专利名称：循环测试时间控制装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及控制技术领域，更具体的说涉及一种用于测试系统的循环测试 时间控制装置。
背景技术：
目前电气器件对于性能的要求很高，需要制作自动测试台对其性能进行测试，在 有些测试中，要使用时间循环测试，这就需要在测试中事先设定循环测试时间，例如，在对 电机启动性能的测试中，就需要设定电机运转时间和电机停止时间，使电机在启动运转后 运行到所设定的电机运转时间后，关闭电机电源，当电机关闭的时间到达所设定的电机停 止时间后，又打开电机电源来启动电机，如此来反复循环测试电机的启动性能，为了达到循 环测试的目的，一般使用时间继电器来设定时间，每一种测试过程的预设时间都需要一个 时间继电器来设定，如果所需要设定的测试时间很多，就需要很多时间继电器来设定时间， 并且每个测试台都需要单独配备大量的时间继电器，数量众多的时间继电器不仅体积大， 占地方，而且价格较贵，容易出故障。中国专利号ZL200520123944. 4实用新型专利所公布 的一种温差电致冷组件致热交变测试装置，它由多个数字时间继电器与多组交流接触器组 成的循环触发系统，由于使用了多个数字时间继电器造成了设备体积的增大，容易出故障 等缺点。

实用新型内容本实用新型提供了一种体积小，并且可以同时控制多台测试台的循环测试时间控 制装置，解决了由于采用时间继电器作为循环测试时间控制装置而造成的体积大，价格贵， 容易出故障，不利于多台测试台的集成控制的问题。上述技术问题通过下述技术方案予以解决一种循环测试时间控制装置，包括直 流电源、主控模块、时间设定模块，所述时间设定模块输出信号到主控模块，所述的直流电 源分别连接到主控模块和时间设定模块。时间设定模块可以预设多个时间数据，主控模块 读取到时间设定模块的输出的时间信号后，发出相应的控制信号去控制与其相连的测试台 电路的通断，以此来控制测试台的循环测试。作为优选，时间设定模块包括时间控制芯片，时间控制芯片插接在芯片座上，芯片 座引脚焊接在印刷电路板上。这样在设定时间控制芯片的数据时可以将其先设定好，再插 入芯片座，也可以用串口线将时间设定模块与电脑相连，通过调试软件，电脑可以将要设定 的数据通过串口线发送到时间控制芯片中。作为优选，主控模块包括单片机及外围电路。单片机体积小，功能强，有很多输入 输出接口，可以通过编程来同时控制多台测试台电路的通断。作为优选，主控模块上还连接有一启动开关。此启动开关发出信号到主控模块，主 控模块接收到此信号，发出控制信号来控制测试台电路的通断。由于采用了上述技术方案，所以本实用新型具有下述优点体积小，价格便宜，故障率低，并且可以同时控制多台测试台进行循环测试，提高了测试人员的工作效率。附图 说明

图1为本实用新型的电路原理框图。图2为本实用新型实施例的一种电路原理图。图3为本实用新型实施例的一种电路板结构图。在图中1.直流电源，2.启动开关，3.主控模块，4.时间设定模块，5.控制信 号，11.单片机，12.时间控制芯片，13.晶振电路，21.端子排，22.芯片座，23.电路板。
具体实施方式
下面结合实施例和附图对本实用新型作进一步的说明如图1所示，本实用新 型的循环测试时间控制装置包括直流电源1、启动开关2、主控模块3和时间设定模块4，直 流电源1提供直流电到主控模块3和时间设定模块4，启动开关2提供一个开关信号到主控 模块3，时间设定模块4提供时间信号到主控模块3，主控模块3发出控制信号5到所连接 的测试台的测试电路。图2为本实用新型的一个实施例的电路原理图，单片机11具有24个输入输出接 口，每个接口可以作输入口，也可以作输出口，在这里使用了 10个接口作输入口，用来和时 间控制芯片12的输出口相连接，使用10个接口作输出口，用于发出信号去控制测试台，启 动开关2 —端接单片机11的一个输入接口，另一端接地，当启动开关2闭合，发出一个低电 平信号到单片机11。此外单片机11还连接有一个晶振电路13，这里单片11及其外围的晶 振电路13就构成了如图1所示的主控模块3。图3为本实施例的电路板结构图，时间控制芯片12插接在芯片座22中，芯片 座22的插脚焊接在电路板23上，时间控制芯片12的输出接口通过芯片座22的引脚与单 片机11的输入口相连，单片机11的输出口连接到端子排21，通过端子排21连接到测试台 的测试电路，单片机11和时间控制芯片12的电源接口都连接到端子排21，通过端子排21 再连接到如图1所示的直流电源1，在这里时间控制芯片12和芯片座22构成了如图1所示 的时间设定模块4，单片机11的外围线路在这里省略没有画。本实施例的工作过程为首先预设时间控制芯片12的时间参数，通过串口线将时 间控制芯片12连接到电脑上，通过调试软件设置时间控制芯片12的时间参数。具体设置 方式可参考时间控制芯片12的使用说明，因为这为现有技术，所以这里不做详细说明。当 时间控制芯片12时间参数设置好后，将时间控制芯片11插入到芯片座22上，按下启动开 关2，单片机11接收到启动开关2发出的启动信号后，开始接收时间控制芯片12发出的时 间信号，并根据所收到的时间信号，发出控制信号5到所要控制的测试台的测试电路上，控 制测试电路的通断，从而达到循环测试目的。由于时间控制芯片12具有数量众多的输出线， 而且每个输出线可以设定32个循环时间，也就时说时间控制芯片12的每个输出线都相当于 32个时间继电器，本实施例的时间控制芯片使用了 10个输出线，也就是说，在本实施例中时 间控制芯片12相当于320个时间继电器，时间控制芯片12每个输出线的输出的数据表示一 个控制台的循环测试时间，单片机U的每个输出端都可以控制一台测试台，在本实施例中， 由于使用了时间控制芯片的10个输出线，所以可以使用单片机10的输出口来自动控制10个 测试台同时开始进行循环测试工作，并且每个工作台最多可以有32种循环时间的工作方式。
权利要求一种循环测试时间控制装置，包括直流电源，其特征在于还包括主控模块、时间设定模块，所述时间设定模块输出信号到主控模块，所述的直流电源分别连接到主控模块和时间设定模块。
2.根据权利要求1所述的循环测试时间控制装置，其特征在于所述的时间设定模块 包括时间控制芯片，所述的时间控制芯片插接在芯片座上，所述的芯片座引脚焊接在印刷 电路板上。
3.根据权利要求1或2所述的循环测试时间控制装置，其特征在于所述的主控模块 包括单片机及外围电路。
4.根据权利要求1或2所述的循环测试时间控制装置，其特征在于所述的主控模块 上还连接有一个启动开关。
专利摘要本实用新型涉及控制技术领域，更具体的说，涉及一种用于测试系统的循环测试时间控制装置。它提供了一种体积小，并且可以同时控制多台测试台的循环测试时间控制装置，解决了由于采用时间继电器作为循环测试时间控制装置而造成的体积大，价格贵，容易出故障，不利于多台测试台的集成控制的问题。本实用新型包括直流电源、主控模块、时间设定模块，所述时间设定模块输出信号到主控模块，所述的直流电源分别连接到主控模块和时间设定模块。
文档编号G01R31/00GK201741009SQ20102024866
公开日2011年2月9日 申请日期2010年7月6日 优先权日2010年7月6日
发明者姚建明, 李书福, 杨健, 潘巨林 申请人:浙江豪情汽车制造有限公司;浙江吉利控股集团有限公司