专利名称：简易多用式调阻测试探针的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种激光微调用测试探针，具体是一种可有效调节三维空间自由度，并可反复使用的简易多用式调阻测试探针。
背景技术：
近年来，激光微调技术在电子、汽配、航空、航天、科研等各个领域得到了快速的应用，在激光微调的过程中，电阻、电压、电流等电量参数的测量是决定最后微调精度的关键要素之一，其中测试探针的选型及焊接方式尤为重要，而它往往受测试探针自身结构形式的约束。目前普遍采用的为刀片式探针，其结构主要包括刚性连接的测量探针体和刀片基体；使用方法是先根据待刻电阻在待刻模块上的位置定位探针板，使其上开孔对应待刻模块区域；然后把一对对刀片式探针焊接到探针板上，确保测量探针体与测试模块的引线连通；最后测量探针体上的测试探针端头接触到待刻模块的两个测量端，从而实现待刻模块的测量。这种探针结构方式存在以下缺点1、由于测量探针体与刀片基体刚性连接固定，缺少微动与缓冲，这样在移动待刻模块的过程中如果操作不当，常常导致脆弱的测试探针端头被碰坏；使得这类探针的寿命较短，厂家需要一定探针的库存量。2、由于测试探针焊死在探针板上，无法相对活动；不能对其空间自由度进行调节； 况且这样的探针板与其上的测试探针构成的体系往往只能与一种待刻模块精密对应；如果更换了待刻模块，由于其上电阻数量及纹路发生变化，还是只能采用重新焊接测试探针的探针板，极不方便。3、由于2所述的现有测试探针的使用不便，这就导致在更换待刻模块的过程中， 频繁的采用新的探针板需要消耗大量的测试探针，无疑提高了厂家成本。
发明内容本实用新型目的是提供一种磁性吸附于探针板上，可相对于探针板活动，使探针达到前后、左右、上下及水平角度方向上自由调节，以便于灵活反复使用的简易多用式调阻测试探针。本实用新型的技术方案是一种简易多用式调阻测试探针，包括测量探针体和基体；其特征在于一绝缘连接体一端与测量探针体连接，另一端与安装在基体上的微调部件的悬臂端连接，实现测量探针体与基体绝缘；基体底部嵌有强磁块。同现有技术一样，所述测量探针体连接测试模块，保证测试探针的端头在接触待刻模块上的输出电极触点时能将信号传递给测试模块。至于测量探针体的具体形式可以是目前现有的结构，也可以采用本实用新型形式测试探针、探针固定块、导线焊接片和两个导电螺钉组成；所述探针固定块上开有与导电螺钉等数的孔，孔内嵌入螺套，测试探针的尾端横穿螺套固定；导电螺钉贯穿依次相叠的导线焊接片、绝缘连接体和探针固定块与螺套配接。实际使用时，测试模块的引线焊接在导线焊接片上，并经导电螺钉同横穿螺套的测试探针连通实现信号的传递。这种针头结构简单且稳固耐用。所述微调机构可以是现有的采用较多的弹簧压片，也可以采用本实用新型形式 弹簧片一端与压紧块由螺钉固定在基体上，另一端为悬臂端由连接螺钉连接到绝缘连接体；高度调节螺丝贯通压紧块并抵住弹簧片。这类高度微调机构结构简单且性能稳定。探针板的材料均为铁质或类似导磁性金属，这样本实用新型可以通过基体底部镶嵌的强磁块吸附于探针板上。实际使用时，根据待刻模块上的电阻数量及位置，在探针板上吸附多对本探针便可实现测量。更换待刻模块时，只需在探针板上重新排布或简单的增减本探针即可。本实用新型优点是1.由于本实用新型简易多用式调阻测试探针通过强磁块吸附在探针板上，故可以根据待刻电阻在待刻模块上的不同位置在探针板的前后、左右、上下及水平角度方向上自由改变，灵活排布；如果出现错误，也只需从探针板上取下测试探针，重新放置；故具有很高的空间自由度调节性能，且使用方便。2.由于本实用新型简易多用式调阻测试探针能够反复灵活方便的使用，故生产厂家只需准备若干支本测试探针和一个探针板便能胜任多种不同的待刻模块的调阻、测试工作，极大的节约了成本。3.由于本实用新型简易多用式调阻测试探针上设有微调部件，能对测试探针端头的高度进行自由微调，提供一定的垂直向缓冲距离，有效防止端头在待刻模块移动过程中被碰坏的情况发生，提高了测试探针的工作寿命。
以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述

图1为本实用新型结构示意图。图2为本实用新型的零件装配示意图。图3为本实用新型的使用状态示意图。其中1、基体；2、绝缘连接体；3、强磁块；4 ；测试探针；5、探针固定块；6、导线焊接片；7、导电螺钉；8、螺套；9、弹簧片；10、压紧块；11、高度调节螺丝；12、连接螺钉；13、探针板；14、测量引线；15、探针板固定孔。
具体实施方式实施例图1、图2所示为本实用新型一具体实施例的结构示意图及其零件装配示意图。对照图可知，该简易多用式调阻测试探针主要由测量探针体、基体(1)、绝缘连接体 ⑵、微调部件和强磁块(3)构成；其中测量探针体由测试探针⑷、探针固定块(5)、导线焊接片(6)和两个导电螺钉(7)组成；所述探针固定块( 上开有与导电螺钉(7)等数的孔， 孔内嵌入螺套(8)，测试探针(4)的尾端横穿螺套(8)固定；导电螺钉(7)贯穿依次相叠的导线焊接片(6)、绝缘连接体( 一端和探针固定块(5)与螺套(8)配接。所述微调部件包括弹簧片(9)、压紧块(10)、高度调节螺丝(11)和连接螺钉(1 ；弹簧片(9) 一端与压紧块(10)由螺钉固定在基体(1)上，另一端为悬臂端由连接螺钉(1 连接到绝缘连接体(2)的另一端；高度调节螺丝(11)贯通压紧块(10)并抵住弹簧片(9)。基体(1)底部嵌有强磁块(3)，从而使整个探针固定在探针板(1 上，可达到前后、左右、上下及水平角度方向上自由调节。本实施例中的测量探针体和微调部件的结构均简单实用。本实施例使用时，如图3所示，根据待刻电阻在待刻模块上的位置通过探针板固定孔(1 定位探针板(13)，使其上开孔对应待刻模块区域，然后将成对的本实施例通过其基体(1)底部镶嵌的强磁块C3)吸附在探针板(1 上，使得测量探针体上的测试探针(4) 的端头接触到待刻模块的两个测量端电极，从而实现待刻模块的测量。测量探针体上的导线焊接片(6)上焊接测试模块的测量引线(14)；由于导电螺钉(7)同时与导线焊接片(6) 及螺套(8)内的测试探针(4)连接，故保证了测试探针(4)的端头在接触待刻模块电阻上的电极触点时能将信号传递给测试模块。本实施例可与专用的导磁性探针扳灵活搭配使用，使用方便。对于普通的待刻模块电阻，只需几十支的本实施例便能完成待刻模块测试工作，极大的节约了厂家的生产成本。
权利要求1.一种简易多用式调阻测试探针，包括测量探针体、基体(1)、绝缘连接体O)、微调部件和强磁块( 构成；其特征在于所述测量探针体由测试探针(4)、探针固定块( 、导线焊接片(6)和两个导电螺钉(7)组成；探针固定块( 上开有与导电螺钉(7)等数的孔，孔内嵌入螺套(8)，测试探针的尾端横穿螺套(8)固定；导电螺钉(7)贯穿依次相叠的导线焊接片(6)、绝缘连接体( 一端和探针固定块( 与螺套(8)配接；微调部件包括弹簧片(9)、压紧块(10)、高度调节螺丝(11)和连接螺钉(1 ；弹簧片(9) 一端与压紧块(10) 由螺钉固定在基体(1)上，另一端为悬臂端由连接螺钉(1 连接到绝缘连接体( 的另一端；高度调节螺丝(11)贯通压紧块(10)并抵住弹簧片(9)；基体(1)底部嵌有强磁块(3)。
2.根据权利要求1所述的一种简易多用式调阻测试探针，其特征在于所述基体(1)底部镶嵌的强磁块C3)吸附在探针板(1 上，测量探针体上的测试探针(4)的端头接触到待刻模块的两个测量端电极。
3.根据权利要求1所述的一种简易多用式调阻测试探针，其特征在于所述导线焊接片 (6)上焊接测试模块的测量引线(14)；导电螺钉(7)同时与导线焊接片(6)及螺套⑶内的测试探针(4)连接。
专利摘要本实用新型公开了一种简易多用式调阻测试探针，包括测量探针体、基体、绝缘连接体、微调部件和强磁块构成；其中测量探针体由测试探针、探针固定块、导线焊接片和两个导电螺钉组成；所述探针固定块上开有与导电螺钉等数的孔，孔内嵌入螺套，测试探针的尾端横穿螺套固定；导电螺钉贯穿依次相叠的导线焊接片、绝缘连接体一端和探针固定块与螺套配接。所述微调部件包括弹簧片、压紧块、高度调节螺丝和连接螺钉；弹簧片一端与压紧块由螺钉固定在基体上，另一端为悬臂端由连接螺钉连接到绝缘连接体的另一端；高度调节螺丝贯通压紧块并抵住弹簧片；基体底部嵌有强磁块，从而使整个探针固定在探针板上。本实用新型可达到前后、左右、上下及水平角度方向上自由调节，灵活排布，能够灵活反复使用，节省了测试不同待刻模块时的探针用量，节约了厂家成本，提高了探针的使用寿命。
文档编号G01R1/067GK202189071SQ20112021862
公开日2012年4月11日 申请日期2011年6月27日 优先权日2011年6月27日
发明者张学忠, 张心语 申请人:江苏和利普激光科技有限公司