专利名称：一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种磁致伸缩位移传感器，特别是一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器。
背景技术：
磁致伸缩位置传感器一般在工业现场使用时需要根据实际使用要求进行内部参数设置和修改。目前的磁致伸缩位移(液位)传感器在工业现场环境下的调试方法主要有以下几种方式第一种，如

图1所示，在现场使用计算机通过RS485或RS232接口与传感器进行联网，然后进行参数设置和修改。这种方式存在的缺点是工业现场中，环境非常恶劣，设备与控制室非常远，很难在设备旁边使用计算机来进行参数的修改，尤其是在具有防爆要求的环境下，不允许使用普通的计算机；另外由于使用RS485或RS232接口，电缆线需要增加2根线，成本浪费。第二种，为了克服图1所示的调试方式，在传感器内部拉出两条或者多条调试线路出来，如图2所示，通过将调试线与电源地或电源线短接，从而实现传感器的参数修改，这种方式可以解决不需要在现场使用计算机，但是其仍然具备缺陷传感器电缆线需要增加两根或多根线芯，电缆线线芯的根数至少6根，包括电源正极、电源负极、电源地线、电压信号线、2根调试用线，造成成本的浪费，尤其是在控制室与设备距离很远的情况下；并且由于其调试方法，需要传输小电平信号，容易引入干扰；此外，其调试方法容易产生火花，在具有防爆场合下容易引起危险。第三种，传感器内部安装有机械按钮，在传感器端盖上开有两个过孔，如图3所示，通过按击机械按钮进行参数修改，这种方法由于电路暴露在现场，因此安全性不好，并且由于端盖中开有过孔，容易引起密封不良，导致传感器渗漏，同时机械按钮人为按动，极其容易损坏。

实用新型内容为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种使用效果好、使用方便、成本低的非接触式调试磁致伸缩位移传感器。本实用新型所采用的技术方案是一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器，包括壳体，壳体的一端是端盖，端盖的外表面设有至少一个内凹的盲沉孔，壳体内设置有传感器电路板，电路板固定有与盲沉孔数量相同的霍尔开关，霍尔开关靠近盲沉孔；一调试笔，调试笔设置有略小于盲沉孔内径的磁粒。本实用新型的进一步改进，所述盲沉孔设置有两个，霍尔开关相应设有两个。本实用新型的进一步改进，所述霍尔开关对正盲沉孔的底面。本实用新型的进一步改进，所述端盖的内侧为内凹的盘状沉孔，电路板固定在该盘状沉孔内。本实用新型的进一步改进，所述电路板通过螺丝固定在该盘状沉孔内，盘状沉孔浇灌有绝缘胶并将电路板覆盖住。[0010]本实用新型的进一步改进，所述盘状沉孔的内凹深度大于电路板厚度，沉孔内部全部灌胶，覆盖住整块电路板，并且灌胶高度刚好填满盘状沉孔的内凹位。本实用新型的进一步改进，所述磁粒内置于调试笔的顶部。本实用新型的有益效果是在使用时，利用调试笔对传感器进行非接触式调试，满足具有防爆要求的工业现场可靠使用，减少现场布线，由于非接触式，稳定可靠，使用寿命长；进一步，本设计对电路板进行灌胶处理，将电路板封装在盘状沉孔内，对传感器电路及电路元件有效可靠地进行保护，防止渗液。
以下结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。图1是传统产品的第一种实施方式的结构示意图；图2是传统产品的第二种实施方式的结构示意图；图3是传统产品的第三种实施方式的结构示意图；图4是本实用新型的结构示意图；图5是本实用新型的立体结构示意图；图6是本实用新型的另一角度立体结构图。
具体实施方式
参照图1至图6所示，一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器，包括壳体1，壳体1 的一端是端盖2，端盖2的外表面设有至少一个内凹的盲沉孔21，即向内下沉的凹位，壳体1 内设置有传感器电路板3，电路板3固定有与盲沉孔21数量相同的霍尔开关31，霍尔开关 31靠近盲沉孔21 ；—调试笔4，调试笔4设置有略小于盲沉孔21内径的磁粒41，所述磁粒 41内置于调试笔4的顶部，令结构更合理。在工作时，使用安装有磁粒的调试笔4根据调试方法将磁粒41插入到盲沉孔21 中，在磁场的作用下使内部霍尔开关31闭合，然后拉出一段距离，使霍尔开关31断开，从而实现非接触式调试。更加适合的控制，所述盲沉孔21设置有两个，霍尔开关31也相应设有两个。进一步，本设计将霍尔开关31对正盲沉孔21的底面，使结构更合理，在调试时的稳定性更好。端盖2的内侧为内凹的盘状沉孔22，电路板3固定在该盘状沉孔22内。电路板3 通过螺丝固定在该盘状沉孔22内，盘状沉孔22浇灌有绝缘胶并将电路板3覆盖住。采用上述技术手段对电路板3进行良好的密封保护，防止出现渗液，影响设备正常工作。更优选的，所述盘状沉孔22的内凹深度大于电路板3厚度，沉孔内部全部灌胶，灌胶层5覆盖住整块电路板3，并且灌胶高度刚好填满盘状沉孔22，操作工艺简单，可作为一个常用部件。本发明创造并不局限于上述实施方式，只要其以基本相同的手段达到本实用新型的技术效果，都应属于本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器，其特征在于包括壳体(1)，壳体(1)的一端是端盖(2)，端盖(2)的外表面设有至少一个内凹的盲沉孔(21)，壳体(1)内设置有传感器电路板(3)，所述电路板(3)固定有与盲沉孔(21)数量相同的霍尔开关(31)，所述霍尔开关(31)靠近盲沉孔(21)；—调试笔(4)，所述调试笔(4)设置有略小于盲沉孔(21)内径的磁粒(41)。
2.根据权利要求1所述的一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器，其特征在于所述盲沉孔(21)设置有两个，霍尔开关(31)相应设有两个。
3.根据权利要求2所述的一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器，其特征在于霍尔开关(31)对正盲沉孔(21)的底面。
4.根据权利要求1、2或者3所述的一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器，其特征在于所述端盖(2)的内侧为内凹的盘状沉孔(22)，电路板(3)固定在该盘状沉孔(22)内。
5.根据权利要求4所述的一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器，其特征在于所述电路板(3)通过螺丝固定在该盘状沉孔(22)内，盘状沉孔(22)浇灌有绝缘胶并将电路板 (3)覆盖住。
6.根据权利要求5所述的一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器，其特征在于盘状沉孔(22)的内凹深度大于电路板(3)厚度，沉孔内部全部灌胶，覆盖住整块电路板(3)，并且灌胶高度刚好填满盘状沉孔(22)的内凹位。
7.根据权利要求1所述的一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器，其特征在于所述磁粒(41)内置于调试笔(4)的顶部。
专利摘要本实用新型涉及一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器，包括壳体，壳体的一端是端盖，端盖的外表面设有至少一个内凹的盲沉孔，壳体内设置有传感器电路板，电路板固定有与盲沉孔数量相同的霍尔开关，霍尔开关靠近盲沉孔；一调试笔，调试笔设置有略小于盲沉孔内径的磁粒，在使用时，利用调试笔对传感器进行非接触式调试，满足具有防爆要求的工业现场可靠使用，减少现场布线，由于非接触式，稳定可靠，使用寿命长；进一步，本设计对电路板进行灌胶处理，将电路板封装在盘状沉孔内，对传感器电路及电路元件有效可靠地进行保护，防止渗液。
文档编号G01D18/00GK202041218SQ201020635370
公开日2011年11月16日 申请日期2010年12月1日 优先权日2010年12月1日
发明者朱小和, 李和深 申请人:新会康宇测控仪器仪表工程有限公司