专利名称：光盘厚度测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种厚度测量工具，具体涉及用于光盘厚度测量
背景技术：
在计算机科技曰新月异，不断进步的时代，许多计算机中的资料 在使用过程中或作业完成时，均需要将资料做存储，而存储计算机的
资料的方式，以前均使用1.44"或者3.5"的磁盘片来存储，但是磁 盘片有不易保存，容量有限的缺陷。较大容量的应用程序软件就需要 许多张磁盘来分开存储，成本高，存放的磁盘片制作要求高，成本大。 由于光盘(又称为碟片)可存入大量的资料或者多媒体内容，同时保 存也相对容易，所以近年来光盘生产业，用光盘来存储资料获得了较 大的发展。
由于光盘是一张直径约为120mm的薄圆盘，光盘厚度的均一性， 将影响到光驱或其他播放器能不能以正常的速度读取光盘并播放。为 了保证光盘的质量，所以质量检查时有必要精确测量光盘各点位的厚 度。现有的测量方法是使用游标卡尺手工测量光盘的厚度。该方法有 以下不足(l)用游标卡尺只能测量光盘最外圏的厚度，不能测量光 盘内部区域和中部区域的厚度，不能考察整个光盘厚度的均一性。(2)
由于光盘是一张薄圆盘，游标卡尺的卡口测量光盘碟片时，与光盘表 面接触点过多，不能精确表示光盘某个点的厚度，同时也不能测量光
3盘厚度的变化趋势。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种结构简单、坚固耐用、成本低 的光盘厚度测量仪，可以方便快速精确测量各种光盘的厚度，并且可 以随意调节测量点位。
为了达到上述目的，采用的技术方案是 一种光盘的厚度测量仪， 包括测量底座、测量臂和精密高度表，其特征在于所述测量底座呈 L形，光盘中心孔固定柱与所述测量底座水平端的端部固定连接，测 量臂的一端置于所述测量底座垂直端的水平向孔中，并可前后移动调 节，所述测量臂的另一端与垂直向的精密高度表固定连接。
本实用新型光盘厚度测量仪具有下列优点结构简单、操作非常 方便，测量员只需将待测量光盘中心孔套在固定柱上，然后即可通过 旋转光盘和前后移动调节所述测量臂，测量各个点位的光盘厚度；测 得的厚度读数直接显示在精密高度表的数字显示屏上，操作读数都很 方便，工作效率高。

图1为本实用新型使用状态结构示意图2为图1的A向结构示意图。
图中，l一光盘；2—光盘中心孔固定柱；3—测量底座；4—孔； 5—测量臂；6 —高度表。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步说明。由图1、 2可见， 一种光盘的厚度测量仪，包括测量底座3、测
量臂5和精密高度表6，其特征在于所述测量底座3呈L形，光盘 中心孔固定柱2与所述测量底座3水平端的端部固定连接，测量臂5 的一端置于所述测量底座3垂直端的水平向孔4中，并可前后移动调 节，所述测量臂5的另一端与垂直向的精密高度表6固定连接。
使用时测试人员打开精密高度表6电源开关，确认精密高度表 6的探头轻压在测量底座3的上表面上后，按零设置零位。将待测厚 度的光盘1套在光盘中心孔固定柱2上，精密高度表6的探头压在光 盘1表面，这时读得的精密高度表6的数值即为在精密高度表6探头 处光盘l的厚度值。然后，可通过旋转光盘l，测量在高度表6的探 头所在半径上，该光盘l各个点位的厚度值。或通过调节测量臂5伸 出长度，测量不同半径上光盘l的厚度值。
本光盘厚度测量仪也适用于不同类型的光盘，只需调节测量臂5 的长度即可。
本实用新型为不锈钢材质经精密加工而成，纯机械结构，成本低、 维护保养简单，而且坚固耐用、不易损坏。质量监控人员可方便快速 确认光盘的厚度分布，从而可根据测量结果迅速调节设备的运行状 态。
权利要求1.光盘厚度测量仪，包括测量底座(3)、测量臂(5)和精密高度表(6)，其特征在于所述测量底座(3)呈L形，光盘中心孔固定柱(2)与所述测量底座(3)水平端的端部固定连接，所述测量臂(5)的一端置于所述测量底座(3)垂直端的水平向孔(4)中，并可前后移动调节，所述测量臂(5)的另一端与垂直向的精密高度表(6)固定连接。
专利摘要一种光盘厚度测量仪，包括的测量底座、测量臂和精密高度表，其特征在于所述测量底座呈L形，光盘中心固定柱与所述测量底座水平端的端部固定连接，测量臂的一端置于所述测量底座垂直端的水平向孔中，并可前后移动调节，所述测量臂另一端与垂直向的精密高度表固定连接。本实用新型优点是结构简单、操作非常方便，测量员只需将待测量光盘中心孔套在固定柱上，然后即可通过旋转光盘或前后移动调节所述测量臂，测量光盘的各个点位的厚度，测得的厚度读数直接显示在精密高度表的数字显示屏上，操作读数都很方便，工作效率高。本实用新型纯机械结构，成本低、维护保养简单，而且坚固耐用。
文档编号G01B7/06GK201413120SQ20092007329
公开日2010年2月24日 申请日期2009年6月2日 优先权日2009年6月2日
发明者强 丁, 朱磊磊 申请人:上海新索音乐有限公司