专利名称：一种光谱分析样品的定位装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及光谱分析设备上固定试样或样品的装置领域，更具体的说，改进涉及的是一种光谱分析样品的定位装置。
背景技术：
利用光谱学的原理和实验方法以确定物质的结构和化学成分的分析方法称为光谱分析法。各种结构的物质都具有自己的特征光谱，光谱分析法就是利用特征光谱研究物质结构或测定化学成分的方法。具体的技术手段可采用光谱分析仪对取样样品的某一个分析面的几个点进行分析；因此，在试样上选择合适的几个点进行分析就显得非常关键。以焊料行业的材料光谱分析为例，同大多数行业的材料光谱分析一样，现有的光谱分析样品大都仍为实心的圆柱形结构，通常只可选择圆柱面与上端面相交的棱边上的几个点进行材料的光谱分析。但是，不管是辉光质谱仪，还是火花直读光谱仪，由于作为阴极的试样，与作为阳极的铜管或铜棒是相向放置，两个电极之间存在微小的距离，在分析时，试样的待分析面与阳极接触，操作人员无法准确观察并设置激发点的准确位置。因此，现有技术尚有待改进和发展。

实用新型内容本实用新型的目的在于，提供一种光谱分析样品的定位装置，可提高试样或样品的定位准确性，缩短分析面的取样过程时间。本实用新型的技术方案如下一种光谱分析样品的定位装置，用在光谱分析仪的工作台上；其中包括一定位板；在定位板上设置有缺口 ；缺口的侧面为平面。所述的光谱分析样品的定位装置，其中缺口的形状呈V字形。所述的光谱分析样品的定位装置，其中定位板的形状设置为方形；V字形缺口的两边相对方形定位板的中轴线对称设置。所述的光谱分析样品的定位装置，其中v字形缺口两边的夹角设置为直角。所述的光谱分析样品的定位装置，其中缺口的侧面垂直光谱分析仪的工作台表面设置。所述的光谱分析样品的定位装置，其中定位板的上表面设置有三角形的凸台； 三角形凸台的一个尖角指向缺口的边缘处。本实用新型所提供的一种光谱分析样品的定位装置，由于采用了在定位板上设置有缺口，通过缺口的侧平面定位在分析面的圆形外壁上，由此在分析时，配合试样的待分析面的圆形棱边与阳极的圆锥形锥面接触相接触，从而不需要操作人员准确观察并设置激发点的准确位置，提高了试样或样品的定位准确性，也缩短了分析面的取样过程时间。
图1是本实用新型光谱分析样品的定位装置俯视图。图2是本实用新型光谱分析样品在分析状态下的半剖视图。
具体实施方式
以下将结合附图，对本实用新型的具体实施方式
和实施例加以详细说明，所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并非用于限定本实用新型的具体实施方式
。本实用新型的一种光谱分析样品的定位装置，可用在辉光质谱仪、火花直读光谱仪、激光烧蚀ICP光谱仪等光谱分析仪的工作台上；其具体实施方式
之一，包括一定位板 100 ；在定位板100上设置有缺口 120 ；缺口 120的侧面为平面。以直读光谱仪和圆柱形的光谱分析试样或样品为例，如图ι所示，双点化线部分作为待分析面，可以是图2中光谱分析试样或样品200的上端面210，(图1中)定位板100上的缺口 120适配在光谱分析样品 200的圆柱外壁220上，缺口 120的侧平面与分析面的圆形外壁220相接触；在分析时，如图2所示，直读光谱仪上的阳极300，以圆锥形的锥面320接触在光谱分析样品200的圆形棱边上。与现有技术中光谱分析样品的定位装置相比，本实用新型所提供的一种光谱分析样品的定位装置，由于采用了在定位板100上设置有缺口 120，通过缺口 120的侧平面定位在分析面的圆形外壁220上，由此在分析时，配合试样的待分析面的圆形棱边与阳极300的圆锥形锥面320接触相接触，从而不需要操作人员准确观察并设置激发点的准确位置，提高了试样或样品的定位准确性，也缩短了分析面的取样过程时间。在本实用新型光谱分析样品定位装置的优选实施方式中，如图1所示，缺口 120的形状可设置呈V字形。由此可利用V形的两个侧平面(即缺口 120)对圆柱形的光谱分析样品200进行准确定位。具体的，如图1所示，定位板100的形状设置为方形；V字形缺口 120的两边可相对方形定位板100的中轴线110对称设置。优选地，V字形缺口 120两边的夹角可设置为直角。由此，可利用简单的三角几何原理，对分析面上的取样分析点进行简单的数学计算， 以此进一步分析分析点处的材料缺陷是否具有代表性和较高的重现性。进一步地，如图1所示，定位板100的上表面设置有三角形的凸台130 ；三角形凸台130的一个尖角指向缺口 120的边缘处。以利于从分析面的圆形棱边上取样不同的分析点进行光谱分析，通过获得其算数平均值来提高材料光谱分析的准确性。应当理解的是，以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不足以限制本实用新型的技术方案，对本领域普通技术人员来说，在本实用新型的精神和原则之内，可以根据上述说明加以增减、替换、变换或改进，而所有这些增减、替换、变换或改进后的技术方案，都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。
权利要求1.一种光谱分析样品的定位装置，用在光谱分析仪的工作台上；其特征在于包括一定位板；在定位板上设置有缺口 ；缺口的侧面为平面。
2.根据权利要求1所述的光谱分析样品的定位装置，其特征在于缺口的形状呈V字形。
3.根据权利要求2所述的光谱分析样品的定位装置，其特征在于定位板的形状设置为方形；V字形缺口的两边相对方形定位板的中轴线对称设置。
4.根据权利要求2所述的光谱分析样品的定位装置，其特征在于V字形缺口两边的夹角设置为直角。
5.根据权利要求1所述的光谱分析样品的定位装置，其特征在于缺口的侧面垂直光谱分析仪的工作台表面设置。
6.根据权利要求1所述的光谱分析样品的定位装置，其特征在于定位板的上表面设置有三角形的凸台；三角形凸台的一个尖角指向缺口的边缘处。
专利摘要本实用新型公开了一种光谱分析样品的定位装置，用在光谱分析仪的工作台上；其中包括一定位板；在定位板上设置有缺口；缺口的侧面为平面。由于采用了在定位板上设置有缺口，通过缺口的侧平面定位在分析面的圆形外壁上，由此在分析时，配合试样的待分析面的圆形棱边与阳极的圆锥形锥面接触相接触，从而不需要操作人员准确观察并设置激发点的准确位置，提高了试样或样品的定位准确性，也缩短了分析面的取样过程时间。
文档编号G01N21/01GK201935864SQ201120024000
公开日2011年8月17日 申请日期2011年1月25日 优先权日2011年1月25日
发明者刘剑波, 徐金华, 陈爽, 陈 胜, 马鑫 申请人:东莞市亿铖达焊锡制造有限公司