专利名称：四线式电路板精密测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电路板测试领域技术，尤其是指一种四线式电路板精密测试系统。
背景技术：
电子产品在我们的生活中已经无处不在，其应用领域相当广泛。不管是洗衣机、冰箱、空调、电饭煲、遥控器等家用电器，还是手机、MP3/MP4、PSP、计算机、数码相机等高端科技产品，甚至是交通灯、监控器、商场装饰灯等公共场所设施中也离不开电子产品发挥的巨大作用。而电路板作为电子产品中的核心部分，其重要性更是不言而喻。随着电子技术的发展，现在市场上生产的电路板越来越精密，所以电路板生产后也就要求更精密的电路板测试系统。而现有市场的大多的电路板测试机都没办法精确测量电路板上的电阻，以及，尤其在测试点数比较大的电路板上，其测试速度很低。另外，现有技术中的电路板测试机的电子控制部分系将电压输出、电流输出、AD转换及IO控制全部集成在MS卡上，其模块区分不明显，不利于调试和维修，影响了调试和维修的效率。鉴于此，本实用新型人针对电路板测试机的现存不足做了研究思考，实用新型了一种四线式电路板精密测试系统，本案由此产生。

实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种四线式电路板精密测试系统，其能精确测量到电路板上的电阻，且极大提高了测试速度及调试、维修的效率。为实现上述目的，本实用新型采用下述方案—种四线式电路板精密测试系统，具有硬件控制区和软件操作界面，其中硬件控制区包括机构控制模块和电子控制模块，测试的信息通过软件处理显示在软件操作界面， 该电子控制模块设有恒流源或恒压源、信号源SC、控制源SK、一个数模转化模块及两个完全相同的测试电路，该两测试电路的输出端均连接于前述数模转化模块。作为一种优选方案，所述测试电路包括两个PNP三极管、两个接测量端子、两个 NPN三极管、定值电阻、运算放大器一、高阻抗运算放大器二及多个电子开关；该两个PNP三极管的发射极连接前述恒流源或恒压源，并其基极分别与信号源SC 连接，其集电极分别连接两测量端子，同时，该两测量端子分别与两个NPN三极管的集电极相连，NPN三极管的基极与控制源SK连接，并其发射极串联于定值电阻到信号地，该定值电阻连接于运算放大器一的输入端，运算放大器的输出端连接前述数模转化模块，前述两测量端子分别连接于前述高阻抗运算放大器二，前述电子开关设置于测量端子和高阻抗运算放大器二之间，该高阻抗运算放大器二的输出端亦前述连接数模转化模块。作为一种优选方案，所述定值电阻为若干个，其阻值各不相同，它们并联在测试电路中，每个定值电阻都串联有一个开关。作为一种优选方案，所述电子开关为若干个，它们串联或并联或混联于测试电路中。作为一种优选方案，所述电子控制模块具有HRX卡、Pff卡、MD卡、I/O卡、LRX卡、 AD卡及SC箱，其中，该PW卡上集成有电压输出模块和电流输出模块，并该AD卡上集成有 IO控制及AD转换。作为一种优选方案，所述软件操作界面具有七块显示区，分别是网络结构显示区、 结果显示区、单点测试显示区、自我测试显示区、学习显示区、工程模式显示区和帮助信息显示区。本实用新型采用上述技术方案后，其有益效果在于一、该电子控制模块采用双通道测试模式，使得电子元件的延迟时间跟软体的读取AD时间成为了同步操作，极大地提高了测试速度。二、将电压输出模块及电流输出模块集成到PW卡上，并将IO控制及AD转换集成到AD卡上，其分区明显，有效提高了调试和维修的效率。为更清楚地阐述本实用新型的结构特征和功效，
以下结合附图与具体实施例来对本实用新型进行详细说明。

图1是本实用新型之较佳实施例的结构框图；图2是本实用新型之较佳实施例的测试电路原理图。
具体实施方式
请参见图1和图2所示，其显示出了本实用新型之较佳实施例的具体结构，包括硬件控制区和软件操作界面，两者是由软件联系起来。硬件控制区分成机构控制模块和电子控制模块。该机构控制模块具有压床控制模块，为测试提供机械自动按压动作，测试结果由传感器回授模块和键盘回授模块采集，并传送给电子控制模块。该电子控制模块包括有HRX卡、PW卡、MD卡、I/O卡、LRX卡、AD卡及SC箱，本实用新型的重点之一在于，将电压输出模块和电流输出模块集成到了 PW卡上，并将I/O控制及AD转换集成到了 AD卡上，这样，可以有效提高了调试和维修的效率；当然，该电子控制模块主要系进行对测试数据的处理，再把结果显示在软件操作界面上，具体通过软件实现。其测试电路原理如图2所示，我们可以看出，A、B通道的测试电路完全相同，介绍 A或B通道的测试电路如下该测试电路提供恒流源或恒压源，恒流源或恒压源直接连接两个PNP三极管Q1、 Q3的发射极，此PNP三极管基极与信号源SC连接，此PNP三极管Q1、Q3集电极分别连接测量端子Pl和P2，测量触点P1、P2分别与两个NPN三极管Q2、Q4的集电极相连，此NPN三极管Q2、Q4的基极与控制源SK连接，此NPN三极管Q2、Q4发射极同时串联定值电阻到信号地， 定值电阻有多个，其阻值各不相同，它们并联在测试电路中，每个定值电阻都串联有一个开关，于本实施例中，其分别为电阻Rl、R2、R3，该三个定值电阻分别串联开关K71、K8和K9， 以应用于不同测量值的电路中。定值电阻连接于运算放大器一的输入端，运算放大器的输出端连接数模转化模块，测试电路的两个测量端子PI、P2还连接有高阻抗运算放大器二，在测量端子P1、P2和高阻抗运算放大器二的两个端子之间设有电子开关K1、K2、K3、K4、K5 和Κ6，以控制端子是否连通高阻抗运算放大器二，该高阻抗运算放大器二的输出端亦前述连接数模转化模块。上述A通道和B通道的测试电路中，其数模转化模块为共用，传统技术中的单通道测试电路中，由于电子元件的特性，在开启电子元件后，需要等待一定的时间才能读取电压 AD，这样就会降低测试速度。在测试点数比较大的线路板上，这种情况尤其明显，为了提高测试速度，本实用新型中采用上述双通道测试模式，即在测试时，先开启A通道，然后转到B 通道读取电压值，然后开启B通道，转到A通道读取电压值。这样的做法，使得电子元件的延迟时间跟软体的读取AD时间成为了同步操作，极大的提高了测试速度。本实施例中所涉及的测试包括有电阻测试、开路测试、短路测试和高压测试，其具体测试方法如下(1)电阻测试主要用的是欧姆定律，送出恒定电流，通过MP与丽读取线路板上 2点的电压，在线路板上电阻不是极大的情况下，可以保证线路板上的电流大小就是送出的恒流源的大小，根据欧姆定律，R=V/I，得出线路板上2点的电阻；(2)开路测试采用电压进行测试，首先将用户设定的电压通过内部电阻(为用户设定的电阻大小)，然后读取标准电阻上的电压值VI，然后将电压输出到线路板上的2点， 再次2读取标准电阻上的电压值V2，若V2》VI，说明线路板上的阻抗比设定阻抗小，判定为 PASS，否则为 FAIL ；(3)短路测试同开路测试比较法，当量测出来的V2<V1，判定为良品，否则判定为短路；(4)高压测试即绝缘测试，同短路测试一样的原理，但是采取的高压电流通过线路板。该软件操作界面也具有人性化设计，具有7块显示区，分别是网络结构显示区、结果显示区、单点测试显示区、自我测试显示区、学习显示区、工程模式显示区和帮助信息显示区。本实用新型的设计重点在于，主要系电子控制模块采用双通道测试模式，使得电子元件的延迟时间跟软体的读取AD时间成为了同步操作，极大地提高了测试速度；其次是，将电压输出模块及电流输出模块集成到PW卡上，并将IO控制及AD转换集成到AD卡上， 其分区明显，有效提高了调试和维修的效率。以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型的技术范围作任何限制，故凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
权利要求1.一种四线式电路板精密测试系统，包括有硬件控制区和软件操作界面，其中硬件控制区包括机构控制模块和电子控制模块，其特征在于该电子控制模块设有恒流源或恒压源、信号源Sc、控制源SK、一个数模转化模块及两个完全相同的测试电路，该两测试电路的输出端均连接于前述数模转化模块。
2.根据权利要求1所述的四线式电路板精密测试系统，其特征在于所述测试电路包括两个PNP三极管、两个接测量端子、两个NPN三极管、定值电阻、运算放大器一、高阻抗运算放大器二及多个电子开关；该两个PNP三极管的发射极连接前述恒流源或恒压源，并其基极分别与信号源SC连接，其集电极分别连接两测量端子，同时，该两测量端子分别与两个NPN三极管的集电极相连，NPN三极管的基极与控制源SK连接，并其发射极串联于定值电阻到信号地，该定值电阻连接于运算放大器一的输入端，运算放大器的输出端连接前述数模转化模块，前述两测量端子分别连接于前述高阻抗运算放大器二，前述电子开关设置于测量端子和高阻抗运算放大器二之间，该高阻抗运算放大器二的输出端亦前述连接数模转化模块。
3.根据权利要求1所述的四线式电路板精密测试系统，其特征在于所述定值电阻为若干个，其阻值各不相同，它们并联在测试电路中，每个定值电阻都串联有一个开关。
4.根据权利要求1所述的四线式电路板精密测试系统，其特征在于所述电子开关为若干个，它们串联或并联或混联于测试电路中。
5.根据权利要求1所述的四线式电路板精密测试系统，其特征在于所述电子控制模块具有HRX卡、PW卡、MD卡、I/O卡、LRX卡、AD卡及SC箱，其中，该PW卡上集成有电压输出模块和电流输出模块，并该AD卡上集成有IO控制及AD转换。
专利摘要本实用新型公开的是一种四线式电路板精密测试系统，具有硬件控制区和软件操作界面，其中硬件控制区包括机构控制模块和电子控制模块，测试的信息通过软件处理显示在软件操作界面；该电子控制模块设有恒流源或恒压源、信号源SC、控制源SK、一个数模转化模块及两个完全相同的测试电路，该两测试电路的输出端均连接于前述数模转化模块；其中，任一测试电路包括两个PNP三极管、两个接测量端子、两个NPN三极管、定值电阻、运算放大器一、高阻抗运算放大器二及多个电子开关；如此，该电子控制模块采用双通道测试模式，使得电子元件的延迟时间跟软体的读取AD时间成为了同步操作，极大地提高了测试速度。
文档编号G01R31/28GK202145227SQ201120179258
公开日2012年2月15日 申请日期2011年5月31日 优先权日2011年5月31日
发明者杨世光 申请人:东莞中逸电子有限公司