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光滑极限量规公差标定系统及其使用方法

时间:2025-06-16    作者: 管理员

专利名称:光滑极限量规公差标定系统及其使用方法
技术领域
本发明涉及工业产品制造设计技术领域,具体是一光滑极限量规公差标定系统。
背景技术
光滑极限量规的设计过程是先要根据需要,设计零件的尺寸和允许误差尺寸,也就是查零件非标准公差等级表,得到零件的公差等级,利用该公差等级,查孔用塞规公差表或轴用卡规公差表,利用里面的公式和设定数据,求得塞规公差结果或卡规公差结果。整个过程都是人工完成,在实际使用过程中,查表计算的工作量都非常大,查表跳行成为常事,人工操作很容易出现错误。这就需要他人进行检验,但即使两人以上的检验, 也无法保证得出的公差结果没有错误。现有技术的缺点是在光滑极限量规的设计过程中,完全依靠人工进行查表计算, 算得公差结果,设计人员查表计算的工作量太大,且无法保证算得的公差结果一定准确。

发明内容
本发明的目的是要提供一种光滑极限量规公差标定系统及其使用方法,能够帮助计人员从繁重的查表计算中解脱出来,提高设计人员的工作效率,更能保证所标定的公差结果的准确性。本发明的技术方案如下一种光滑极限量规公差标定系统,其关键在于设置有输入/输出设备,该输入/输出设备双向连接有中央处理器,该中央处理器双向连接有零件非标准公差等级库,中央处理器还双向连接有孔用塞规公差库,中央处理器还双向连接有轴用卡规公差库,其中,所述输入/输出设备,用于输入基础数据给所述中央处理器,输出中央处理器给出的公差结果;其中输入设备为键盘鼠标,输出设备为显示器。显示器上显示出对话框,只需设计零件的类型是孔用塞规还是轴用卡规、输入零件的基本尺寸D、上偏差ES和下偏差EI给中央处理器。根据基本尺寸D、上偏差ES和下偏差EI,中央处理器首先通过零件非标准公差等级库内的零件非标准公差等级表,确定零件的尺寸公差等级。所述中央处理器,用于控制零件非标准公差等级库、孔用塞规公差库和轴用卡规公差库;所述零件非标准公差等级库,用于识别基础数据的公差等级;所述孔用塞规公差库,用于存储孔用塞规公差表;所述轴用卡规公差库,用于存储轴用卡规公差表。所述零件非标准公差等级库内设置有零件非标准公差等级表。中央处理器根据尺寸公差等级,在孔用塞规公差表或轴用卡规公差表中找到,对应的计算公式,将基本尺寸D、上偏差ES和下偏差EI赋值入公式,就可以获得公差结果,实现对零件设计尺寸的标定。所述中央处理器内设置有运算器,该运算器根据所述孔用塞规公差库或轴用卡规公差库内的运算公式,结合所述公差等级和基础数据,获得所述公差结果。所述孔用塞规公差库内设置有塞规运算器,该塞规运算器根据所述孔用塞规公差库内的运算公式,结合所述公差等级和基础数据,获得塞规公差结果,并输送给所述中央处理器。所述轴用卡规公差库内设置有卡规运算器,该卡规运算器根据所述轴用卡规公差库内的运算公式,结合所述公差等级和基础数据,获得卡规公差结果,并输送给所述中央处理器。一种权1所述光滑极限量规公差标定系统的使用方法,其关键在于步骤一、经输入/输出设备输入已知条件产品的基本尺寸及产品标准公差或ES、 EI ;步骤二、启动中央处理器,中央处理器根据输入的已知条件在零件非标准公差等级库中找到相应的公差等级;步骤三、经输入/输出设备设定轴用卡规或孔用塞规;步骤四、利用中央处理器根据公差等级,从轴用卡规公差库或孔用塞规公差库中提取公差等级作对应的数据;步骤五、激活运算器,利用卡规运算器或塞规运算器求出需要的数据,完成光滑极限量规的设计计算,并由输入/输出设备(1)显示出所需要的设计计算数据dT、DT、dz、Dz、
dg、Dg λ dj、Dj ο本发明的有益效果是提供一种光滑极限量规公差标定系统及其使用方法,能够帮助计人员从繁重的查表计算中解脱出来,提高了设计人员的工作效率,更能保证所标定的公差结果的准确性。


图1是实施例1的结构图;图2是实施例2的结构图;图3是零件非标准公差等级表图4是孔用塞规公差表的结构图;图5是轴用卡规公差表的结构图。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明如图1所示实施例1:一种光滑极限量规公差标定系统,设置有输入/输出设备1,该输入/输出设备1 双向连接有中央处理器2,该中央处理器2双向连接有零件非标准公差等级库3,中央处理器2还双向连接有孔用塞规公差库4,中央处理器2还双向连接有轴用卡规公差库5,其中,所述输入/输出设备1,用于输入基础数据给所述中央处理器2,输出中央处理器 2给出的公差结果;
其中输入设备为键盘鼠标,输出设备为显示器。显示器上显示出对话框,只需设计零件的类型是孔用塞规还是轴用卡规、输入零件的基本尺寸D、上偏差ES和下偏差EI给中央处理器2。根据基本尺寸D、上偏差ES和下偏差EI,中央处理器2首先通过零件非标准公差等级库3内的零件非标准公差等级表,确定零件的尺寸公差等级。所述中央处理器2,用于控制零件非标准公差等级库3、孔用塞规公差库4和轴用卡规公差库5 ;所述零件非标准公差等级库3,用于识别基础数据的公差等级;所述孔用塞规公差库4,用于存储孔用塞规公差表;所述轴用卡规公差库5,用于存储轴用卡规公差表。所述零件非标准公差等级库3内设置有零件非标准公差等级表。中央处理器2根据尺寸公差等级,在孔用塞规公差表或轴用卡规公差表中找到, 对应的计算公式,将基本尺寸D、上偏差ES和下偏差EI赋值入公式,就可以获得公差结果, 实现对零件设计尺寸的标定。所述中央处理器2内设置有运算器6,该运算器6根据所述孔用塞规公差库4或轴用卡规公差库5内的运算公式,结合所述公差等级和基础数据,获得所述公差结果。实施例2 如图2所示本实施例2与实施例1结构一致,其区别是运算器是安装在孔用塞规公差库4和轴用卡规公差库5中,而不是在中央处理器2内,具体结构如下所述孔用塞规公差库4内设置有塞规运算器6’,该塞规运算器6’根据所述孔用塞规公差库4内的运算公式,结合所述公差等级和基础数据,获得塞规公差结果,并输送给所述中央处理器2。所述轴用卡规公差库5内设置有卡规运算器6”,该卡规运算器6”根据所述轴用卡规公差库5内的运算公式,结合所述公差等级和基础数据,获得卡规公差结果,并输送给所述中央处理器2。所述光滑极限量规公差标定系统的使用方法如下步骤一、经输入/输出设备1输入已知条件产品的基本尺寸及产品标准公差或 ES、EI ;步骤二、启动中央处理器2,中央处理器2根据输入的已知条件在零件非标准公差等级库3中找到相应的公差等级;步骤三、经输入/输出设备1设定轴用卡规或孔用塞规;步骤四、利用中央处理器2根据公差等级,从轴用卡规公差库5或孔用塞规公差库 4中提取公差等级作对应的数据;步骤五、激活运算器6,利用卡规运算器或塞规运算器求出需要的数据,完成光滑极限量规的设计计算,并由输入/输出设备1显示出所需要的设计计算数据dT、DT、dz、Dz、
dg、Dg λ dj、Dj ο本发明的工作原理如下光滑极限量规工作尺寸计算公式已知D、ES、EI
孔用量规(塞规)计算公式轴用量规(卡规)计算公式dt = (D+EI+I\)_TDt = (D+ES_I\)+τdz=(D+ES)_TDz = (D+EI)+Tdg = D+EI+T2Dg = D+ES-T2Clj = D+EI Dj = D+ES这些公式都存储在孔用塞规公差表和轴用卡规公差表中,使用时,将公式交运算器完成计算。D——基本尺寸ES——上偏差EI——下偏差T——工作量规尺寸公差,查表计算得到。T1——量规允许磨损量,查表计算得到。T2——检验量规允许磨损量,查表计算得到。dT、DT——工作量规轴用或孔用通端尺寸dz、Dz——工作量规轴用或孔用止端尺寸dg、Dg——工作量规轴用或孔用磨损极限dj, Dj——检验量规轴用或孔用磨损极限系统可采用EXCEL完成,借用EXCEL强大的计算功能、逻辑判断及数据库功能,来达到我们的预期目的。数据库的分析与建立从轴用卡规公差表、孔用塞规公差表的数据规律分析得Τ1、Τ、Τ2这三种数据在两张表中的关系是互为相反数,这样在数据库建立时就可以只用其中一张表,利用相反数性质进行相应计算就能达到塞规及卡规的设计计算,获得另外一张表,降低建立数据库时的数据录入量。输入已知条件产品的基本尺寸及产品公差,这时产品公差原始输入有两种形式 一种是标准公差,即给定公差代号及公差等级,可通过查阅标准公差等级及和轴孔极限偏差表,标准号GB/T1800. 2-2009,也可借用CAXA的尺寸标注项的高级选项,输入基本尺寸及公差等级代号及公差等级直接查询基本偏差,即将用到的ES、EI ;另一种是直接给出的我们的ES、EI。无论哪一种输入形式,都必须要得到ES、EI,而有了基本尺寸及ES、EI,就可能从零件非标准公差等级的确定表中得到差等级,于是选择只输入基本尺寸及ES、EI的形式, 通过EXCEL的IF语句在零件非标准公差等级的确定表中找到相应的公差等级,然后通过基本尺寸、公差等级在选定的轴用卡规公差表、孔用塞规公差表中任意一张即可,在这里选择孔用塞规公差表及零件非标准公差等级的确定表来建立数据库。从数据库中查找光滑极限量规设计计算需要的数据并从中取出数据,参与设计计算通过输入的基本尺寸、ES、EI,利用EXCEL的IF语句来对需要的数据进行单元格选定,然后从选定的单元格中取出需要的数据并按要求进行计算,得到需要的数据,完成光滑极限量规的设计计算,并在规定的单元格内显示得到的设计计算数据dT、DT、dz、Dz、dg、Dg、dj、Dj°注这里输出的数据形式有两种,即只要输入了基本尺寸、ES、EI,都会得到孔用量规、轴用卡规的设计尺寸,但在设计前就已经确定了设计的是孔用或是轴用,这时只需取出需要的相应数据即可。对于产品精度高于IT6级及低于IT13级的产品,高于IT6级不适合用光滑极限量规进行测量,故在这种情况下输出为出错信息,对于低于IT13级的产品,我们根据设计要求,采用了低于IT13级的产品按IT13级执行,故我们在没有出错信息出现的情况下,有数据显示时得到的数据就是我们需要的设计计算数据。孔用量规(塞规)设计举例已知测时孔尺寸Φ25+αι艮P :D = 25,ES = +0. 1,EI = 0查零件非标准公差等级的确定表得该零件孔的尺寸公差等级为ITlO级根据公称尺寸D = 25、公差等级ITlO查孔用塞规公差表得T1 = +0. 0015,T = -0. 0050,T2 = +0. 0023dT = (D+EI+I\)_T = (25+0+0. 0115)_0 0050 = 25. 0115_0 0050dz = (D+ES)_T = (25+0)_0.0050 = (25. 1)_0.0050dg = D+EI+T2 = 25+0+0. 0023 = 25. 0023Clj = D+EI = 25+0 = 25轴用量规(卡规)设计举例已知测时轴尺寸Φ25_。.25即D = 25,ES = 0,EI = -0. 25查零件非标准公差等级的确定表得该零件轴的尺寸公差等级为IT12级根据公称尺寸D = 25、公差等级IT12查轴用卡规公差表得T1 = -0. 0220,T = +0. 0080,T2 = —0. 0045Dt = (D+ES+Ti)+τ = (25+0-0. 0220)+0.0080 = 24. 978+0 0_Dz = (D+EI)+T = (25-0. 25)+0.0080 = 24. 75+0._Dg = D+ES+T2 = 25+0-0. 0045 = 24. 9955Dj = D+ES = 25+0 = 25。
权利要求
1.一种光滑极限量规公差标定系统,其特征在于设置有输入/输出设备(1),该输入 /输出设备(1)双向连接有中央处理器(2),该中央处理器(2)双向连接有零件非标准公差等级库(3),中央处理器(2)还双向连接有孔用塞规公差库(4),中央处理器(2)还双向连接有轴用卡规公差库(5),其中,所述输入/输出设备(1),用于输入基础数据给所述中央处理器(2),输出中央处理器 (2)给出的公差结果;所述中央处理器(2),用于控制零件非标准公差等级库(3)、孔用塞规公差库(4)和轴用卡规公差库(5);所述零件非标准公差等级库(3),用于识别基础数据的公差等级; 所述孔用塞规公差库(4),用于存储孔用塞规公差表; 所述轴用卡规公差库(5),用于存储轴用卡规公差表。
2.根据权利要求1所述的光滑极限量规公差标定系统,其特征在于所述零件非标准公差等级库(3)内设置有零件非标准公差等级表。
3.根据权利要求1所述的光滑极限量规公差标定系统,其特征在于所述中央处理器 (2)内设置有运算器(6),该运算器(6)根据所述孔用塞规公差库(4)或轴用卡规公差库 (5)内的运算公式,结合所述公差等级和基础数据,获得所述公差结果。
4.根据权利要求1所述的光滑极限量规公差标定系统,其特征在于所述孔用塞规公差库(4)内设置有塞规运算器(6’),该塞规运算器(6’ )根据所述孔用塞规公差库(4)内的运算公式,结合所述公差等级和基础数据,获得塞规公差结果,并输送给所述中央处理器 ⑵。
5.根据权利要求1所述的光滑极限量规公差标定系统,其特征在于所述轴用卡规公差库(5)内设置有卡规运算器(6”),该卡规运算器(6”)根据所述轴用卡规公差库(5)内的运算公式,结合所述公差等级和基础数据,获得卡规公差结果,并输送给所述中央处理器 ⑵。
6.一种权1所述光滑极限量规公差标定系统的使用方法,其特征在于步骤一、经输入/输出设备(1)输入已知条件产品的基本尺寸及产品标准公差或ES、EI ;步骤二、启动中央处理器(2),中央处理器(2)根据输入的已知条件在零件非标准公差等级库(3)中找到相应的公差等级;步骤三、经输入/输出设备(1)设定轴用卡规或孔用塞规;步骤四、利用中央处理器(2)根据公差等级,从轴用卡规公差库(5)或孔用塞规公差库 (4)中提取公差等级作对应的数据;步骤五、激活运算器(6),利用卡规运算器或塞规运算器求出需要的数据,完成光滑极限量规的设计计算,并由输入/输出设备(1)显示出所需要的设计计算数据dT、DT、dz、Dz、dg、Dg λ dj、Dj ο
全文摘要
本发明公开了一种光滑极限量规公差标定系统及其使用方法,其特征在于设置有输入/输出设备(1),该输入/输出设备(1)双向连接有中央处理器(2),该中央处理器(2)双向连接有零件非标准公差等级库(3),中央处理器(2)还双向连接有孔用塞规公差库(4),中央处理器(2)还双向连接有轴用卡规公差库(5)。本发明的显著效果是能够帮助设计人员从繁重的查表计算中解脱出来,提高了设计人员的工作效率,更能保证所标定的公差结果的准确性。
文档编号G01B3/00GK102445118SQ20101050310
公开日2012年5月9日 申请日期2010年10月11日 优先权日2010年10月11日
发明者周家国, 陈毅 申请人:重庆市蓝黛实业有限公司

  • 专利名称:一种粉末高温合金表面剥层的方法技术领域:本发明涉及金属材料的腐蚀加工领域,具体是一种用于粉末高温合金表面剥层的方法。背景技术:在进行材料残余应力检测试验时,需要先将材料表面按照一定的方法逐一进行剥层试验,然后进行测试得到材料的残余
  • 专利名称:激光测距装置的制作方法技术领域:本发明涉及在例如住宅建设或电气工程等中计算墙面间的距离的激光测距装置。背景技术: 以往,作为该种测距装置,已知有如图23A所示的尺寸测定装置20(例如,参照日本公开专利特开平8-35820号公报)。
  • 专利名称:测量外形有复合角度长度的检测装置的制作方法技术领域:本发明是关于测量外形有复合角度长度的检测装置。 背景技术:航空发动机中大量高压工作叶片,是一种对长度尺寸L要求很高,外形带有复合 角度榫头状的零件,该零件的检测一直是个难点。传统
  • 专利名称:一种二氧化氯消毒剂检测试纸及制备方法技术领域:本发明涉及一种二氧化氯水溶液消毒剂中二氧化氯含量的快速检测试纸及其制备方法。背景技术: 近年来二氧化氯消毒剂的推广应用不断加快。目前医院、食品行业及饮用水普遍采用的消毒剂主要有臭氧、液
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  • 专利名称:传感器的老化试验装置的制作方法技术领域:本实用新型涉及传感器的老化试验技术,更具体地说,是涉及一种传感器的老化试验装置。背景技术:在传感器的生产制造过程中,为了更好的保证传感器产品的品质,生产完成后都会模拟产品实际使用环境使其通电
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