专利名称：检验物体尺寸的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检验物体尺寸的装置，更具体地，涉及一种检验记忆卡尺寸的装置。
背景技术：
记忆卡是一种小型的记忆装置，能够储存大量的数据。在使用时，将记忆卡插入电子装置的插槽内，以让电子装置能够存取其中的数据。然而，当记忆卡的宽度过大时，在插入插槽时可能会无法顺利插入或插入后卡住而无法顺利拔出来。为确保记忆卡的尺寸合乎规定，目前是以光标卡尺(vernier caliper)来检验记忆卡。然而，以光标卡尺检验不仅会有人为的测量误差、工具本身的精度误差，还会有检验时动作及工时的浪费。有鉴于此，需要提出一种方案，以解决上述问题。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种检验物体尺寸的装置，仅需将物体置于检验槽内，即可检验出物体的尺寸是否合乎规定。为了实现上述目的，本实用新型的实施方式的检验物体尺寸的装置是在检验平台上形成检验槽，该检验槽由所述检验平台的一个侧边延伸至另一侧边，所述检验槽包括第一侧壁、第二侧壁以及底壁，其中该第一侧壁具有前段以及与该前段相连的后段，所述前段和后段相交于相接处，所述第二侧壁具有前段、后段以及与该前段和后段相连的中段，其中所述第一侧壁的前段与所述第二侧壁的前段之间的距离大于所述第一侧壁的后段与所述第二侧壁的后段之间的距离，而小于所述相接处至所述第二侧壁的中段的距离，且该第一侧壁的前段与后段之间的夹角大于90度并小于180度。本实用新型的另一实施方式的检验物体尺寸的装置是在检验平台上形成检验槽， 该检验槽由所述检验平台的一个侧边延伸至另一侧边，所述检验槽包括第一侧壁、第二侧壁以及底壁，所述检验槽具有前段、后段以及与该前段和后段相连的中段，所述前段的宽度大于后段的宽度，而小于中段的宽度，所述检验槽的中段具有让位空间，所述检验槽的中段处的第二侧壁设置成使该待检验物体转动并推向所述让位空间内，其中所述检验槽的后段相对于前段具有偏转角度，该偏转角度大于90度并小于180度。

图1为本实用新型的第一实施方式的检验记忆卡尺寸的装置；图加至图2d为显示利用图1的装置来检验记忆卡尺寸的方法；图3为本实用新型的第二实施方式的检验记忆卡尺寸的装置；图如至图4d为显示利用图3的装置来检验记忆卡尺寸的方法。附图标记说明[0013]100装置110底座[0014]112静电消散材料120支撑架[0015]130检验平台132侧边[0016]134侧边140检验槽[0017]142检验槽的前段144检验槽的后段[0018]146检验槽的中段148突起[0019]150侧壁152侧壁的前段[0020]154侧壁的后段158相接处[0021]160侧壁162侧壁的前段[0022]164侧壁的后段166侧壁的中段[0023]170底壁200记忆卡[0024]210长侧边220短侧边[0025]230切边240角落[0026]250虚线300装置[0027]340检验槽342检验槽的前段[0028]344检验槽的后段346检验槽的中段[0029]348突起350侧壁[0030]352侧壁的前段354侧壁的后段[0031]356侧壁的中段358相接处[0032]359相接处360侧壁[0033]362侧壁的前段364侧壁的后段[0034]366侧壁的中段368虚拟延伸面[0035]370底壁α角度[0036]θ角度
具体实施方式
为了让本实用新型的上述和其它目的、特征和优点能更明显，下文将配合所附图示，作详细说明如下。此外，在本实用新型的说明中，相同的构件均以相同的符号来表示，在此先予以说明。参考图1，本实用新型的第一实施方式的检验记忆卡尺寸的装置100包括底座 110，该底座110上延伸出有支撑架120，支撑架120的另一端则与检验平台130连接。检验平台130倾斜设置，该检测平台130的表面上形成有内壁光滑的检验槽140。检验槽140从检验平台130的侧边132开始，向下延伸至另一侧边134，该检验槽 140包括两相对的侧壁150、160以及底壁170。侧壁150包括前段152以及与该前段152 相连的后段154。侧壁的前段152与侧壁的后段巧4大致上呈直线延伸，该前段152和后段巧4相交于相接处158，且之间夹有一个θ角度，其中θ大于90度且小于180度。侧壁160则包括前段162、后段164以及与该前段162和后段164相连的中段166，其中侧壁的前段162的长度小于侧壁的前段152的长度，而侧壁的后段164的长度小于侧壁的后段 154的长度。侧壁的前段162和侧壁的后段164大致上呈直线延伸，大致上分别与侧壁的前段152和侧壁的后段巧4相平行，且侧壁的前段152、162之间的距离大于侧壁的后段154、 164之间的距离。而侧壁的中段166呈弧形，该弧形的凹部面对侧壁150，且侧壁的中段166 各处至对面相接处158的距离大于侧壁的前段152、162之间的距离。根据本实施方式的装置100，检验槽140的前段142的宽度大于检验槽的后段144的宽度，但小于检验槽的中段 146的宽度。参考图加至图2d，显示了利用本实施方式的装置100来检验记忆卡200的尺寸的方法，其中所欲检测的记忆卡200大致上为矩形，具有一对平行的长侧边210与一对平行的短侧边220，以及与其中一个长侧边210和其中一个短侧边220相连的切边230。在利用装置100来检测记忆卡200的尺寸时，以切边230朝上以及相对的长侧边 210朝下的方式置入检验槽的前段142(见图2a)。由于重力的作用，记忆卡200会在倾斜的检验槽140内向下滑动。当记忆卡200的角落M0，即在本实施方式中的右下角碰到邻近相接处158的侧壁的后段154时，由于惯性作用，记忆卡200会逆时针转动(见图2b)。若记忆卡200的宽度小于检验槽的后段144的宽度时，记忆卡200便会以短侧边220朝下的方式滑入检验槽的后段144内(见图2c)。最后，记忆卡200会滑出检验槽140掉落在底座 110上(见图2d)。根据本实施方式的装置100，当记忆卡200能够以长侧边210朝下的方式置入检验槽的前段142内时，则表示记忆卡200的长度小于检验槽的前段142的宽度；而当能够滑入检验槽的后段144时，则表示记忆卡200的宽度小于检验槽的后段144的宽度。因此，根据本实施方式的装置100，检验槽的前段142是用来检验记忆卡200的长度，检验槽的后段 144是用来检验记忆卡200的宽度，而检验槽的中段146则是使记忆卡200转向。因而，当记忆卡200可顺利滑出检验槽140时，则表示记忆卡200的尺寸合乎规定。除此之外，本领域技术人员应了解，为了能够精确地检验记忆卡200的尺寸，检验槽的前段142的宽度要仅略大于记忆卡200的标准长度，而检验槽的后段144的宽度则要仅略大于记忆卡200的标准宽度。为了要避免因大气压力而使记忆卡200吸附在检验槽140内，可在检验槽140底壁170上设置多条沿着检验槽140延伸方向的突起148，如此，将可减少记忆卡200与检验槽140接触的面积，有助于让记忆卡200顺利滑动。参考图3，本实用新型的第二实施方式的检验记忆卡尺寸的装置300也包括底座 110、支撑架120以及检验平台130。装置300还具有检验槽340，该检验槽340内壁光滑， 形成在倾斜设置的检验平台130上。检验槽340从检验平台130的侧边132开始，向下延伸至侧边134，该检验槽340 包括两相对的侧壁350、360以及底壁370。侧壁350包括前段352、后段354以及与该前段 352和后段3M相连的中段356。侧壁350的前段352、中段356与后段3M大致上皆呈直线延伸，其中侧壁的前段352与侧壁的中段356相交于相接处358，而侧壁的中段356与侧壁的后段3M则相交于相接处359。侧壁360则包括前段362、后段364以及与该前段362 和后段364相连的中段366，其中侧壁的前段362的长度小于侧壁的前段352的长度，而侧壁的后段364的长度小于侧壁的后段354的长度。侧壁的前段362和侧壁的后段364大致上呈直线延伸，大致上分别与侧壁的前段352和侧壁的后段邪4相平行，且侧壁的前段352、 362之间的距离大于侧壁的后段354、364之间的距离。侧壁的中段356从相接处358朝向远离侧壁的中段364的方向延伸出，侧壁的中段356与侧壁的后段邪4之间的夹角α则大于90度且小于180度。侧壁的中段366呈弧形，该弧形的凹部面对侧壁350，且侧壁的中段366各处至对面相接处358的距离大于侧壁的前段352、362之间的距离。此外，沿着侧壁的前段362延伸出的虚拟延伸面368与弧形的侧壁的中段366相交。根据本实施方式的装置300，检验槽340的前段342的宽度大于检验槽的后段344的宽度，但小于检验槽的中段346的宽度。参考图如至图4d，显示了利用本实施方式的装置300来检验记忆卡200的尺寸的方法。在利用装置300来检测记忆卡200的尺寸时，以切边230朝上以及相对的长侧边 210朝下的方式置入检验槽的前段342(见图4a)。由于重力的作用，记忆卡200会在倾斜的检验槽；340内向下滑动。当记忆卡200接触到弧形的侧壁的中段366时，侧壁的中段366 会施力使记忆卡200转动并推向侧壁的中段356与侧壁的后段3M所夹的预先让位空间内 (见图4b)。接着，若记忆卡200的宽度小于检验槽的后段344的宽度时，记忆卡200便会因重力的作用转向以短侧边220朝下的方式滑入检验槽的后段344内(见图如)。最后，记忆卡200会滑出检验槽340掉落在底座110上(见图4d)。根据本实施方式的装置300，当记忆卡200能够使用长侧边210朝下的方式置入检验槽的前段342内时，则表示记忆卡200的长度小于检验槽的前段342的宽度；而当能够转向滑入经过检验槽的后段344时，则表示记忆卡200的宽度小于检验槽的后段344的宽度。 因此，根据本实施方式的装置300，检验槽的前段342是用来检验记忆卡200的长度，检验槽的后段344是用来检验记忆卡200的宽度，而检验槽的中段346则是使记忆卡200转向。 因此，当记忆卡200可顺利滑出检验槽340时，则表示记忆卡200的尺寸合乎规定。除此之外，本领域技术人员应了解，为了能够精确地检验记忆卡200的尺寸，检验槽的前段342的宽度要仅略大于记忆卡200的标准长度，而检验槽的后段344的宽度则要仅略大于记忆卡 200的标准宽度。为了要避免因大气压力而使记忆卡200吸附在检验槽340内，同样地，可在检验槽340底壁170上设置多条沿着检验槽340延伸方向的突起348，如此，将可减少记忆卡200与检验槽340接触的面积，有助于让记忆卡200顺利滑动。根据本实用新型的装置100、300，检验平台130是可相对于支撑架120转动的，以调整检验槽140、340的倾斜方向。底座110上还可铺上一层静电消散材料112，而检验平台 130的表面是采用金属硬化处理的材料，以达到静电消散的特性。根据本实用新型的检验记忆卡尺寸的装置，操作人员仅需将记忆卡置于检验槽内，即可检验出记忆卡的尺寸是否合乎规定。除此之外，本领域技术人员应了解，本实用新型的检验装置并不限于检验记忆卡，也可用来检验大致上呈长方形或正方形的物体的尺寸。虽然本实用新型已由前述实施方式所揭示，然其并非用以限定本实用新型，任何本实用新型所属技术领域中的技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围内，可作各种更动与修改。因此本实用新型的保护范围应当以权利要求书所界定的为准。
权利要求1.一种检验物体尺寸的装置，该装置包括检验平台，该检验平台具有至少两个侧边，其特征在于该检验平台上形成有检验槽，该检验槽由所述检验平台的一个侧边延伸至另一侧边， 所述检验槽包括第一侧壁、第二侧壁以及底壁，其中该第一侧壁具有前段以及与该前段相连的后段，该前段和后段相交于相接处，所述第二侧壁具有前段、后段以及与该前段和后段相连的中段，其中所述第一侧壁的前段与所述第二侧壁的前段之间的距离大于所述第一侧壁的后段与所述第二侧壁的后段之间的距离，而小于所述相接处至所述第二侧壁的中段的距离，且所述第一侧壁的前段与后段之间的夹角大于90度并小于180度。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第二侧壁的中段呈弧形，该弧形的凹部面对所述第一侧壁。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一侧壁的前段和后段的长度分别大于所述第二侧壁的前段和后段的长度。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述检验槽的底壁上设置有多条沿着该检验槽延伸方向的突起。
5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，该装置还包括底座；以及支撑架，该支撑架由所述底座延伸出，并与所述检验平台连接。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述检验平台能够相对于所述支撑架转动。
7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述底座上设置有静电消散材料。
8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述检验平台的表面是使用金属硬化处理的材料。
9.一种检验物体尺寸的装置，该装置包括检验平台，该检验平台具有至少两个侧边，其特征在于该检验平台上形成有检验槽，该检验槽由所述检验平台的一个侧边延伸至另一侧边， 所述检验槽包括第一侧壁、第二侧壁以及底壁，所述检验槽具有前段、后段以及与该前段和后段相连的中段，该前段的宽度大于后段的宽度，而小于中段的宽度，所述检验槽的中段具有让位空间，所述检验槽的中段处的第二侧壁设置成使待检验物体转动并推向所述让位空间内，其中所述检验槽的后段相对于前段具有偏转角度，该偏转角度大于90度并小于180 度。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述检验槽的中段处的第二侧壁呈弧形，该弧形的凹部面对所述第一侧壁。
11.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，由所述检验槽的前段处的第二侧壁延伸出有虚拟延伸面，该虚拟延伸面与所述检验槽的中段处的第二侧壁相交。
12.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述检验槽的底壁上设置有多条沿着该检验槽延伸方向的突起。
13.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，该装置还包括底座；以及支撑架，该支撑架由所述底座延伸出，并与所述检验平台连接。
14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述检验平台能够相对于所述支撑架转动。
15.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述底座上设置有静电消散材料。
16.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述检验平台的表面是使用金属硬化处理的材料。
专利摘要本实用新型提供一种检验物体尺寸的装置，包括检验平台，该检验平台具有至少两侧边，检验平台上形成有检验槽，该检验槽由检验平台的一个侧边延伸至另一侧边，该检验槽包括第一侧壁、第二侧壁以及底壁，其中第一侧壁具有前段以及与该前段相连的后段，两者相交于相接处，第二侧壁则具有前段、后段以及与该前段和后段相连的中段，其中第一侧壁的前段和后段以及第二侧壁的前段和后段大致上呈直线延伸，而第二侧壁的中段则呈弧形，第一侧壁的前段和后段长度分别大于第二侧壁的前段和后段长度，且第一侧壁的前段与第二侧壁的前段之间的距离大于第一侧壁的后段与第二侧壁的后段之间的距离，而小于相接处至第二侧壁的中段的距离。
文档编号G01B5/02GK202013164SQ20112003894
公开日2011年10月19日 申请日期2011年2月15日 优先权日2011年2月15日
发明者郑益骐 申请人:华泰电子股份有限公司