专利名称：使用电子尺配合电子量测仪测量的方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明主要涉及一种借助在计算机主机上运行的电子尺(计算机程序)配合电子量测仪进行精确测量的方法和装置。
背景技术：
目前，大多数现有的电子量测仪都没有提供相应的尺寸测量功能，而在很多应用场合中却往往需要进行精确的尺寸测量，例如，电路板检验人员使用电子量测仪(如电子显微镜)观察PCB等电路板上的焊点或出现的裂缝时，经常要求测量其精确的尺寸大小，以进一步分析确定该产品是否合格。因此，现有的作法通常是使用直尺在计算机屏幕上测量出焊点或裂缝的尺寸，但这种方法所测得的尺寸误差大，而且还要对测得的尺寸进行复杂的比例换算，这对PCB作不良点分析和金相分析都是极为不便的。
因而，需要开发一种可以借助计算机程序配合电子量测仪进行精确测量的方法和装置，以期可以方便、精确地测量出PCB等电路板上焊点或裂缝等实际尺寸，从而对PCB进行可靠的不良点分析和金相分析，提高电路板的表面贴装质量。

发明内容
针对以上所述的现有的电子量测仪所存在的缺陷以及需求，本发明提供了一种结合计算机程序(电子尺)配合电子量测仪测量的方法和装置。
本发明采取以下技术方案本发明所述的装置由以下几个部分组成一电子计算机系统，其包括计算机主机和显示荧幕，该计算机主机内具有一专门的接收图象信号的界面卡卡；一计算机可执行程序，其存储于上述计算机主机存储器内，用于直接测量计算机荧幕上所显示图象之尺寸；一电子量测仪控制器，其信号输出端接入上述电子计算机主机板上的界面卡；一电子量测仪，其输出端于上述控制器输入端相连，用来观察待测物并将图象信号输出至上述控制器。
本发明所采用的测量方法包括以下步骤将待测物置入电子量测仪上适当之测量位置；旋转上述电子量测仪镜头调节旋钮以及倍数调整旋钮，选择一合适放大倍数，使得待测物以适当大小清晰的显示在镜头视野之中；电子量测仪通过其信号线将待测物之图象信号，传输至控制器，并经该控制器传输至计算机主机内，显示在计算机荧幕上；所述计算机主机内存储有一计算机可执行程序；开启运行上述计算机可执行程序，使电子尺显示于计算机荧幕上；改变电子尺与待侧物图象之间的相对距离至一较佳的待测位置，即可直接测量读出该待测物之实际尺寸。
因此，藉由本发明之方法和装置，可以根据具体需要来改变电子尺长度以及刻度，方便、准确地获得待侧物的实际尺寸大小，无需任何转换和计算。


以下将结合附图和具体实施方式
对本发明之技术方案作进一步详细描述。
图1是本发明的系统功能方框构成图。
图2是本发明之计算机可执行程序电子尺运行时显示之主界面(横向电子尺部分)。
图3是本发明之计算机可执行程序电子尺之纵向电子尺图示。
图4是本发明一测量实施例中计算机荧幕所显示的待测之电路板焊点图像。
图5是本发明一测量实施例中运用横向电子尺测量焊点横向尺寸之图示。
图6是本发明一测量实施例中运用纵向电子尺测量焊点纵向尺寸之图示。
具体实施例方式
本发明之装置包括一电子计算机系统、一存储于该计算机系统的可执行程序、一电子量测仪控制器以及一电子量测仪。
请参阅图1所示，表示了本发明的系统功能方框图，为便于阐明本发明之技术方案，于本具体实施例中，所述电子量测仪仅以电子显微镜为例，故本发明之装置包括一电子计算机系统1、一存储于该计算机系统1的可执行程序2、一电子显微镜控制器3以及一电子显微镜4。
所述电子计算机系统1其包括计算机主机和显示荧幕，用于接收、显示以及处理信息，在该计算机主机内具有一专门的接收图象信号的界面卡。
所述计算机可执行程2序存储于上述计算机系统1主机存储器内，用于直接测量计算机荧幕上所显示图象之尺寸。另请参阅图2，为该计算机可执行程序2运行时之电子尺主界面，其外形跟现有测量长度的直尺相似，其上具有参数设置选项，如电子尺放大倍数、英制或公制单位、是否显示纵向电子尺等选项；该电子尺具有与电子量测仪放大倍数相对应的放大倍数选项，于本实施例中，该电子尺倍数有250、500、1000、2000、2500等几种放大倍数可供选择，默认状态下为250倍；所述之电子尺其可测量之显示区域标准为当电子量测仪放大倍数为250倍时，该电子尺之测量范围为1.2mm。如图2、3所示，所述电子尺包括有横向电子尺210以及纵向电子尺220两部分，开启运行该计算机可执行程序2时，默认状态下该电子尺只显示测量横向尺寸的横向电子尺210都分，在电子尺主界面上，当选择纵向电子尺参数选项(本实施例中，标记为“H”之选项)的复选框时，该纵向电子尺220即可显示出来。另，该电子尺可选择英制或公制单位，默认状态为公制单位。
请再参阅图1，所述电子显微镜控2制器3，其信号输出端接入上述电子计算机系统1主机上的界面卡。调节该电子显微镜控制器3 可以改变待测物图象颜色、灰暗度等参数，使待测物清晰的显示在计算机荧幕之上。
所述电子显微镜4，其输出端与上述电子显微镜控制器3之输入端相连，用来观察待测物并将图象信号输出至上述电子显微镜控制器3。
以下通过测量电路板上焊点尺寸的实施例来说明本发明使用电子尺配合电子量测仪测量的方法及其装置之具体应用。
将待测量的电路板置入电子显微镜4上适当之测量位置，旋转该电子显微镜4镜头调节旋钮以及倍数调整旋钮，选择一合适放大倍数，使得电路板上的焊点以适当大小清晰的显示在镜头视野之中；该电子显微镜4通过其信号线将显示于其镜头内之焊点图象信号，传输至电子显微镜控制器3，并经该电子显微镜控制器3传输至计算机系统1主机内，显示在计算机荧幕上，可进一步调节该电子显微镜控制器3，改变待测物图象颜色、灰暗度等参数设置，使待测物更为清晰的显示，请参阅图4，为荧幕所显示的焊点图像图示，图中白色部分即为焊点。运行上述计算机可执行程序2，则横向电子尺210显示于计算机荧幕上；根据测量的要求，可在电子尺之运行主界面上改变电子尺放大倍数、英制或公制单位、是否显示纵向电子尺等参数设置，根据所选择的电子显微镜放大倍数，使该电子尺选择相应的放大倍数；如图5所示，改变电子尺(横向电子尺)与焊点之间的相对距离至一较佳的待测位置，即可直接测量读出焊点之实际横向尺寸；如需要测量该焊点之纵向尺寸，则在前一步骤中，选择显示纵向电子尺之复选框使纵向电子尺220显示出来，如图6所示，改变该纵向电子尺220与焊点之间的相对距离至一较佳的待测位置，即可直接测量读出焊点之实际纵向尺寸。
根据以上所述，采用本发明之技术方案，使用电子尺配合电子量测仪进行测量，可以根据具体需要来改变电子尺长度以及刻度，方便、准确地获得电路板上焊点、裂缝等实际尺寸大小，无需任何转换和计算。
上述所揭示的附图及具体实施方式
，仅为本发明的一较佳实施例而已，并非为限定本发明的实施范围；本技术领域的普通技术人员在依照本发明所阐述的技术特征方案，所作的其它等效变化或修饰，均应涵盖在本发明之权利要求范围内。
权利要求
1.一种使用电子尺配合电子量测仪测量的装置，其特征在于，该装置由以下几个部分组成一电子计算机系统，其包括计算机主机和显示荧幕，该计算机主机内具有一专门的接收图象信号的界面卡卡；一计算机可执行程序，其存储于上述计算机主机存储器内，用于直接测量计算机荧幕上所显示图象之尺寸；一电子量测仪控制器，其信号输出端接入上述电子计算机主机板上的界面卡；一电子量测仪，其输出端于上述控制器输入端相连，用来观察待测物并将图象信号输出至上述控制器。
2.一种使用电子尺配合电子量测仪测量的方法，包括以下步骤将待测物置入电子量测仪上适当之测量位置；旋转上述电子量测仪镜头调节旋钮以及倍数调整旋钮，选择一合适放大倍数，使得待测物以适当大小清晰的显示在镜头视野之中；电子量测仪通过其信号线将待测物之图象信号，传输至控制器，并经该控制器传输至计算机主机内，显示在计算机荧幕上；其特征在于，该方法还包括如下执行步骤所述计算机主机内存储有一计算机可执行程序；开启运行上述计算机可执行程序，使电子尺显示于计算机荧幕上；改变电子尺与待侧物图象之间的相对距离至一较佳的待测位置，即可直接测量读出该待测物之实际尺寸。
3.根据权利要求2所述之使用电子尺配合电子量测仪测量的方法，其特征在于，其还包括如下步骤调节电子量测仪控制器，改变待测物图象颜色等参数，使待测物清晰的显示于计算机荧幕之上。
4.根据权利要求2所述之使用电子尺配合电子量测仪测量的方法，其特征在于，测量待侧物时，可适当设置电子尺之各种参数。
5.根据权利要求2所述之使用电子尺配合电子量测仪测量的方法，其特征在于，所述之电子尺其可测量之显示区域标准为所述电子量测仪放大倍数为250倍时，其测量范围为1.2mm。
6.根据权利要求2所述之使用电子尺配合电子量测仪测量的方法，其特征在于，所述之电子尺包含横向电子尺以及纵向电子尺两部分。
5.根据权利要求2或6所述之使用电子尺配合电子量测仪测量的方法，其特征在于，开启计算机可执行程序时，电子尺默认状态下只显示测量横向尺寸的横向电子尺。
6.根据权利要求2所述之使用电子尺配合电子量测仪测量的方法，其特征在于，开启计算机可执行程序时，电子尺默认状态下为公制单位。
7.根据权利要求4所述之使用电子尺配合电子量测仪测量的方法，其特征在于，设置电子尺参数时，还包含一根据所选择的电子量测仪放大倍数，来设置该电子尺相应的放大倍数的步骤。
8.根据权利要求4所述之使用电子尺配合电子量测仪测量的方法，其特征在于，设置电子尺参数时，还包含一选择是否需要纵向电子尺的步骤。
全文摘要
本发明所述的装置由以下几个部分组成一电子计算机系统，其包括计算机主机和显示荧幕，该计算机主机内具有一专门的接收图象信号的界面卡卡；一计算机可执行程序，其存储于上述计算机主机存储器内，用于直接测量计算机荧幕上所显示图象之尺寸；一电子量测仪控制器，其信号输出端接入上述电子计算机主机板上的界面卡；一电子量测仪，其输出端于上述控制器输入端相连，用来观察待测物并将图象信号输出至上述控制器。藉由该装置，可以根据具体需要来改变电子尺长度以及刻度，方便、准确地获得待侧物的实际尺寸大小，无需任何转换和计算。
文档编号G01B21/02GK1515873SQ0311352
公开日2004年7月28日 申请日期2003年1月8日 优先权日2003年1月8日
发明者黄仁志 申请人:顺德市顺达电脑厂有限公司