专利名称：柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜的检测方法
技术领域：
本发明涉及柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜的检测方法，具体地说是经过8道工序，应用计算机进行数据处理的，对柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜的完整性、平整性、透光性、反光性、耐磨性、耐敲击、导电性进行检测，并对缺陷的位置及其类型进行标志的一种方法。
背景技术：
近些年来，随着手机、平板电脑等电子产品的发展，触摸屏应用越来越广。柔性 CuCNT复合纳米透明导电薄膜是制作触摸屏的一种新型的部件，其具有柔性及弯曲性能好， 色调好，制备成本低、基材选用自由度高，寿命长等优点。等这种器件由于刚刚出现，生产中的检测等环节一直未实现完整的计算机检测方法，器件的多种性能检测目前还主要由人工进行单项检测。发明内容
针对上述不足，本发明提供了柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜的检测方法。
本发明是通过以下技术实现的柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜的检测方法， 由完整性检测、平整性检测、透光率检测、反光率检测、耐磨性检测、导电性检测、耐敲击检测、缺陷位置及类型标志等8个步骤组成，其特征在于检测是在柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜的生产中同步进行的，是在正常的气压、室温及湿度中进行的，所有检测结果可由计算机 进行识别并自动标志缺陷位置。
本发明将柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜的检测实现了在线的多性能完整计算机检测，并将检测结果进行标志，实现了该器件检测的自动化。


附图为本发明的步骤图。
步骤(I)完整性检测；
步骤⑵平整性检测；
步骤⑶透光性检测；
步骤⑷反光性检测；
步骤(5)耐磨性检测；
步骤(6)耐敲击检测；
步骤(7)导电性检测；
步骤⑶缺陷位置及类型标志具体实施方式
步骤(I):完整性检测，主要进行柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜的完整性检测，通过一排密布的发光管发出光束，在发光管的对面安装有成排的接收管，通过对光的有无进行薄膜是否有小孔的检测；
步骤(2):平整性检测，主要采用CXD摄像并进行图像分析的方法，对柔性CuCNT 复合纳米透明导电薄膜的平整性进行检测。置于运动薄膜的上方两侧分别布置有扫描的激光刀及对称布置的CCD镜头，激光刀按一定的时序进行扫描，CCD接收薄膜上的图像，若CCD 接收到的图像为一条条的直线，表明薄膜具有良好的平整性；
步骤(3):透光性检测，主要采用布置在运动薄膜上面的高功率灯管和布置在运动薄膜下面的模拟感光管组成，感光管的上面安装有小缝隙，薄膜上面的灯管的光透光薄膜和缝隙被最下面的模拟感光管接收，若接收到的光强一致，且在一定的范围内，表明薄膜具有合格的透光性，反之，则薄膜的透光性不合格；
步骤(4):反光性检测，主要采用CXD摄像并进行图像分析的方法，对柔性CuCNT 复合纳米透明导电薄膜的反光性检测。置于运动薄膜的上方两侧分别布置有黑白块的调制光投影及对称布置的CXD镜头，CXD接收投射在薄膜上的黑白方块图像，若CXD接收到的图像的黑白块具有均匀的灰度，表明薄膜具有合格的反光性；
步骤(5):耐磨性检测，采用安装在运动薄膜上面的缠有软布的滚轮进行检测。在薄膜的运动中，滚轮会按一定的设定与其下面的薄膜相接触，然后应用CCD接收该处的反射图像，并对图像进行分析，以检验被磨擦处的表面状态；
步骤￠):耐敲击检测，采用高频率的小质量光滑的金属块对运动中的薄膜进行规定次数的敲击，然后应用CCD进行图像识别，以检验被敲击处的表面状态；
步骤(7):导电性检测，采用多个两两成组的电极，频繁接触运动的薄膜，并按一定时序设备各组电极的通断电情况，然后通过对接收电极的电压进行Α/D转换，分析其数据，以判断薄膜上不同距离间的导电性能；
步骤⑶通过上述检测和计算机数据、图像处理，将有缺陷的位置及缺陷类型进行标志，以便进行人工干预处理。
本发明具有如下有益效果
1.检测在常温、常压、常湿度下进行，对检测的环境要求比较低；
2.分工序应用计算机数据和图像分析的方法，将柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜进行规定内容的检测，并将检测结果的缺陷位置和缺陷类型进行标志，有利于人工工艺干预；该检测促进了柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜的自动化生产
权利要求
1. 一种柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜的检测方法，包括按以下次序的步骤进行 步骤⑴完整性检测； 步骤(2):平整性检测； 步骤⑶透光性检测； 步骤⑷反光性检测； 步骤(5):耐磨性检测； 步骤(6):耐敲击检测； 步骤(7):导电性检测； 步骤(8):缺陷位置及类型标志； 其特征在于检测是在柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜的生产中同步进行的，是在正常的气压、室温及湿度中进行的，所有检测结果可由计算机进行识别并自动标志缺陷类型及位置。
全文摘要
本发明提供了一种柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜的检测方法，由完整性检测、平整性检测、透光率检测、反光率检测、耐磨性检测、导电性检测、耐敲击检测、缺陷位置及类型标志等8个步骤组成，其特征在于检测是在柔性CuCNT复合纳米透明导电薄膜的生产中同步进行的，是在正常的气压、室温及湿度中进行的，所有检测结果可由计算机进行识别并自动标志缺陷位置。
文档编号G01N35/00GK102998471SQ201210084720
公开日2013年3月27日 申请日期2012年3月28日 优先权日2012年3月28日
发明者杨阳, 于复生, 鲁成岩, 杨俊法, 王海涵, 赵建军 申请人:杨阳