专利名称：Pcb测试装置护板加工工艺的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种PCB测试装置护板加工工艺，适用于ICT在线测试仪装置、FCT功能测试装置等其它测试装置。
背景技术：
目前PCB测试装置中，如图l所示，护板针孔与测试针针杆间隙大，不能发挥引导、校正及保护测试针的作用；且"锡珠"、"助焊剂"等杂物容易从护板针孔间隙中掉落到测试针套管及装置植针板上，导致测试针短路或失去弹性，造成测试装置故障、縮短测试针使用寿命。因此，如何解决上述问题是本发明的研究对象。

发明内容
本发明的目的在于提供一种使护板发挥"保护、引导、校正"测试针定位，提高装置可靠性和使用寿命，确保装置测试定位精度的PCB测试装置护板加工工艺。
本发明的特征在于一种PCB测试装置护板加工工艺，其步骤如下
a.在面对植针板一侧的护板面上且对应于测试针位置上开设直径为D1，深度为H1的盲孔，且Dl >dl，hl <H1 〈h2，其中，dl为测试针针套直径，h2为护板厚度，hl为测试针针套安装高度。 b.在盲孔加工的护板反面对应位置上开设直径为D2，深度直达盲孔的通孔，且D1> D2 > d2，其中，d2为测试针针杆最大直径。 本发明的优点本发明满足测试针"针套、针杆"对护板针孔不同的孔径需要，使护板能有效保护测试针，引导、校正测试针定位，有效阻挡"锡珠"、"助焊剂"等杂物掉落到测试针针套及PCB测试装置植针板上。


图1为目前护板结构视图。 图2为本发明加工工艺下的护板与植针板之间的结构图。
图3本发明下的护板结构4本植针板结构图
其中1-护板，2-植针板，3-测试针针套，4-测试针针杆。
具体实施例方式
参考图2，图3和图4，一种PCB测试装置护板加工工艺，其步骤如下
a.在面对植针板2 —侧的护板1面上且对应于测试针4位置上开设直径为Dl，深度为Hl的盲孔，且Dl > dl， hi < Hl < h2，其中，dl为测试针针套3直径，h2为护板1厚度，hl为测试针针套3安装高度，Hl具体深度视装置针板"针套安装高度"公差选择。
b.在盲孔加工的护板1反面对应位置上开设直径为D2，深度直达盲孔的通孔，且Dl > D2 > d2，其中，d2为测试针针杆4最大直径，D2具体大小视安装配合需要选择。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
权利要求
一种PCB测试装置护板加工工艺，其步骤如下a.在面对植针板一侧的护板面上且对应于测试针位置上开设直径为D1，深度为H1的盲孔，且D1＞d1，h1＜H1＜h2，其中，d1为测试针针套直径，h2为护板厚度，h1为测试针针套安装高度。b.在盲孔加工的护板反面对应位置上开设直径为D2，深度直达盲孔的通孔，且D1＞D2＞d2，其中，d2为测试针针杆最大直径。
全文摘要
本发明涉及一种PCB测试装置护板加工工艺，其步骤如下a.在面对植针板一侧的护板面上且对应于测试针位置上开设直径为D1，深度为H1的盲孔，且D1＞d1，h1＜H1＜h2，其中，d1为测试针针套直径，h2为护板厚度，h1为测试针针套安装高度。b.在盲孔加工的护板反面对应位置上开设直径为D2，深度直达盲孔的通孔，且D1＞D2＞d2，其中，d2为测试针针杆最大直径。本发明满足测试针“针套、针杆”对护板针孔不同的孔径需要，使护板能有效保护测试针，引导、校正测试针定位，有效阻挡“锡珠”、“助焊剂”等杂物掉落到测试针针套及PCB测试装置植针板上。
文档编号G01R1/02GK101793913SQ201010160790
公开日2010年8月4日 申请日期2010年4月30日 优先权日2010年4月30日
发明者何志远, 沙立明, 陈元飞 申请人:福建捷联电子有限公司