一种用于sdram芯片检测的连接基座的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，包括顶座、底座、以及连接顶座与底座的弹簧，顶座设有定位条，底座设有与定位条配合的定位槽，底座底部为带插置孔的底板，底板的插置孔上固定插有PIN针，底板上方设有活动板，活动板穿过PIN针，PIN针穿过活动板，活动板与底板之间设有压簧，活动板通过导杆与顶座连接，活动板上方固定设有栅板，栅板上设置有栅条，底座上还设置有夹紧机构，顶座上设置有与夹紧机构配合的触动块，PIN针按15×6阵列进行排列，PIN针包括上部两对称的短凹弧，中部两对称的长凹弧，以及底部的引针，位于同侧的短凹弧与长凹弧相接，两长凹弧的末端相接后连接引针，引针固定于底板的插置孔中。
【专利说明】—种用于SDRAM芯片检测的连接基座

【技术领域】
[0001]本实用新型属于芯片检测设备【技术领域】，涉及一种芯片检测用的辅助连接设备，尤其是一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，采用该种连接基座能够实现不同种类的SDRAM芯片与机台的连接。

【背景技术】
[0002]在SDRAM (同步动态随机存储器)芯片完成封装或者组装后，通常会对芯片的性能以及老化程度进行测试，以便对封装后的芯片进行筛选；同时，再将通过测试的良品进行可靠性试验，以确定芯片的可靠性等级，以此满足不同行业的级别需求，芯片的可靠性等级分为消费级、工业级、军工级以及宇航级。
[0003]在进行上述测试的过程中，都需要采用SOCKET作为连接基座，将待检测SDRAM芯片与检测机台的电路连接，而针对不同的SDRAM芯片，需要采用不同的SOCKET进行连接；因此，在进行不同款式的SDRAM芯片测试时，需要不同的SOCKET，不仅增加测试成本，降低资金利用率，而且可能错误使用SOCKET而产生损坏SDRAM芯片的情况。
实用新型内容
[0004]本实用新型的目的在于，针对上述现有技术中存在的一种SOCKET只能针对特定的SDRAM芯片的技术缺陷，提供设计一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，以实现对不同款式的SDRAM芯片的连接，以降低测试成本，降低错误使用SOCKET的情形。
[0005]为实现上述目的，本实用新型给出以下技术方案:
[0006]一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，包括:顶座、底座、以及用于连接顶座与底座的弹簧，弹簧的两端分别固定的顶座与底座上，所述顶座设置有定位条，底座设置有与定位条配合的定位槽，底座底部为一带插置孔的底板，底板的插置孔上固定插置有PIN针；其特征在于:底板上方设有一活动板，所述活动板穿过PIN针，活动板与底板之间设有压簧，活动板通过导杆与顶座连接，活动板上方固定设有一栅板，栅板上设置有栅条，所述底座上还设置有夹紧机构，顶座上设置有与夹紧机构相配合的触动块，所述PIN针共15行6列，并按15X6阵列进行排列，PIN针的行间距为0.8mm，PIN针第一列与第二列之间的间距、第二列与第三列之间的间距、第四列与第五列之间的间距、第五列与第六列之间的间距均为0.8mm，第三列与第四列之间的间距为3.2mm，所述PIN针包括:上部两对称的短凹弧，中部两对称的长凹弧，以及底部的引针，位于同侧的短凹弧与长凹弧相接，两长凹弧的末端相接后连接引针，所述引针固定于底板的插置孔中。
[0007]优选地，所述顶座上还设置有第一导向柱，所述第一导向柱位于顶座与底座之间的弹簧内；通过第一导向柱能够进一步确保顶座与底座之间的位置关系，使得顶座与底座精准对位。
[0008]优选地，所述活动板的底部设置有第二导向柱，所述第二导向柱位于活动板与底板之间的压簧内；通过第二导向柱能够确保活动板与底板之间的位置关系。
[0009]优选地，所述夹紧机构包括夹紧块，所述夹紧块通过转轴固定在底座上，夹紧块与底座之间还设置有回位弹簧；夹紧块与回位弹簧配合以夹紧SDRAM芯片，转轴使得夹紧块能够转动。
[0010]优选地，所述栅板通过螺栓固定设置在底座上；能够方便的拆卸栅板，便于实现栅板的更换。
[0011]优选地，所述栅板上栅条的倾斜角度为45度；栅条的倾斜角度为45度，保证SDRAM芯片的引脚与PIN针连接的基础上，设计方便。
[0012]优选地，所述栅条的宽度为0.5mm—1.0mm。
[0013]优选地，所述栅条的宽度为0.8mm ;确保SDRAM芯片的引脚与PIN针的连接。
[0014]本实用新型的有益效果在于，该连接基座能够将不同型号的SDRAM芯片与机台电路进行连接，以便实现SDRAM芯片的检测，降低测试成本的同时，也降低错误使用SOCKET的情形；夹紧机构用于卡紧待检测SDRAM芯片，防止检测过程中出现移动而导致检测不准确的情况发生；此外，本实用新型设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。
[0015]由此可见，本实用新型与现有技术相比，具有实质性特点和进步，其实施的有益效果也是显而易见的。

【专利附图】

【附图说明】
[0016]图1为本实用新型提供的一种用于SDRAM芯片检测的连接基座的结构示意图。
[0017]图2为图1中PIN针与底座的固定结构示意图。
[0018]其中，1-顶座，2-底座，3-弹簧，4-定位条，5-定位槽，6_导杆，7_栅板，8_触动ik, 9-第一导向柱，10-夹紧块，11-回位弹簧，12-转轴，13-活动板，14-PIN针，15-第二导向柱，16-压簧，17-栅条，18-底板，141-短凹弧，142-长凹弧，143-引针。

【具体实施方式】
[0019]下面结合附图并通过具体实施例对本实用新型进行详细阐述，以下实施例是对本实用新型的解释，而本实用新型并不局限于以下实施方式。
[0020]实施例一:
[0021]如图1和2所示，本实用新型提供的一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，包括:顶座1、底座2、以及用于连接顶座I与底座2的弹簧3，弹簧3的两端分别固定的顶座I与底座2上，所述顶座I设置有定位条4，底座2设置有与定位条4配合的定位槽5，底座2底部为一带插置孔的底板18，底板18的插置孔上固定插置有PIN针14，底板18上方设有一活动板13，所述活动板13穿过PIN针14，活动板13与底板18之间设有压簧16，活动板13通过导杆6与顶座I连接，活动板13上方固定设有一栅板7，栅板7上设置有栅条17，所述底座2上还设置有夹紧机构，顶座I上设置有与夹紧机构相配合的触动块8，所述PIN针14共15行6列，并按15X6阵列进行排列，PIN针14的行间距为0.8mm，PIN针第一列与第二列之间的间距、第二列与第三列之间的间距、第四列与第五列之间的间距、第五列与第六列之间的间距均为0.8mm，第三列与第四列之间的间距为3.2mm，所述PIN针14包括:上部两对称的短凹弧141，中部两对称的长凹弧142，以及底部的引针143，位于同侧的短凹弧141与长凹弧142相接，两长凹弧142的末端相接后连接引针143，所述引针143固定于底板18的插置孔中。
[0022]本实施例中，所述顶座I上还设置有第一导向柱9,所述第一导向柱9位于顶座I与底座2之间的弹簧3内；通过第一导向柱9能够进一步确保顶座I与底座2之间的位置关系，使得顶座I与底座2精准对位。
[0023]本实施例中，所述活动板13的底部设置有第二导向柱15，所述第二导向柱15位于活动板13与底板18之间的压簧16内；通过第二导向柱15能够确保活动板13与底板18之间的位置关系。
[0024]本实施例中，所述夹紧机构包括夹紧块10，所述夹紧块10通过转轴12固定在底座2上，夹紧块10与底座2之间还设置有回位弹簧11 ;夹紧块10与回位弹簧11配合以夹紧SDRAM芯片，转轴12使得夹紧块10能够转动。
[0025]本实施例中，所述栅板7通过螺栓固定设置在底座2上；能够方便的拆卸栅板7，便于实现栅板7的更换。
[0026]本实施例中，所述栅板7上栅条17的倾斜角度为45度；栅条17的倾斜角度为45度，保证SDRAM芯片的引脚与PIN针14连接的基础上，设计方便。
[0027]本实施例中，所述栅条17的宽度为0.5mm一1.0mm。
[0028]本实施例中，所述栅条17的宽度为0.8mm ;确保SDRAM芯片的引脚与PIN针的连接。
[0029]在具体使用过程中:
[0030]按压顶座I，在定位条4与第一导向柱9的作用下，顶座I沿直线往下运动，当触动块8触及夹紧机构的夹紧块10时，压缩回位弹簧11，夹紧块10张开；继续按压顶座1，导杆6触及活动板13，并按压活动板13，活动板13往下运动时，挤压PIN针14的长凹弧142，使得短凹弧142的开口变大，此时，将待检测SDRAM芯片放入底座2上，保证待检测SDRAM芯片的阵脚落入PIN针14的短凹弧141内，之后松开顶座1，在弹簧3的作用下，顶座I回复原位置，在回位弹簧11的作用下，夹紧块10回复原位置，以夹紧待检测DSRAM芯片，在压簧16的作用下，活动板13上移，使得PIN针14的短凹弧141开口减小，以夹紧待检测芯片的引脚。
[0031]实施例二:
[0032]本实施例与实施例一的不同之处在于:
[0033]所述栅条17的宽度为0.8mm。
[0034]实施例三:
[0035]本实施例与实施例一的不同之处在于:
[0036]所述栅条17的宽度为1.0mm。
[0037]以上公开的仅为本实用新型的优选实施方式，但本实用新型并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的没有创造性的变化，以及在不脱离本实用新型原理前提下所作的若干改进和润饰，都应落在本实用新型的保护范围内。
【权利要求】
1.一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，包括:顶座、底座、以及用于连接顶座与底座的弹簧，弹簧的两端分别固定的顶座与底座上，所述顶座设置有定位条，底座设置有与定位条配合的定位槽，底座底部为一带插置孔的底板，底板的插置孔上固定插置有PIN针；其特征在于:底板上方设有一活动板，所述活动板穿过PIN针，活动板与底板之间设有压簧，活动板通过导杆与顶座连接，活动板上方固定设有一栅板，栅板上设置有栅条，所述底座上还设置有夹紧机构，顶座上设置有与夹紧机构相配合的触动块，所述PIN针共15行6列，并按15X6阵列进行排列，PIN针的行间距为0.8mm, PIN针第一列与第二列之间的间距、第二列与第三列之间的间距、第四列与第五列之间的间距、第五列与第六列之间的间距均为0.8mm，第三列与第四列之间的间距为3.2mm，所述PIN针包括:上部两对称的短凹弧，中部两对称的长凹弧，以及底部的引针，位于同侧的短凹弧与长凹弧相接，两长凹弧的末端相接后连接引针，所述引针固定于底板的插置孔中。
2.根据权利要求1所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于:所述顶座上还设置有第一导向柱，所述第一导向柱位于顶座与底座之间的弹簧内。
3.根据权利要求1或2所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于:所述活动板的底部设置有第二导向柱，所述第二导向柱位于活动板与底板之间的压簧内。
4.根据权利要求3所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于:所述夹紧机构包括夹紧块，所述夹紧块通过转轴固定在底座上，夹紧块与底座之间还设置有回位弹簧。
5.根据权利要求4所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于:所述栅板通过螺栓固定设置在底座上。
6.根据权利要求5所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于:所述栅板上栅条的倾斜角度为45度。
7.根据权利要求6所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于:所述栅条的宽度为 0.5mm一1.0mm。
8.根据权利要求7所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于:所述栅条的宽度为0.8mm。
【文档编号】G01R1/04GK204116393SQ201420621077
【公开日】2015年1月21日 申请日期:2014年10月24日 优先权日:2014年10月24日
【发明者】赵杨, 郭敬, 杨波 申请人:山东华芯半导体有限公司