专利名称：芯片测试机改良结构的制作方法
技术领域：
本实用新型是有关于芯片测试机改良结构，特别是指一种可有效简化芯片插置程序、增进测试效率的芯片测试机结构。
背景技术：
随着半导体产业突飞猛进的发展，各种半导体晶片的应用也极为广泛，由于生产技术不断改良，芯片的生产速率亦不断提升，在生产时，各封装测试大厂于晶元封装完毕后，都会直接以自动化机器测试其各项特性是否符合规范，藉以判断其是否为符合出厂条件的良品；然而，由于上述大型自动化测试机器极为复杂昂贵，基于成本或效益等各种考虑，其并不一定符合一般中小型企业的品管需求，因此，具有成本低廉且使用便利等特性的芯片测试装置乃应运而生，且有其特定的市场。
一般常见的芯片测试装置，其主要的结构如图1、图2及图3所示，是于一底座5上设有一具适当高度的测试板支座51，并将测试用的主机板6设置于一底座5上，于该主机板6上以一垂直的转接板61衔接一水平延伸的测试板62，使该测试板62恰置于前述测试板支座51上，而该测试板62上则设有多个芯片测试座63，以供容置夹持待测试的芯片4，而芯片4测试的结果则可直接显示于一预设的显示屏52；上述此种结构，其最主要的问题在于芯片4是以人工手持的方式置于芯片测试座63上，并需按压芯片测试座63二侧，使该芯片4得以下降入芯片测试座63内并受夹持而与测试板62形成电连接，于测试完毕后，需再按压芯片测试座63二侧，使该芯片测试座63得以松脱芯片4而便于取出，此种单调而重复的人工操作动作，极不符合经济效益。
有鉴于常见的芯片测试装置有上述的缺点，发明人针对该些缺点研究改进之道，终于有本实用新型产生。

发明内容
本实用新型旨在提供一种芯片测试机改良结构，其主要是于一主座体底侧设有一受可转动的偏心轮压挚的活动板，并使该活动板以多个贯穿主座体的连动杆衔接连动一设于主座体上方的活动上座，利用该活动上座固定多个压板延伸至测试板的各芯片测试座上方，且于各压板中间设有一镂空部恰对应于各芯片测试座容置芯片位置，利用该偏心轮枢转而以活动板经由连动杆带动活动上座下压，使活动上座上的压板同步压挚于各芯片测试座的二侧，使置于晶片测试座内的芯片得以受夹持固定于芯片测试座内，并于芯片测试完毕后，以同一动作使压板下压，以使该芯片松脱于芯片测试座内，藉以节省芯片的取放时间、增进测试效率，此为本实用新型的主要目的。
本实用新型的此种芯片测试机改良结构，其可依需要而直接以人工拉动一拨杆驱动偏心轮枢转，或以气压缸等装置驱动，藉以达到不同程度的自动化，此为本实用新的另一目的。
至于本实用新型的详细构造、应用原理、作用与功效，则参照下列依附图所作的说明即可得到完全的了解
图1是常见芯片测试装置的结构说明图。
图2是常见芯片测试装置的芯片置入动作图(一)。
图3是常见芯片测试装置的芯片置入动作图(二)。
图4是本实用新型的构造示意图。
图5是本实用新型的芯片置入动作示意图(一)。
图6是本实用新型的芯片置入动作示意图(二)。
具体实施方式
如图1、图2及图3所示，其为常见的芯片测试装置及芯片置入时的各动作示意图，其主要构成以及其缺点，已如前所述，此处不再重复叙述。
图4是本实用新型的构造示意图，由该图参照图5、图6的芯片置入各动作示意图，可以很明显地看出，本实用新型主要包括主座体1、驱动装置2及测试板3等部份，其中主座体1是略呈一平板状，其下方以多个支架衔接一固定下座11，于该固定下座11上设有一支架111，而主座体1上另设有一测试板支座12，驱动装置2主要由偏心轮21、活动板22、连动杆23、活动上座24及压板25所组成，该偏心轮21是以一枢轴211枢设于前述支架111上，并于该枢轴211端部设有一拨杆212，活动板22是压设于偏心轮21上，且活动板22的端部底侧并以多个复位弹簧221抵顶于固定下座11，活动板22上方则以多个连动杆23向上同步连动一活动上座24，于该活动上座24上固定一压板25对应于前述测试板支座12，且该压板25中间部位设有一长形的镂空部251，测试板3是置于测试板支座12上，其上设有多个芯片测试座31，使各芯片测试座31中对应于压板25的镂空部251，测试板3一侧经一转接板32衔接至主机板33(置于主座体1上)，主机板33则衔接一显示屏34。
使用时，将各芯片4由压板25的镂空部21内逐一放置于芯片测试座31内，然后拉动拨杆212经由枢轴211带动偏心轮21枢转，使偏心轮21以长径边缘抵顶压挚于活动板22，可使活动板22经由连动杆23同步带动活动上座24下降，此时压板25亦随之下压，利用该压板25压挚于各芯片测试座31的二侧，再停止拉动拨杆212，藉由复位弹簧221可使偏心轮21连动其它活动上座24、压板25回复至原位，此时各芯片4得以定位于芯片测试座31内并与测试板3形成电连接；于各芯片4经测试完毕后，可再次拉动拨杆212使活动上座24再带动压板25下压于芯片测试座31二侧，当停止拉动拨杆212而偏心轮21、活动上座24及压板25回复至原位时，各芯片测试座31松脱芯片4而解除夹挚状态，以便于操作者快速由各镂空部251中将芯片4由芯片测试座31内取出。
本实用新型上述驱动偏心轮21枢转的枢轴211，其除可由拨杆212带动外，亦可以如气压缸、步进马达等其它方式带动，藉以达到更广泛的应用范围。
本实用新型藉由上述结构，其可将芯片4于芯片测试座31后的压挚该芯片测试座31二侧以夹持或松脱芯片4的动作加以适当的机械化、自动化，与传统逐一将芯片4置于芯片测试座31后，再分别以人工手动压挚的方式相较，确实具有增进测试效率的功效。
由上所述可知，本实用新型的芯片测试机改良结构确实具有可快速将芯片固定夹挚于芯片测试座上，或快速将芯片由芯片测试座内取出的功效，确已具有产业上的利用性、新颖性及进步性。
以上所述，仅为本实用新型的一较佳实施例而已，并非用来限定本实用新型实施的范围。即凡依本实用新型申请专利范围所作的均等变化与修饰，皆为本实用新型专利范围所含盖。
权利要求1.一种芯片测试机改良结构，其至少包括主座体、测试板、驱动装置等所构成； 其特征在于所述的主座体，下方以多个支架衔接一固定下座，该主座体上另设有一测试板支座；所述的测试板，设置于前述测试板支座上，其上设有多个芯片测试座，该测试板的一侧经一转接板衔接导通至一设置于该主座体上的主机板，该主机板并可衔接一显示幕；所述的驱动装置，主要由偏心轮、活动板、连动杆、活动上座及压板所组成，该偏心轮是以一枢轴枢设于前述固定下座上，而活动板是压设于偏心轮上，且活动板上方则以多个连动杆向上同步连动一活动上座，于该活动上座上固定一压板，且该压板的中间部位设有一长形的镂空部对应于前述测试板各芯片测试座中间；利用枢轴带动偏心轮枢转，可使偏心轮改变抵顶活动板的状态，使其经连动杆同步带动活动上座下降，此时压板亦随之往回下压于各芯片测试座的二侧，藉以使芯片测试座形成夹持或松脱芯片的不同状态，以便于操作者快速取、放芯片。
2.如权利要求1所述的芯片测试机改良结构，其特征在于所述的活动板的底侧设有多个复位弹簧抵顶于固定下座，藉由各复位弹簧的弹力可使偏心轮连动其它活动上座、压板回复至原位。
3.如权利要求2所述的芯片测试机改良结构，其特征在于所述的枢轴端部设有一拨杆，以供使用者拉动而驱动该偏心轮。
4.如权利要求2所述的芯片测试机改良结构，其特征在于所述的枢轴是衔接至一气压缸。
专利摘要本实用新型涉及一种芯片测试机改良结构，其主要是于一主座体上设有一测试板支座，于该测试板支座上置有一测试板，测试板上则设有多个芯片测试座，而主座体底侧设有一受可转动的偏心轮压挚的活动板，并使该活动板以多个贯穿主座体的连动杆衔接连动一设于主座体上方的活动上座，于该活动上座固定多个压板延伸至测试板的各芯片测试座上方，且于各压板中间设有一镂空部恰对应于各芯片测试座容置芯片的位置，利用该偏心轮枢转而由活动板、连动杆带动活动上座下压，使压板同步下压于各芯片测试座的二侧，使置于芯片测试座内的芯片得以受夹持固定于芯片测试座内，并于芯片测试完毕后，以同一动作使压板下压，以使该芯片松脱于芯片测试座内，藉以节省芯片的取、放时间，增进测试效率。
文档编号G01R31/28GK2609179SQ03228960
公开日2004年3月31日 申请日期2003年2月21日 优先权日2003年2月21日
发明者陈恒懋, 陈保卫 申请人:陈恒懋, 陈保卫