专利名称：一种光耦继电器质量检测仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种光耦继电器质量检测仪，属于集成电路及电子元器件检测领域。
背景技术：
光耦继电器是固态继电器的ー种，一般继电器都是机械触点，靠通电流过线圈变成有磁性的磁铁吸合触点，从而控制开光状态，而光耦继电器工作原理类似于光耦，光耦继电器是是半导体继电器，发光二极管导通截止，接收ニ极管导通截止，不会因为老化、频繁开关而报废，它的寿命几乎是无限次的，因此光耦继电器适用于反复需要开关的领域，在需 要大量并联应用的场合，对光耦继电器不做检测就应用到电路中，如果其中ー个光耦继电器坏了，电路很难查出是那一路损坏，所以，应用前，需要对光耦继电器的质量进行检测，由于光耦继电器是ー个复合半导体元器件，现有的如万用表等仪表，均不能做这样的检测，尤其是大批量检测时，这时就需要相应的专用測量仪器进行检测。
发明内容本实用新型涉及ー种光耦继电器质量检测仪，以实现对光耦继电器的质量检测和评定。为实现上述的目的，本实用新型采用如下技术方案光耦继电器A通过专用座固定，输入端接入5V电源，通过Rl限流，流经光耦继电器A的输入控制端，然后再接入三极管Q1，由三极管Ql控制光耦继电器A的打开与关，三极管Ql的基极由单片机进行控制。光耦继电器A的输出端一端接地，另一端串接一个限流测量电阻R2，工作指示灯Dl和一个高耐压值的MOSFET管Q2，注意，Q2上接的电压是一个高电压值。測量光耦继电器A的漏失电流吋，输入端三极管Ql断电，没有输入，这时，工作指示灯Dl灭，测C1、C2测量电阻R2上的电压，由于R2的电阻已知，其漏失电流I=U2/R2。測量光耦继电器A导通电阻时，输入端三极管Ql加电，測量光耦继电器A开始エ作，同时，工作指示灯Dl亮，先测C1、C2测量电阻R2上的电压，然后再测C2、C3光耦上的电压，由于输出电流是相等，即U2/R2=Ua/Rx由此可得出Rx= (Ua*R2) /U2因而可知道光耦继电器的导通电阻。以上控制过程由单片机自动控制，通过IXD液晶屏显示測量结果，整个操作过程简便，同时，能对不合格产品进行报警，确保光耦继电器在应用的中安全，可靠，大大提高了电子产器的可靠性。


附图I是本实用新型的工作原理示意图[0014]具体实施方式
为了使本实用新型的技术方案更加清楚明白，
以下结合附图和实施例，对本实用新型进ー步详细说明，此处所描述的具体实例，仅仅用以解释本实用新型，并不用于限制本实用新型。实施例请參阅附图I所示，光耦继电器A通过专用座固定，输入端接入5V电源，通过Rl限流，流经光耦继电器A的输入控制端，然后再接入三极管Ql，由三极管Ql控制光耦继电器A的打开与关，三极管Ql的基极 由单片机进行控制。光耦继电器A的输出端一端接地，另ー端串接一个限流测量电阻R2，工作指示灯Dl和一个高耐压值的MOSFET管Q2，注意，Q2上接的电压是一个高电压值。測量光耦继电器A的漏失电流吋，输入端三极管Ql断电，没有输入，这时，工作指示灯Dl灭，测C1、C2测量电阻R2上的电压，由于R2的电阻已知，其漏失电流I=U2/R2。測量光耦继电器A导通电阻时，输入端三极管Ql加电，測量光耦继电器A开始エ作，同时，工作指示灯Dl亮，先测C1、C2测量电阻R2上的电压，然后再测C2、C3光耦上的电压，由于输出电流是相等，即U2/R2=Ua/Rx由此可得出Rx= (Ua*R2) /U2因而可知道光耦继电器的导通电阻。以上控制过程由单片机自动控制，通过IXD液晶屏显示測量结果，整个操作过程简便，同吋，能对不合格产品进行报警。
权利要求1.本实用新型涉及ー种光耦继电器质量检测仪，其特征在于光耦继电器A通过专用座固定，输入端接入5V电源，通过Rl限流，流经光耦继电器A的输入控制端，然后再接入三极管Q1，由三极管Ql控制光耦继电器A的打开与关，三极管Ql的基极由单片机进行控制，光耦继电器A的输出端一端接地，另一端串接一个限流测量电阻R2，工作指示灯Dl和ー个高耐压值的MOSFET管Q2，整个测量过程由单片机自动控制，通过LCD液晶屏显示測量結果，对不合格产品进行报警。
专利摘要本实用新型涉及一种光耦继电器质量检测仪，光耦继电器A通过专用座固定，输入端接入5V电源，通过R1限流，流经光耦继电器A的输入控制端，然后再接入三极管Q1，由三极管Q1控制光耦继电器A的打开与关，三极管Q1的基极由单片机进行控制。光耦继电器A的输出端一端接地，另一端串接一个限流测量电阻R2，工作指示灯D1和一个高耐压值的MOSFET管Q2。
文档编号G01R31/327GK202421444SQ201120492108
公开日2012年9月5日 申请日期2011年12月1日 优先权日2011年12月1日
发明者李金录, 淡博 申请人:哈尔滨智木科技有限公司