专利名称：集成电路中的集成测试电路的制作方法
技术领域：
本案涉及一种在集成电路中之集成测试电路，其可被用来测试集成电路之内电压。本案亦有关于一种测试在集成电路中内电压之方法。
背景技术：
关于集成半导体电路的正确功能系在其制造期间与制造完成后进行检验，当测试半导体电路时必须，特别是，测试在半导体电路内部所产生的电压，也就是测试内部所产生的电压是否对应于期望的电压。为了此一目的，通常的状况是内部所产生的电压藉由特定的测试端而可由外部所存取，以至于连接的测试器装置可将电压引并且可以将后者与参考电压进行比较。
为了节省在集成电路上的测试终端，已知的是，当有复数内部产生的电压时，在连接的外部测试器装置或是集成测试电路的控制之下，来提供可将不同的电压施用至为其所提供的共享测试终端之多任务器装置。透过该共享测试终端，内部所产生电压然后可与各自的参考电压依次地进行比较，其因而可能来检查内部所产生的电压是否对应于期望的电压。
大体而言，为此所使用的测试终端仅仅是在前端测试期间是可利用，也就是在集成半导体电路未切割(unsawn)的状态。在电路已经切割与封装(housing)之后，已不再使用测试终端，因此，一般而言其已不再可能用来检查内电压。而其缺点是由于集成半导体电路系会受到在前端测试后发生的测试步骤、与切割以及封装的影响，因而内部所产生的电压也会改变。
而另外的缺点是为了量测电压时，对应的资源，亦即测试器信道必须由测试器装置来提供。此种状况是不利的，特别是在半导体电路有效的平行测试时，因为将被测试的半导体电路必须透过相当大量的测试信道而被连接到测试器，而此等相当大量的测试线路将会使平行性降低，并且当测试半导体电路时，也会降低通量(throughput)。

发明内容
本案的一目的为提供一种测试电路，其可简化复数内电压之测试，而且其仍然能够使复数内电压的测试同样地在后端测试方法中。
此等目的可藉由根据权利要求第1项的集成测试电路以及根据权利要求第11项的方法而达成。
而本案进一步有利的细步改进则于权利要求附属项中具体说明之。
本案的第一观点为提供一种在集成电路中的集成测试装置，其可用以测试复数内电压。一交换装置被提供，其系用以根据为了测试目的之选择信号而来选择其中一内电压；一比较器装置被提供，其系依据该选择的内电压，以比较一量测电压与一外部指定的参考电压，并且用以输出由于该比较之一错误信号。
根据本案之集成测试电路所具有的优点是内电压的检查可以在集成电路内实行，因而可能节省连接的测试器装置资源。换言之，测试器装置不必提供资源以比较内电压与参考电压。再者，其亦可能藉由切换装置来选择内电压，以至于在集成测试电路中仅必须有比较器装置，并且比较的结果可以在比较器的输出端被读出。在此种方式下，其可避免提供复数外部终端，透过此等外部终端个别的内电压系可被读出。因为外部终端的数量通常是非常有限的，因而，本案之集成测试电路可架构出相当大的好处。
根据本案，其可提供正好对应于选择的内电压之量测电压，或者是提供一分压器，用以产生量测电压，以做为被测试的内电压之预先决定的部分。分压器的优点在于成为可用的参考电压系被用来测试复数内电压，其包含不同的内电压，并相继地使用比较器装置。
为了选择交换装置之被量测的内电压，一控制电路可被提供以用来将复数分压器的其中一连接至比较器装置。
错误信号一方面可在集成电路的终端直接被读出另一方面，一储存组件可被提供来缓冲-储存此错误信号。然后，错误信号在一适合的点上及时的从外部而被读出，例如，藉由一信号终端。
较佳地，信号终端能在可切换的方式下，依序透过一切换组件与透过信号终端而被连接至储存组件或是比较器装置，用以读取储存组件或是将参考电压运用至比较器装置。在此方式下，其可实行参考电压的配备与藉由信号终端而读出内电压的测试结果。在此状况下，首先将参考电压实施至信号终端，并根据一选择信号来选择内电压，而比较器装置则提供参考电压与量测电压的比较结果，并将结果储存在储存组件中。经由交换装置的转换，该储存组件然后被连接至信号终端，如此储存在储存组件中的错误信号可被连接的测试器装置读出。
另外的交换组件可被提供，藉此，信号终端能被连接至集成电路的内部信号线路，用以接收及/或输出信号。在此种方式下，其可使用信号终端来测试集成电路，此信号终端可在稍后正常的运作中建构资料的输入/输出(举例而言)。
较佳地，交换装置及/或另外的交换装置能够被测试控制信号控制，其系在集成电路中由内部地被配备或是由连接的测试器装置配备。
本案另一方面系提供一种测试集成电路的方法，其中该集成电路具有根据本案的测试电路。在此种状况下，首先选择一集成电路的内电压，并且使参考电压成为由外部可兹使用。一量测电压其系取决于选择的内电压，此量测电压系被与成为可用的参考电压进行比较，而由于此一比较，因此可产生一错误信号，而用以输出至一测试器装置。


本案的较佳实施例将由以下参考所附图式而更详细的说明，其中第1图系显示根据本案测试电路的第一较佳实施例以及第2图系显示本案另一较佳实施例。
具体实施例方式
第1图系显示的集成电路1，其具有用以测试复数内电压V0、V1、V2、...Vn之测试电路2。该测试电路系包含复数分压器3，每个包含一第一电阻器R1与一第二电阻器R2。
每个分压器3系藉由一开关4而被连接至比较器装置5的第一输入，开关4则透过控制单元6而被控制，以至于在每一状况中，为了将分别的分压器连接至比较器装置5的第一输入，仅有其中一开关4被关闭。
分压器会产生一量测电压，此量测电压系与在比较器装置5的第二输入上呈现的参考电压进行比较。比较器装置5具有一输出，一错误信号可藉由信号终端而在此输出上被输出，而参考电压Vref通常透过另外的信号终端8而成为可被比较器装置5使用。
开关4系透过控制单元6而被控制，其控制方式为在每一情况下仅其中一开关4被关闭，以为了将仅其中一量测电压实施至比较器装置5的第一输入。取代控制单元6以控制开关4，也可针对开关4由另一信号终端的配备而提供一外部的控制，开关4可藉由其而受到控制。此种状况下，在集成电路1的测试期间，一连接的测试器将必须透过该另外的信号终端而进行开关4的控制。
分压器6系被按尺寸切割，以致其可从内电压Vo、V1、V2...Vn产生各自的量测电压，其实质上具有彼此类似而适合的电位，其较理想地是完全相同的电位，亦即，所有的内电压皆具有期望的电压。在此种状况下，仅必须使一参考电压成为可用的，以至于关于参考电压Vref的配备则仅需要一信号终端8。不言而喻，在不同参考电压被提供之情况中，其所可提供的是，分压器3会产生彼此显著不同的量测电压。然后，分压器3必须被分大小，使得其所提供之电压实质上远离于比较器装置5的较高与较低的供应电压，而比较器装置5的晶体管以一最小电压来驱动。
控制单元6可藉由一由外部连接的测试器装置或是自动地实行预先决定的测试方法而受到控制。
在使用测试器装置之集成电路1的测试期间，首先，参考电压Vref被施用至另外的信号终端8，之后，每一开关4分别地被关闭，其实际上是以一接着一的方式进行，其系为了将从内电压Vo、V1、V2...Vn所形成的各自的量测电压实施至比较器装置的第一输入。接着，比较器装置将参考电压Vref与各自的量测电压进行比较，并将比较的结果输出至信号终端7，其可被测试器装置由此处而读出。
第2图系显示根据本案测试电路之另一较佳实施例，相同的参考符号系对应于相同的组件。
第2图中所显示的测试电路2同样地包含一比较器装置5，比较器的第一输入系被连接至一多任务器电路10，复数内电压Vo、V1、V2...Vn可藉由此多任务器电路10以可切换的方式而被应用。控制单元6系决定哪一内电压Vo、V1、V2...Vn会被施用至比较器的第一输入。
代替将内电压Vo、V1、V2...Vn直接实施至比较器装置5，第2图中所示的较佳实施例也提供藉由分压器而产生量测电压与以可切换的方式将该量测电压实施至比较器装置5的第一输入的可能性。
比较器装置5的第二终端系被连接至一切换组件12，藉由其，参考电压Vref可被实施至比较器装置5的第二输入。
比较器装置5较佳是以使用一错误资料来具体说明电压实质上是否相等或是不同的方式而组态。
比较器装置5的一输出系被连接至一储存组件11，其系储存在参考电压Vref与分别选择的内电压Vo、V1、V2...Vn间的比较结果。切换组件12系以下述方式来组态，其系透过一连接切换组件1 与控制单元6的测试控制线路13而被控制，其系将一信号终端14连接至比较器装置5的第二输入或是连接至储存组件11的输出或是集成电路的内部信号线路15。
储存组件11最好是以具有两个相对耦合的反向器之闩(latch)来设计。
第2图中所示的测试电路，其可使为了集成电路的正常运转而被使用、与在正常运转期间被连接至内部信号线路15、以及也可被用来测试复数内电压Vo、V1、V2...Vn之信号终端成为可能。为了此等目的，首先，切换装置10系被切换，以至于其中一内电压(例如内电压V0)被实施至比较器装置5的第一输入，同时，切换组件12亦被切换，使得信号终端14被连接至比较器装置5的第二终端，用以将一参考电压Vref实施至比较器装置5的第二输入。
参考电压Vref通常是透过一连接的测试器装置(未显示)而变成可用的，之后，切换组件12被切换使得信号终端14被连接至储存组件11的输出上。所进行最后比较的结果系被储存在储存组件11中，并且具体指出在特定的状况下该选择的内电压是否以及以何种方式偏离该参考电压。透过信号终端14，其因而可能从测试器装置将比较的结果读出。
切换组件12的切换系与切换装置10的切换方式相同，其切换系受控制单元6之控制。控制单元6可独立地或是根据测试器装置所配备的方法来进行测试顺序。
如第2图所示根据本案测试电路的较佳实施例，其可仅使用一信号终端14来测试内电压，此外，信号终端14在正常运转期间系被连接至一内部信号线路15，以至于信号终端14也可做为资料输入及/或输出而操作。由于内电压的测试差不多是完全地在集成电路之内进行的事实，因而可解省测试器资源。仅有一信号终端必须被使用的事实其意为也仅需要一测试线路来连接集成电路1与测试器装置，此可减少连接的测试线路之总数量，使得大量的集成电路1可同时地在一测试器装置进行测试。
再者，根据本案的测试电路所具有的优点是，因为测试可藉由在正常运转期间所使用的信号终端来实行，因而内电压的测试甚至可以封装的集成电路进行。
权利要求
1.一种在集成电路(1)中之集成测试电路，用以测试复数内电压(V0、V1、V2、…Vn)，一交换装置(4)，其系用以根据为了测试目的之一选择信号来选择其中一该内电压(V0、V1、V2、…Vn)而被提供，一比较器装置(5)，其系依据该选择的内电压(V0、V1、V2、…Vn)，以比较一量测电压与一外部指定的参考电压(Vref)，并且用以输出由于该比较之一错误信号。
2.如权利要求第1项所述之测试电路，其中该量测电压系对应于该选择的内电压。
3.如权利要求第1项所述之测试电路，其中为了至少一被测试的内电压，一配备系由一分压器所构成，用以产生该量测电压以做为该被测试的内电压之预先决定的部分。
4.如权利要求第3项所述之测试电路，其中复数分压器(3)被提供，其系以从该内电压(V0、V1、V2、…Vn)所产生的量测电压分别地在该分压器上呈现的方式而被组态，其在每个该分压器(3)上具有相同的电位(potential)。
5.如权利要求第3项至第4项其中之一所述之测试电路，其中一控制电路(6)被提供，用以将该复数分压器(3)之其中之一连接至该比较器装置(5)。
6.如权利要求第1项至第5项其中之一所述之测试电路，其中一储存组件(11)被提供，用以储存该错误信号。
7.如权利要求第1项至第6项其中之一所述之测试电路，其中该储存组件(11)的内容可藉由一信号终端(14)而能够从外面被读出。
8.如权利要求第7项所述之测试电路，其中该信号终端(14)能在可切换的方式下，依序透过一切换组件(4)与透过该信号终端而被连接至该储存组件(11)或是该比较器装置(5)，用以读取该储存组件(11)或是将该参考电压(Vref)运用至该比较器装置(5)。
9.如权利要求第7项或第8项所述之测试电路，其中该信号终端可被连接至该集成电路(1)的一内部信号线路(15)，藉由一另外的切换组件(12)而以一可切换的方式来接收及/或输出一信号。
10.如权利要求第8项或第9项所述之测试电路，其中该切换组件及/或该另外的切换组件(12)系可被一测试控制信号控制。
11.一种测试集成电路的方法，该集成电路系具有如权利要求第1项至第10项其中之一所述之测试电路，其中该集成电路(1)的一内电压(V0、V1、V2、…Vn)被选择，一可用的参考电压(Vref)，依据该选择的内电压(V0、V1、V2、…Vn)，一量测电压系被与该可用的参考电压比较，由于该比较而产生一错误信号。
全文摘要
本案系有关于一种在集成电路中之集成测试装置，用以测试复数内电压，一切换装置被提供，用以选择根据为了测试目的之选择信号来选择其中一内电压；一比较器装置被提供，其系依据该选择的内电压，以比较一量测电压与一外部指定的参考电压，以及由于该比较而输出一错误信号。
文档编号G01R19/165GK1523368SQ20041000544
公开日2004年8月25日 申请日期2004年2月18日 优先权日2003年2月18日
发明者G·弗兰科维斯基, R·凯塞, G 弗兰科维斯基 申请人:因芬尼昂技术股份公司