专利名称：用于辐射探测的塑料闪烁体探测器的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量仪器领域，更具体的说涉及一种可探测Y射线或U中子的用于辐射探测的塑料闪烁体探测器。
背景技术：
目前国内市场上的用于辐射探测的塑料闪烁体探测器主要由闪烁体、光的收集部件和光电转换器件组成的辐射探测器。当粒子进入闪烁体时，闪烁体的原子或分子受激而产生荧光。利用光导和反射体等光的收集部件使荧光尽量多地射到光电转换器件的光敏层上并打出光电子。这些光电子可直接或经过倍增后，由输出级收集而形成电脉冲。很多物质都可以在粒子入射后而受激发光，因此闪烁体的种类很多，可以是固体、液体或气体。但市场上同类产品灵敏度和分辨率都较低。
实用新型内容为克服现有技术中同类产品的灵敏度和分辨率等不足，本实用新型提供了一种新型用于辐射探测的塑料闪烁体探测器，它包括底座和设置于底座上的闪烁体，所述闪烁体上端和底座上分别设置有光电倍增管，所述闪烁体内壁设置有铅或铜。其中，所述底座和闪烁体为一体化设置。与现有技术相比，本实用新型所述的用于辐射探测的塑料闪烁体探测器的有益效果在于，可探测Y射线或U介子，快中子等粒子，作为反符合屏蔽探测器是反符合低本底Y谱仪测量装置的主要配套设备。通过一定数量的光电倍增管和专用的电子学设备产生相应的符合或反符合信号，控制反符合低本底Y谱仪测量装置的主探测器记录或不记录所探测到的信号，达到降低主探测器的宇宙射线本底或Y射线康普顿散射本底之目的。

图I是本实用新型所述的用于辐射探测的塑料闪烁体探测器的结构示意图。
具体实施方式

以下结合附图对本实用新型进行详细说明。图I是本实用新型的结构示意图。如图I所示，本实用新型包括底座I和设置于底座上的闪烁体2，所述闪烁体2上端和底座I上分别设置有光电倍增管3，所述闪烁体2内壁设置有铅或铜。所述底座I和闪烁体2为一体化设置。用于辐射探测的塑料闪烁体探测器可探测Y射线或U介子，快中子等粒子，作为反符合屏蔽探测器是反符合低本底Y谱仪测量装置的主要配套设备，使用时反符合低本底Y谱仪测量装置的主探测器(通常为高纯锗探测器)位于用于辐射探测的塑料闪烁体探测器的中心内部，主探测器与用于辐射探测的塑料闪烁体探测器之间还可增加一定厚度的铅，铜等物质屏蔽，当探测器探索到Y射线或U介子，快中子等粒子后，通过一定数量的光电倍增管(前部可增设光导)和专用的电子学设备产生相应的符合或反符合信号，控制反符合低本底Y谱仪测量装置的主探测器记录或不记录所探测到的信号，达到降低主探测器的宇宙射线本底或Y射线康普顿散射本底之目的。上面所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的范围进行限定，在不脱离本实用新型设计精神前提下，本领域普通工程技术人员对本实用新型技术方案做出的各种变形和改进，均应落入本实用新型的权利要求书确定的保护范围内。
权利要求1.一种用于辐射探测的塑料闪烁体探测器，其特征在于，包括底座(I)和设置于底座上的闪烁体(2)，所述闪烁体(2)上端和底座(I)上分别设置有光电倍增管(3)，所述闪烁体(2)内壁设置有铅或铜。
2.根据权利要求I所述的一种用于辐射探测的塑料闪烁体探测器，其特征在于，所述底座(I)和闪烁体(2)为一体化设置。
专利摘要本实用新型公开了一种用于辐射探测的塑料闪烁体探测器，涉及测量仪器领域。它包括底座和设置于底座上的闪烁体，所述闪烁体上端和底座上分别设置有光电倍增管，所述闪烁体内壁设置有铅或铜。本实用新型克服了现有技术中灵敏度和分辨率等问题，降低主探测器的宇宙射线本底或γ射线康普顿散射本底。
文档编号G01T1/203GK202533589SQ20112044842
公开日2012年11月14日 申请日期2011年11月14日 优先权日2011年11月14日
发明者王万祥, 赵建中, 赵海泉 申请人:北京高能科迪科技有限公司