专利名称:电子产品测试机的制作方法
技术领域:
本实用新型与电子产品的制造设备有关,特别是关于一种电子产品测试机。
背景技术:
所谓的封测工艺,包含有封装与测试两部份。所谓封装(packaging)是指将集成 电路与阻抗、电容器等被动组件焊装在电路基板上,并以连接器(connector)连接各部,最 后将其装设在一封闭容器中,以形成一电子产品。在封装工艺后,尚须对该电子产品进行测 试,以确定电子产品的电路是否正常运作。过去的测试作业是将电子产品(以下以储存卡为例说明)由tray盘取出放置于 一测试盘中。接着将该测试盘放置于一测试机中。该测试机具有若干探针卡(probe card), 可压抵于储存卡的金手指,以检测储存卡。测试完毕后,测试机会显示哪些储存卡是不正常 的,需要被移除。较新的检测技术可让储存卡直接在tray盘上进行检测,如此可大幅降低检测的 时间,以提高生产率。然如何使tray盘上储存卡的金手指能够确实的接触探针卡,这是一 个需要克服的问题。另外,检测完毕后,需要依据检测的结果,将不良品取出。传统的方法是作业员依 据计算机显示的结果,一个一个将不良品取出。然,一般的tray盘上有96个、98个或是120 个储存卡;以人工的方式进行常常会发生错误的情形。也有以自动机械手臂自tray盘中将 不良品挑出。快速、正确是自动化的优点;然自动化机械的成本高,确是另一个问题。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种电子产品测试机,其可正确且快速的检测电此产 品的电路功能。为实现上述目的,本实用新型提供的电子产品测试机,用以检测放置在一承载装 置上的多数个电子产品,该测试机具有一机座,其上具有一工作台面,而该工作台面上具有 一检测区;该检测区设置有一检测装置,而该检测装置包含有一检测器,具有若干对应于承载装置上的电子产品的探针;一台板,用以放置该承载装置;一扬升机,连接至该台板,用以推动该台板朝向该检测器移动;以及一导引件,用以在该台板接近该检测器时,将该承载装置定位于预定位置,令该检 测器的探针可确实接触电子产品。所述的电子产品测试机,其中该导引件具有若干个导引块设置于该检测器上;各 导引块上具有一斜面,且相邻二导引块上斜面的外端之间的距离大于斜面的内端之间的距
1 O所述的电子产品测试机,其中该台板上具有凹槽,对应于导引块。所述的电子产品测试机,其中该台板上具有一放置承载装置的凹部;该些凹槽设置于凹部的周围,并与该凹部连通。所述的电子产品测试机,其中该些导引块为承L形的块体,对应于承载装置的四 个端角,在其内侧面上设置有该斜面。所述的电子产品测试机,其中该检测器具有一固定座,至少一探针座,其上设置有 该些探针,以及一电连接器,与该些探针电连接;该探针座与该电连接器分别固定于该固定 座上。所述的电子产品测试机,其中该固定座具有一开口,而开口的周缘具有一垣部,该 探针座装设于该开口中,并抵靠于该垣部。所述的电子产品测试机,其中该电连接器上设置有连接垫,分别直接与探针座上 的探针接触。所述的电子产品测试机,其中该工作台面上具有一挑检区,该挑捡区中设置有一 挑检装置,连接至该检测装置,接收检测的结果;该挑检区位于该检测区的前方,较为接近 操作人员。所述的电子产品测试机,其中该工作台面在挑检区处设置有一透明板片,其下方 则设置有该挑检装置的显示器。所述的电子产品测试机,其中该透明板片上设置有对应于该承载盘的定位座,该 承载盘移动至贴靠于定位座,以定位该承载装置。所述的电子产品测试机,其中该定位座与该承载装置上分别设有可相互嵌合的凸 块与凹槽。所述的电子产品测试机,其中该显示器显示与该承载装置的承载区对应的区块, 令该承载装置移动至该透明板片上时,其上的电子装置分别具有一部分与对应的区块重 迭;且该些区块可根据检测装置的检测结果而分别产生预定的色光。所述的电子产品测试机,其中各区块的尺寸大于电子产品。所述的电子产品测试机,其中该承载装置为透明或半透明材料。所述的电子产品测试机,其中该承载装置具有孔位于电子产品旁边,供色光穿过。综上所述,本实用新型的测试区提供了导引器,让封装完毕的电子产品可无需进 行任何转换动作,直接放在检测装置中进行检测,而且检测装置也可根据电子产品的规格 进行更换,大大的提高了测试机的应用范围。而在挑捡区中,本实用新型利用空间的兼容性 (space compatibility),让要被挑出的电子产品直接被不同的光所标示,因此作业员无须 经过认知上的转换,即可将特定的电子产品挑出,俾以达成迅速、正确且成本低廉的检测与 挑检工艺。
图1为本实用新型一较佳实施例的立体图;图2为本实用新型一较佳实施例的检测装置的立体图;图3为本实用新型一较佳实施例的检测器的分解图;图4为本实用新型一较佳实施例的另一规格的检测器的分解图;图5至图8为本实用新型一较佳实施例的检测装置剖视图,显示偏移的承载装置 受到导引块的作用而回复到正中位置;[0033]图9为本实用新型的挑检区的示意图;以及图10为承载盘放至于挑捡区上,进行挑检不良品作业。附图中主要组件符号说明10承载装置,12电子产品(储存卡),14机座,16工作台面,18测试区,20挑检区, 22外框,24立架,26,26'检测器,28台板,30扬升机,32固定座,34,34'探针座,36,36'电 连接器,38开口,40垣部,42、42,探针,46插槽,52导引块,54斜面,56凹部,58凹槽,62显 示器,64鼠标,66键盘,68透明板片,70定位座,72凸块,74凹槽,76信息区,78操作区,80 标示区,82区块。
具体实施方式
本实用新型所提供的电子产品测试机,用以检测放置在一承载装置上的多数个电 子产品,该测试机具有一机座,其上具有一工作台面,而该工作台面上具有一检测区;该检 测区设置有一检测装置,而该检测装置包含有一检测器,具有若干对应于承载装置上的电 子产品的探针;一台板,用以放置该承载装置;一扬升机,连接至该台板,用以推动该台板 朝向该检测器移动;以及一导引件,用以在该台板接近该检测器时,将该承载装置定位于预 定位置,令该检测器的探针可确实接触电子产品。在一实施例中,本实用新型的检测装置具有可更换的检测器,以供不同供格的电 子产品测试用。在一实施例中,本实用新型的测试机还具有一挑检区,其中具有一挑检装置,接收 该检测装置的检测结果,以将不良产品或是需要挑检出的产品挑出。由此,电子产品可无需进行任何转换动作,直接放在检测装置中进行检测。另外在 挑捡区中,本实用新型让作业员无须经过认知上的转换,即可将特定的电子产品挑出,以达 到迅速、正确且成本低廉的检测与挑检工艺。
以下结合附图作详细说明。请参阅图1所示,本实用新型一较佳实施例所提供的电子产品测试机,是供检测 与挑检一承载装置10上的电子产品12。在本实施例中,电子产品12是以micro-SD储存卡 为例说明,而该承载装置10与一般tray盘相同,上面放置有120(15X8)个储存卡12。该 测试机具有一机座14,其上具有一工作台面16,该工作台面16上具有一测试区18以及一 挑检区20。在该测试区18设置有一检测装置,该挑检区20则设置有一挑检装置。请参阅图2所示,该测试区18的上方设置有一外框22,其中设置有二立架M ;检 测装置包括有一检测器沈设置在该二立架M的上端,一台板28位于该二立架M之间,以 及一扬升机30。请参阅图3所示,该检测器沈包括一固定座32、五个探针座34以及一电连接器 36。该固定座32为一矩形板件,利用螺栓(未显示)固定于该二立架M的顶端。该固定座 32的中央具有一矩形开口 38,而在开口 38的周缘具有一垣部40。该开口 38的形状与尺寸 约略与承载装置10相同。各该探针座34上设置有若干探针42。该些探针42的位置是根据 承载装置10上的电子产品12的位置所设置。在本实施例中,每一探针座34有M(15X8) 组探针。当探针座;34放置在固定座32的开口 38中,令其周缘抵靠在该垣部40上,再以螺 栓固定后,该些探针42的配置恰对应于装设在承载装置10上的储存卡12的金手指。该电连接器36为一电路板,其上具有若干插槽46,而下方具有若干连接垫(未显示)与插槽46 电连接,而这些连接垫的位置是对应于探针座34上的探针。该电连接器36位于该固定座 32的上方,并以螺栓与固定座32连接固定,使连接垫直接接触该些探针42 ;电连接器36的 插槽46上插设有测试板(未显示),再通过排线(未显示),或其它类似传输装置(例如插 槽),与挑检装置电性连接。在类似的产品中,使用TSOP封装技术的内存的尺寸通常比micro-SD大,在相同尺 寸的承载装置上只能放置96(12X8)个内存。本实用新型所提供的测试机在检测这样的内 存时,仅需要更换不同规格的检测器。图4显示一个应用于测试TSOP内存的检测器沈’具 有一与的前相同的固定座32、四个探针座34’,每一探针座34’具有M (3X8)组探针42’, 以及一电连接器36’。当本实用新型的测试机应用于检测不同的电子产品时,仅要更换整组 的检测装置即可,可提高测试机的应用范围。实际上,除前述形态的电子产品外,任何形式的电子产品,例如随身碟、SD、CF、 T-flash、ULGA,或是任何电子产品在封装后需要测试其电路者,均可应用本实用新型的测 试机。在实际操作上,仅需要有配合产品的承载装置以及探针座即可。此外,检测器是以固定座、探针座以及电连接器所组成,其主要目的在于提供当探 针或某一零件损坏或故障时方便维修的用。请参阅图5,在该固定座32的底侧设置有导引件。该导引件具有4个位于该开口 的端角处的导引块52。各导引块52为L形的块体,而面向该开口 38的一侧(内侧面)具 有斜面M。相邻导引块52上两斜面M外端之间的距离,大于内端之间的距离。该台板观 的上侧具有一凹部56,且在该凹部56的四个角落各设有一凹槽58,与凹部56连通。各凹 槽58对应于该固定座32底端的导引块52。该扬升机30在本实施例中为一气压缸,设置于 工作台面16的下方,并且其轴杆穿过工作台面16而连接至台板28,由此,启动该扬升机30 后可驱动该台板28上下移动。完成封装工艺后,直接将装有封装后的储存卡12的承载装置10放置于该测试区 的台板观的凹部56中。无论是利用人工或是自动化装置,承载装置10均会或多或少偏离 预定位置。接着启动该扬升机30,上升该台板观,使其朝向该检测器沈移动。当该承载装 置10接近该检测器沈时,首先承载装置10的端角会先接触某一或数个导引块52的斜面 M。请参阅图6所示,其中显示承载装置10偏向一侧,此时,承载装置10的一侧会先接触 到导引块52的斜面M ;当扬升机30继续推动台板观时,斜面M会使承载装置10回复到 正中的位置,最后四个导引块52会进入台板观上的凹槽58,使承载装置10定位于所设定 的位置,如图7与图8所示,让其上的储存卡12的金手指能确实与探针座34上的探针42 接触,以进行检测作业。当检测完毕后,检测装置即会将检测结果,通过排线,传至挑检装置。在本实施例 中,该挑捡装置为一计算机,具有一主机(未显示)、一显示器62、一鼠标64以及一键盘66。 挑拣区位于测试区的前方,比较靠近作业员。该工作台面16在挑检区处设置有一块透明板 片68,且其上设置有定位座70,其形状对应于承载装置10。该定位座70上设置有二凸块 72,对应于承载装置10上的凹槽74。实务上,亦可制作为定位座上是凹槽而承载装置上是 凸块。应用于此的承载装置10是以透明的材质所制成。请参阅图9所示,显示器62位于挑检区的透明板片68的下方,用以显示检测的结果。显示器62所呈现的画面有信息区76、操作区78与标示区80。画面左上方的信息区 76显示检测的相关信息,例如检测开始时间、结束时间、不良品数量等;右上方的操作区 78具有一个下拉式选单,作业员可依需要或指示,利用鼠标64与键盘66,选择所需要的选 项。例如可依据不同的Bin别选择。画面下方为标示区80,其具有与承载装置等尺寸的 图样,而且划分有120个对应于储存卡12位置的区块82。每个区块82的尺寸大于承载装 置10上的储存卡12的大小。区块82中有编号,并且会依据测试结果而显示特定的颜色。 举例而言,当某一承载装置10中的储存卡12在测试区中进行检测作业后,该检测装置将检 测结果为不良品的储存卡,在其显示器上所对应的区块82中,以特定的色光(例如红色光) 或是闪烁光标示的。图中显示标号第2、观、48、65与110号的区块82为不良品的位置。检测完毕后,将承载装置10由测试区18移动至挑检区20。由于测试区18与挑检 区20在同一工作台面16上,因此只需要将承载装置10沿着工作台面161自检测区18移 动至挑检区20,并且使承载装置10受到该定位座70的拘束(凸块72与凹槽74的对合), 如此即完成承载装置10定位于挑检区20的动作。此时,请参阅图10所示,承载装置10位 于显示器62的标示区80的正上方,而各储存卡12也位于对应的区块82上方,成重迭的状 态。当检测结果显示于显示器62上时,相关的信息(检测开始时间、结束时间、不良品 数量)会显示于信息区76。而检测为不良品的储存卡也会在对应的区块82上,以红色显 示。因此,当承载装置10移动至挑检区20后,由于区块62的尺寸大于储存卡12,且承载装 置10是透明的,不良的储存卡周围会有红色光的标记,以为作业员以视觉的方式察觉。接 着,作业员仅需要将下方有红色光标记的储存卡挑出,即完成了挑检作业。需要说明的是,透明承载装置的最主要功能是让标示区的区块的色光能穿过承载 装置而为作业员所查觉。因此,任何能让光通过的手段,例如半透明的承载装置或是在承 载装置上位于电子产品旁边设置能让光穿过的孔,均为本实用新型可使用的方式。另外,标 示区的区块是以矩形且整面发光为例,实际上,标示区的区块可为任何形状,发光的方式亦 可为局部发光、或是闪烁光。实际上推荐的方式为要保留的区块以蓝色、绿色等较为黯淡 的颜色显示;而要移除的区块则以红色、黄色等较为鲜明的颜色显示。如此可更清楚的标示 效果。
权利要求1.一种电子产品测试机,用以检测放置在一承载装置上的多数个电子产品,该测试机 具有一机座,其上具有一工作台面,而该工作台面上具有一检测区;其特征在于,该检测区 设置有一检测装置,而该检测装置包含有一检测器,具有若干对应于承载装置上的电子产品的探针;一台板,用以放置该承载装置;一扬升机,连接至该台板,用以推动该台板朝向该检测器移动;以及一导引件,用以在该台板接近该检测器时,将该承载装置定位于预定位置,令该检测器 的探针可确实接触电子产品。
2.根据权利要求1所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该导引件具有若干个导 引块设置于该检测器上;各导引块上具有一斜面,且相邻二导引块上斜面的外端之间的距 离大于斜面的内端之间的距离。
3.根据权利要求2所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该台板上具有凹槽,对应 于导引块。
4.根据权利要求1所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该台板上具有一放置承 载装置的凹部;该些凹槽设置于凹部的周围,并与该凹部连通。
5.根据权利要求2所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该些导引块为承L形的块 体,对应于承载装置的四个端角,在其内侧面上设置有该斜面。
6.根据权利要求1所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该检测器具有一固定座, 至少一探针座,其上设置有该些探针,以及一电连接器,与该些探针电连接;该探针座与该 电连接器分别固定于该固定座上。
7.根据权利要求6所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该固定座具有一开口,而 开口的周缘具有一垣部,该探针座装设于该开口中,并抵靠于该垣部。
8.根据权利要求6所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该电连接器上设置有连 接垫,分别直接与探针座上的探针接触。
9.根据权利要求1所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该工作台面上具有一挑 检区,该挑捡区中设置有一挑检装置,连接至该检测装置,接收检测的结果;该挑检区位于 该检测区的前方,较为接近操作人员。
10.根据权利要求9所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该工作台面在挑检区处 设置有一透明板片,其下方则设置有该挑检装置的显示器。
11.根据权利要求10所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该透明板片上设置有 对应于该承载盘的定位座,该承载盘移动至贴靠于定位座,以定位该承载装置。
12.根据权利要求11所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该定位座与该承载装 置上分别设有可相互嵌合的凸块与凹槽。
13.根据权利要求10所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该显示器显示与该承 载装置的承载区对应的区块,令该承载装置移动至该透明板片上时,其上的电子装置分别 具有一部分与对应的区块重迭;且该些区块可根据检测装置的检测结果而分别产生预定的 色光。
14.根据权利要求13所述的电子产品测试机,其特征在于,其中各区块的尺寸大于电子广品。
15.根据权利要求13所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该承载装置为透明或 半透明材料。
16.根据权利要求13所述的电子产品测试机,其特征在于,其中该承载装置具有孔位 于电子产品旁边,供色光穿过。
专利摘要一种电子产品检测机,具有一测试区以及一挑检区。测试区中具有一检测器,下方具有一台板,供放置一装有电子产品的tray盘。台板受一扬升机的驱动,将tray盘朝向检测器移动。检测器的下方设置有导引块,将tray盘调整至预定位置,让检测器进行检测。挑拣区中具有一显示器,其中显示有与tray盘上电子产品相同配置的区块。测试完毕的垫子产品,连同tray盘直接移动至挑检区,让电子产品与区块重叠,已由操作员将接特别显示的区块上的垫子产品挑检出。
文档编号G01R31/28GK201867468SQ201020564410
公开日2011年6月15日 申请日期2010年10月15日 优先权日2010年10月15日
发明者吴傅祺, 杨睿轩 申请人:王立民