专利名称：精密轴承精度测量台架的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种精密轴承精度测量台架，属于测量技术领域。
背景技术：
目前，轴承行业通用的轴承精度检查仪B013，在检查球轴承Kea，Sea时，接触角度小于25° P5级以下的轴承时，测量数据相当可靠。但用该仪器检查P4级以上轴承精度， 尤其是检查大于25。的P4、P2级精度精密轴承时，其测量数据达不到P2级标准要求，不能满足高精度的测量要求。发明内容
本发明的目的在于克服上述不足之处，从而提供一种精密轴承精度测量台架，能够精密测量P4、P2级轴承的精度，使用方便快捷，测量精度高。
按照本发明提供的技术方案，精密轴承精度测量台架包括工作台、基座、第四螺栓、第一夹持块、第二夹持块、第三夹持块、第一定位块、第二定位块、第三定位块、第一螺栓、第二螺栓和第三螺栓，工作台上通过第四螺栓紧固基座，其特征是基座上端面沿径向设有第一 T型槽、第二 T型槽和第三T型槽，第一 T型槽中滑动安装第一夹持块，第一夹持块上端通过第一螺栓紧固第一定位块，第一定位块内侧设有L形的第一定位槽。所述第二 T型槽中滑动安装第二夹持块，第二夹持块上端通过第二螺栓紧固第二定位块，第二定位块内侧设有L形的第二定位槽。所述第三T型槽中滑动安装第三夹持块，第三夹持块上端通过第三螺栓紧固第三定位块，第三定位块内侧设有L形的第三定位槽。
所述第一 T型槽、第二 T型槽和第三T型槽以基座圆心为中心均匀分布。
所述第一夹持块、第二夹持块、第三夹持块的高度相等。
所述第一定位块下平面和第一定位槽槽面、第二定位块下平面和第二定位槽槽面、第三定位块下平面和第三定位槽槽面之间的高度差相等。
所述基座平面度和平行差要求小于2um。
本发明与已有技术相比具有以下优点本发明结构简单、紧凑，合理；能够精密测量P4、P2级轴承的精度，使用方便快捷；测量准确。


图I为本发明主视图。
图2为本发明俯视图。
附图标记说明1_工作台、2-基座、3-第四螺栓、4-第一夹持块、5-第二夹持块、6-第三夹持块、7-第一定位块、8-第二定位块、9-第三定位块、10-第一螺栓、11-第二螺栓、12-第三螺栓、13-第一 T型槽、14-第二 T型槽、15-第三T型槽。
具体实施方式
下面本发明将结合附图中的实施例作进一步描述如图f 2所示，本发明主要包括工作台I、基座2、第四螺栓3、第一夹持块4、第二夹持块5、第三夹持块6、第一定位块7、第二定位块8、第三定位块9、第一螺栓10、第二螺栓11 和第二螺检12。
工作台I上通过第四螺栓3紧固基座2，基座2上端面沿径向设有第一 T型槽13、 第二 T型槽14和第三T型槽15。
所述第一 T型槽13中滑动安装第一夹持块4，第一夹持块4上端通过第一螺栓10 紧固第一定位块7。第一定位块7内侧设有L形的第一定位槽。
所述第二 T型槽14中滑动安装第二夹持块5，第二夹持块5上端通过第二螺栓11 紧固第二定位块8。第二定位块8内侧设有L形的第二定位槽。
所述第三T型槽15中滑动安装第三夹持块6，第三夹持块6上端通过第三螺栓12 紧固第三定位块9。第三定位块9内侧设有L形的第三定位槽。
所述第一 T型槽13、第二 T型槽14和第三T型槽15以基座2圆心为中心均匀分布。
所述第一夹持块4、第二夹持块5、第三夹持块6的高度相等。
所述第一定位块7下平面和第一定位槽槽面、第二定位块8下平面和第二定位槽槽面、第三定位块9下平面和第三定位槽槽面之间的高度差相等。
所述基座2平面度和平行差要求小于2um。
本发明的工作原理是先调整工作台I、基座2的水平，然后调整第一夹持块4、第二夹持块5、第三夹持块6在第一 T型槽13、第二 T型槽14和第三T型槽15内的位置，根据轴承外径的大小调节第一定位块7、第二定位块8、第三定位块9到合适的位置并固紧。最后进行准确测量。本发明结构简单、紧凑，合理；能够精密测量P4、P2级轴承的精度，使用方便快捷；测量准确。
权利要求
1.ー种精密轴承精度测量台架，包括工作台(I)、基座(2)、第四螺栓(3)、第一夹持块(4)、第二夹持块(5)、第三夹持块出)、第一定位块(7)、第二定位块(8)、第三定位块(9)、第一螺栓(10)、第二螺栓(11)和第三螺栓(12)，工作台(I)上通过第四螺栓(3)紧固基座(2)，其特征是基座(2)上端面沿径向设有第一 T型槽(13)、第二 T型槽(14)和第三T型槽(15)，第一 T型槽(13)中滑动安装第一夹持块(4)，第一夹持块(4)上端通过第一螺栓(10)紧固第一定位块(7)，第一定位块(7)内侧设有L形的第一定位槽；所述第二 T型槽(14)中滑动安装第二夹持块(5)，第二夹持块(5)上端通过第二螺栓(11)紧固第二定位块(8)，第ニ定位块(8)内侧设有L形的第二定位槽；所述第三T型槽(15)中滑动安装第三夹持块(6)，第三夹持块(6)上端通过第三螺栓(12)紧固第三定位块(9)，第三定位块(9)内侧设有L形的第三定位槽。
2.如权利要求I所述的精密轴承精度測量台架，其特征是所述第一T型槽(13)、第二T型槽(14)和第三T型槽(15)以基座(2)圆心为中心均匀分布。
3.如权利要求I所述的精密轴承精度測量台架，其特征是所述第一夹持块(4)、第二夹持块(5)、第三夹持块(6)的高度相等。
4.如权利要求I所述的精密轴承精度測量台架，其特征是所述第一定位块(7)下平面和第一定位槽槽面、第二定位块(8)下平面和第二定位槽槽面、第三定位块(9)下平面和第三定位槽槽面之间的高度差相等。
5.如权利要求I所述的精密轴承精度測量台架，其特征是所述基座(2)平面度和平行差要求小于2um。
全文摘要
本发明涉及一种精密轴承精度测量台架，属于测量技术领域。其包括工作台、基座、第四螺栓、第一夹持块、第二夹持块、第三夹持块、第一定位块、第二定位块、第三定位块、第一螺栓、第二螺栓和第三螺栓，基座上端面沿径向设有第一T型槽、第二T型槽和第三T型槽，第一T型槽中滑动安装第一夹持块，第一夹持块上端通过第一螺栓紧固第一定位块。第二T型槽中滑动安装第二夹持块，第二夹持块上端通过第二螺栓紧固第二定位块。第三T型槽中滑动安装第三夹持块，第三夹持块上端通过第三螺栓紧固第三定位块。本发明能够精密测量P4、P2级轴承的精度，测量准确。
文档编号G01M13/04GK102980769SQ20121050858
公开日2013年3月20日 申请日期2012年12月3日 优先权日2012年12月3日
发明者谭义银 申请人:无锡市第二轴承有限公司