专利名称：一种分时测试的soc测试调度方法
技术领域：
本发明涉及集成电路测试领域，具体涉及片上系统SOC测试调度的方法。
背景技术：
随着半导体工艺的进步和集成电路设计能力的提高，各种功能的IP 核(IntellectualProperty，IP)组成系统被集成到一个芯片上成为系统芯片 (System-on-a-Chip, S0C)。由于SOC具有性能高、体积小、功耗低、研制周期短等优势，使 其近年来被越来越多地应用于各种电子设备中。但是随着SOC规模的扩大和功能的完善， SOC的测试时间与测试成本成倍增加，测试问题已逐渐成为SOC发展的瓶颈。为了降低测 试费用，尽可能减少测试时间，人们希望尽可能多地对SOC内的IP核进行并行测试。因此， SOC测试调度问题，即确定各个IP核的测试顺序并为之分配相应的测试总线宽度使总测试 时间最短，成为SOC系统级测试中亟待解决的问题。SOC的测试调度问题是个NP完全问题，近年来研究人员将此转换为二维装箱问 题，采用序列对(sequence pair，SP)、边界限制格(bounded slicing grid，BSG)和 0-tree 等结构表示方法，配合最佳拟合算法、模拟退火算法、以及遗传算法等等优化算法对其进行 求解，但是上述方法在求解效率方面仍有不尽人意之处。由于每个IP核需要测试的信息量 不相等，现有技术在安排并行测试的位置和顺序时，测试总线上仍然有空余的测试时间没 有被有效利用。

发明内容
本发明的目的是提供一种分时测试的SOC测试调度方法，能够使IP核测试存取机 制的分配方式更加灵活，更好的实现IP核的并行测试，从而缩短测试总线上没有被利用的 空余测试时间。它包括下述步骤一、根据BFD算法，找出待测SOC内部各个IP核的潜在最优化点；初始化CE方法 的更新样本机制的参数t，Vtl ；二、根据更新样本机制的参数Vh产生N个随机样本v_soc = (Xixferi)Iyixn)；其 中X为长度为2n-l的序列，表示一个B*-Tree 二叉树结构，代表抽象的矩形相对位置；y为 长度为η的序列，η代表参加处理的IP核数量，y(i)代表第i个IP核所占的TAM总线宽 度，1 < y(i) ^ Wmax, 1 ^ i ^ η ；三、利用B*_Tree 二叉树结构计算各个IP核的布局；四、选择部分IP核进行分时测试；具体做法是根据y的值找出每个IP核抽象的 矩形的高度和对应，该矩形的高度对应于TAM总线数量，矩形的长度对应于测试时间；再根 据χ对应的矩形的相对位置，在实际使用的TAM总线宽度不大于测试总线宽度Wmax的情况 下，计算SOC的测试时间T，矩形的相对位置对应于SOC的并行测试及测试顺序；五、利用CE方法求解SOC内部所有IP核的的总线分配和时间分配，直到满足CE 收敛的条件，否则返回步骤二的开始处，更新样本并进行下一次循环；具体做法是将所有的N个测试时间T进行从小到大排序，计算其(1- P )分位数K = ^),用于更新参数ν ;t = t+1 ；
权利要求
1.一种分时测试的SOC测试调度方法，其特征在于它通过下述步骤实现一、根据BFD算法，找出待测SOC内部各个IP核的潜在最优化点；初始化CE方法的更 新样本机制的参数t，Vtl ；二、根据更新样本机制的参数产生N个随机样本v_S0C=(Xli2n^Iyixn)；其中χ为 长度为2n-l的序列，表示一个B*-Tree 二叉树结构，代表抽象的矩形相对位置；y为长度 为η的序列，η代表参加处理的IP核数量，y(i)代表第i个IP核所占的TAM总线宽度， 1 ^ y(i) ^ Wmax, 1 ^ i ^ η ；三、利用B*-Tree二叉树结构计算各个IP核的布局；四、选择部分IP核进行分时测试；具体做法是根据y的值找出每个IP核抽象的矩形 的高度和对应，该矩形的高度对应于TAM总线数量，矩形的长度对应于测试时间；再根据χ 对应的矩形的相对位置，在实际使用的TAM总线宽度不大于测试总线宽度Wmax的情况下， 计算SOC的测试时间T，矩形的相对位置对应于SOC的并行测试及测试顺序；五、利用CE方法求解SOC内部所有IP核的的总线分配和时间分配，直到满足CE收敛的 条件，否则返回步骤二的开始处，更新样本并进行下一次循环；具体做法是将所有的N个测试时间T进行从小到大排序，计算其(1-P )分位数K = ^),用于更新参数ν ；t = t+Ι ； N
2.根据权利要求1所述的一种分时测试的SOC测试调度方法，其特征在于在第一步骤 中，按照IP核的测试量从大到小排列，找出排序在前面且测试量规模占SOC所有的IP核测 试量的60% 80%的IP核；然后执行步骤二和三，对这些IP核利用B*-Tree 二叉树结构 计算各个IP核的布局；计算上述测试调度结果带来的空余空间，根据空余空间的情况执行 步骤四，进行TAM分配。
3.根据权利要求1所述的一种分时测试的SOC测试调度方法，其特征在于在第四步骤 中，将IP核在被分配的TAM上，根据需要将测试向量分多个时间段施加给该IP核。
全文摘要
一种分时测试的SOC测试调度方法，本发明涉及集成电路测试领域，具体涉及片上系统SOC测试调度的方法。能够使IP核测试存取机制的分配方式更加灵活，更好的实现IP核的并行测试，从而缩短测试总线上没有被利用的空余测试时间。它包括下述步骤根据BFD算法，找出待测SOC内部各个IP核的pareto-point；根据vt-1产生N个随机样本；利用B*-Tree二叉树结构计算各个IP核的布局；选择部分IP核进行分时测试；利用CE方法求解各个IP核的总线分配和时间分配，直到满足CE收敛的条件。本发明用于SOC的测试。
文档编号G01R31/317GK102081141SQ20101056576
公开日2011年6月1日 申请日期2010年11月30日 优先权日2010年11月30日
发明者乔立岩, 俞洋, 刘兆庆, 彭喜元, 赵光权, 邓立宝 申请人:哈尔滨工业大学