专利名称：芯片测试机上的键盘盒结构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种芯片测试机结构，尤其是一种芯片测试机上的键盘盒结构。
背景技术：
在使用芯片测试机对芯片进行测试时，操作人员往往需要使用输入及显示部件来进行一些参数的设定，所以现有的芯片测试机一般均连接有键盘及显示屏，现有的芯片测试机上一般均设有一放置键盘的键盘盒，并固定于芯片测试机的侧面中部，但是由于操作人员的高度，操作习惯不同对于键盘盒所在的高度、角度均有不同的要求，而现有的键盘盒结构一般直接固定于芯片测试机上，无法进行高度和角度的调节，不能适应不同的操作习惯的人员进行操作，影响了操作的准确性和便利性。

发明内容本实用新型的目的是提供一种可以进行高度和角度调节的芯片测试机上的键盘
盒结构。为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案它包括一底部框架，在底部框架上设有键盘盒和显示器，其改进在于所述的键盘盒底部设有一旋转板，所述的显示器通过一旋转支架安装于底部框架上部，所述的旋转板外侧底部设有一升降块与底部框架上部之间通过转轴结构连接，所述的旋转板安装于一升降调节结构上。优选地，所述的升降调节结构包括设于旋转轴下方的升降控制环，所述的升降控制环套接与垂直的高度控制杆上，所述的高度控制杆上设有多个高度定位孔，所述的控制环上设有高度定位销，高度定位销连接一推拉高度定位销进出高度定位孔的把手。优选地，所述的把手和高度定位销通过一安装块安装于升降控制环底部。优选地，所述的安装块底部安装一液压棒。优选地，所述的键盘盒中还设有一可在侧部进行抽拉的抽屉结构。优选地，所述的键盘盒上设有一可开合的上盖。优选地，所述的键盘盒与上盖之间通过液压助力棒连接。本实用新型的芯片测试机上的键盘盒结构通过升降调节结构可以调节键盘盒所处的高度，并且可以通过旋转板带动键盘盒进行角度的偏转，从而实现了不同的工作人员的对不同操作高度的需要，以及处于不同的位置对操作角度的需要，提高了工作人员的操作舒适度，从而提高了工作效率和准确性。

图I是本实用新型的爆炸结构示意图；图2是本实用新型的不带侧板的装配结构示意图；图3是本实用新型的带侧板的装配结构示意图；[0016]图4是本实用新型的键盘盒结构示意图。本实用新型目的、功能及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
结合图I所示，本实施例的包括一底部框架I，在底部框架I上设有键盘盒2和显示器3，所述的键盘盒2底部设有一旋转板4，所述的显示器3通过一旋转支架5安装于底部框架I上部，所述的旋转板4外侧安装于一升降调节结构上。本实施例中，所述的升降调节结构包括设于旋转板4的旋转轴下方的升降控制环6，所述的升降控制环6套接与垂直的高度控制杆7上，所述的高度控制杆7上设有多个高度定位孔8，所述的控制环6上设有高度定位销9，高度定位销9连接一推拉高度定位销9进出高度定位孔8的把手10。具体的，所述的把手10和高度定位销9通过一安装块11安装于升降控制环6底 部。由于键盘盒一般为金属制成，放上鼠标键盘以后会有一定的重量，为了辅助工作人员上升键盘盒，所述的安装块11底部安装一液压棒12。为了缩小键盘盒的整体体积，本实施例中，所述的键盘盒2中还设有一可在侧部进行抽拉的抽屉结构21，使用时抽出抽屉结构21即可使用鼠标，不使用时，推回抽屉结构21即可缩小键盘盒占用的空间。另外为了保护键盘和键盘盒内的清洁，本实施例中，所述的键盘盒2上设有一可开合的上盖22，所述的键盘盒与上盖之间通过液压助力棒连接。以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
权利要求1.一种芯片测试机上的键盘盒结构，包括一底部框架，在底部框架上设有键盘盒和显示器，其特征在于所述的键盘盒底部设有一旋转板，所述的显示器通过一旋转支架安装于底部框架上部，所述的旋转板外侧底部设有一升降块与底部框架上部之间通过转轴结构连接，所述的旋转板安装于一升降调节结构上。
2.如权利要求I所述的芯片测试机上的键盘盒结构，其特征在于所述的升降调节结构包括设于旋转轴下方的升降控制环，所述的升降控制环套接与垂直的高度控制杆上，所述的高度控制杆上设有多个高度定位孔，所述的控制环上设有高度定位销，高度定位销连接一推拉高度定位销进出高度定位孔的把手。
3.如权利要求2所述的芯片测试机上的键盘盒结构，其特征在于所述的把手和高度定位销通过一安装块安装于升降控制环底部。
4.如权利要求3所述的芯片测试机上的键盘盒结构，其特征在于所述的安装块底部安装一液压棒。
5.如权利要求4所述的芯片测试机上的键盘盒结构，其特征在于所述的键盘盒中还设有一可在侧部进行抽拉的抽屉结构。
6.如权利要求5所述的芯片测试机上的键盘盒结构，其特征在于所述的键盘盒上设有一可开合的上盖。
7.如权利要求6所述的芯片测试机上的键盘盒结构，其特征在于所述的键盘盒与上盖之间通过液压助力棒连接。
专利摘要本实用新型涉及一种芯片测试机结构，尤其是一种芯片测试机上的键盘盒结构。包括一底部框架，在底部框架上设有键盘盒和显示器，所述的键盘盒底部设有一旋转板，所述的显示器通过一旋转支架安装于底部框架上部，所述的旋转板外侧底部设有一升降块与底部框架上部之间通过转轴结构连接，所述的旋转板安装于一升降调节结构上。本实用新型的芯片测试机上的键盘盒结构通过升降调节结构可以调节键盘盒所处的高度，并且可以通过旋转板带动键盘盒进行角度的偏转，从而实现了不同的工作人员的对不同操作高度的需要，以及处于不同的位置对操作角度的需要，提高了工作人员的操作舒适度，从而提高了工作效率和准确性。
文档编号G01R1/02GK202471758SQ20112049724
公开日2012年10月3日 申请日期2011年12月2日 优先权日2011年12月2日
发明者金英杰 申请人:金英杰