专利名称：核医学成像装置以及解析系统的制作方法
技术领域：
本实施方式涉及核医学成像装置以及解析系统。
背景技术：
以往，作为核医学成像装置，已知一种正电子放射计算机断层摄影装置(以下， PET (Positron Emission computed Tomography)装置)。PET 装置生成例如人体内组织的功能图像。具体而言，在PET装置的摄影中，首先将用正电子放射核素标识的放射性医药品投放到被检体内。由此，被选择性地取入到被检体内的生物组织内的正电子放射核素放射出正电子，被放射出的正电子与电子结合而消失。此时，正电子向大致相反方向放射出一对 Y射线。另一方面，PET装置使用在被检体的周围被配置成环状的检测器检测γ射线，并根据检测结果生成同时计数信息(Coincidence List)。并且，PET装置使用生成的同时计数信息进行基于逆投影处理的重建，生成PET图像。在此，PET装置的检测器具有闪烁器、光电倍增管、光波导，闪烁器与光波导之间的光耦合、光波导与光电倍增管之间的光耦合在检测器的性能上成为重要要素。因此，以便在光耦合面上不发生光反射或散射，通常，使用折射率接近的材质，并且以无空气层等介入的方式接合。(先行技术文献)(非专利文献)(非专利文献1)(社)日本图像医疗系统工业会编集[医用图像·放射线器械手册]名古美术印刷株式会社平成13年，P. 190-19
发明内容
但是，一般上述光耦合可能因输送时的振动或经时变化等而剥离。另一方面，由于光线照射到检测器上可能会扰乱检测器的特性，因此很难通过目视来检查光耦合剥离的有无。由此，期望一种非破坏性地检查光耦合剥离的方法。本实施方式的核医学成像装置包括检测器、声波生成部、声波检测部、解析部。检测器检测从被检体放射出的放射线。声波生成部对于上述检测器输入电信号，在该检测器内生成声波。声波检测部检测在上述检测器内传播的上述声波。解析部解析由上述声波检测部检测出的声波。另外，本实施方式的解析系统包括核医学成像装置、接收部、解析部。核医学成像装置具备检测器、声波生成部、声波检测部、发送部。检测器检测从被检体放射出的放射线。 声波生成部对上述检测器输入电信号，在该检测器内生成声波。声波检测部检测在上述检测器内传播的上述声波。发送部发送与上述声波检测部检测出的声波有关的信号。接收部经由网络接收与从上述发送部发送的上述声波有关的信号。解析部根据与接收到的上述声波有关的信号解析声波。


图1为表示与实施例1相关的PET装置的结构的框图。图2A为用于说明与实施例1相关的检测器模块的图。图2B为用于说明与实施例1相关的检测器模块的图。图3为用于说明与实施例1相关的数据存储部的图。图4为表示与实施例1相关的计数信息存储部存储的计数信息的一例的图。图5为表示与实施例1相关的同时计数信息存储部存储的同时计数信息的一例的图。图6为表示与实施例1相关的光耦合剥离检查部的结构的框图。图7为用于说明与实施例1相关的检查的图。图8为用于说明与实施例1相关的检查的变形例的图。图9为用于说明与实施例1相关的检查的变形例的图。图10为用于说明与实施例2相关的解析系统的图。
具体实施例方式以下，对本实施方式涉及的核医学成像装置以及解析系统的一例进行说明。首先， 在对与实施例1相关的PET装置100进行说明的同时对其变形例进行说明，其次，对与实施例2相关的解析系统进行说明。与实施例2相关的解析系统如后面所述，具备PET装置150 与解析装置200。(实施例1)与实施例1相关的PET装置100实现使用了声波的光耦合剥离检查。具体而言， 与实施例1相关的PET装置100向接合在检测器模块上的压电元件等输入电信号，在该检测器模块内生成声波。并且，与实施例1相关的PET装置100检测在检测器模块内传播的声波，并对检测出的声波进行频率解析。并且，与实施例1相关的PET装置100通过其解析结果，发现产生光耦合剥离的面特有的频率分布，或者与上次检查时的频率分布比较，从而检测光耦合剥离的有无。该光耦合剥离检查主要在后述的光耦合剥离检查部27中实现。以下，首先，对与实施例1相关的PET装置100的结构进行说明，然后，对光耦合剥离检查部27的检查详细说明。 [与实施例1相关的PET装置100的结构]首先，使用图1至图5，对与实施例1相关的PET装置100的结构进行说明。图1 为表示与实施例1相关的PET装置100的结构的框图。如图1所例示，与实施例1相关的 PET装置100具有架台装置10、控制台装置20。架台装置10检测从正电子放射出的一对γ射线，并根据检测结果收集计数信息。 如图1所例示，架台装置10具有床板11、床12、床驱动部13、检测器模块14、计数信息收集部15。另外，架台装置10如图1所例示，具有成为摄影口的空洞。床板11是被检体P平躺的床板，被配置在床12上。床驱动部13在后述的床控制部23的控制下，移动床板11。例如，床驱动部13通过移动床板11，将被检体P移动到架台装置10的摄影口内。
检测器模块14检测从被检体P放射出的γ射线。如图1所例示，检测器模块14 在架台装置10内以将被检体P的周围包围成环状的方式配置有多个。

图2A以及2B为用于说明与实施例1相关的检测器模块14的图。如图2A所例示， 检测器模块14是光子计数(photon counting)方式、安格(anger)型检测器，具有闪烁器
141、光电倍增管(也称为PMT(PhotomultiplierTube)) 142、光波导143。另外，图2B示出了从图2A例示的箭头方向观察检测器模块14的情况。闪烁器141将从被检体P被放射出后入射的γ射线转换为可见光，并输出转换后的可见光(以下，闪烁光)。闪烁器141由例如NaI (Sodium Iodide 碘化钠)、 BGO(Bismuth Germanate 锗酸祕)、LYSO(Lutetium Yttrium Oxyorthosilicate 娃酸钇镥)、LSO(Lutetium Oxyorthosilicate 硅酸镥)、LGSO(LutetiumGadolinium Oxyorthosilicate:硅酸钆镥)等闪烁器晶体形成，如图2A所示，被排列成二维状。另外， 光电倍增管142将从闪烁器141输出的闪烁光倍增并将其转换为电信号。如图2A所例示， 光电倍增管142配置有多个。光波导143将从闪烁器141输出的闪烁光传递至光电倍增管
142。光波导143由例如透光性优越的塑料材料等形成。另外，光电倍增管142具有接收闪烁光并产生光电子的光电阴极、提供加速所产生的光电子的电场的多级的倍增电极、以及作为电子流出口的阳极。根据光电效应，从光电阴极放射出的电子向倍增电极加速而与倍增电极的表面碰撞，撞出多个电子。通过在多级倍增电极重复该现象，从而电子数量雪崩似地倍增，阳极上的电子数量达到约100万。在该例子中，光电倍增管142的增益率为100万倍。并且，由于利用了雪崩现象的放大，所以在倍增电极与阳极之间通常会被施加1000伏以上的电压。这样，检测器模块14通过闪烁器141将从被检体P放射出的Y射线转换闪烁光， 并通过光电倍增管142将转换的闪烁光转换为电信号，从而检测从被检体P放射出的γ射线。返回至图1，计数信息收集部15根据检测器模块14的检测结果收集计数信息。具体而言，计数信息收集部15对每个检测器模块14收集入射到检测器模块14的γ射线的检测位置、入射到检测器模块14的时刻的γ射线的能量值、入射到检测器模块14的γ射线的检测时间，并将收集到的这些计数信息发送至控制台装置20。首先，计数信息收集部15为了根据检测器模块14的检测结果收集检测位置，进行安格型位置计算处理。具体而言，计数信息收集部15确定将从闪烁器141输出的闪烁光在同一定时转换为电信号的光电倍增管142。并且，计数信息收集部15通过使用确定的各光电倍增管142的位置以及与电信号强度对应的γ射线的能量值运算重心的位置，从而决定表示Y射线入射的闪烁器141的位置的闪烁器编号(P)。另外，在光电倍增管142是位置检测型光电倍增管时，光电倍增管142也可以进行检测位置的收集。并且，计数信息收集部15通过积分运算由各光电倍增管142输出的电信号的强度，从而决定入射到检测器模块14的Y射线的能量值(E)。并且，计数信息收集部15收集由检测器模块14检测出Y射线的检测时间(T)。例如，计数信息收集部15以10-12秒 (微微秒)单位精度收集检测时间(T)。另外，检测时间(T)也可以是绝对时刻，也可以是例如从摄影开始时刻开始算起的经过时间。这样，计数信息收集部15收集闪烁器编号(P)、 能量值(E)、以及检测时间⑴作为计数信息。
控制台装置20在受理操作者对PET装置100的操作并控制PET图像的摄影的同时，使用由架台装置10收集到的计数信息重建PET图像。并且，控制台装置20进行光耦合剥离检查。具体而言，控制台装置20如图1所例示，具有输入部21、显示部22、床控制部 23、数据存储部24、同时计数信息生成部25、图像重建部沈、光耦合剥离检查部27、系统控制部观。另外，控制台装置20所具有的各部经由内部总线相连。输入部21是用于PET装置100的操作者输入各种指示、各种设定时的鼠标或键盘等，将输入的各种指示、各种设定转送至系统控制部观。例如，输入部21用于输入光耦合剥离检查的执行指示。显示部22是操作者参照的监视器等，在系统控制部观的控制下，显示PET图像、光耦合剥离检查的解析结果，或显示用于从操作者处受理各种指示、各种设定的⑶I (Graphical User Interface 图形用户界面)。床控制部23控制床驱动部13。数据存储部M存储PET装置100中使用的各种数据。图3为用于说明与实施例 1相关的数据存储部M的图。如图3所例示，数据存储部M具有计数信息存储部Ma、同时计数信息存储部24b、PET图像存储部Mc。另外，数据存储部M例如通过RAM (Random AccessMemory 随机存储器)、快闪存储器等半导体存储器元件、硬盘、光盘等来实现。计数信息存储部2 存储由计数信息收集部15收集到的每个检测器模块14的计数信息。具体而言，计数信息存储部2 存储从计数信息收集部15发送的每个检测器模块 14的计数信息。并且，计数信息存储部2 存储的计数信息用于同时计数信息生成部25的处理。另外，计数信息存储部2 存储的计数信息也可以在用于同时计数信息生成部25的处理后删除，也可以存储规定期间。图4为表示与实施例1相关的计数信息存储部2 存储的计数信息的一例的图。 如图4所例示，计数信息存储部2 与识别检测器模块14的模块ID对应起来，存储闪烁器编号(P)、能量值(E)、检测时间(T)。同时计数信息存储部24b存储由同时计数信息生成部25生成的同时计数信息。 具体而言，同时计数信息存储部24b通过同时计数信息生成部25存储，从而存储同时计数信息。并且，同时计数信息存储部24b存储的同时计数信息用于图像重建部沈的处理。另外，同时计数信息存储部24b存储的同时计数信息也可以在用于图像重建部沈的处理后消除，也可以存储规定期间。图5为表示与实施例1相关的同时计数信息存储部24b存储的同时计数信息的一例的图。如图5所例示，同时计数信息存储部24b与同时计数编号(coincidence NO.)对应起来，存储计数信息的组合。PET图像存储部2 存储由图像重建部沈重建的PET图像。具体而言，PET图像存储部2 通过利用图像重建部沈存储，从而存储PET图像。并且，PET图像存储部2 存储的PET图像通过系统控制部28显示在显示部22上。返回至图1，同时计数信息生成部25使用由计数信息收集部15收集到的计数信息生成同时计数信息。具体而言，同时计数信息生成部25读出被存储在计数信息存储部2 内的计数信息，并根据能量值以及检测时间，检索同时计数从正电子放射出的一对Y射线的计数信息的组合。并且，同时计数信息生成部25生成检索到的计数信息的组合作为同时计数信息，并将所生成的同时计数信息存储至同时计数信息存储部Mb。例如，同时计数信息生成部25根据由操作者输入的同时计数信息生成条件生成同时计数信息。同时计数信息生成条件中指定有能量窗幅度与时间窗幅度。例如，同时计数信息生成部25根据能量窗幅度“350keV 550keV”与时间窗幅度“600微微秒”生成同时计数信息。例如，同时计数信息生成部25参照计数信息存储部24a，参照图4例示的能量值 (E)以及检测时间(T)。并且，同时计数信息生成部25在检测器模块14之间检索检测 时间 (T)差为时间窗幅度“600微微秒”以内且能量值(E)均在能量窗幅度“350keV 550keV” 内的计数信息的组合。并且，同时计数信息生成部25当检索“P11、E11、T11”与“P22、E22、 T22”的组合作为满足同时计数生成条件的组合时，生成为同时计数信息，如图5所例示，存储在同时计数信息存储部24b内。图像重建部26重建PET图像。具体而言，图像重建部26通过读出被存储在同时计数信息存储部24b内的同时计数信息作为投影数据(正弦图数据)数据并对读出的投影数据进行逆投影处理，从而重建PET图像。并且，图像重建部26将重建的PET图像存储在 PET图像存储部24c内。光耦合剥离检查部27在PET装置100内实现基于声波的光耦合剥离检查。例如， 光耦合剥离检查部27当安装PET装置100时等，在输入部21中受理光耦合剥离检查的执行指示的输入时，执行一连串的光耦合剥离检查。并且，例如，光耦合剥离检查部27在每24 小时、每周等规定周期内，执行一连串的光耦合剥离检查处理。另外，针对光耦合剥离检查处理，后面进行详述。系统控制部28通过控制架台装置10以及控制台装置20，进行PET装置100的整体控制。例如，系统控制部28控制PET装置100的摄影。另外，上述同时计数信息生成部25、图像重建部26、光耦合剥离检查部27以及系统控制部 28 等各部通过 ASIC(ApplicationSpecific Integrated Circuit:专用集成电路)与FPGA (FieldProgrammabIe Gate Array 现场可编程门阵列)等集成电路、 CPU (Central Processing Unit 中央处理单元)与 MPU (Microprocessing Unit 微处理单元)等电子电路来实现。[与实施例1相关的光耦合剥离检查]接着，使用图6至图9，对与实施例1相关的光耦合剥离检查部27进行说明。图6 为表示与实施例1相关的光耦合剥离检查部的结构的框图，图7为用于说明与实施例1相关的检查的图。另外，图8以及图9为用于说明与实施例1相关的检查的变形例的图。如图6所例示，与实施例1相关的光耦合剥离检查部27具有声波生成部27a、声波检测部27b、解析部27c、通知信息输出部27d。另外，如图7所例示，与实施例1相关的检测器模块14在光波导143上接合压电元件14a，并且，在规定的光电倍增管142上接合压电元件14b。另外，在图7中，在被观察的5个光电倍增管142中、右边第2个光电倍增管142 与光波导143之间产生光耦合剥离。另外，在实施例1中，对光波导143以及规定的光电倍增管142分别接合有压电元件的例子进行说明，但如后面所述，所公开的技术并不限定于此。并且，在实施例1中，对接合有“压电元件”的例子进行说明，但所公开的技术并不限定于此，只要是可用于声波的生成或检测的元件，都可以任意选择。声波生成部27a对检测器模块14输入电信号，并在该检测器模块14内生成声波。具体而言，声波生成部27a向接合在检测器模块14的光波导143上的压电元件14a输入电信号，并在该检测器模块14内生成声波。在此，与实施例1相关的声波生成部27a输入脉冲信号(图7的14c)作为电信号。 理由是脉冲信号适合生成宽频带的声波。即，希望为了检查闪烁器141与光波导143之间的光耦合剥离、以及光波导143与光电倍增管142之间的光耦合剥离而生成的声波是与闪烁器141、光电倍增管142以及光波导143都共振的频率。换而言之，希望生成宽频带声波。 因此，与实施例1相关的声波生成部27a要输入脉冲信号。另外，所公开的技术并不限定于脉冲信号，也可以是脉冲信号以外的电信号。并且，与实施例1相关的声波生成部27a如图7所例示，向接合在光波导143上的压电元件14a输入电信号。即，由于其目的是检查闪烁器141与光波导143之间的光耦合剥离、以及光波导143与光电倍增管142之间的光耦合剥离，因此声波生成源也适合设为定位在中间的光波导143。另外，所公开的技术并不限定于向接合在光波导143上的压电元件 14a输入电信号的方法，例如，也可以是向接合在闪烁器141上的压电元件输入的方法或向接合在光电倍增管142上的压电元件输入的方法等。声波检测部27b检测在检测器模块14内传播的声波。具体而言，声波检测部27b 从接合在检测器模块14的规定的光电倍增管142上的压电元件14b检测声波(图7的 14d)。另外，所公开的技术并不限定于从接合在规定的光电倍增管142上的压电元件14b 检测声波的方法。例如，如图8所例示，也可以是从接合在光波导143上的压电元件14e即与用于输入电信号的压电元件14e相同的压电元件14e检测声波的方法。并且，例如，也可以是从接合在规定的闪烁器141上的压电元件检测声波的方法等。即，只要在检测器模块 14内传播声波，就不管压电元件接合在哪一位置都可以检测声波，因此压电元件的位置、数量都可任意变更。解析部27c对由声波检测部27b检测出的声波进行解析。具体而言，解析部27c 对于由声波检测部27b检测出的声波，进行基于FFT(Fast Fourier Transform 快速傅氏变换)等的频率解析，通过解析结果，发现产生光耦合剥离的面特有的频率分布，从而检测光耦合剥离的有无。此时，例如，解析部27c将通过其他实验等确定的“产生光耦合剥离的面特有的频率分布”预先保持在存储部内。并且，解析部27c通过比较解析结果与存储部中保持的“产生光耦合剥离面特有的频率分布”，发现产生光耦合剥离的面特有的频率分布， 并检测光耦合剥离的有无。 并且，例如，解析部27c也可以通过与上次检查时的频率分布进行比较，检测光耦合剥离的有无。此时，例如，解析部27c在每次检查中都将解析结果保持在存储部内。并且， 解析部27c当重新进行检查时，将此次检查时的解析结果与存储部中保持的解析结果进行比较，例如，检测解析结果中出现规定阈值以上的变化，检测光耦合剥离的有无。另外，所公开的技术并不限定于上述方法。例如，所公开的技术不限定于检测光耦合剥离的有无的方法，也可以是确定光耦合剥离的位置的方法。此时，例如，解析部27c通过其他实验等求得产生光耦合剥离的“位置”与“声波的频率特性”之间的对应关系，并将其预先保持在存储部内。并且，解析部27c通过使用解析结果参照存储部中保持的对应关系，确定与此次解析结果所示的频率特性对应起来存储的“位置”，从而确定光耦合剥离的位置。
或者，也可以是通过将多个压电元件接合在各个光电倍增管142、各个闪烁器141 上的方法来确定光耦合剥离的位置的方法。例如，如图9所例示，在光波导143上接合压电元件14f，并且，在光电倍增管142上分别接合压电元件14g。此时，声波生成部27a向接合在光波导143上的压电元件14f输入电信号，声波检测部27b从接合在光电倍增管142上的各个压电元件14g检测声波。在此，例如，设为在光波导143与规定的光电倍增管142之间产生光耦合剥离。此时，可以认为从接合在产生光耦合剥离的光电倍增管142上的压电元件14g检测出的声波具有 与从接合在其他光电倍增管142上的压电元件14g检测出的声波不同的特有的频率分布。因此，解析部27c通过频率解析由声波检测部27b检测出的多个声波中的每一个并确定具有特有的频率分布的声波，从而确定光耦合剥离的位置(产生光耦合剥离的光电倍增管 142)。返回至图6，通知信息输出部27d当通过解析部27c解析出已产生光耦合剥离时， 将通知已产生光耦合剥离的通知信息输出至显示部22。另外，通知信息输出部27d并不限定于产生光耦合剥离的情形，在未产生光耦合剥离时，也可以将通知其内容的通知信息输出至显示部22。[实施例1的效果]如上所述，与实施例1相关的PET装置100具备光耦合剥离检查部27。光耦合剥离检查部27具有声波生成部27a、声波检测部27b、解析部27c。声波生成部27a对检测器模块14输入电信号，并在该检测器模块14内生成声波。声波检测部27b检测在检测器模块14内传播的声波。解析部27c解析由声波检测部27b检测出的声波。这样，与实施例1 相关的PET装置100通过实现使用了声波的光耦合剥离检查，可以非破坏性地检查光耦合剥离。S卩，由于是输入电信号而生成声波，检测在检测器模块14内传播的声波，并根据声波的传播特性的变化确定光耦合剥离的有无或位置的方法，因此可以在暗处进行，无需拆分PET装置100，为非破坏性。并且，如上所述，由于从电信号的输入到解析都是自动进行，因此不费功夫，简单易行。进而，可以在例如检测器模块14的生产阶段简易地进行质量检查。并且，例如在设置PET装置100后，也可适用于工作中的PET装置100，因此也可以作为例如维护时检查的健康检查功能进行组合，可以高精度地进行质量检查。换而言之，可以非破坏性地、简易地、高频度地检查难以察觉到的光学系统的故障，有助于提高质量、改善维护。另外，如上所述，与实施例1相关的光耦合剥离检查部27还具有通知信息输出部 27d。通知信息输出部27d当通过解析部27c解析已产生光耦合剥离时，输出通知已产生光耦合剥离的通知信息。由此，例如，维护人员可以简易地识别光耦合剥离检查的结果。另外，如上所述，与实施例1相关的声波生成部27a输入脉冲信号作为电信号。因为脉冲信号适合生成宽频带声波，由此，根据实施例1，可以更高精度地进行光耦合剥离检查。另外，如上所述，在实施例1中，使用例如在光波导143中生成声波的方法，可以更高精度地进行光耦合剥离检查。并且，如上所述，在实施例1中，使用例如对每个闪烁器141 或每个光电倍增管142检查声波的方法，可以确定到产生光耦合剥离的位置。或者，如上所述，在实施例1中，也可以使用解析声波的频率特性而参照存储部、并根据产生光耦合剥离的位置与频率特性之间的对应关系来确定产生光耦合剥离的位置的方法。(实施例2)接着，使用图10，对与实施例2相关的解析系统进行说明。如图10所例示的，与第 2实施例2相关的解析系统具有PET装置150与解析装置200。在此，与上述实施例1相关的PET装置100是在光耦合剥离检查部27内具有解析部27c以及通知信息输出部27d的装置，但与实施例2相关的PET装置150不在自身装置中进行解析，而是将解析所需要的信息传递给经由网络连接的解析装置200。并且，由解析装置200进行解析处理或通知信息的输出处理等。例如，可以适用于远程维护。具体而言，如图10所例示，PET装置150具备光耦合剥离检查部四，以代替PET 装置100的 光耦合剥离检查部27。光耦合剥离检查部四如图10所例示，具有声波生成部 ^a、声波检测部^b、发送部^c。另外，PET装置150与PET装置100 —样，具备其他各部。声波生成部29a和与实施例1相关的声波生成部27a —样，对检测器模块14输入电信号，并在该检测器模块14内生成声波。声波检测部29b和与实施例1相关的声波检测部27b —样，检测在检测器模块14内传播的声波。发送部29c发送与声波检测部29b检测出的声波有关的信号。另一方面，解析装置200如图10所例示，具有接收部210、解析部220、通知信息输出部230。接收部210经由网络接收与从发送部29c发送的声波有关的信号。解析部220 和与实施例1相关的解析部27c —样，根据与接收部210接收到的声波有关的信号对声波进行解析。通知信息输出部230和与实施例1相关的通知信息输出部27d —样，当通过解析部220解析出已产生光耦合剥离时，输出通知已产生光耦合剥离的通知信息。另外，解析系统的结构并不限定于图10的例子，例如，也可以是到解析处理为止在PET装置150侧进行，只将其解析结果传递至解析装置200侧的结构。(实施例3)另外，所公开的技术除上述实施例以外，也可以通过各种不同的方式来实施。例如，在上述实施例1中，作为PET装置100的结构例示了图1，但所公开的技术并不限定于此。例如，计数信息收集部15也可以配置在控制台装置20侧，相反，同时计数信息生成部25也可以配置在架台装置10侧。并且，数据存储部M中存储的各种数据也可以配置在架台装置10侧，或者也可以配置在控制台装置20侧。各数据保持在PET装置100 内的期间也是任意的。另外，针对本发明的几个实施方式进行了说明，但这些实施方式是作为例子而示出的，并不为了限定发明的范围。这些实施方式可以通过其他各种方式来实施，在不脱离发明要旨的范围内，可以进行各种省略、置换、变更。这些实施方式或其变形与包含在发明范围或要旨内一样，包含在权利要求范围内所述的发明与其均等范围内。
权利要求
1.一种核医学成像装置，其特征在于，包括 检测器，检测从被检体放射出的放射线；声波生成部，对上述检测器输入电信号，在该检测器内生成声波； 声波检测部，检测在上述检测器内传播的上述声波；以及解析部，解析由上述声波检测部检测出的声波。
2.根据权利要求1所述的核医学成像装置，其特征在于，还包括通知信息输出部，当由上述解析部解析出已产生光耦合剥离时，输出通知已产生光耦合剥离的通知信息。
3.根据权利要求1所述的核医学成像装置，其特征在于 上述声波生成部输入脉冲信号作为上述电信号。
4.根据权利要求1所述的核医学成像装置，其特征在于上述检测器是具有将从被检体放射出的放射线转换为闪烁光的闪烁器、将该闪烁光倍增并将其转换为电信号的光电倍增管和将从该闪烁器输出的闪烁光输出至该光电倍增管的光波导的检测器；上述声波生成部在上述光波导内生成声波。
5.根据权利要求1所述的核医学成像装置，其特征在于上述检测器是具有将从被检体放射出的放射线转换为闪烁光的闪烁器、将该闪烁光倍增并将其转化为电信号的光电倍增管和将从该闪烁器输出的闪烁光输出至该光电倍增管的光波导的检测器；上述声波检测部对每个上述闪烁器以及/或每个上述光电倍增管检测上述声波； 上述解析部通过解析由上述声波检测部对每个上述闪烁器以及/或每个上述光电倍增管检测出的声波，确定产生光耦合剥离的位置。
6.根据权利要求1所述的核医学成像装置，其特征在于还包括存储部，存储产生光耦合剥离的位置与由上述解析部解析的声波的频率特性的对应关系；上述解析部解析由上述声波检测部检测出的声波的频率特性并参照上述存储部，根据与该频率特性的对应关系确定产生光耦合剥离的位置。
7.一种解析系统，其特征在于，包括核医学成像装置，具备检测从被检体放射出的放射线的检测器、对上述检测器输入电信号并在该检测器内生成声波的声波生成部、检测在上述检测器内传播的上述声波的声波检测部、以及发送与由上述声波检测部检测的声波有关的信号的发送部； 接收部，经由网络接收从上述发送部发送的与上述声波有关的信号；以及解析部，根据与所接收到的上述声波有关的信号解析声波。
全文摘要
PET装置(100)具备光耦合剥离检查部(27)。列举一例，光耦合剥离检查部(27)向接合在检测器模块(14)上的压电元件等输入电信号，在该检测器模块(14)内生成声波。并且，光耦合剥离检查部(27)检测在检测器模块(14)内传播的声波，并频率解析所检测出的声波。并且，光耦合剥离检查部(27)通过作为解析的结果，发现产生光耦合剥离的面所特有的频率分布或与上次检查时的频率分布比较，检测光耦合剥离的有无。
文档编号G01N29/44GK102439484SQ201180001791
公开日2012年5月2日 申请日期2011年8月3日 优先权日2010年8月9日
发明者勅使川原学, 柳田祐司, 梅原隆哉, 高山卓三 申请人:东芝医疗系统株式会社, 株式会社东芝