专利名称：可调节ccd光学检验装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检验仪器，特别是一种可调节CXD光学检验装置。
背景技术：
就目前技术而言，对复杂产品表面的图案和文字的检查校验工作主要依靠两种方式，一种是依靠人工检查的方法，靠人工检查，在处理大批量产品或产品需检查要素太多时一来容易造成视觉疲劳，二来工作强度大，由此极易造成错检漏检，检查时间长，耗费大量人力物力，检验效率低下；另一种是借助光学检验设备进行检查，效率高，错误率低，节省人力物力，但是传统的光学检验设备的装配位置都是固定的，无法调节检测设备的工作位置， 因此对物件的定位精度要求较高。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种可以调节CCD 摄像头工作位置的结构简单的C⑶光学检验装置。为解决上述技术问题，本实用新型提供一种可调节CXD光学检验装置，包括CXD摄像机，其特征在于，所述CCD摄像机与调节装置相连，所述调节装置包括固定导轨，活动导轨和滑块，所述活动导轨与固定导轨相连，所述滑块与活动导轨相连，所述CCD摄像机与滑块相连。调节装置用于调节CCD摄像机的空间位置，结构简单。所述固定导轨上设有辅助光源，所述辅助光源为环形辅助光源。环形辅助光源可以更好的为CCD摄像机提供辅助照明。所述活动导轨有两个，第一活动导轨和固定导轨连接，第二活动导轨和第一固定导轨连接，滑块与第二活动导轨连接。两个活动导轨的结构可以使C⑶摄像机在空间内上下左右任意调节。本实用新型所达到的有益效果是可以任意调节工作位置，结构简单。

图1为本实用新型的正面结构示意图；图2为本实用新型的侧面结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步的说明。如图1、图2所示，CXD摄像机1与调节装置相连，调节装置包括固定导轨2，活动导轨和滑块3，活动导轨有两个，第一活动导轨4与固定导轨2相连，可以沿固定导轨2在水平方向前后移动，第二活动导轨5与第一活动导轨4相连，可以沿第一活动4导轨在垂直方向上下移动，滑块3与第二活动导轨5相连，可以沿第二活动导轨5在水平方向左右移动，CXD摄像机1与滑块3通过紧固件相连。环形辅助光源6设置在固定导轨2外侧，通过连接件与固定导轨2相连，为CCD摄像机1提供辅助光源，以确保拍摄效果。本实用新型的位置调节过程如下1、先调节第二活动导轨，在垂直方向上调节CXD摄像机位置，确定CXD摄像机高度；2、分别调节第一活动导轨和滑块，在水平方向调节CCD摄像机位置，使其可以准确拍摄到待测物件；3、使用CXD摄像机进行拍摄检验。本实用新型主要用于对物件表面的文字或图案进行检验，可以根据需要调节CCD 摄像头工作位置，结构简单。以上实施例不以任何方式限定本实用新型，凡是对以上实施例以等效变换方式做出的其它改进与应用，都属于本实用新型的保护范围。
权利要求1.可调节CXD光学检验装置，包括CXD摄像机(1)，其特征在于所述CXD摄像机(1)与调节装置相连，所述调节装置包括固定导轨(2)，活动导轨和滑块(3)，所述活动导轨与固定导轨(2)相连，所述滑块(3)与活动导轨相连，所述CXD摄像机(1)与滑块(3)相连。
2.根据权利要求1所述的可调节CCD光学检验装置，其特征在于，所述固定导轨(2)上设有辅助光源(6)，所述辅助光源(6)为环形辅助光源。
3.根据权利要求2所述的可调节CCD光学检验装置，其特征在于，所述活动导轨有两个，第一活动导轨(4)和固定导轨(2)连接，第二活动导轨(5)和第一固定导轨(4)连接，滑块(3)与第二活动导轨(5)连接。
专利摘要本实用新型公开了一种可调节CCD光学检验装置，包括CCD摄像机，其特征在于，CCD摄像机与调节装置相连，调节装置包括固定导轨，活动导轨和滑块，活动导轨与固定导轨相连，滑块与活动导轨相连，CCD摄像机与滑块相连。本实用新型可以根据实际情况的需要调节CCD摄像头工作位置且结构简单。
文档编号G01N21/956GK202101947SQ20112013432
公开日2012年1月4日 申请日期2011年5月2日 优先权日2011年5月2日
发明者沈皓然 申请人:苏州工业园区高登威科技有限公司