专利名称：用于锂离子方型电池铝壳刻痕深度的简易测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种锂离子电池测量装置，特别涉及一种用于锂离子方型电池铝壳刻痕深度的筒易测量装置。
背景技术：
目前，二次锂离子电池被广泛的应用于生活和生产的多个领域，由于锂离子电池的使用安全性要求较高，通常在制作过程中，电池本体上都设有安全装置，方型锂离子电池壳的刻痕就是一种应用广泛的有效的安全装置。当电池发生了内短路，过充电或其他滥用情况下，电池内部能量急剧释放，反应产气使内部气压增加，当气压升高达到安全装置的承受极限时，安全装置开启，释放能量，降低内压，从而达到防止电池爆炸的目的。
对于同一种方型锂离子电池壳而言，刻痕深度决定着电池所能承受的极
限压力值，刻痕深度越浅，所能承受的压力越大；刻痕深度越深，所能承受的压力越小。若刻痕深度过浅，当电池发生内短路时安全装配无法及时开启，导致电池爆炸。若刻痕深度过深，可能会影响电池的外观，电池壳内部变形量可能会对极组产生挤压，或者在电池正常使用过程中发生开启漏液，增加安全隐患。
由于电池壳的刻痕深度非常小， 一般在0 0.3mm之间，普通的测量工具无法接触到狭窄的刻痕底部，很难精确的测量。本实用新型公开了一种可快速准确测量刻痕深度的方法，其原理是通过调节显孩i镜的焦距来确定螺旋测微器外壳的位置，与电池壳表面和刻痕底部分别对焦，得到的焦距位移差值即是显微镜主体的位移差值，可用螺旋测微器测量，测量数据的差值即是刻痕深度值。使用本实用新型装置进行刻痕深度值测量，操作方便简单，测量精度比传统的直接测量方式精度要高，而且，测试过程中并不直接接触样品，保持了样品的原始性状。
因此，提供一种结构筒单,、设计合理、应用筒便的用于锂离子方型电池
3铝壳刻痕深度的筒易测量装置是该领域技术人员应着手解决的问题之一。
实用新型内容
本实用新型的目的在子克服上述不足之处，提供一种结构筒单、应用简便的用于锂离子方型电池铝壳刻痕深度的简易测量装置。
为实现上述目的本实用新型所采用的技术方案是 一种用于锂离子方型电池铝壳刻痕深度的简易测量装置，其特征在于该装置包括显微镜底座、显微镜样品台、显孩t镜固定旋4丑、显微镜调焦旋钮、显凝L镜主体、螺旋测微器、支架；所述支架垂直设置于显微镜底座一端，显微镜样品台平行置于显微镜底座上，显微镜主体通过支架上横梁，对应设置于显微镜样品台上方，所述螺旋测微器同轴置于显孩t镜主体上方；显微镜底座前端设有支柱，其右侧设有定位显微镜主体的显微镜固定旋钮，对应显孩吏镜主体设有显微镜调焦旋钮。
本实用新型的有益效果是该装置采用不直接接触电池壳刻痕的方法进行测量，保持样品的原始性状，不会因为测量而使样品遭到破坏。同时，也克服了测量目标小不易直接测量的弊端，通过显微镜调焦放大，使所得的测试结果更加精确。且本装置可反复使用，对环境友好，使用本装置测试时简单快捷，检测准确可靠。

图l是本实用新型结构示意图中1显微镜底座，2显微镜样品台，3显微镜固定旋钮，4显微镜调焦旋钮，5显微镜主体，6螺旋测微器，7支架，8支柱。
具体实施方式

以下结合附图和较佳实施例，对依据本实用新型提供的具体实施方式
、结构、特征详述如下
参见图1， 一种用于锂离子方型电池铝壳刻痕深度的简易测量装置，其特征在于该装置包括显微镜底座1、显微镜样品台2、显微镜固定旋钮3、显微镜调焦旋钮4、显微镜主体5、螺旋测微器6、支架7;所述支架7垂直设置于显微镜底座1 一端，显微镜样品台2平行置于显微镜底座1上，显微镜主体5通过支架7上横梁，对应设置于显微镜样品台2上方，所述螺旋测微器6
4同轴置于显微镜主体5上方；显微镜底座1前端设有支柱8，其右侧设有定位显微镜主体5的显微镜固定旋钮3,对应显微镜主体5设有显微镜调焦旋钮4。
测量时，将样品电池壳放在显微镜样品台2上，调节显孩么镜调焦旋钮4，与电池壳表面对焦，然后用位于支架7上的螺旋测微器6测量显微镜主体5顶部距离，得测量数值L1;用相同的方法再与电池壳刻痕底部对焦，用螺旋测微器6测量显微镜主体5顶部距离，得到测量数值L2;将L1减去L2，得到的差值即是电池壳刻痕的深度值。使用该装置进行刻痕深度值测量，操作简单快捷，测量精度高。
上述参照实施例对该用于锂离子方型电池铝壳刻痕深度的简易测量装置进行的详细描述，是说明性的而不是限定性的；因此在不脱离本实用新型总体构思下的变化和修改，应属本实用新型的保护范围之内。
权利要求1、一种用于锂离子方型电池铝壳刻痕深度的简易测量装置，其特征在于该装置包括显微镜底座、显微镜样品台、显微镜固定旋钮、显微镜调焦旋钮、显微镜主体、螺旋测微器、支架；所述支架垂直设置于显微镜底座一端，显微镜样品台平行置于显微镜底座上，显微镜主体通过支架上横梁，对应设置于显微镜样品台上方，所述螺旋测微器同轴置于显微镜主体上方；显微镜底座前端设有支柱，其右侧设有定位显微镜主体的显微镜固定旋钮，对应显微镜主体设有显微镜调焦旋钮。
专利摘要本实用新型涉及一种用于锂离子方型电池铝壳刻痕深度的简易测量装置，包括支架，所述支架垂直设置于显微镜底座一端，显微镜样品台平行置于显微镜底座上，显微镜主体通过支架上横梁，对应设置于显微镜样品台上方，所述螺旋测微器同轴置于显微镜主体上方；显微镜底座前端设有支柱，其右侧设有定位显微镜主体的显微镜固定旋钮，对应显微镜主体设有显微镜调焦旋钮。该装置是调节显微镜的焦距，与电池壳表面对焦，然后用位于支架上的螺旋测微器测量显微镜主体顶部距离，得测量数值L1；用相同的方法再与电池壳刻痕底部对焦，用螺旋测微器测量显微镜主体顶部距离，得到测量数值L2；将L1减去L2，得差值即是电池壳刻痕的深度值。该装置操作简单，测量精确。
文档编号G01B11/22GK201413129SQ20092009704
公开日2010年2月24日 申请日期2009年6月9日 优先权日2009年6月9日
发明者敏 刘, 张联忠 申请人:天津力神电池股份有限公司