专利名称：一种对复位芯片批量进行环境测试的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种复位芯片的测试装置，具体地说是一种对复位芯片批量进行
环境测试的装置。
背景技术：
由于复位芯片厂家生产工艺、材料使用的不同而带来的质量降低，生产批次故障等原因，致使复位芯片在不同的工作环境中不能正常复位，从而导致税控产品不能正常工作，如不开机、工作异常等。 目前复位芯片的环境测试，主要是通过整机进行。这种测试方法主要有两个缺陷一、一台整机测试一片复位芯片，效率低，可操作性不强，测试项目不全；二、测试数量受限，不能充分的反应问题。

实用新型内容本实用新型的技术任务是针对以上不足之处，提供一种可以同时对多个复位芯片进行环境测试、从而可以充分测试不同的环境下复位芯片能否可靠的复位的一种对复位芯片批量进行环境测试的装置。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是包括测试主板和稳压电源、环
境试验箱、测试仪器；测试主板设置有电源接口、复位芯片接口 ；稳压电源连接测试主板的
电源接口 ；环境试验箱与测试主板相连接，测试主板放置在环境试验箱内；测试仪器与测
试主板的复位芯片接口相连。 测试仪器包括电流表、示波器。 测试主板的复位芯片接口为1 100个。 本实用新型使用时的步骤为 1、将待测复位芯片安装在复位芯片接口上，安装数量根据测试情况而定，最多可达100片； 2、通过稳压电源供电，在测试主板上通过短路环来控制每个复位芯片是否上电工作，即每个复位芯片是独立工作的； 3、在常温环境下，首先用电流表测试每个复位芯片的工作电流是否满足要求；其次用示波器分别监测输入电压、复位芯片复位管脚的电压跌落参数，二者进行比对，判断复位芯片是否异常，进而实现测试目的； 4、将安装有复位芯片的测试主板放入环境试验箱，进行低温工作试验；结束后，进行步骤3的操作； 5、按照步骤4分别进行低温贮存、高温工作、高温贮存、恒定湿热工作、恒定湿热贮存试验； 6、根据以上测试，从而可以充分的测试复位芯片能否可靠的复位。 本实用新型的一种对复位芯片批量进行环境测试的装置和现有技术相比，可以同时对多个复位芯片进行环境测试，数量可达上百个，从而可以充分测试不同的环境下，复位芯片能否可靠的复位；具有设计合理、结构简单、易于加工、使用方便、成本低、可操作性强等特点，因而，具有很好的推广使用价值。
以下结合附图对本实用新型进一步说明。
附

图1为一种对复位芯片批量进行环境测试的装置的结构示意框图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明。 本实用新型的一种对复位芯片批量进行环境测试的装置，其结构包括测试主板和稳压电源、环境试验箱、测试仪器；测试主板设置有电源接口、复位芯片接口 ；稳压电源连接测试主板的电源接口 ；环境试验箱与测试主板相连接，测试主板放置在环境试验箱内；测试仪器与测试主板的复位芯片接口相连。[0020] 测试仪器包括电流表、示波器。[0021] 测试主板的复位芯片接口为100个。 使用时，将待测复位芯片安装在测试主板的复位芯片接口上，然后将测试主板放入环境试验箱，进行高温、低温、恒定湿热试验后，用电流表、示波器对待测复位芯片进行测试。 除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。
权利要求一种对复位芯片批量进行环境测试的装置，其特征在于包括测试主板和稳压电源、环境试验箱、测试仪器；测试主板设置有电源接口、复位芯片接口；稳压电源连接测试主板的电源接口；环境试验箱与测试主板相连接，测试主板放置在环境试验箱内；测试仪器与测试主板的复位芯片接口相连。
2. 根据权利要求1所述的一种对复位芯片批量进行环境测试的装置，其特征在于测试 仪器包括电流表、示波器。
3. 根据权利要求1所述的一种对复位芯片批量进行环境测试的装置，其特征在于测试 主板的复位芯片接口为1 100个。
专利摘要本实用新型公开了一种对复位芯片批量进行环境测试的装置，属于一种复位芯片的测试装置，其结构包括测试主板和稳压电源、环境试验箱、测试仪器；测试主板设置有电源接口、复位芯片接口；稳压电源连接测试主板的电源接口；环境试验箱与测试主板相连接，测试主板放置在环境试验箱内；测试仪器与测试主板的复位芯片接口相连。本实用新型的一种对复位芯片批量进行环境测试的装置和现有技术相比，可以同时对多个复位芯片进行环境测试，数量可达上百个，从而可以充分测试不同的环境下，复位芯片能否可靠的复位；具有设计合理、结构简单、易于加工、使用方便、成本低、可操作性强等特点。
文档编号G01R31/28GK201532442SQ20092028136
公开日2010年7月21日 申请日期2009年11月23日 优先权日2009年11月23日
发明者于治楼, 崔珊珊, 李培钦 申请人:浪潮齐鲁软件产业有限公司