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铁损测试仪的测试状态识别装置及其识别方法

时间:2025-06-19    作者: 管理员

专利名称:铁损测试仪的测试状态识别装置及其识别方法
技术领域
本发明涉及一种硅钢片铁心损耗测量技术领域,特别是涉及一种铁损测试仪识别 测试探头是否脱离硅钢片试样的识别装置及其识别方法。
背景技术
在现有技术中,采用铁损测试仪测试硅钢片试样的铁损时,主要通过测试探头中 初级线圈与硅钢片试样的电学连接实现铁损值的测试,但在实际使用中当铁损测试仪的测 试探头脱离硅钢片试样而处于长时间工作状态时,测试探头内部的初级线圈容易因电流过 大而损坏,从而导致铁损测试仪不能正常工作。

发明内容
本发明的目的在于提供一种能够自动识别测试探头是否脱离硅钢片试样的识别 装置及其识别方法;在识别到测试探头脱离硅钢片时,可及时关断测试探头内部的初级线 圈的驱动电流,从而避免损坏初级线圈。本发明的目的是采用这样的技术解决方案实现的它包括微控制器、模数转换器、 数模转换器、测试探头、功率放大电路和采样电阻,其特征在于所述微控制器分别与模数转 换器、数模转换器相连接,所述测试探头包括初级线圈,所述初级线圈串接在功率放大器与 采样电阻之间,所述数模转换器串接在微控制器与功率放大器之间,所述模数转换器串接 在微控制器与采样电阻之间,所述采样电阻的另一端接地,微控制器8的工作程序采用C语 言编制。由于本发明采用微控制器分别与模数转换器、数模转换器相连接,所述测试探头 包括初级线圈,所述初级线圈串接在功率放大器与采样电阻之间,所述数模转换器串接在 微控制器与功率放大器之间,所述模数转换器串接在微控制器与采样电阻之间,所述采样 电阻的另一端接地的结构,在微控制器工作程序的控制下,能够自动识别测试探头是否脱 离硅钢片试样,从而提高了测试探头的使用周期和测试质量。


图1为本发明的结构原理示意2为本发明的工作程序流程图 附图标号说明1-测试探头,2-初级线圈,3-功率放大器,4-采样电阻,5-模拟 地,6-数模转换器,7-模数转换器,8-微控制器。
具体实施例方式参照图1 本发明包括微控制器8、数模转换器6、模数转换器7、测试探头1、功率 放大电路3和采样电阻4,所述微控制器8分别与数模转换器6、模数转换器7相连接,所述 测试探头1包括初级线圈2,所述初级线圈2串接在功率放大器3与采样电阻4之间,所述数模转换器6串接在微控制器8与功率放大器3之间,所述模数转换器7串接在微控制器 8与采样电阻4之间,所述采样电阻4的另一端接模拟地5 ;所述微控制器8、数模转换器6、 模数转换器7、测试探头1、功率放大电路3均由市场购得,微控制器8的工作程序采用C语 言编制。本发明装置的识别方法是采用以下步骤实现的①由写入微控制器8内的程序向数模转换器6输出控制指令,使数模转换器6产生正弦波信号;②正弦波信号经过功率放大器3驱动初级线圈2 ;③模数转换器7通过采样电阻4采样初级线圈2的电流;④模数转换器7将采样得到的电流数据输送至微控制器8,微控制器8对输入的电 流数据进行内部程序处理,判断测试探头1是否脱离硅钢片试样;⑤断判测试探头1是否脱离硅钢片试样当测试探头1与硅钢片试样紧密接触时,正弦波信号经过初级线圈2产生磁场,并 在测试探头1与硅钢片试样之间形成磁回路,这时初级线圈的电流远小于30毫安;当测试探头脱离硅钢片试样时,测试探头与硅钢片试样之间没有形成磁回路,此 时流经初级线圈的电流大于30毫安;⑥当识别出测试探头脱离硅钢片试样后,微控制器8输出控制指令,关闭数模转 换器6,使得初级线圈2中无电流经过。
权利要求
铁损测试仪的测试状态识别装置,包括微控制器、模数转换器、数模转换器、测试探头、功率放大电路和采样电阻,其特征在于所述微控制器分别与模数转换器、数模转换器相连接,所述测试探头包括初级线圈,所述初级线圈串接在功率放大器与采样电阻之间,所述数模转换器串接在微控制器与功率放大器之间,所述模数转换器串接在微控制器与采样电阻之间,所述采样电阻的另一端接地。
2.铁损测试仪的测试状态识别方法,其特征在于所述方法是采用以下步骤实现的①由写入微控制器内的程序向数模转换器输出控制指令,使数模转换器产生正弦波信号;②正弦波信号经过功率放大器驱动初级线圈;③模数转换器通过采样电阻采样初级线圈的电流;④模数转换器将采样得到的电流数据输送至微控制器,微控制器对输入的电流数据进 行内部程序处理,判断测试探头是否脱离硅钢片试样;⑤判断测试探头是否脱离硅钢片试样当测试探头与硅钢片试样紧密接触时,正弦波信号经过初级线圈产生磁场,并在测试 探头与硅钢片试样之间形成磁回路,这时初级线圈的电流远小于30毫安;当测试探头脱离 硅钢片试样时,测试探头与硅钢片试样之间没有形成磁回路,此时流经初级线圈的电流大 于30毫安;⑥当识别出测试探头脱离硅钢片试样后,微控制器输出控制指令,关闭数模转换器,使 得初级线圈中无电流经过。
全文摘要
本发明涉及一种硅钢片铁心损耗测量技术领域,特别是涉及一种铁损测试仪识别测试探头是否脱离硅钢片试样的识别装置及其识别方法,它包括微控制器、模数转换器、数模转换器、测试探头、功率放大电路和采样电阻,其特征在于所述微控制器分别与模数转换器、数模转换器相连接,所述测试探头包括初级线圈,所述初级线圈串接在功率放大器与采样电阻之间,所述数模转换器串接在微控制器与功率放大器之间,所述模数转换器串接在微控制器与采样电阻之间,所述采样电阻的另一端接地,微控制器8的工作程序采用C语言编制,在微控制器工作程序的控制下,能够自动识别测试探头是否脱离硅钢片试样,从而提高了测试探头的使用周期和测试质量。
文档编号G01R21/08GK101806844SQ20101011618
公开日2010年8月18日 申请日期2010年3月2日 优先权日2010年3月2日
发明者余佩琼, 杭亮, 苏英俩, 顾伟驷 申请人:浙江工业大学

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