一个通道的Channel Deskew的值，使该两条通道之间的通道时间差缩小。
2.如权利要求1所述的时域反射仪校正系统，其特征在于，该系统还包括初始化模块，用于初始化时域反射仪，使其恢复到出厂时的设置。
3.如权利要求1所述的时域反射仪校正系统，其特征在于，该系统还包括提示模块，用于在没有同时连接两条通道的情况下，发出提示信息，以及当上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值在所述允许的特性阻抗范围内时，提示将连接上述两条通道与校正器的电缆切断。
4.如权利要求1所述的时域反射仪校正系统，其特征在于，所述参数调整模块调整其中一个通道的St印Deskew值及Channel Deskew值按照如下步骤执行当两个通道中的第一通道所测量到的特性阻抗大时，调整第二通道的Step Deskew的值，使其减小，或者调整第一通道的St印Deskew的值，使其增大；及当两个通道中的第一通道测量到同一预设特性阻抗的时间短时，调整第二通道的 Channel Deskew的值，使其减小，或者调整第一通道的Channel Deskew的值，使其增大。
5.如权利要求1所述的时域反射仪校正系统，其特征在于，该系统还包括显示模块，用于显示校正之后的参数St印Deskew及ChannelDeskew的值。
6.一种时域反射仪校正方法，其特征在于，该方法包括(a)将一个校正器通过电缆连接到一个待测的时域反射仪的通道上；(b)判断通过电缆连接到校正器上的通道的数目是否为2；(c)在通过电缆连接到校正器上的通道的数目为2的情况下，开启所连接的两条通道， 使其处于工作状态；(d)将所连接的两条通道的参数St印Deskew及ChannelDeskew的值归零；(e)获取上述连接的两条通道在同一预设时间点所测量到的最大特性阻抗；(f)通过比较判断上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值是否在一个允许的特性阻抗范围内；(g)当 上述两个最大特性阻抗之间的差值不在所述允许的特性阻抗范围内时，根据该最大特性阻抗之间的差值调整其中一个通道的StepDeskew的值，使该两条通道之间的脉冲时间差缩小；(h)重复步骤(e)至(g)，直至两个最大特性阻抗之间的差值在所述允许的特性阻抗范围内；(i)将连接上述两条通道与校正器的电缆切断；(j)获取该两条通道测量到同一预设特性阻抗的时间；(k)通过比较判断上述获取的两个时间之间的差值是否在一个允许的时间范围内； (1)当上述两个时间之间的差值不在所述允许的时间范围内时，根据该时间之间的差值调整其中一个通道的Channel Deskew的值，使该两条通道之间的通道时间差缩小；及 (m)重复步骤(j)至(1)，直至两个时间之间的差值在所述允许的时间范围内。
7.如权利要求6所述的时域反射仪校正方法，其特征在于，步骤(a)之前该方法还包括初始化时域反射仪，使其恢复到出厂时的设置。
8.如权利要求6所述的时域反射仪校正方法，其特征在于，步骤(b)之后该方法还包括在没有同时连接两条通道的情况下，发出提示信息。
9.如权利要求6所述的时域反射仪校正方法，其特征在于，所述调整其中一个通道的 Step Deskew值及Channel Deskew值的步骤包括当两个通道中的第一通道所测量到的特性阻抗大时，调整第二通道的Step Deskew的值，使其减小，或者调整第一通道的St印Deskew的值，使其增大；及当两个通道中的第一通道测量到同一预设特性阻抗的时间短时，调整第二通道的 Channel Deskew的值，使其减小，或者调整第一通道的Channel Deskew的值，使其增大。
10.如权利要求6所述的时域反射仪校正方法，其特征在于，步骤(m)之后该方法还包括显示校正之后的参数St印Deskew及Channel Deskew的值。
全文摘要
本发明提供一种时域反射仪校正方法，其利用电缆将时域反射仪上两个通道连接到校正器上。该方法将两条通道的Step Deskew及ChannelDeskew值归零，获取两条通道在同一时间测量到的最大特性阻抗，及获取两条通道测量到同一特性阻抗的时间。判断两个特性阻抗之间的差值是否在一允许的范围内，及判断两个时间之间的差值是否在一允许的范围内。当特性阻抗之间的差值不在允许的范围内时，调整其中一个通道的Step Deskew值，当时间之间的差值不在允许的范围内时，调整其中一个通道的Channel Deskew值。本发明还提供一种时域反射仪校正系统。本发明根据用户选择的通道，自动对该通道间的误差进行校正。
文档编号G01R35/00GK102213754SQ20101013793
公开日2011年10月12日 申请日期2010年4月1日 优先权日2010年4月1日
发明者李昇军, 梁献全, 许寿国 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司