专利名称：缺陷像素地址检测方法以及检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检测液晶显示器面板、等离子显示器面板等显示面板的缺陷像素 的地址的缺陷像素地址检测方法以及检测装置。
背景技术：
对于液晶显示器面板等显示面板，通常在单元步骤的最终检查中进行使面板实际 点亮来调查有无缺陷像素的点亮检查。点亮检查通过对连接于作为检查对象的显示面板的 像素的信号线从外部供给信号来进行，但该信号的供给方式大致可分为全接触方式和短路 棒方式两个种类。全接触方式是使检查探针以一对一对应的方式与各对应于有源矩阵基板的X、Y 信号线的电极接触并使显示面板点亮的方式，因为可以使各个像素分别点亮，因此原则上 能够对缺陷像素的地址进行确定。但是，要通过全接触方式实际确定缺陷像素的地址，需要 利用信号发生器进行检查对象面板的点亮控制并算出地址，因为具有地址算出功能的信号 发生器一般价格较高，因此通过全接触方式检测缺陷像素的地址，具有装置价格高的缺点。另一方面，短路棒方式是连接多个信号线的电极进行共通化，一下子对多个像素 供给信号并使其一并点亮的方式，因此，即便发现缺陷像素，确定该缺陷像素的地址通常还 是非常困难的。为了解决短路棒方式中的上述缺点，例如在专利文献1中提出这样一种装置，其 采用与作为检查对象的液晶面板相对配置的、被称为调制器的面板，和与该调制器有一定 的位置关系、将调制器的表面捕捉为一张图像的CCD摄像装置，根据CCD摄像装置所拍摄的 图像与液晶面板的像素地址的对应关系，检测缺陷像素的地址。但是，该装置需要灵敏度良 好的CXD摄像装置和显示面板尺寸的调制器，因此不能便宜地构成检查装置。现有技术文献专利文献专利文献1 日本专利特开平9-50013号公报

发明内容
发明要解决的问题本发明是为了消除上述现有的点亮检查装置所具有的缺点而做成的，其目的在于 提供一种不需要高价的信号发生器或调制器等的装置就可以通过便宜的手段高精度地检 测缺陷像素的地址的缺陷像素地址检测方法和缺陷像素地址检测装置。解决问题的手段本发明的发明者为了解决上述课题而反复锐意研究，结果发现采用可以对作为检 查对象的显示面板的一部分进行拍摄的、能够移动的拍摄装置，使该拍摄装置移动对被发 现的缺陷像素进行拍摄，根据在被拍摄的图像上确定了缺陷像素的位置时的该拍摄装置的 移动距离和作为检查对象的显示面板的像素尺寸以及有关其排列形态的信息，可以求出缺陷像素的地址，从而完成了本发明。即，本发明通过提供一种缺陷像素地址检测方法来解决上述课题，该缺陷像素地 址检测方法对由多个像素构成的显示面板的缺陷像素的地址进行检测，其特征在于，至少 包括以下步骤(a)将作为检查对象的显示面板放置于检查部，使其点亮的步骤；(b)对点亮了的显示面板有无缺陷像素进行检查的步骤；(c)在发现了缺陷像素时，使所述拍摄装置移动以对缺陷像素进行拍摄，并在被拍 摄的图像上确定缺陷像素的位置的步骤；(d)根据与被确定的缺陷像素在图像上的位置和所述拍摄装置的相对于原点在 Χ、γ轴方向上的移动距离、以及该显示面板的像素的尺寸和其排列形态有关的信息，求出被 确定的缺陷像素在显示面板上的地址的步骤。又，本发明通过提供一种缺陷像素地址检测装置来解决上述课题，所述缺陷像素 地址检测装置，其特征在于，包括检查部，至少具有放置台和探测单元，能够使作为检查对 象的显示面板点亮；拍摄装置，能够相对于被放置在检查部上的显示面板在X、Y轴方向上 移动；测量装置，对所述拍摄装置的X、Y轴方向的移动距离进行测量；显示装置，显示被所 述拍摄装置拍摄的图像；存储装置，对与作为检查对象的所述显示面板的像素的尺寸和其 排列形态有关的信息进行存储；地址运算装置，其被程序化，若被显示于所述显示装置上的 图像上缺陷像素的位置被确定，则根据该缺陷像素在该图像上的位置和此时的所述拍摄装 置的X、Y轴方向的移动距离、以及与存储于所述存储装置中的所述显示面板的像素的尺寸 和其排列形态有关的信息，求出所述显示面板中缺陷像素的地址。在本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置中，最好设置使用能够移动的拍摄 装置对作为该拍摄装置的移动轴的Χ、γ轴和作为检查对象的显示面板的Χ、γ轴的偏移进行 校正的校准步骤或者校准装置。作为拍摄装置的移动轴的x、Y轴和作为检查对象的显示面 板的Χ、γ轴的偏移例如可以通过能够移动的拍摄装置对设置在显示面板的2边上的合计三 个的对齐标记进行拍摄，通过读取求出那些对齐标记的X-Y坐标来求出。这样的校准步骤 或者校准装置最好在作为检查对象的显示面板的品种变更的情况下进行。通过设置校准步 骤或者校准装置，对拍摄装置的X、Y移动轴相对于品种各异的显示面板的X、Y轴的歪斜进 行校正，能够更准确地检测缺陷像素地址。又，在本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置中，最好设置面板倾斜校正步 骤或者面板倾斜校正装置。作为检查对象的显示面板每次被新装载在检查部上都要对齐到 所期望的检查位置，但是每个显示面板可能会产生些许的偏移，因此尤其是在发现了缺陷 像素时，通过面板倾斜校正步骤或者面板倾斜校正装置，对该显示面板的倾斜进行校正。面 板倾斜校正步骤或者面板倾斜校正装置例如是这样进行校正的通过能够移动的拍摄装置 对设在显示面板的1边上的至少两个地方的对齐标记进行拍摄，读取其X-Y坐标，求得与之 前通过校准步骤或者校准装置求出的对应的两个地方的对齐标记的X-Y坐标的差，根据该 差对在校准步骤得到的X轴和/或Y轴坐标轴的偏移量进行校正。进一步地，在本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置中，最好设置颜色校验 步骤或者颜色校验装置。在彩色显示的情况下，显示面板是有规则地排列RGB三色的像素 而构成的，因此拍摄装置如果是彩色拍摄装置，则通过观察由拍摄装置拍摄的缺陷像素的周围的像素的颜色，可以容易地辨别在图像上确定的缺陷像素的颜色是RGB中的哪一个。 因此，校验缺陷像素的被辨别出的颜色是否与对应于被求出的缺陷像素的地址的显示面板 的像素的颜色一致，在一致的情况下，将该地址作为要求出的地址来使用，在不一致的情况 下，则选择与该地址最接近、且与该被辨别出的颜色相同的像素的地址，将其作为要求出的 欠陷画素的地址来使用，由此可以进一步提高缺陷像素地址的检测精度。进一步地，本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置的较佳实施形态是设有位 移校正步骤或者位移校正装置。位移校正步骤或者位移校正装置，在发现了缺陷像素时，使 所述拍摄装置移动，对与缺陷像素相同的X轴和/或Y轴坐标上的显示面板的像素矩阵的 边部附近进行拍摄，求出该边部附近的像素相对于所述拍摄装置的X轴和/或Y轴原点向 哪个方向位移多少，并将其用于缺陷像素地址的检测。这样，在设有位移校正步骤或者位移 校正装置的情况下，即便在上述颜色校验步骤或者颜色校验装置不能充分确定缺陷像素的 地址的情况下，也能够更准确地求出缺陷像素地址。又，本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置的较佳实施形态为设有地址校正 步骤或者地址校正装置。地址校正步骤或者地址校正装置，预先存储之前对缺陷像素进行 的颜色校验步骤或者颜色校验装置所求出的像素地址的校正值、或者存储位移校正步骤或 者位移校正装置所求出的像素地址的校正值，根据该校正值对同一显示面板的后续的缺陷 像素的被求出的地址进行校正。该地址校正步骤或者地址校正装置在以下这样的情况下是 有效的，即由拍摄装置拍摄的图像上的缺陷像素的位置和实际的显示面板上的缺陷像素的 位置的偏移方向以及偏移量无论同一显示面板中显示面板上的位置如何都大致一样。在具 有该地址校正步骤或者地址校正装置的情况下，具有这样的优点，即如果通过颜色校验步 骤或者位移校正步骤预先求得一次地址的校正值，则对于其后被检测的缺陷像素就不要进 行颜色校验步骤或者位移校正步骤。本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置也能够应用于全体接触方式以及短 路棒方式中的某一种点亮方式，作为对象的显示面板也不限于液晶显示器面板，只要是由 複数O像素构成的显示面板，可以将任何类型的显示面板作为对象。例如，等离子显示器面 板、EL显示器面板、使用LED的显示器面板、FED面板等显示面板都可以作为本发明的缺陷 像素地址检测方法及检测装置的对象。发明的效果本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置使用能够移动的拍摄装置的结构为， 根据该拍摄装置的移动距离和与作为检查对象的显示面板的像素尺寸及其排列形态有关 的信息，求出缺陷像素的地址，因此具有能简单且低价地制造装置、且能够求得缺陷像素的 准确的地址的优点。又，由于具备校准步骤或者装置、面板倾斜校正步骤或者装置、颜色校 验步骤或者装置、或者位移校正步骤装置，因此具有能够更高精度地检测缺陷像素地址的 优点。


图1是示出本发明的缺陷像素地址检测装置的一个实例的主视图。图2是仅示出图1的关键部分的图。图3是示出本发明的缺陷像素地址检测方法的一个实例的步骤的流程图。
图4是示出监视器画面的一个实例的图。图5是图4的部分放大图。图6示意性地示出使构成显示面板的像素矩阵的多个像素的排列形态与实物对 应而显示出的排列地图。图7是例示出缺陷像素和排列地图的其他位置关系的图。图8是例示出缺陷像素和排列地图的另一其他位置关系的图。图9是示出通过拍摄装置拍摄了 Y轴原点附近的像素矩阵的状态的图。图10是示出通过拍摄装置拍摄了 X轴原点附近的像素矩阵的状态的图。符号说明1缺陷像素检测装置2检查部3装载部4显示面板5a、5b数据侧·门侧探测单元6a、6b数据侧·门侧探测块7a、7b、7c对齐用摄像装置8监视器画面9控制装置10拍摄装置11 手柄12X轴引导机构13Y轴引导机构14a、14b、14c 对齐标记15 图像16排列地图17像素矩阵c 像素S基准点Gp显示面板原点。
具体实施例方式下面，使用附图对本发明进行详细说明，但本发明当然并不限于图示的形态。图1是示出本发明的缺陷像素地址检测装置的一个实例的主视图。在图1中，1是 缺陷像素地址检测装置，2是其检查部，3是装载部，4是作为检查对象的显示面板。在本例 中，是对显示面板4为液晶面板的情形进行说明，但如上所述，本发明当作检测对象的显示 面板4并不限于液晶面板。5a、5b分别是数据侧探测单元以及门侧探测单元，6a、6b分别是 数据侧探测块以及门侧探测块。如图所示，分别在各个数据侧探测单元5a以及门侧探测单 元5b上安装多个数据侧探测块6a以及门侧探测块6b。7a、7b、7c是对齐用摄像装置，8是 监视器画面，9是控制装置，控制装置9具有未图示的各种存储装置、运算处理装置，在与外部之间输入输出信号或数据的输入输出接口、以及输入输出装置。10是能够移动的拍摄装置。作为拍摄装置10，例如可以使用C⑶摄像装置。由拍 摄装置10拍摄的图像例如被显示在监视器画面8上。11是使拍摄装置10移动的手柄，12 是能够沿X轴移动地支撑拍摄装置10的X轴引导机构，13,13是能够沿Y轴移动地支撑X 轴引导机构12和拍摄装置10的Y轴引导机构。在X轴引导机构12以及Y轴引导机构13、 13或者拍摄装置10上，设置有至少能够以μ m单元测量拍摄装置10的X轴方向以及Y轴 方向的移动的线性标度，例如检查人员利用手柄11使拍摄装置10在X、Y轴方向上移动时， 测量其X轴方向以及Y轴方向的移动距离，与拍摄装置10的拍摄图像一起显示在监视器画 面8上。在拍摄装置10或者Χ、Υ轴引导机构12、13上设置驱动机构，能够使得拍摄装置10 的沿X轴引导机构12以及Y轴引导机构13、13的移动以自动方式进行。作为驱动机构，例 如能够使用脉冲电动机，在这种情况下，通过对驱动脉冲电动机的脉冲数量进行计数，能够 测量拍摄装置10的移动距离。另外，以自动方式使拍摄装置10移动的情况下，通过监视器 画面8、或设置在控制装置9上的未图示的输入装置，检查人员能够适当地指示其移动方向 以及移动距离。图2是仅取出图1的关键部分进行显示的图。出于方便，将数据侧探测单元5a和 门侧探测单元5b显示在从显示面板4稍微离开的位置上。如图2所示，在显示面板4的上 边和左边的各个角上，总计设有3个对齐标记14a、14b、14c。一边利用对齐用摄像装置7a、 7b,7c对该对齐标记14a、14b、14c进行拍摄，一边进行对齐。又，如图2所示，拍摄装置10沿着X轴引导机构12以及Y轴引导机构13、13在图 中箭头所示的方向上移动，能够以能移动到显示面板4上的任何位置的方式对显示面板4 的表面进行拍摄。拍摄装置10的移动路径设定在相比数据侧以及门侧的各个探测块6a、 6b、对齐用摄像装置7a、7b、7c更加远离显示面板4的位置，因此探测块6a、6b、对齐用摄像 装置7a、7b、7c不会妨碍拍摄装置10的X、Y轴方向的移动。另外，如后文所述，在本发明的缺陷像素地址检测装置中，需要利用拍摄装置10 对对齐标记14a、14b、14c进行拍摄，因此对齐用摄像装置7a、7b、7c能够移动地安装于数据 侧探测单元5a或者门侧探测单元5b上，在利用拍摄装置10对对齐标记14a、14b、或者14c 进行拍摄时，能够移动到不妨碍其拍摄的位置上。又，可以根据情况，利用拍摄装置10代替 对齐用摄像装置7a、7b、7c中的某一个或者两个以上使用。图3是示出本发明的缺陷像素地址检测方法的步骤的流程图。下面，根据图1所示 缺陷像素地址检测装置以及图3所示流程图对本发明的缺陷像素地址检测方法进行说明。新品种面板装载装载部3利用例如机械手，从未图示的输送装置取得作为检查对象的液晶面板， 将其放置于能够向XYZ θ方向移动的放置台上，并输送至检查部2。由此，装载部3将显示 面板4装载在检查部2上。图3的流程图中的“新品种面板装载”表示的是改换作为检查 对象的显示面板4的品种，将新的品种的显示面板4装载在检查部2上的步骤。< 对齐 >新品种的显示面板4被输送到检查部2上后，接着进行对齐步骤。该对齐步骤是 将检查部2的数据侧以及门侧的探测块6a、6b的所有探针和显示面板4的所有电极对准以使得两者可靠地接触的步骤，这与至今为止进行的对齐没有什么变化。即，被放置在放置台 上的显示面板4被装载在检查部2上后，载置有放置台的XYZ θ驱动台被驱动，使得显示面 板4移动，并将显示面板4对准到检查部2的规定的检查位置上，以使得数据侧以及门侧 的探测块6a、6b的全部探针与显示面板4的全部电极可靠地接触。该对齐是这样进行的 通常通过对齐用摄像装置7a、7b、7c对对齐标记14a、14b、或者14c中的至少两个对齐标记 进行拍摄，并使得放置台移动，从而使得这些至少两个对齐用标记来到对齐用摄像装置7a、 7b,7c的视野内的标准位置。另外，此时，可以使用未图示的显微镜来确认数据侧以及门侧 的探测块6a、6b的所有探针是否与显示面板4的所有电极可靠地接触。(校准)对齐步骤结束后，如图3所示进行校准步骤。该校准步骤是取得拍摄装置10的X、 Y移动轴与由显示面板4的3个对齐标记14a、14b、14c形成的X、Y轴的偏移的步骤，该步 骤是在改变检查对象面板的品种，将新品种的显示面板4装载到检查部2上时进行。校准 步骤并不限于检查对象面板的品种改变时进行，也可以在相同品种面板的检查中根据需要 在适当的时刻进行。又，在能够预想拍摄装置10的X、Y移动轴和由显示面板4的3个对齐 标记14a、14b、14c形成的X、Y轴之间没有偏移的情况下，或者在已经获得有关该品种的面 板的校准数据的情况下，可以不进行校准步骤。校准通过利用能够移动的拍摄装置10拍摄三个对齐标记14a、14b、14c来进行。 即，首先将拍摄装置10的视野内的基准点与显示面板4中位于设有三个对齐标记14a、14b、 14c的两边的交点处的对齐标记14a的基准位置对齐。作为拍摄装置10的基准点，例如可 以将其视野的中心点作为基准点，视野内的中心点可采用改变了亮度或颜色的点、或垂直 相交的十字线的交点等来表示。又，作为对齐标记14a的基准位置，例如在对齐标记14a是 十字形的图形时，可以将该中心点或十字形图形的重心位置作为基准位置。该位置对准通 过设置在控制装置9内的运算处理装置的图像处理和模式匹配自动地进行。拍摄装置10的视野内的基准点与对齐标记14a的基准位置一致时，控制装置9将 此时的拍摄装置10的位置，即通过X轴线性标度以及Y轴线性标度或者电动机的脉冲数量 表示的拍摄装置10相对于任意点在X轴以及Y轴方向的移动距离作为拍摄装置10的原点 的X、Y坐标存储在存储装置中。另外，拍摄装置10的原点的X、Y坐标可以是拍摄装置10 的相对于任意点在Χ、γ轴方向的移动距离，但最好是在拍摄装置10的视野内的基准点与对 齐标记14a的基准位置一致时，将通过X轴线性标度以及Y轴线性标度或者电动机的脉冲 数量表示的拍摄装置10的X、Y轴方向的移动距离都重设为“0(μπι)”，将拍摄装置10的原 点的Χ、Υ坐标设为(0，0)。此时，将对齐标记14a的基准位置选择作为显示面板4的原点的话，如上所述，通 过使拍摄装置10的视野内的基准点与对齐标记14a的基准位置一致，通过将此时的拍摄装 置10的位置作为原点，使得拍摄装置10的原点与显示面板4的原点一致。另外，使拍摄装置10的原点与显示面板4的原点一致的操作能够与校准步骤分开 进行。例如，在选择构成显示面板4的像素矩阵的最左上的像素的左上角作为显示面板4的 原点的情况下，在对齐结束，或者如后述那样在对齐后的点亮检查中发现了缺陷像素时，使 拍摄装置10移动，使得其视野内的基准点与选择作为显示面板4的原点的像素矩阵的最左 上的像素的左上角一致，将该位置作为拍摄装置10的原点来进行设定，由此能够使拍摄装置10的原点与显示面板4的原点一致。这样，通过使拍摄装置10的原点与显示面板4的 原点一致，使得显示面板4的特定位置与拍摄装置10的位置相对应，因此拍摄装置10的位 置、即拍摄装置10的X、Y坐标与显示面板4的X、Y坐标相对应。如上所述，使拍摄装置10的视野内的基准点与对齐标记14a的基准位置一致，将 此时的拍摄装置10的X、Y坐标(xl，yl)存储之后，进一步地使拍摄装置10移动，以使得其 视野内的基准点与位于显示面板4的上边的右角的对齐标记14b的基准位置一致，读取此 时拍摄装置10的相对于原点的移动距离即X、Y坐标(x2，y2)。通过X轴引导机构12引导的拍摄装置10的X轴与由对齐标记14a以及14b构成 的显示面板4的X轴一致的情况下，应该yl = y2，但假如yl兴y2时，则拍摄装置10的X 轴与显示面板4的X轴有偏移，该偏移的量相对于对齐标记14a和14b的距离(x2_xl)为 (y2_yl)。控制装置9将这两个值(x2_xl)以及(y2_yl)作为X轴的偏移量与对齐标记14b 的坐标(x2，y2) —起存储在适当的存储装置中。控制装置9根据(x2-xl)以及(y2_yl)的 值算出拍摄装置10的X轴和由对齐标记14a以及14b构成的显示面板4的X轴之间的角 度，将该角度作为X轴的偏移量存储在存储装置中。同样的，接下来，使拍摄装置10的基准点与位于显示面板4的左边下角的对齐标 记14c的基准位置一致，读取此时的拍摄装置10的相对于原点的移动距离即X、Y坐标(χ3， y3)。通过Y轴引导机构13、13引导的拍摄装置10的Y轴与由对齐标记14a以及14c构 成的显示面板4的Y轴一致的情况下，应该是xl = x3,假如xl Φ χ3时，拍摄装置10的 Y轴与显示面板4的Y轴有偏移，其偏移的量相对于对齐标记14a和14c的距离(y3_yl) 为(x3-xl)，控制装置9将这两个值(x3-xl)以及(y3-yl)作为Y轴的偏移量与对齐标记 14c的坐标(x3，y3) 一起存储在适当的存储装置中。与X轴的情形相同，控制装置9根据 (x3-xl)以及(y3-yl)的值算出拍摄装置10的Y轴和由对齐标记14a以及14c构成的显示 面板4的Y轴之间的角度，将该角度作为Y轴的偏移量存储在存储装置中。另外，以上的说明中，校准步骤是通过利用能够移动的拍摄装置10对三个对齐标 记14a、14b、14c进行拍摄来进行的。但当记号代替对齐标记14a、14b、14c的存在于显示面 板4上的情况下，也可以利用能够移动的拍摄装置10对这些记号进行拍摄，获得这些记号 的X、Y坐标，求出显示面板4的X、Y坐标轴和拍摄装置10的X、Y移动轴的偏移量。(点亮检查)以及(缺陷的有无)如上所述，对齐步骤以及校准步骤结束后，接下来控制装置9通过数据侧探测块 6a以及门侧探测块6b将信号供给显示面板4的电极，使显示面板4点亮。在点亮状态下， 通过操作人员的目视检查缺陷像素的有无。另外，有无缺陷像素的检查也可以不是操作人 员的目视检查，而是机械的自动检查。例如，可以利用CCD摄像装置等对显示面板4的显示 面进行拍摄，通过对其图像进行图像处理来自动地检查缺陷像素的有无。(校正面板倾斜)在点亮检查中发现缺陷像素时，在显示面板4为在校准步骤之后新进行了对齐步 骤的显示面板的情况下，进行面板倾斜校正步骤。即，在校准步骤后进行的对齐步骤与上述 对齐步骤一样，通过对齐用摄像装置7a、7b、7c对对齐标记14a、14b、或者14c中的至少两个 对齐标记进行拍摄，并使得放置台移动，从而使得这些至少两个对齐用标记来到对齐用摄 像装置7a、7b、7c的视野内的标准位置，但通过该新的对齐步骤放置在检查位置上的显示面板4的位置可能与进行了校准步骤时的显示面板4的位置有微妙的偏移，因此为了对该 偏移进行校正所进行的步骤就是面板倾斜校正步骤。另外，在每次对齐时显示面板4的位 置都不会偏移的情况下，可以不进行面板倾斜校正步骤。面板倾斜校正步骤是通过利用拍摄装置10对至少两个位置的对齐标记进行拍摄 而进行的。即，首先，使撮影装置10移动对对齐标记14a进行拍摄，读取对齐标记14的基 准位置的X、Y坐标(Xl，，yl，)，接下来，对对齐标记14b进行拍摄，读取对齐标记14b的X、 Y坐标(x2’，y2’)。如果初次的对齐与其后的对齐中显示面板4的位置没有变化，则应该为 xl，=xl、yl，=71，且乂2，=x2，y2，= y2。但是，在这些四个等式中的任一个不成立的 情况下，则显示面板4的位置具有偏差，显示面板4相比初次对齐时发生倾斜，因此控制装 置9将表示原点的偏移量(χΓ-χΙ)以及(yl’-yl)的值、和表示相对于初次对齐的倾斜量 的(χ2’-χΓ)以及{(y2’-y2)-(yl’-yl)}作为面板倾斜校正量存储在存储装置中。另外， 控制装置9可以将根据表示原点的偏移量的(xl，-xl)以及(yl'-yl)的值、和(χ2，-χΓ) 以及{(y2’-y2)-(yl’-yl)}的值算出的、初次对齐与此次对齐的显示面板4的X轴的偏移 角度作为面板倾斜校正量进行存储。另外，关于显示面板4的Y轴的倾斜度，可以通过利用拍摄装置10对对齐标记14c 进行拍摄来求得，但由于能够合理地推测显示面板4的倾斜度在X轴和Y轴都相同，因此能 够将先求得的X轴的倾斜量或者偏移的角度利用于Y轴。因此，在面板倾斜校正步骤中，利 用拍摄装置10所拍摄的对象是位于显示面板4的同一边上的至少2处的对齐标记14a以 及14b、或者14a以及14c就足够了。另外，在上述实例中，至少两处的对齐标记的拍摄和基准位置坐标的读取都使用 能够移动的拍摄装置10来进行，但也可以使用对齐用摄像装置7a、7b、或者7c对两处对齐 标记中的两处或者一处进行拍摄和基准位置坐标的读取。在使用对齐用摄像装置7a、7b、或 者7c对至少两处对齐标记中的两处或者一处进行拍摄的情况下，由于无需使拍摄装置10 移动到其位置，因此具有可以节约移动所需的时间的优点。又，在以上说明中，面板倾斜校正步骤是通过利用拍摄装置10或者对齐用摄像装 置7a、7b、7c对至少两处的对齐标记14a、14b、或者14c进行拍摄来进行的，但在记号代替对 齐标记14a、14b、14c存在于显示面板4，校准步骤通过根据这些记号的X、Y坐标求得显示 面板4的X、Y坐标轴和拍摄装置10的Χ、Υ移动轴的偏移量来进行的情况下，在面板倾斜校 正步骤中，也可以代替对齐标记14a、14b、或者14c，而使用与校准步骤中采用的记号相同 的记号中的至少2处记号。(拍摄装置向缺陷像素移动)面板倾斜校正结束后，使拍摄装置10移动到所发现的缺陷像素的位置，并对包含 缺陷像素的显示面板4的表面区域进行拍摄。拍摄装置10的移动通过检查人员手持例如 拍摄装置10的手柄11手动地进行。在拍摄装置10是由设置于拍摄装置10或者X轴以及 Y轴引导机构12、13上的驱动机构驱动的自动式拍摄装置的情况下，可以通过从适当的输 入装置介由控制装置9指定移动方向或移动距离从而使得拍摄装置10移动。被拍摄的图 像被显示在监视器画面8上。图4示意性地示出监视器画面的一个实例。在图4中，8是监视器画面，由拍摄装置10拍摄的图像15显示在监视器画面8上。 C、C、C……是像素。在本实施例中，显示面板4是彩色显示面板，对其拍摄的拍摄装置10也是彩色拍摄装置，因此显示面板4显示出分别示出R(红)、G(绿)、或者B(蓝)的颜色的 像素纵横规则地排列的像素矩阵图像15(图中，通过在各像素的中央显示“R”、“G”、“B”，表 示各像素的颜色)。Lx、Ly是显示于拍摄图像的视野的纵横的中心线，中心线Lx以及Ly的 交点S是拍摄视野的中心，是拍摄装置10的基准点。基准点S的X、Y坐标，即相对于原点的X轴方向以及Y轴方向的移动距离作为“基 准位置”显示在图像15的右侧。在图示的例子中，基准点S的X坐标是“331. 528mm”，Y坐 标是“210. 227mm”。在“基准位置”的上部，分别以角度表示通过“校准”得到的偏移量和通 过面板倾斜校正得到的面板倾斜校正量。在图示的例子中，在校准步骤求出的X轴的偏移 量为“0. 500度”，Y轴的偏移量为“-0. 200度”，面板倾斜校正量为“0. 040度”。表示于“基 准位置”的基准点的X、Y坐标是考虑了 Χ、Υ轴的偏移量的校正以及面板倾斜校正量而进行 校正后的值，但也可以显示校正前的值。另外，根据在校准步骤求出的X轴以及Y轴的偏移量校正基准点S的X、Y坐标的 方法并没有什么特别的。例如，能够通过以旋转排列或歪斜排列进行坐标变换的已知的数 学方法对基准点S的X、Y坐标进行校正。面板倾斜校正量也是同样，在面板倾斜校正量以角度表示的情况下，可以单纯地 对在校准步骤求出的X轴以及Y轴的偏移量的角度加上或减去该角度，与上述同样地求出 基准点S的被校正后的X、Y坐标。无论如何，根据在校准步骤求出的偏移量以及面板倾斜 校正量校正基准点S的X、Y坐标是纯粹的数学问题，想出各种方法对于本领域的技术人员 来说是显而易见的。上述方法只不过是其一个例子，本发明并不限于上述的校正方法。(确定缺陷像素)在图4中，在基准点S的右下附有阴影的像素Cn示出缺陷像素的一个实例。检查 人员判断像素Cn是缺陷像素时，在监视器画面8上确定该像素Cn。确定能够通过用手指等 在监视器画面8上触碰、或使鼠标的指针移动到像素Cn的位置，在该位置点击来进行。确 定像素Cn后，算出该像素Cn的X、Y坐标。该算出例如如下述那样进行。图5是图4的部分放大图，仅放大表示了图像15中的缺陷像素Cn的周边。控制 装置9对图像15进行图像处理，识别出缺陷像素Cn的各边的边缘部分，根据该图像15上 的位置算出相对于基准点S的各边的距离Δχ 、Δχ2、AyU Ay2。接下来，控制装置9对 表示在图4的“基准位置”中的基准点S的X、Y坐标加上或减去被算出的值，求出在X轴方 向以及Y轴方向具有宽度的缺陷像素位置，在作为“像素位置”显示在监视器画面8上的本 实例中，缺陷像素Cn在X轴方向位于“331. 538mm”至“331. 558mm”的范围，在y轴方向处 于 “210. 248mm” 至 “210. 288mm” 的范围。另外，校准所进行的偏移量的校正以及面板倾斜校正量的校正可以如上所述对基 准点S的X、Y坐标进行，也可以在对基准点S的X、Y坐标加上或减去从基准点S到缺陷像 素Cn各边的距离之后进行。(辨别缺陷像素的颜色)缺陷像素Cn由于某些原因没有被驱动，因此在图像15上只看得见黑色，其本来的 显示颜色不清楚。但是，显示面板4的像素矩阵通常根据其显示颜色RGB有规则地排列，因 此能够根据周围的像素的显示颜色知道缺陷像素Cn本来的显示颜色。例如在图5的实例中，像素矩阵的横方向的行从左向右以R-G-B-R……的顺序排列，各纵方向的列从上向下如R — R — R……、G-G-G……那样，都是排列相同的 颜色。因此，将该排列的规则性应用于缺陷像素Cn时，可知缺陷像素Cn本来的显示颜色是 “G”。这样的辨别通常通过利用控制装置9对图像15进行信号处理来自动地进行，但检查 人员通过目视对图像15进行辨别也可以。被辨别的缺陷像素Cn的显示颜色在图4的监视 器画面8上显示在“像素位置”下的“显示颜色” 一栏中。另外，这样的缺陷像素Cn的本来的显示颜色的辨别如后述，是为了更准确地检测 缺陷像素地址而进行的，进行上述辨别当然更理想，但未必是必要的。(算出地址值)接下来，根据如上述那样求得的缺陷像素Cn的位置，算出缺陷像素Cn的显示面板 4上的地址。该算出如下述那样进行。图6对于显示面板4示意性地示出使构成像素矩阵的多个像素的排列形态与实物 对应而显示出的排列地图的一个实例。图中，16是排列地图，17是像素矩阵，标注符号C的 各长方形表示像素。对于该显示面板4，能够根据预先知道的与各像素的尺寸和其排列形态 有关的信息，即各像素的纵横的尺寸和显示颜色、像素矩阵的行数、列数、构成各行、各列的 像素的数量、各像素的配置间隔等作成该排列地图16。这样的信息在每当新品种的显示面 板成为检查对象时，从适当的输入装置输入到控制装置9中。或者，在预先知道这些信息和 显示面板的品种的对应关系的情况下，可以由装载部3或者检查部2自动地读取附加在显 示面板上的识别号码等，从控制装置9内的存储装置读出、或者通过适当的通信单元从外 部的存储装置读取。在本实例中，排列地图16将位于像素矩阵17的最左上方的像素的左上角Gp作为 原点而作成的，原点Gp的X、Y坐标如图所示为(0，0)。另外，拍摄装置10的原点与显示面 板4上的该原点Gp —致。缺陷像素的地址通过将前面求出的图像15上的缺陷像素Cn的存 在位置应用于该排列地图16上而求出的。该应用如下述那样进行。即，被拍摄在图像15中 的缺陷像素其X轴坐标为“331. 538-331. 558mm”的范围，Y轴坐标为“210. 248-210. 288mm” 的范围，因此控制装置9将缺陷像素Cn的X坐标以及Y坐标分别除以构成显示面板4的像 素的横向的大小以及纵向的大小加上配置间隔后的数值，通过求出其商，能够在排列地图 16上求出处于与这些X、Y坐标对应的位置的像素的地址。顺便说一下，在缺陷像素Cn的 X、Y坐标的范围在排列地图16上跨越多个像素时，控制装置9将与缺陷像素Cn的X、Y坐 标的范围重叠的面积最大的像素判断为缺陷像素，将其地址作为缺陷像素地址输出。控制装置9被程序化，以便通过上述那样的方法算出缺陷像素地址，控制装置9与 这些程序成为一体，形成缺陷像素的地址运算装置。另外，在存在有多个与缺陷像素Cn的 X、Y坐标的范围重叠的面积最大且彼此相等的像素的情况下，不能仅根据排列地图16最终 决定缺陷像素的地址，后述的颜色校验步骤、位移校正步骤是有效的。能取为原点Gp的地方并不限于位于像素矩阵17的最左上方的像素的左上角。也 可以位于像素矩阵17的最左下方的像素的左下角，在设于显示面板4的左上角的对齐标记 14a的基准位置与像素矩阵的位置关系清楚的情况下，也可以是对齐标记14a的基准位置。 如果与像素矩阵17的位置关系清楚、且拍摄装置10的原点与显示面板4的被选择的原点 一致，则取哪个点作为原点Gp是自由的。所求得的缺陷像素Cn的地址(α，β)在图4所示的监视器画面8中作为“像素地址”显示，检查人员按下“确认”按钮时，缺陷像素Cn的地址信息被存储在控制装置9的 存储装置中，或者被发送到联网的主机上，由此检测出缺陷像素地址。另外，以上是对缺陷为点缺陷且缺陷像素为独立1个的像素的情形进行了说明， 但在缺陷为线缺陷或者面缺陷、相邻的多个像素为缺陷像素的情况下，也可以与上述同样 地求出缺陷像素地址。即，当检查人员发现了由图像15上相邻的多个缺陷像素构成的缺陷 时，将各个缺陷像素依次在图像15上确定。确定多个缺陷像素时，设在控制装置9上的地 址运算装置求出由相邻的多个缺陷像素形成的缺陷区域的各个顶点的X、Y坐标，将这些X、 Y坐标应用于上述排列地图16中，或者通过计算根据这些Χ、Υ坐标算出多个缺陷像素地址， 并辨别缺陷的种类。有关所得到的缺陷像素的地址以及缺陷种类的信息被存储在控制装置 9内的存储装置中，或者被发送到联网的主机上，从而同时检测出缺陷像素地址和缺陷的种 类。另外，缺陷的种类的辨别可以由检查人员进行。(校验颜色)如上所述，能够根据由拍摄装置10拍摄的缺陷像素Cn的X、Y坐标求出缺陷像素 地址，但是如果将缺陷像素的显示颜色放进判断材料的话，缺陷像素地址的检测更准确，故 比较理想。将颜色校验步骤设为“ON”使控制装置9进行颜色校验步骤时，控制装置9将以前 根据图像15上周围的像素的显示颜色辨别的缺陷像素Cn的显示颜色“G”和所求出的像素 C(a,0)的显示颜色“G”进行比较。所求出的像素C(a,e)的显示颜色为“G”可以根据与该显 示面板4的像素的排列形态有关的信息知道。由于缺陷像素Cn的显示颜色和像素C(a, 的显示颜色都一致为“G”，控制装置9将像素C(a,e)的地址(a，β)判断为缺陷像素地址。 另外，由于像素C(a, 的显示颜色作为“地址颜色”显示在监视器画面8上，因此检查人员 可以在监视器画面8上确认缺陷像素Cn的显示颜色和被显示的“地址颜色”是否一致。图7是例示出缺陷像素和排列地图16的其他位置关系的图。例如，将缺陷像素Cn 的X、Y坐标应用于排列地图16时，如图7上段所示，在缺陷像素Cn1的位置跨越两个像素 即C(a3,M)和C(a4,M)这两个像素的请况下，控制装置9将(α3，β )和C(a4，β 1)两个 地址作为缺陷像素的地址候补，仅根据排列地图16或者坐标计算不能最终决定缺陷像素 的地址。这样的情况下进行颜色校验是有效。即，将颜色校验步骤设为“ON”使控制装置9进行颜色校验步骤时，控制装置9首 先将作为第1个候补的(a 3，β 1)的显示颜色与根据图像15辨别的缺陷像素Cn1的显示 颜色“G”进行比较。像素C(a3,M)的显示颜色是“R”，缺陷像素Cn1的显示颜色是“G”，两者 不一致，因此控制装置9判断地址(a 3，β 1)不是缺陷像素Cn1的地址并将其从地址候补 中去掉，同时寻找与地址(α3，β1)最接近、且显示颜色与缺陷像素他的‘义”相同的。“, 01)，将该像素的地址(α4，β )作为缺陷像素的地址。接下来，控制装置9将作为第2个候补的(α4，β 1)的显示颜色与缺陷像素Cn1 的显示颜色“G”进行比较。像素C(a4,M)的显示颜色是“G”，与缺陷像素Cn1的显示颜色一 致，因此控制装置9将地址(α 4，β 1)作为缺陷像素Cn1的地址。这样，对两个候补进行的颜色校验步骤的结果，都是相同的地址(a 4，β 1)作为 缺陷像素地址得到，因此，控制装置9将该地址(α4，β 1)作为缺陷像素地址输出到监视器 画面8上。
同样，如图7中段所示，缺陷像素Cn2的位置与像素C(a2,02)大致重叠时，如果没有 颜色校验步骤，控制装置9可能会将像素C(a2, 02)的地址(α2，β 2)判断为缺陷像素的地 址。但是，这样的情况下，进行颜色校验步骤时，控制装置9将像素C(a2,02)的颜色“B”与缺 陷像素Cn2的显示颜色“G”进行比较，由于两颜色不一致，因此控制装置9判断地址(a 2， β 2)不是缺陷像素Cn1的地址。同时，控制装置9找到与地址(α 2，β 2)最接近、且显示颜 色与缺陷像素Cn2的“G”相同的像素C(al, 02)，将该地址(α 1，β 2)作为缺陷像素的地址。 这样，由于经过颜色校验步骤，可以更准确地进行缺陷像素地址的检测。接下来，如图7下段所示，缺陷像素&13的位置跨越像素C(a4,02)、C(a4,e3)、C(a5,e2)、 以及C(a5, 03)4个像素时，控制装置9选择与缺陷像素Cn3的X、Y坐标的范围重叠的面积最 大的像素。其结果，如果C(a4,03)以及C(a5,03)两个像素与缺陷像素Cn3重叠的面积最大， 且都作为相同像素留下的情况下，如以前图7的上段所示的例子的说明，通过将颜色校验 步骤设为“ON”使控制装置9进行颜色校验步骤，可以将显示颜色为与缺陷像素Cn3相同的 “G”的像素C(a4,03)的地址(α4，β3)作为缺陷像素的准确的地址。控制装置9被程序化为通过上述那样的方法进行颜色校验步骤，控制装置9与该 程序成为一体，形成颜色校验装置。另外，上述那样的颜色校验步骤通过形成颜色校验装置 的控制装置自动地进行，但是检查人员也可以通过比较缺陷像素的显示颜色和所求的地址 的像素的显示颜色来进行。即，将显示在监视器画面8上的“显示颜色”栏中的缺陷像素的 显示颜色与显示在该监视器画面8上的“地址颜色”栏中的显示颜色进行比较，在两颜色不 一致的情况下，检查人员按下监视器画面8的“变更”按钮，通过位于其上的箭头按钮将像 素地址向上下左右的任一方向变更，使显示于“显示颜色”栏中的颜色与显示在“地址颜色” 栏中的颜色一致，在两颜色一致的状态下，按下“确认”按钮，可以将该变更了的地址作为缺 陷像素的地址。但是，在显示颜色不一致的情况下，将与所求出的地址最接近、显示颜色与缺陷像 素相同的像素的地址作为缺陷像素的地址需要以以下情况为前提的经过上述校准步骤、 面板倾斜校正步骤等，根据拍摄装置10的相对于原点的移动距离求出的缺陷像素的Χ、Υ坐 标与显示面板4的排列地图16的Χ、Υ坐标的偏移，即使存在也停留在最低限度。这样的前 提通常是正确成立的，但在希望进行更准确的地址检测的情况下，可以进行以下所示的位 移校正步骤。〈位移校正〉在发现了缺陷像素Cn时，使拍摄装置10移动，对与缺陷像素Cn相同的X轴和/ 或Y轴坐标上的显示面板4的像素矩阵17的边部附近进行拍摄，调查该边部附近的像素相 对于拍摄装置10的X轴/或者Y轴原点向哪个方向位移了多少，在求出缺陷像素Cn的地 址时加入考虑所求得的位移方向和/或位移量就是位移校正步骤，例如在如下的情况下进 行。图8是例示出缺陷像素Cn和排列地图16的另一其他位置关系的图。例如，将缺 陷像素Cn4的X、Y坐标应用于排列地图16上时，如图8所示，与像素C(a 13,012)重叠的情况 下，在图像15上被辨别的缺陷像素Cn4的显示颜色如果为“R”，则像素C(al3, Μ2)的显示颜 色也为“R”，因此即使经过颜色校验步骤，缺陷像素Cn4的地址还是被判断为(α13，β 12)。 但是，此时如果期望更加准确，则可以进行上述那样的位移校正步骤。
即，缺陷像素Cn4的中心的X轴坐标假如是“0. 274mm”时，移动拍摄装置10，对与 缺陷像素Cn4相同的X轴坐标“0. 274mm”上的显示面板4的像素矩阵17的边部附近进行 拍摄。图9示出所拍摄的状态。如图9所示，拍摄装置10的基准点S的X、Y坐标是(0. 274mm, 0. 000mm)，基准点 S在与缺陷像素Cn4相同的X轴坐标上，拍摄装置10移动到成为拍摄装置10的Y轴原点的 位置为止，对显示面板4的像素矩阵17的上边附近进行拍摄。显示在图像15中的Lx线与 拍摄装置10的Y轴原点(即，Y坐标为“0”的线)一致。另外，这时，拍摄装置10的原点 如上所述，与显示面板4的像素矩阵17的最左上的像素的左上角Gp —致。在该状态下看图9可知，显示面板4的像素矩阵17的上边，在X坐标“0. 274mm” 中，向上偏移拍摄装置10的Y轴原点大约0. 75像素长(像素的纵的长度)的程度。控制 装置9解析图像15，求出处于X坐标“0. 274mm”的位置的像素C(al3, M)的上边的边缘部的 位置，求出拍摄装置10相对于Y轴原点的位移方向，并对该位移的大小进行测量。控制装 置9将所求出的位移的方向以及位移的大小反映在缺陷像素Cn4的地址计算中，再次对缺 陷像素Cn4的X、Y坐标进行计算。在本实施例的情况下，被再次计算的缺陷像素Cn4的Χ、Υ 坐标变为从图8所示的位置向上移动大约0.75像素长(像素的纵向的长度)的程度的位 置，因此大部分与像素C(al3,M1)重叠，控制装置9将当初设定为(a 13，β 12)的缺陷像素 Cn4的地址变更为(a 13，β 11)。又，如图8所示，将缺陷像素Cn5的Χ、Υ坐标应用于排列地图16上时，大部分与像 素C(a 12，β 13)重叠，但是在像素C(al2,M3)的显示颜色“B”与在画像15上辨别的缺陷像 素Cn5的显示颜色“G”不一致时，采用上述颜色校验步骤，判断缺陷像素Cn5的地址是与像 素C(al2, _最接近、显示颜色为与缺陷像素Cn5相同的“G”的像素C(all,M3)。在这样的情 况下，如果期望更加准确，则可以进行上述那样的位移校正步骤。即，缺陷像素Cn5的中心的Y轴坐标假如是“1. 370mm”时，移动拍摄装置10，对与 缺陷像素Cn5相同的Y轴坐标“1. 370mm”上的显示面板4的像素矩阵17的边部附近进行 拍摄。图10示出所拍摄的状态。如图10所示，拍摄装置10的基准点S的X、Y坐标是(0. 000mm, 1. 370mm)，基准点
S在与缺陷像素Cn5相同的Y轴坐标上，拍摄装置10移动到成为拍摄装置10的X轴原点的 位置为止，对显示面板4的像素矩阵17的左边附近进行拍摄。显示在图像15中的Ly线与 拍摄装置10的X轴原点(即，X轴坐标为“0”的线)一致。在该状态下看图10可知，显示面板4的像素矩阵17的左边，在Y坐标“1. 370mm”， 比拍摄装置10的X轴原点向右偏移了大约1.5像素宽度(像素的横向的长度)的程度。控 制装置9解析图像15，求出处于X坐标“1. 370mm”的位置的像素C(al, 的左边的边缘部 的位置，求出拍摄装置10相对于X轴原点的位移方向，并对该位移的大小进行测量。控制 装置9将所求出的位移的方向以及位移的大小反映在缺陷像素Cn5的地址计算中，再次对 缺陷像素Cn5的X、Y坐标进行计算。在本实施例的情况下，被再次计算的缺陷像素Cn5的 X、Y坐标变为从图8所示的位置向右方移动大约1. 5个像素宽度(像素的横的长度)程度 的位置，因此跨越了(a 13，β 13)和像素(a 14，β 13)这两个像素。利用再次计算得到的 位置关系进行颜色校验步骤时，显示颜色一致且最接近的像素是像素C(a 14,013)，控制装置9 将当初设定为(a 11，β 13)的缺陷像素Cn5的地址变更为(α 14，β 13)。
通过进行这样的位移校正步骤，缺陷像素地址的检测的精度进一步地提高。控制 装置9被程序化为通过上述那样的方法进行位移校正步骤，控制装置9与该程序成为一体， 形成位移校正装置。另外，在显示面板4上存在多个缺陷像素的情况下，可以反复进行上述 < 拍摄装置 向缺陷像素的移动 > 至 < 位移校正 > 的步骤。此时，可以根据前面检测的缺陷像素的地址 值对针对后续的缺陷像素算出的地址值进行校正。例如，也可以对于前面检测到的欠陷画 素Cn，在 < 地址值算出 > 步骤中，得到地址值(α η，β m)，进行 < 颜色校验 > 和/或〈位移 校正〉后的结果为，缺陷像素Cnm的地址值变更为(αη+χ，βπι+y)时，该变更值(+x，+y)存 储在例如控制装置9中，针对后续的缺陷像素Cn’算出的地址值(αρ，β q)自动地变更为 (α ρ+χ, β q+y)，将被变更了的地址作为所求出的缺陷像素的地址。〈卸载面板〉从上述 < 拍摄装置向缺陷像素的移动 > 至 < 地址值算出 > 的步骤反复进行的次数 是所发现的缺陷像素的数量，〈颜色校验 > 步骤和 < 位移校正 > 步骤根据需要来进行，检测 出所有被发现的缺陷图像的地址时，通过装载部3将显示面板4从检查部2上卸载下来。<装载下一个面板X对齐>接下来，下一个检查对象面板通过装载部3被装载在检查部2上，并进行对齐。该 对齐例如与上述对齐步骤相同，通过对齐用摄像装置7a、7b、7c对对齐标记14a、14b、或者 14c中的至少两个对齐标记进行拍摄，并使得放置台移动，从而使得这些至少两个对齐用标 记来到对齐用摄像装置7a、7b、7c的视野内的标准位置。对齐结束后，接下来进行 < 点亮检 查(目视)> 以后的步骤。另外，〈点亮检查(目视)> 中，未被发现缺陷图像的显示面板4如图3的流程图 右侧所示，通过装载部3从检查部2上卸载下来。接下来，通过装载部3将新的显示面板4 装载在检查部2上，进行上述第2次以后的对齐，该对齐结束后，进行〈点亮检查(目视)> 以后的步骤。产业上的可利用性如上所述，采用本发明的缺陷像素检测方法以及检测装置，能够使用简单的装置 进行高精度的缺陷像素的地址检测。因此，在与以液晶显示器面板为首的各种显示器面板 的制造有关的产业领域中，都具有很大的产业上的可利用性。
权利要求
一种缺陷像素地址检测方法，其对由多个像素构成的显示面板的缺陷像素的地址进行检测，其特征在于，包括以下步骤(a)将作为检查对象的显示面板放置于检查部，使其点亮的步骤；(b)对点亮了的显示面板有无缺陷像素进行检查的步骤；(c)在发现了缺陷像素时，使所述拍摄装置移动以对缺陷像素进行拍摄，并在被拍摄的图像上确定缺陷像素的位置的步骤；(d)根据与被确定的缺陷像素在图像上的位置和所述拍摄装置的相对于原点在X、Y轴方向上的移动距离、以及所述显示面板的像素的尺寸和其排列形态有关的信息，求出被确定的缺陷像素在显示面板上的地址的步骤。
2.如权利要求1所述的缺陷像素地址检测方法，还包括以下步骤(e)被放置于检查部的显示面板为新品种面板时，使用所述拍摄装置求出所述显示面 板的X、Y轴方向与所述拍摄装置的X、Y轴方向的坐标轴的偏移量，并对其进行存储的校准 步骤；(f)对于与所述新品种同一品种的显示面板，根据所述坐标轴的偏移量，对所述(d)的 步骤中的所述拍摄装置的相对于原点在X、Y轴方向上的移动距离进行校正的步骤。
3.如权利要求2所述的缺陷像素地址检测方法，还包括以下步骤(g)在发现了缺陷像素时，使用所述拍摄装置求出进行了所述(e)的校准步骤时的显 示面板的X轴和/或Y轴与此次显示面板的X轴和/或Y轴的偏移量作为面板倾斜校正量 的倾斜校正步骤，(h)根据所求出的面板倾斜校正量对在所述校准步骤得到的坐标轴的偏移量进行校正 的步骤。
4.如权利要求1 3中任意一项所述的缺陷像素地址检测方法，其特征在于，还包括以 下步骤(i)根据在图像上被确定的缺陷像素的周围像素的颜色对所述缺陷像素的颜色进行辨 别的步骤；(j)对被辨别的所述缺陷像素的颜色和所述显示面板的在所述(d)的步骤求出的地址 的像素的颜色进行比较的步骤；(k)颜色校验步骤，在两颜色一致的情况下，将所述地址作为所求的地址，在两颜色不 一致的情况下，将所述显示面板中最接近该地址、且与被辨别的缺陷像素的颜色相同的像 素的地址作为求出的地址。
5.如权利要求4所述的缺陷像素地址检测方法，其特征在于，还包括以下步骤(1)在发现了缺陷像素时，使所述拍摄装置移动，对与缺陷像素相同的X轴和/或Y轴 坐标上的显示面板的像素矩阵的边部附近进行拍摄，求出所述边部附近的像素相对于所述 拍摄装置的X轴和/或Y轴原点的位移方向和/或位移量的步骤；(m)在所述(d)或者(k)的步骤中求取缺陷像素的地址时，加入考虑所求出的位移方向 和/或位移量的位移校正步骤。
6.如权利要求4所述的缺陷像素地址检测方法，其特征在于，还包括以下步骤(η)对于同一显示面板，将在所述(d)步骤对前一个缺陷像素求出的缺陷像素地址和 通过上述(k)的颜色校验步骤求出的缺陷像素地址的地址差进行存储的步骤；(ο)根据所述被存储的地址差，对在上述(d)步骤就后续的缺陷像素求出的缺陷像素 地址进行校正的地址校正步骤。
7.如权利要求5所述的缺陷像素地址检测方法，其特征在于，还包括以下步骤(P)对于同一显示面板，将在所述(d)步骤对前一个缺陷像素求出的缺陷像素地址和 通过上述(m)的位移校正步骤求出的缺陷像素地址的地址差进行存储的步骤；(q)根据所述被存储的地址差，对在上述(d)步骤就后续的缺陷像素求出的缺陷像素 地址进行校正的地址校正步骤。
8.一种缺陷像素地址检测装置，其特征在于，包括检查部，至少具有放置台和探测单 元，能够使作为检查对象的显示面板点亮；拍摄装置，能够相对于被放置在检查部上的显示 面板在X、Y轴方向上移动；测量装置，对所述拍摄装置的Χ、Υ轴方向的移动距离进行测量； 显示装置，显示被所述拍摄装置拍摄的图像；存储装置，对与作为检查对象的所述显示面板 的像素的尺寸和其排列形态有关的信息进行存储；地址运算装置，其被程序化，若被显示于 所述显示装置上的图像上缺陷像素的位置被确定，则根据所述缺陷像素在所述图像上的位 置和此时的所述拍摄装置的X、Y轴方向的移动距离、以及与存储于所述存储装置中的所述 显示面板的像素的尺寸和其排列形态有关的信息，求出所述显示面板中缺陷像素的地址。
9.如权利要求8所述的缺陷像素地址检测装置，其特征在于，包括存储装置，其存储 使所述拍摄装置移动对被放置在检查部上的显示面板进行拍摄所得到的所述显示面板的 X、Y轴方向和所述拍摄装置的X、Y轴方向的坐标轴的偏移量；校准装置，其被程序化，以便 根据被存储的所述坐标轴的偏移量对从原点到缺陷像素为止的所述拍摄装置的X、Y轴方 向的移动距离进行校正。
10.如权利要求9所述的缺陷像素地址检测装置，其特征在于，包括运算装置，其求 出使所述拍摄装置移动对放置在检查部上的显示面板进行拍摄所得到的所述显示面板的X 轴和/或Y轴方向和进行了校准步骤时的显示面板的X轴和/或Y轴的偏移量作为面板倾 斜校正量；倾斜校正装置，其被程序化，以便根据所述被求出的面板倾斜校正量对被放置在 检查部上的所述显示面板的X、Y坐标轴的偏移量进行校正。
11.如权利要求8 10中任意一项所述的缺陷像素地址检测装置，其特征在于，所述拍 摄装置是能够识别像素的颜色的彩色拍摄装置，所述缺陷像素地址检测装置包括颜色辨 别装置，若被显示于所述显示装置上的图像上缺陷像素的位置被确定，则根据其周围像素 的颜色辨别所述缺陷像素的颜色；颜色比较装置，对所述被辨别的颜色和所述显示面板的 与所求出的缺陷像素的地址对应的像素的颜色进行比较；颜色校验装置，在两颜色一致的 情况下，将所述被求出的地址作为所求的缺陷像素的地址，在两颜色不一致的情况下，选择 与所述被求出的地址最接近、且与所述被辨别的缺陷像素的颜色相同的像素的地址，并将 其作为所求的缺陷像素的地址。
12.如权利要求11所述的缺陷像素地址检测装置，其特征在于，包括位移测量装置， 在使所述拍摄装置移动对与缺陷像素相同的X轴和/或Y轴坐标上的显示面板的像素矩阵 的周边部进行了拍摄时，求出所述边部附近的像素相对于所述拍摄装置的X轴和/或Y轴 原点的位移方向和/或位移量；位移校正装置，根据所求出的位移方向和/或位移量变更或 者决定所述地址运算装置和/或颜色校正装置所输出的缺陷像素地址。
13.如权利要求11所述的缺陷像素地址检测装置，其特征在于，包括存储装置，对于同一显示面板，将通过地址运算装置对前一个缺陷像素求出的缺陷像素地址和通过所述颜 色校验装置求出的缺陷像素地址的地址差进行存储；地址校正装置，根据所述被存储的地 址差，校正通过地址运算装置对后续的缺陷像素求出的缺陷像素地址。
14.如权利要求12所述的缺陷像素地址检测装置，其特征在于，包括存储装置，对于 同一显示面板，将通过地址运算装置对前一个缺陷像素求出的缺陷像素地址和通过所述位 移校正装置求出的缺陷像素地址的地址差进行存储；地址校正装置，根据所述被存储的地 址差，校正通过地址运算装置对后续的缺陷像素求出的缺陷像素地址。
全文摘要
本发明的目的在于提供一种能以低价的手段高精度地检测缺陷像素的地址的缺陷像素检测方法和装置。其使用可以对作为检查对象的显示面板的一部分进行拍摄的、能够移动的拍摄装置，使该拍摄装置移动对被发现的缺陷像素进行拍摄，根据在被拍摄的图像上确定了缺陷像素的位置时的该拍摄装置的移动距离和与作为检查对象的显示面板的像素尺寸以及有关该排列形态的信息，来求出缺陷像素的地址。
文档编号G01R31/00GK101996543SQ20101026818
公开日2011年3月30日 申请日期2010年8月25日 优先权日2009年8月25日
发明者东保宏宣, 井元慎一郎, 安藤秀宪 申请人:日本麦可罗尼克斯股份有限公司