专利名称：电子产品极限开关机测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及电子产品检测技术领域，特别涉及一种电子产品极限开关机测试装置。
背景技术：
电子产品硬件测试有一个很重要的项目就是对其(如手机、无线通信模块)进行数万次的极限开关机测试。目的是通过频繁开关机后观测开关机按键(power key)引脚及整个硬件电路工作是否正常，同时也检查软件Flash中的内容有无擦除或混乱或跑飞的现象。在现有技术中，往往采用的极限开关机测试需要专门的开关机测试仪或由电脑、 通用接口总线(GPIB)和应用软件组成测试系统控制power key拉高拉低电平来测试，因而对外部设备的依赖性很大。当测试项目众多的情况下，经常由于无法协调到开关机测试仪或电脑或GPIB卡，降低了测试的效率，进而耽误测试进度，造成项目延误。

发明内容
本发明旨在解决现有技术中，对电子产品进行测试时，对外部设备的依赖性很大， 测试的效率低下等技术问题。有鉴于此，本发明提供一种电子产品极限开关机测试装置，包括微控制单元，控制并处理极限开关机测试的各种测试；输入单元，与所述微控制单元电性连接，用于设置极限开关机测试的模式和循环周期；显示单元，与所述微控制单元电性连接，用于显示极限开关机测试的类型和剩余测试次数；电源管理单元，与所述微控制单元电性连接，给被测电子产品和所述测试装置提供能正常工作的电压。进一步的，所述微控制单元还包括开关机按键控制单元，用于连接被测电子产品的开关机按键，以给所述开关机按键提供电压并控制所述电压的保持时间。进--步的，所述微控制单元为89S51单片机或89S52单片机。
进--步的，所述输入单元为一键盘。
进--步的，所述显示单元为数码管。
进--步的，所述数码管为共阳极接法或共阴极接法。
进--步的，所述显示单元还包括8位锁存器和3-8译码器；其中所述8位锁存器起
数码管段选作用，所述3-8译码器起数码管选通作用。进一步的，所述电源管理单元，包括供电输入接口，以及供电输出接口。进一步的，所述开关机按键控制单元，包括多路输出接口，以控制多个被测电子产品进行测试。进一步的，所述测试装置还包括下载口单元，与所述微控制单元电性连接，用于对所述微控制单元进行操作。进一步的，所述测试装置还包括串口单元，与所述微控制单元电性连接，用于与计算机进行通信。因此，利用本发明提供的测试装置无需依赖电脑、通用接口总线(GPIB)卡或其他测试仪器，大大提高了硬件测试的效率，并且其制作使用简便，成本低廉。


图1所示为本发明一实施例提供的电子产品极限开关机测试装置的功能方块图；图2所示为本发明一实施例提供的电子产品极限开关机测试装置的原理框图；图3所示为本发明中实施例的测试程序流程图；图4所示为本发明中实施例的键盘输入单元按键判断子程序流程图；图5所示为本发明中实施例的定时器中断子程序流程图。
具体实施例方式下面结合附图给出本发明较佳实施例，用以详细说明本发明的技术方案，以使本技术领域的技术人员能更易于理解本发明的方法特征和功能特点，而不是用来限定本发明方法的范围。请参见图1，其所示为本发明一实施例提供的电子产品极限开关机测试装置的功能方块图。该装置，包括微控制单元110，控制并处理极限开关机测试的各种测试；输入单元 120，与所述微控制单元110电性连接，用于设置极限开关机测试的模式和循环周期；显示单元130，与所述微控制单元110电性连接，用于显示极限开关机测试的类型和剩余测试次数；电源管理单元140，与所述微控制单元110电性连接，给被测电子产品和所述测试装置提供能正常工作的电压。在本发明的实施例中，所述微控制单元110还包括开关机按键控制单元，用于连接被测电子产品150的开关机按键，以给所述开关机按键提供电压并控制所述电压的保持时间。在本发明的实施例中，所述微控制单元110为89S51单片机或89S52单片机，以及有中断控制器和可编程I/O 口，能起定时、计数作用的单片机或电路等，只要能实现本发明的控制功能的单片机或电路均属于本发明的范围。在本发明的实施例中，所述输入单元120为一键盘。用户可以通过操作该键盘控制微控制单元110进而操作电子产品极限开关机测试装置，设置极限开关机测试的模式和循环周期。在本发明的实施例中，所述显示单元130为数码管。用于在八段数码显示管上显示极限开关机测试的模式和剩余的测试次数，使用户感受更加直观。其数码管可以为共阳极接法，亦可为共阴极接法。在本发明的实施例中，所述电源管理单元140用于给被测试电子产品150和电子产品极限开关机测试装置提供能正常工作的电压。它既包含供电输入接口，又包含供电输出接口。其中供电输入接口可通过电源适配器、数字电源等设备为电子产品极限开关机测试装置供电。供电输出接口提供了待测电子产品正常工作电压GV)的引线和开关机按键 (Power key)高电平(4V)低电平(OV)输出的引线。
在本发明的实施例中，所述开关机按键控制单元，包括多路输出接口，以控制多个待测电子产品进行测试。在本发明的实施例中，所述电子产品极限开关机测试装置还包括下载口单元，与所述微控制单元110电性连接，用于对所述微控制单元进行读写、擦除、升级、自动校验数据等操作。在本发明的实施例中，所述电子产品极限开关机测试装置还包括串口单元，与所述微控制单元110电性连接，用于与计算机进行通信。可以进一步开发代码、扩展功能。请参见图2，其所示为本发明一实施例提供的电子产品极限开关机测试装置的原理框图。在本实施例中，电子产品极限开关机测试装置，包括微控制单元210 ；以及与微控制单元210电性连接的键盘输入单元220、显示单元230、以及电源管理单元M0。电子产品极限开关机测试装置的微控制单元210采用的是89S51单片机。显示单元230为八段数码管231可以为共阳极接法，亦可为共阴极接法。在数码管外围包含8位锁存器232 (74HC374)和3_8译码器233 (74HC138)。其中8位锁存器232 起段选作用，其LE为低电平锁存，高电平保持。3-8译码器233起数码管选通作用，3_8译码器233的输出常态为高电平，选中为低电平，用来接LE使8位锁存器232处于保持状态。89S51单片机210中的开关机按键控制部分有五路输出端口 P3. 3 P3. 7，可以控制五块待测电子产品250进行测试。端口 P3. 3 P3. 7控制可以为高电平开机有效或低电平开机有效。此外89S51单片机210内部定时器TO控制开关机按键保持时间和按键后的等待时间。在本实施例中，电源管理单元240为6V电源适配器，以给待测电子产品250和电子产品极限开关机测试装置供电。在本实施例中，所述电子产品极限开关机测试装置还包括下载口 270，与89S51单片机210电性连接，用于对89S51单片机210进行读写、擦除、升级、自动校验数据等操作。在本实施例中，所述电子产品极限开关机测试装置还包括串口沈0，与所述89S51 单片机210电性连接，用于与计算机进行通信。可以进一步开发代码、扩展功能。利用本实施例提供的电子产品极限开关机测试装置进行测试的过程，请结合参见图2及图3。首先，进行系统初始化，令89S51单片机210的端口 P3. 2/INT0作为按键中断，令定时器TO产生按键保持时间、开机等待时间、关机等待时间、掉电等待时间等。此定时器TO 每0. 2ms发生一次溢出中断。令IO端口 P2初始化。然后通过端口 P3. 2/INT0判断是否有键盘输入单元220的按键按下。当判断有按键按下时，进行下一步，否则，继续判断是否有按键按下。判断按下的按键是否为OK键，若是，则进行下一步，否则继续判断是否有按键按下。当判断出按下的按键为OK键时，通过显示单元230显示测试模式和设置的测试次数，并控制开关机按键控制信号端口 P3. 3 P3. 7的高、低电平对待测电子产品250的开关机按键进行测试。打开TO定时器开始进入按键保持时间的计时，控制测试周期。
请参见图4，其所示为本发明中实施例的键盘输入单元220按键判断子程序流程图。首先键盘输入单元220按键后产生外部中断给端口 INTO。将端口 P2值赋于变量P2_temp，标志变量Flag置1。然后延时η毫秒后。判断端口 Ρ2的值是否等于P2_temp，若是，则进行下一步，否则置标志变量Flag为 0返回。查询端口 P2的哪位为0。其中P2. 2代表“ + ”键，P2. 3代表“_”键，P2. 5代表OK 键，P2. 6代表暂停键。查询完成后置相应的标志变量为1，例如P2. 2对应标志变量plusflag ；P2. 3对应标志变量minusflag ；P2. 5对应标志变量okflag ；P2. 6对应标志变量startflag。最后将标志变量Flag置0返回。请参见图5，其所示为本发明中实施例的定时器中断子程序流程图。定时器TO每0. 2ms发生一次溢出中断，溢出中断后判断总测试次数是否已满。当总测试次数已满时，则输出“end”，关闭定时器，测试模式转为另一种。当总测试次数是不满时，则判断哪种测试模式，是正常开关机还是非正常开关机， 接着判断该阶段维持时间是否已满。若维持时间已满，则转入下一阶段，同时在关机等待阶段转入下一次的开机键保持阶段时，测试总次数减1，并显示出来。若维持时间不满，则返回。综上所述，利用本发明实施例提供的电子产品极限开关机测试装置无需依赖电脑、通用接口总线(GPIB)卡或其他测试仪器等外部设备，且可以同时测试多个电子产品， 大大提高了硬件测试的效率，并且其制作使用简便，成本低廉。虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视权利要求书所界定者为准。
权利要求
1.一种电子产品极限开关机测试装置，其特征在于，包括 微控制单元，控制并处理极限开关机测试的各种测试；输入单元，与所述微控制单元电性连接，用于设置极限开关机测试的模式和循环周期；显示单元，与所述微控制单元电性连接，用于显示极限开关机测试的类型和剩余测试次数；电源管理单元，与所述微控制单元电性连接，给被测电子产品和所述测试装置提供能正常工作的电压。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述微控制单元还包括开关机按键控制单元，用于连接被测电子产品的开关机按键，以给所述开关机按键提供电压并控制所述电压的保持时间。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述微控制单元为89S51单片机或 89S52单片机。
4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述输入单元为一键盘。
5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述显示单元为数码管。
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述数码管为共阳极接法或共阴极接法。
7.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述显示单元还包括8位锁存器和 3-8译码器，其中所述8位锁存器起数码管段选作用，所述3-8译码器起数码管选通作用。
8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述电源管理单元，包括供电输入接口，以及供电输出接口。
9.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述开关机按键控制单元，包括多路输出接口，以控制多个被测电子产品进行测试。
10.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括下载口单元，与所述微控制单元电性连接，用于对所述微控制单元进行操作。
11.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括串口单元，与所述微控制单元电性连接，用于与计算机进行通信。
全文摘要
本发明揭露一种电子产品极限开关机测试装置，其包括微控制单元，控制并处理极限开关机测试的各种测试；输入单元，与所述微控制单元电性连接，用于设置极限开关机测试的模式和循环周期；显示单元，与所述微控制单元电性连接，用于显示极限开关机测试的类型和剩余测试次数；电源管理单元，与所述微控制单元电性连接，给被测电子产品和所述测试装置提供能正常工作的电压。利用本发明提供的测试装置无需依赖电脑、通用接口总线(GPIB)卡或其他测试仪器，大大提高了硬件测试的效率，并且其制作使用简便，成本低廉。
文档编号G01R31/28GK102236064SQ20101015370
公开日2011年11月9日 申请日期2010年4月22日 优先权日2010年4月22日
发明者任东 申请人:希姆通信息技术(上海)有限公司