专利名称：一种用于测试sma二极管的表笔的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试设备，特别涉及一种用于测试SMA 二极管的表笔。
背景技术：
现有技术中SMA 二极管的成品测试比较繁琐，需将载体拆开后，利用QT2测试仪和专用表笔进行测试，即使如此，也需要耗费大量人力和时间。当测试结束后，要用烙铁将拆开的载体重新封口，这样每天的工作量大大增加，而且工作效率还非常低。

实用新型内容针对现有技术的不足，本实用新型提供一种可以不将载体拆开，而直接测试SMA 二极管引脚的表笔。为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案实现一种用于测试SMA 二极管的表笔，包括笔身及用于测试SMA 二极管引脚的触头，所述的笔身与触头相连接，所述的触头为尖头结构。由于本实用新型中提供的表笔，其触头为尖头结构，这样可以不拆开载体，而直接对SMA 二极管的引脚进行测试。使用方便，减少了测试人员的劳动量，节省了工作时间。

图1为本实用新型的结构示意图。图中1为笔身、2为触头
具体实施方式
下面通过具体实施例，对本实用新型做详细的描述。一种用于测试SMA 二极管的表笔，包括笔身1及用于测试SMA 二极管引脚的触头 2，所述的笔身1与触头2相连接，所述的触头2为尖头结构。测试时，将触头2接触SMA 二极管引脚，经QT2测试仪检测，确定该SMA 二极管的好坏。
权利要求1. 一种用于测试SMA二极管的表笔，包括笔身及用于测试SMA二极管引脚的触头，所述的笔身与触头相连接，其特征在于所述的触头为尖头结构。
专利摘要本实用新型公开了一种用于测试SMA二极管的表笔，包括笔身及用于测试SMA二极管引脚的触头，所述的笔身与触头相连接，所述的触头为尖头结构，由于本实用新型中提供的表笔，其触头为尖头结构，这样可以不拆开载体，而直接对SMA二极管的引脚进行测试。使用方便，减少了测试人员的劳动量，节省了工作时间。
文档编号G01R1/067GK202093064SQ20112018200
公开日2011年12月28日 申请日期2011年5月31日 优先权日2011年5月31日
发明者戴亮, 李伟, 李成录, 符爱娟 申请人:常州佳讯光电产业发展有限公司