专利名称：一种面型检定仪的制作方法
技术领域：
一种面型检定仪
技术领域：
本实用新型涉及测量技术领域，特别涉及一种面型检定仪。背景技术：
现行的加工技术中关于加工面面形的检测没有一个比较好的办法，在实际的加工 过程中存在着一定的弊端测量成本高、测量难度大、不利于现场加工和生产。

实用新型内容本实用新型的目的是提供一种面型检定仪，以解决上述技术问题。为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案一种面型检定仪，包括测量基板、指示类传感器或指示表、测量头、螺钉和3个柱 销；所述3个柱销固定于所述测量基板上，所述指示类传感器或指示表通过螺钉固定于所 述测量基板中心处，所述测量头连接所述指示类传感器或指示表。3个柱销底部共面。所述指示表为千分表。与现有技术相比，本实用新型具有以下优点本实用新型一种面型检定仪通过设 置一测量基板，基板上固定有3个底部共面的柱销，基板中心处固定有一个指示类传感器， 通过连接指示类传感器的测量头与3个柱销底面所在平面之间的差异，可以快速判断出测 量平面与基准平面之间的差距；本实用新型可以简单、快速、准确的检测不同口径加工面的 面形情况，本实用新型可以通过更改3个柱销的位置、测量基板的大小来调整测量面的大 小；更换精度更高的指示类传感器来提高测量的精度值；更换不同的标准件可以分别对球 面、平面面形进行相应的测量。

图1为本实用新型一种面型检定仪的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型做进一步详细描述。请参阅图1所示，本实用新型一种面型检定仪包括测量基板1、指示表或指示类传 感器2、测量头21、螺钉3和柱销4。本实施例使用千分表作为指示表2，在测量时使用一个标准平板作为标准件进行 对比测量。使用时首先将3个柱销4安装到测量基板1上，将千分表安装到测量基板1的 中心位置，用螺钉3进行固定；其次将面型检定仪放到标准平板上，调节千分尺的测量头21 的位置使千分尺对零，3个柱销4和测量头21的底部共面；最后将对零好的面型检定仪放 到待检测件的表面上，根据千分表中的读数可以判断出测量平面与标准平板之间的差距。在实际测量中可以更改3个柱销的位置、测量基板1的大小来调整测量面的大小；更换精度更高的指示类传感器2来提高测量的精度值；更换不同的标准件可以分别对球 面、平面面形进行相应的测量。
权利要求1.一种面型检定仪，其特征在于包括测量基板(1)、指示类传感器或指示表(2)、测量 头(21)、螺钉(3)和3个柱销(4)；所述3个柱销(4)固定于所述测量基板⑴上，所述指 示类传感器或指示表(2)通过螺钉(3)固定于所述测量基板(1)中心处，所述测量头(21) 连接所述指示类传感器或指示表(2)。
2.如权利要求1所述一种面型检定仪，其特征在于3个柱销(4)底部共面。
3.如权利要求1或2所述一种面型检定仪，其特征在于所述指示表(2)为千分表。
专利摘要本实用新型提供一种面型检定仪，包括测量基板、指示类传感器、测量头、螺钉和3个柱销；所述3个柱销固定于所述测量基板上，所述指示类传感器通过螺钉固定于所述测量基板中心处，所述测量头连接所述指示类传感器。本实用新型通过连接指示类传感器的测量头与3个柱销底面所在平面之间的差异，可以快速判断出测量平面与基准平面之间的差距；本实用新型可以简单、快速、准确的检测不同口径加工面的面形情况，本实用新型可以通过更改3个柱销的位置、测量基板的大小来调整测量面的大小；更换精度更高的指示类传感器来提高测量的精度值；更换不同的标准件可以分别对球面、平面面形进行相应的测量。
文档编号G01B5/20GK201885666SQ20102058469
公开日2011年6月29日 申请日期2010年10月29日 优先权日2010年10月29日
发明者崔杰 申请人:西安北方捷瑞光电科技有限公司