专利名称：线状样品托的凸台置线机构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种承载测试用样品的装置，具体而言是一种线状样品托的凸台 置线机构。
背景技术：
X射线荧光光谱分析法具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析 F (9) U (92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末(需压制成块状)、液体、糊状物、油脂、 薄膜等。利用X射线荧光光谱技术分析样品具有很多优势，例如只需少量或无需样品制 备，快速无损分析，操作简单，可由生产人员操作，不会产生有害的化学物质。但是，到目前为止，由于线状样品不易固定和成形，尚无针对线状样品(例如纺织 物，医用缝合线等等)的应用。通常我们只能将线状样品团成一团放入X射线荧光光谱分析 仪中进行测量，这就使得待测样品的状态处于一种不受控制的随机状态，从而导致测量重 现性差，严重影响了测量的准确性。因此，我们急需一种可以适合承载线状样品的样品托，来控制线性样品的状态，保 证测量的重现性，使得X射线荧光光谱分析法能应用到线状样品的测量中。

实用新型内容本实用新型的目的在于解决现有技术的不足，提供一种线状样品托的凸台置线机 构。为了解决实现上述目的，本实用新型的技术方案是这样的—种线状样品托的凸台置线机构，所述样品托的本体至少设有一个贯通的中心圆 孔，所述圆孔的两端面沿圆周处设有具一定宽度的凸台，所述凸台上设有凹槽。所述凹槽为放射型设置。所述凹槽为平行式设置。本实用新型的积极效果是1、被测线状样品处于定形、定量状态，提高了测量结果的重现性和准确性。2、保持被测线状样品处于一定张力状态，利于二次X荧光信号的收集与测量，为 测量样品中微量有害元素提供了基础。
以下结合附图和具体实施方式
来详细说明本实用新型。

图1为实施例一的立体结构示意图。图2为实施例一的局部放大图。图3为实施例二的立体结构示意图。图4为实施例二的局部放大图。图中1 一圆形凸台、2—凹槽、10—样品托本体。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下 面结合具体图示，进一步阐述本实用新型。实施例一如图1所示，一种线状样品托的凸台置线机构，所述样品托的本体10设有一个贯 通的中心圆孔，所述圆孔的两端面沿圆周处设有具一定宽度的凸台1，所述凸台1上设有凹 槽2。如图2所示，所述凹槽2的纵长方向指向圆心，故称放射型凹槽。绕线步骤为将线状样品嵌入任一凹槽2中，然后将线状样品依次嵌入与此凹槽 在直径方向上对应的凹槽以及另一端面上相对应的凹槽，完成一组绕线。以此类推，将线状 样品按上述方法依次嵌入剩下的凹槽中，完成线状样品的绕线工作。在进行X射线荧光光 谱分析时，只需将绕线完成的样品托放入仪器的样品盘中即可。实施例二如图3所示，一种线状样品托的凸台置线机构，所述样品托的本体10设有一对相 对的平行外边，以及另一对相对向外的弧线外边，并设有一个贯通的中心圆孔。所述圆孔的 两端面处设有具一定宽度的圆形凸台1，所述圆形凸台1上设有平行凹槽2。如图4所示，所述凹槽2的纵长方向与本体10的平行外边垂直，故称平行式凹槽。使用时，只需将线状样品从最边缘的平行凹槽开始依次嵌入，完成线状样品的绕 线工作即可。在进行X射线荧光光谱分析时，只需将绕线完成的样品托放入仪器的样品盘 中即可。本实用新型的积极效果是1、被测线状样品处于定形、定量状态，提高了测量结果的重现性和准确性。2、保持被测线状样品处于一定张力状态，利于二次X荧光信号的收集与测量，为 测量样品中微量有害元素提供了基础。
权利要求1.一种线状样品托的凸台置线机构，所述样品托的本体(10)至少设有一个贯通的 中心圆孔，其特征在于，所述圆孔的两端面沿圆周处设有具一定宽度的凸台(1 )，所述凸台 (1)上设有凹槽(2)。
2.根据权利要求1所述的凸台置线机构，其特征在于，所述凹槽(2)为放射型设置。
3.根据权利要求1所述的凸台置线机构，其特征在于，所述凹槽(2)为平行式设置。
专利摘要本实用新型提供一种线状样品托的凸台置线机构，所述样品托的本体(10)至少设有一个贯通的中心圆孔，所述圆孔的两端面沿圆周处设有具一定宽度的凸台(1)，所述凸台(1)上设有凹槽(2)。本实用新型的积极效果是使被测线状样品处于定形、定量状态，提高了测量结果的重现性和准确性。
文档编号G01N23/223GK201917534SQ201020650230
公开日2011年8月3日 申请日期2010年12月9日 优先权日2010年12月9日
发明者刁杰, 吕洋, 欧宏炜 申请人:牛津仪器(上海)有限公司