专利名称：磁片位置度快测仪的制作方法
技术领域：
磁片位置度快测仪技术领域[0001]本实用新型涉及一种磁片位置度的测量工具，属于测量仪器技术领域。
技术背景[0002]我们知道，新产品的底板上没有定位蘑菇头，对于粘接在产品底板上的磁片的 位置度控制，需要开发一套适合生产的快速检测位置度仪器。实用新型内容[0003]为了克服现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种可有效控制粘结在 新产品底板上的磁片的位置度的磁片位置度快测仪。[0004]本实用新型是通过以下技术方案来实现的[0005]一种磁片位置度快测仪，其特征在于，其包括用于测量定位点位置度的三只数 显千分表，其通过气缸推动同时通过可编程控制器控制，而上述的定位点则设置在磁片 的放置位置上，且定位点为多个，分布在磁片放置位置的外周上。[0006]上述的定位点设置有3个，而所述的数显千分表也对应设置有3个。[0007]本实用新型的有益效果是本实用新型在磁片的放置位置的外周上设置定位 点，并通过数显千分表来对定位点进行位置度控制，有效地保证了磁片在ESG产品平台 上的位置度，保证了产品的精度和优良品质。


[0008]图1为本实用新型一实施例的结构示意图。[0009]图中主要附图标记含义为[0010]1、新产品底板2、磁片3、定位点4、数显千分表具体实施方式
[0011]下面将结合附图，详细说明本实用新型的具体实施方式
[0012]图1为本实用新型一实施例的结构示意图。[0013]如图1所示磁片位置度快测仪，其包括用于测量定位点位置度的数显千分表 4，而上述的定位点3则设置在ESG产品平台1上的磁片2的放置位置上，且定位点3为 多个，分布在ESG产品平台1上的磁片2放置位置的外周上。[0014]在本实施方式中，定位点设置有3个，而所述的数显千分表4也对应设置有3 个。[0015]本实用新型的设置过程为首先利用产品的图纸制作标准校准块，利用标准校 准块把需要测量的3个定位点3通过3个数显千分表4显示数据，然后将数显千分表4对 3个测量的点归零，再将磁片2粘合在ESG产品平台1后，利用数显千分表4进行位置度 的测量，通过数显千分表4已经设定的上下公差，直接显示是否在规定的范围内，实现快速测量磁片2的位置度。[0016]操作流程将校准块放到快测仪上按启动后，对数显千分表4进行清零，然后 取下校准块，再放上产品按启动测试，数显千分表4会显示产品是否在要求的位置范围 内。[0017]本实用新型在磁片2的放置位置的外周上设置定位点3，并通过数显千分表4来 对定位点3进行位置度控制，有效地保证了磁片2在ESG产品平台1上的位置度，保证 了产品的精度和优良品质。[0018]以上已以较佳实施例公开了本实用新型，然其并非用以限制本实用新型，凡采 用等同替换或者等效变换方式所获得的技术方案，均落在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种磁片位置度快测仪，其特征在于，其包括用于测量定位点位置度的数显千分 表，其通过气缸推动同时通过可编程控制器控制，而上述的定位点则设置在磁片的放置 位置上，且定位点为多个，分布在磁片放置位置的外周上。
2.根据权利要求1所述的磁片位置度快测仪，其特征在于，所述的定位点设置有3 个，而所述的数显千分表也对应设置有3个。
专利摘要本实用新型公开了一种磁片位置度快测仪，其特征在于，其包括用于测量定位点位置度的数显千分表，其通过气缸推动同时通过可编程控制器控制，而上述的定位点则设置在磁片的放置位置上，且定位点为多个，分布在磁片放置位置的外周上。本实用新型在磁片的放置位置的外周上设置定位点，并通过数显千分表来对定位点进行位置度控制，有效地保证了磁片在ESG产品平台上的位置度，保证了产品的精度和优良品质。
文档编号G01B5/00GK201811694SQ201020564278
公开日2011年4月27日 申请日期2010年10月18日 优先权日2010年10月18日
发明者陈佩仪 申请人:微密科技(无锡)有限公司