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采用物体表面进行光测定的样品器具的制作方法

时间:2025-06-10    作者: 管理员

专利名称:采用物体表面进行光测定的样品器具的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种用于荧光、磷光及化学发光测定仪(以下简称光测定仪)中测定物体表面荧光、磷光及化学发光时所使用的样品器具。具体涉及一种高浓度荧光、发光液体、发光固体测定用的采用物体表面进行光测定的样品器具。
背景技术
目前,在传统光测定仪测定荧光、发光液体样品时,若液体浓度过高,常会发生荧光猝灭现象,或光自吸收现象,影响准确测定。此外,目前尚未见有既可对粉状及膜状发光体、块状发光固体样品进行光测定的,又可适用于在常规光测定仪的样品架中进行测定的样品器具。

发明内容
本实用新型的目的就在于提供一种能不会受到荧光猝灭或光自吸收现象的影响,采用物体表面进行光测定的样品器具,而该样品器具又能置于常规光测定仪的样品架中进行测定。
本实用新型提供的采用物体表面进行光测定的样品器具外形配合尺寸与标准荧光比色池设计相同,可适用常规的光测定仪。在其内部有一可以使激发光直接照射到样品的斜反射表面,所述的斜表面同位于激发光入射角一侧的锐角α的范围为5°-45°或55°-85°,以避免角α为45°。本实用新型提供的采用物体表面进行光测定的样品器具可为一种具有三棱柱腔体的样品池,或具有三棱柱实体的样品柱。
本实用新型提供的采用物体表面进行光测定的样品器具可以使激发光直接照射到样品溶液的表面,然后从激发光垂直的方向对溶液表面因受激发而产生的荧光、磷光或化学发光进行测量,这样可避免传统的激发光通过透射进入液体内部,因测量光程过长而引起的分子碰撞导致能量损失,可能出现的荧光猝灭现象或光自吸收现象引起的测量误差。从而达到对高浓度液体样品进行直接测定的目的。这种样品池也可作为粉状样品的盛器进行测定。本实用新型提供的样品柱可作为膜状样品的载体进行测定。本实用新型提供的样品柱亦可用块状发光固体加工制造,直接对柱体进行测定。
在传统荧光测定仪测定液态样品时,因采用的是光透射的方法,在遇到样品浓度过高或光自吸收强的情况下,常会发生猝灭现象,影响准确测定;本实用新型提供的采用物体表面进行光测定的样品器具结构简单,适用范围广,不但可直接对高浓度发光液体或粉状发光固体样品进行测定,还可对膜状发光体、块状发光固体样品进行测定,从而有效地避免了传统测量方法的缺陷和不足。因此,本实用新型具有广阔的应用前景。
下面,结合附图和实施例详细说明依据本实用新型提出的具体结构及工作原理。


图1a为本实用新型的横剖面结构示意图。
图1b为本实用新型另一种结构的横剖面结构示意图。
图2常规使用的比色池的横剖面结构示意图。
图3a为本实用新型的立体结构示意图。
图3b为本实用新型另一种结构的立体结构示意图。
具体实施方案如附图2所示,常规使用的荧光比色池为四方柱结构1,包括四周面及底面,其中间有一四方柱的内腔2,可放置需要测量的液体,激发光直接从荧光比色池的A侧直射进入池内的液体样品中,然后从激发光垂直面的B侧进行测量;这种采用光透射的方法在测量具有较高浓度或光自吸收强的样品时,由于溶剂分子和激发态溶质分子或激发态溶质分子和低能级溶质分子之间的相互碰撞,导致大量激发态溶质分子能量的损失,从而引起高浓度的荧光强度反而比低浓度时低,当浓度太高时,甚至会出现荧光猝灭现象或光自吸收现象。
本实用新型提供的采用物体表面进行光测定的样品器具在其内部有一可以使激发光直接照射到样品的斜表面,所述的斜表面同位于激发光入射角一侧的锐角α的范围为5°-45°或55°-85°,以避免角α为45°。
如附图1a、图3a所示,本实用新型实施例提供的一种采用物体表面进行光测定的样品器具也为四方柱结构1,包括四周面及底面,其外形尺寸与标准的荧光比色池相同,以利于与常规光测定仪的样品架配套使用。其中间有一横截面呈直角三角形的腔体3,所述的直角三角形的斜边同位于激发光入射角一侧的锐角α的范围为5°-45°或55°-85°,以避免角α为45°时,反射光C成为45°正反射光而直接进入接收分光器干涉B侧的光量测定。所述的激发光入射点位于直角三角形斜边的中点,所述的直角三角形斜边的中点同时必须为样品池外形的横截面的中心点O。这样才能确保样品池的测量位置处于仪器测量光路的最佳位置,使得位于B侧的测定部的测量最准确。
本实用新型所提供的样品池,曾在对具有较高浓度的液样在通用型荧光分光光度计中进行测量时,已不用预稀释。避免了因高浓度样品的荧光猝灭现象和光自吸收现象对测定带来的不利影响。本实用新型所提供的采用物体表面进行光测定的样品池也可作为粉状发光体的盛器,对其进行直接测定。
如图1b、图3b所示,本实用新型实施例提供了另一种结构的样品器具,其结构原理与前一样品池的结构相同,仅将三棱柱结构由腔体变为实体,在所述的样品器具的一侧有一呈三棱柱的凹部4,其中间为一横截面成梯形的空缺,这样,可将膜状发光体贴附在样品柱的三棱柱的斜面上,或将发光固体样品加工成具有样品柱的外形和特征,进行直接测量。本实新型提供的样品器具简化了样品测量的操作步骤,减少了样品的用量,大大降低了分析的成本,确保了测定的准确度并扩大了常规测定仪的应用范围。
权利要求1.一种采用物体表面进行光测定的样品器具,为四方柱结构(1),包括四周面及底面,其特征在于所述的样品器具中在其内部有一可以使激发光直接照射到样品的斜表面,所述的斜表面同位于激发光入射角一侧的锐角α的范围为5°-45°或55°-85°,以避免角α为45°。
2.根据权利要求1所述的一种采用物体表面进行光测定的样品器具,其特征在于所述的样品器具中间有一横截面呈直角三角形的腔体(3),在所述的直角三角形的斜边同位于激发光入射角一侧的锐角α的范围为5°-45°或55°-85°;所述的激发光入射点位于直角三角形斜边的中点,所述的直角三角形斜边的中点同时必须为样品器具外形的横截面的中心点。
3.根据权利要求2所述的一种采用物体表面进行光测定的样品器具,其特征在于所述的样品器具的一侧有一呈三棱柱的凹部(4),其中间为一横截面成梯形的空缺,这样,中间的三棱柱结构由腔体(3)改为实体,将膜状发光体贴附在样品柱的三棱柱的斜面上,或将发光固体样品加工成具有样品柱的外形和特征,进行直接测量。
专利摘要本实用新型涉及一种采用物体表面进行光测定的样品器具。在传统荧光测定仪测定液态样品时,因采用的是光透射的方法,在遇到样品浓度过高或光自吸收强的情况下,常会发生猝灭现象,影响准确测定;本实用新型提供的一种采用物体表面进行光测定的样品器具为四方柱结构(1),包括四周面及底面,其特征在于所述的样品器具中间有一横截面呈直角三角形的腔体(3)。本实用新型提供的采用物体表面进行光测定的样品器具结构简单,适用范围广,不但可直接对高浓度发光液体或粉状发光固体样品进行测定,还可对膜状发光体、块状发光固体样品进行测定,从而有效地避免了传统测量方法的缺陷和不足。因此,本实用新型具有广阔的应用前景。
文档编号G01N21/64GK2653500SQ200320108130
公开日2004年11月3日 申请日期2003年11月18日 优先权日2003年11月18日
发明者吴树恩, 程奕昊 申请人:上海棱光技术有限公司

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