专利名称：电器测试用接线柱结构改良的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电器测试设备上的接线柱
背景技术：
各类电子电器、仪表生产出来后，经常需要对其进行检测，避免不合格产品流出市 场。例如电表，通常在测试时，将测试仪的接线柱插入电表的接线端子中，接线端子包括中 间的插孔和插孔中的螺丝，接线柱的接触头与螺丝接触实现电接触。可以想像，其接触完全 靠螺丝的螺纹线和接触头端面来实现，接触面相当小，在高电流通过时会发热，发热会导致 产品被烧坏。为了避免烧坏，又需要相应的设备对接触点的温度进行测量，当温度过高时撤 掉，待降温后再进行测试。为了加大接触面积，一般是将接触头端面设计成凹弧面，呈V形， 但即便这样，螺丝与接触头的也是线接触，接触面积还是很小，不可避免高温情况的发生。

实用新型内容本实用新型是要解决以上技术问题而提供一种有效加大接线柱与接线端子的接 触面积的结构改良的接线柱。为了达到本实用新型目的，本实用新型提供的这种电器测试用接线柱结构改良， 包括接线柱，接线柱的接触头端面呈V形，其特征在于所述V形端面底部至接线柱中部设 有通槽，将接线柱上部分成两部分。在接触柱抵住接线端子的螺丝后继续施力，接线柱会向 两边张开并与接线端子内壁有效接触，达到增大接触面积的目的。接线柱中部设有通孔，通孔与通槽连通，通孔直径大于通槽宽度。此设计可以减小 张开接线柱所需的作用力。接线柱端部外侧设有倒角。利用此倒角，在接线柱张开后，倒角面与接线端子内壁 的面接触，增大了有效接触面。本实用新型结构简单，只是对现有的接柱结构稍加改良，即达到面面接触的目的， 接触良好，不会发生接触点发热的现象，保证了检测的正常进行，保护了检测设备及产品的 安全，减少了发热检查的环节，节约了成本。

图1是本实用新型接线柱结构示意图。图2是本实用新型接线柱立体图。图3是本实用新型接线柱作用于接线端子状态示意图。
具体实施方式
以下将结合附图并运用实施例，对本实用新型进行说明。如图1、图2所示，本实施例电器测试用接线柱和现有接线柱相同，包括接线柱1， 接线柱的接触头端面2呈V形，所不同之处在于V形端面2底部至接线柱中部设有通槽3，该通槽3将接线柱上部分成两部分，通槽3底部是一个直径大于通槽宽度的通孔4。这种设 计的目的是方便将接线柱两部分撑开。再如图3所示，当接线柱1用力抵住待测试产品的 接线端子6中的螺丝7时，螺丝7对V型端面2施加了向两侧的作用力，于是接线柱1两部 分被撑开，图中也可以看到接线柱通孔4位置的厚度较小，利于分开而不至于损坏接线柱。 由于接线端子6的内壁8是相互平行的，所以在接线柱1端部外侧设有倒角5，被撑开呈Y 形的接线柱上端部的倒角5与接线端子内壁8接触，实现了面面接触的面积最大化。有效 解决了测试时接线柱与接线端子内接触面积小而导致发热高温的问题。 以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能 认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术 人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，其架构形式灵活多变，可以派生系列产品。 只是做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型由所提交的权利要求书确定的 专利保护范围。
权利要求一种电器测试用接线柱结构改良，包括接线柱，接线柱的接触头端面呈V形，其特征在于所述V形端面底部至接线柱中部设有通槽，将接线柱上部分成两部分。
2.根据权利要求1所述的电器测试用接线柱结构改良，其特征在于接线柱中部设有 通孔，通孔与通槽连通，通孔直径大于通槽宽度。
3.根据权利要求1所述的电器测试用接线柱结构改良，其特征在于接线柱端部外侧 设有倒角。
专利摘要一种电器测试用接线柱结构改良，包括接线柱，接线柱的接触头端面呈V形，其特征在于所述V形端面底部至接线柱中部设有通槽，将接线柱上部分成两部分。接线柱中部设有通孔，通孔与通槽连通，通孔直径大于通槽宽度。接线柱端部外侧设有倒角。本实用新型结构简单，对现有的接柱结构稍加改良，即达到面面接触的目的，接触良好，不会发生接触点发热的现象，保正了检测的正常进行，保护了检测设备及产品的安全，减少了发热检查的环节，节约了成本。
文档编号G01R1/04GK201673175SQ20102014784
公开日2010年12月15日 申请日期2010年4月1日 优先权日2010年4月1日
发明者黄孝明 申请人:深圳市新松科技有限公司